數(shù)字散斑干涉技術(shù)在分析金屬材料腐蝕過(guò)程的可能性和局限性外文文獻(xiàn)翻譯

1、中北大學(xué)2014屆畢業(yè)論文外文翻譯畢業(yè)論文Possibilities and limitations of digital speckle pattern interferometry in the analysis of corrosion processes in metallic materials 數(shù)字散斑干涉技術(shù)在分析金屬材料腐蝕過(guò)程的可能性和局限性學(xué)生姓名： 學(xué)號(hào)： 10051041 學(xué) 院： 信息與通信工程學(xué)院 專(zhuān) 業(yè)： 光電信息工程 指導(dǎo)教師： 王小燕 2014年 6月數(shù)字散斑干涉技術(shù)在分析金屬材料腐蝕過(guò)程的可能性和局限性摘要數(shù)字散斑干涉技術(shù)(DSPI)已經(jīng)應(yīng)用于評(píng)估銅電極表面

2、的腐蝕水平在沉浸于0.1米的硫酸銅溶液里時(shí)。腐蝕過(guò)程已經(jīng)被應(yīng)用感應(yīng)兩個(gè)這樣的金屬銅電極之間的電流。腐蝕過(guò)程可能引起的變化不僅在電極表面而且在溶液中光的折射率。不同DSPI的實(shí)驗(yàn)設(shè)置已經(jīng)被提出了對(duì)于評(píng)估貢獻(xiàn)和移除折射率的貢獻(xiàn)。電極表面的變化作為標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)DSPI已經(jīng)被比較和地形數(shù)據(jù)獲得的共焦顯微鏡。共焦顯微鏡數(shù)據(jù)表明,腐蝕過(guò)程可以小規(guī)模重現(xiàn)。DSPI的可能性和局限性在測(cè)量不均勻腐蝕過(guò)程已經(jīng)被分析。關(guān)鍵詞:散斑干涉法、腐蝕、金屬表面1 介紹腐蝕是一個(gè)大問(wèn)題在工業(yè)上惡化材料性能,有時(shí)造成破壞。通常情況下,腐蝕與重要的表面改變被聯(lián)系在一起。這些影響的早期檢測(cè)以預(yù)防為目的是非常有用。允許腐蝕檢測(cè)與樣品沒(méi)有

3、物理接觸真的是很有趣技術(shù)。從這個(gè)意義上講,光學(xué)技術(shù),由于其無(wú)損性和非接觸式的特點(diǎn),已經(jīng)被應(yīng)用與獲取現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定作為一種替代傳統(tǒng)的接觸方法。局部腐蝕一般出現(xiàn)在表面被動(dòng)層攻擊的惡劣環(huán)境，這在某些情況下是液態(tài)腐蝕性溶液把腐蝕金屬樣品沉浸在清澈的溶液中通過(guò)測(cè)量折射率在液體中的改變研究了金屬樣品的腐蝕過(guò)程。在這種背景下,全息干涉法應(yīng)用監(jiān)測(cè)水的腐蝕過(guò)程解決方案,和全球信息的進(jìn)化數(shù)量的邊緣可以檢索。數(shù)字全息術(shù)已被用于測(cè)量折射率的變化在電化學(xué)反應(yīng)中通過(guò)內(nèi)聯(lián)的記錄系統(tǒng)。散斑干涉法,使用雙光束干涉記錄系統(tǒng),已被應(yīng)用于獲得全球腐蝕速率的值。腐蝕表面處理是局部的，不均勻的，該技術(shù)被應(yīng)用于提供非常有用的在表面上的二維信息。

4、從這個(gè)意義上講,數(shù)字散斑攝影已經(jīng)應(yīng)用到表面的可視化通過(guò)記錄相關(guān)系數(shù)的發(fā)展變化。數(shù)字散斑干涉技術(shù)(DSPI)已經(jīng)被用于在變化的各方面的樣品表面同時(shí)獲取信息。DSPI已經(jīng)應(yīng)用于測(cè)量腐蝕層厚度通過(guò)把金屬腐蝕層樣品沉浸在腐蝕性溶液。在這種情況下,從液體提取樣品之后測(cè)量值被執(zhí)行在空氣中。一些一直嘗試檢測(cè)把金屬表面沉浸在液體腐蝕性溶液的變化。在這工作中,DSPI的適用性研究腐蝕過(guò)程進(jìn)化在樣品一直沉浸在溶液被腐蝕。腐蝕引起的應(yīng)用給定兩個(gè)銅電極之間的電流沉浸在0.1米的硫酸銅溶液的一個(gè)電解池中。這項(xiàng)工作的目的是確定哪些信息關(guān)于腐蝕過(guò)程中可以描述的條件能被DSPI獲得。敏感性和準(zhǔn)確性的局限性將被分析當(dāng)定量信息被

