20GHz主動式濾波器測試電路

1、20 ghz主動式濾波器測試電路20 ghz active filter test circuit一、 摘要(中英文)：此測試報告是敘述20 ghz主動式濾波器的測試電路仿真及量測的結(jié)果。abstract the simulated and measured results of the test circuit for the 20 ghz active filter are described in this report.keyword 20 ghz, active filter, hbt.二、計劃原由及目的：此電路為filter005的測試電路，目的是為了電路的debug用。三、研究方

2、法與成果：3.1 電路架構(gòu)及仿真結(jié)果：此測試電路包含兩個部份，fil005_test_passive以及fil005_test_nr。1. fil005_test_passive此部份測試電路主要是為了檢驗在filter005中的被動電路部份量測與仿真是否結(jié)果相符。電路架構(gòu)及布局：圖一：fil005_test_passive電路架構(gòu)圖及布局圖。模擬結(jié)果：仿真所使用的軟件為hfss。模擬結(jié)果如圖二所示。圖二：fil005_test_passive模擬的輸入損耗及反射損耗。2. fil005_test_nr這個測試電路是想要檢驗此負阻產(chǎn)生器產(chǎn)生的負阻值是否如預(yù)期，此部份和filter005電路中唯

3、一不同的地方是在負阻產(chǎn)生器的輸入端串聯(lián)一20奧姆的電阻，目的是為了防只量測時測試電路的負阻在接上網(wǎng)絡(luò)分析儀后發(fā)生振蕩。圖三為負阻產(chǎn)生器的電路架構(gòu)及布局圖。 圖三：fil005_test_nr電路架構(gòu)圖及布局圖。模擬結(jié)果：圖三、fil005_test_nr模擬的輸入阻抗。3.2 電路布局：1.5mm x 1mm少畫一個貫穿孔圖四：完整測試電路布局圖。3.3 測試結(jié)果：我們使用agilent 8510c網(wǎng)絡(luò)分析儀來量測fil005_test_passive的輸入損耗及反射損耗還有fil005_test_nr的輸入阻抗，量測結(jié)果如圖五及圖六所示。圖五：fil005_test_passive量測的輸入

4、損耗及反射損耗。圖六：fil005_test_nr量測的輸入阻抗。四、預(yù)計規(guī)格與實測結(jié)果在18到22 ghz之間的預(yù)計規(guī)格與實測結(jié)果列于表一表一：fil005_test_nr模擬結(jié)果與量測比較模擬結(jié)果量測結(jié)果實部阻抗19 22 35 100五、結(jié)論與討論fil005_test_passive量測與模擬結(jié)果是相當(dāng)?shù)慕咏?，然兒fil005_test_nr則是有相當(dāng)大的差距。原因是因為在晶體管集極端的旁路電容應(yīng)該要直接由貫穿孔接到背板的地，而在fil005_test_nr的電路布局圖中，我卻漏畫了這一個貫穿孔。這使得晶體管的集極端不再是接地導(dǎo)致模擬和量測有極大的差距，fil005_test_nr對電路的除錯是沒有幫助的。* chip features cad tools * ckt name : filter005_test (設(shè)計名稱) microwave officetechnology : gct 2-mm hbt (使用制程) package : n/a (包裝種類)chip size : 1.5 x 1 mm2 (芯片面積；mm2)transistor/gate count : 1/ na. (晶體管/邏輯閘數(shù))power dissipation : 15 (功率消耗；mw)max. fr