5、恢復(fù)。2 概念DSPI是一種廣泛使用的,眾所周知的技術(shù),與實(shí)現(xiàn)它們所描述的文學(xué)不同。DSPI的特點(diǎn)的這些相關(guān)的工作可以描述如下(1)一個(gè)粗糙表面成像到CCD傳感器相機(jī)(2) 表面的激光散射(斑紋波)化合平穩(wěn)的激光束和干擾被傳感器記錄(3) 空間相位轉(zhuǎn)移(SPS)被應(yīng)用于獲得使用散射光(隨機(jī))階段的示意圖。進(jìn)行傅里葉變換是分析的方法 (4)相位差示意圖是通過(guò)減去兩個(gè)不同的時(shí)間瞬間階段(5)該范圍內(nèi)的包裹相位差為-，被映射為灰度級(jí)別，可視化。低通濾波器和相位展開(kāi)過(guò)程中所用為了獲得定量信息，估計(jì)/100的準(zhǔn)確性。相位差,，都直接關(guān)系到光路長(zhǎng)度的變化，。是由局部表面產(chǎn)生兩個(gè)位移，L和通過(guò)沿折射率變化光

6、路中，n。對(duì)于只有表面位移的情況下，相差異可以表示為，其中是靈敏度向量和ki和高是照明和觀察向量。ki和ko有相同的幅度，其中是介質(zhì)的表面和周?chē)g的折射率，是在空氣中的波長(zhǎng)。我們將分別指的是矢量的方向作為和。因此，可以表示為 (1)其中是表面位移的投影沿靈敏度矢量的方向在我們的實(shí)驗(yàn)中，表面粗糙的金屬表面（樣品）在電解槽內(nèi)。對(duì)于Z軸沿著表面正常，令，忽略，等式（1）可以表示為 （2）其中和是和和曲面法線(xiàn)之間的角度。當(dāng)只有的位移發(fā)生，相位差圖是的圖。在研究腐蝕過(guò)程這項(xiàng)工作中，不是一個(gè)位移，它與在樣品的表面上的腐蝕層聯(lián)系在一起。對(duì)于只有折射率變化的情況下，相差異可以表示為 （3）其中，指位置沿著光束

7、行進(jìn)路徑和d是總長(zhǎng)度與折射率變化當(dāng)用DSPI進(jìn)行了實(shí)驗(yàn)，而表面浸漬在腐蝕溶液中，由于雙方腐蝕深度和溶液折射率變化可以發(fā)生相位的變化。在這種情況下，總的相位差將是，忽略高階時(shí)條款。由于我們只注重測(cè)量腐蝕深度，以確定用于從取出實(shí)測(cè)是有必要的。測(cè)量n腐蝕發(fā)生的同時(shí),DSPI設(shè)置使用如圖2所示。在這情況下,照明光束通過(guò)一個(gè)磨砂玻璃。斑紋產(chǎn)生波傳播的方向X軸,通過(guò)前面的液體腐蝕表面(樣本)。這種斑紋波的相位變化是由的折射率變化發(fā)生在腐蝕電池前面的示例。因此,在這種情況下沿x軸d是永遠(yuǎn)不會(huì)比腐蝕電池長(zhǎng),相位差圖是平均折射率改變圖的來(lái)源由于溶液腐蝕過(guò)程的濃度的變化3 實(shí)驗(yàn)裝置3.1 腐蝕的設(shè)置在這項(xiàng)工作中所

8、分析的腐蝕過(guò)程是在表面光滑的銅棒浸漬在0.1米的硫酸銅溶液。兩容器的硫酸銅（56毫米×10×10mm）放置在彼此平行有12毫米間隔的電解槽內(nèi)。這兩個(gè)電解槽之間的電流為2.01 mA時(shí)。在本實(shí)驗(yàn)中，所觀察到的樣品是連接桿的內(nèi)表面到正極。觀察銅在溶器中發(fā)生的氧化過(guò)程中，失去銅原子從它的表面。被應(yīng)用到所有的銅容器的表面，除了那些相對(duì)的表面。這限制了在這兩個(gè)面氧化-還原處理。此外，觀察到兩個(gè)垂直條紋被施加在表面上的垂直邊緣，以具有一些局部不變.是適用于所有銅條,除了的相對(duì)的兩個(gè)表面。這限制了在這兩個(gè)面上氧化還原過(guò)程。此外,被觀察到兩個(gè)垂直條紋是在應(yīng)用于垂直表面的邊緣,局部深度不變。

9、因?yàn)橹挥?1毫米的銅沉浸在容器硫酸銅溶液里,腐蝕過(guò)程發(fā)生在一個(gè)11×4.4平方毫米區(qū)域,腐蝕電流密度3.8mAmm-2。為一個(gè)統(tǒng)一的腐蝕過(guò)程,當(dāng)前密度值將產(chǎn)生腐蝕層的增長(zhǎng)速度5.5 h-m。3.2光學(xué)設(shè)置DSPI測(cè)量17 mW連續(xù)氦氖激光器(=633海里)DSPI光學(xué)設(shè)置。激光光束分裂成兩束光楔板。一束被送入一個(gè)光纖和輸出光束作為參考光。使主要激光束平行后,照射粗糙表面。光散射表面成像在CCD 60毫米會(huì)聚透鏡焦距,光圈f/16。CCD傳感器有1376(垂直)×1040像素(水平),一個(gè)6.4m的像素大小。光纖和成像鏡頭光圈被放置CCD在相同的的距離。一個(gè)分束器結(jié)合物光和參

10、考光的方法。在圖4中,可以看到Z軸始終是作為正常樣品表面。在設(shè)置用于測(cè)量表面(圖4(a)和變化(b),照明和對(duì)象之間的角度和樣品表面正常 (4)這相當(dāng)于約0.31微米/邊緣，令=1.341時(shí)測(cè)量硫酸銅溶液的折射率。這折射率已被阿貝折射計(jì)測(cè)量 在測(cè)量折射率變化（圖4（c）設(shè)置中，照明光束和物光束是垂直于成像面（毛玻璃）和平行到樣品表面。這種設(shè)置使我們能夠衡量沿著腐蝕電池長(zhǎng)度的折射率變化。得到其平均變化，取D=4.8毫米作為樣品面的長(zhǎng)度，如 (5)這相當(dāng)于大約0.9×10-2折射率變化每條紋，對(duì)于=1.3411900系列影像記錄每2秒與采取了曝光6毫秒（4毫秒折射率測(cè)量）倍在目前的實(shí)驗(yàn)的

11、電流2.01毫安被后施加60分鐘40秒。已關(guān)閉過(guò)程記錄，目前停止后160秒。所有的圖像被記錄與浸沒(méi)在樣品硫酸銅溶液。4 分析折射率的變化讓我們先來(lái)分析在誘導(dǎo)的腐蝕過(guò)程硫酸銅溶液的折射率變化。圖5示出了與獲得的一些典型折射率變化的設(shè)置的相位差圖（圖4（c）。銅槽上看到的右側(cè)圖像。垂直邊緣對(duì)應(yīng)于腐蝕表面，它有一些模糊。模糊的區(qū)域?qū)?yīng)于所產(chǎn)生的衍射的干涉的光束穿過(guò)它。它可以看出，一個(gè)非常狹窄的區(qū)域靠近銅棒材表面折射率的變化是有限的。這些變化產(chǎn)生的條紋幾乎平行于銅棒表面。銅槽的相位差為0時(shí)和接近其表面時(shí)會(huì)增加。這表明腐蝕過(guò)程折射率接近與物體表面時(shí)增加，并且結(jié)果是，隨著時(shí)間的推移。20秒后出現(xiàn)一個(gè)條紋（

12、圖5的（a）和60秒后3條紋（圖5（b）。然而，從那時(shí)起，被觀察到幾乎沒(méi)有折射率變化（圖5（c），這表明已經(jīng)達(dá)到一個(gè)靜止?fàn)顟B(tài)。當(dāng)電流被切換斷時(shí)，折射率的變化是相反的，如圖所得減少條紋的數(shù)目（圖5（d）。另一的折射率變化的重要特征是垂直（Y）方向它們是靠近均勻的，除在該區(qū)域靠近樣品的底部。因此，他們很可能是也將是均勻垂直方向（X）。在溶有關(guān)液的腐蝕過(guò)程中折射率變化由于濃度變化。銅離子從銅桿電拉電流。由于離子移動(dòng)所施加的電場(chǎng)和擴(kuò)散，從而產(chǎn)生濃度梯度。梯度已觀察距離為0.5mm以上短物體的表面上。的相位差對(duì)應(yīng)于的n值沿腐蝕電池的長(zhǎng)度集成（即25毫米），那里有液體。然而，折射指數(shù)的變化只發(fā)生在一個(gè)距離

13、，該距離稍大于暴露于腐蝕的長(zhǎng)度。在我們的例子中，據(jù)估計(jì)，這個(gè)長(zhǎng)度可以是約7毫米。使用等式（5），它可以被估計(jì)的最大平均折射率變化為2.7×10-4，顯示了DSPI的高靈敏度。折射率變化為在圖4（a）所述設(shè)置，估計(jì)是因?yàn)閷?duì)于只有1毫米較小一體化是在表面的法線(xiàn)方向（圖4（c），這是兩倍的厚度的長(zhǎng)度觀察到的折射率梯度層。測(cè)量檢測(cè)折射率變化或確定表面變化不同時(shí)進(jìn)行。這些折射指數(shù)變化的分析已經(jīng)進(jìn)行數(shù)次結(jié)論總是相似的，如果在實(shí)驗(yàn)條件允許的條件下：附近變化是一致的靠近樣品的表面除在接近樣品的底部區(qū)域，當(dāng)折射率的變化達(dá)到一個(gè)靜止情況。5 分析表面的變化現(xiàn)在讓我們來(lái)分析折射率變化怎么能影響面變化的測(cè)量

14、。圖6示出與表面獲得了一些典型的相位差圖改變?cè)O(shè)置（圖4（a）。可以看出，相位圖對(duì)比度最高的兩個(gè)條上每一側(cè)的圖像。他們是覆蓋條，不腐蝕。這些條帶已經(jīng)被用來(lái)設(shè)置絕對(duì)相位差，根據(jù)需要為絕對(duì)相位的測(cè)量。此設(shè)置將完全從去除中發(fā)生的硫酸銅溶液的折射率的變化接近的表面上，當(dāng)在Z-平均值的變化是恒定沿上所述表面，如上一節(jié)中所述。此外，該程序還可以使它明顯，如果他們不是恒定的。在圖6中所示的映射中，零相位已經(jīng)在條帶的上部設(shè)置。兩片提供有關(guān)非均勻折射資訊指數(shù)的變化上的相位差。在兩個(gè)相同的高度條帶的相位值是相同的，表示的折射率為在水平方向（X軸）恒定。然而，在垂直方向（Y軸），有一個(gè)相位差的梯度，這表明，在該實(shí)驗(yàn)中

15、，平均折射率指數(shù)升幅減小Y值.可以看出，在一個(gè)固定的腐蝕時(shí)產(chǎn)生的梯度依賴(lài)于先前的腐蝕歷史，所表現(xiàn)出的差異在條紋的數(shù)目。這種梯度是在開(kāi)始勉強(qiáng)可見(jiàn)（圖6（a），但很明顯，在稍后時(shí)間可觀察到（圖6（b）和（c）項(xiàng)）。正如已經(jīng)解釋的那樣，較高的折射率對(duì)應(yīng)于銅離子的濃度較高。相差異條覆蓋使我們能夠推斷該腐蝕開(kāi)始在銅樣品的底部，并該腐蝕速率隨時(shí)間增加。越來(lái)越多腐蝕速率也可以從增加的模糊推斷在那里正在發(fā)生的地區(qū)的條紋。腐蝕過(guò)程意味著在表面上的微觀變化，這修改相應(yīng)的散斑產(chǎn)生斑點(diǎn)去相關(guān)，從而降低了條紋可見(jiàn)度。為了獲得精確的腐蝕深度測(cè)量在腐蝕面積，不僅從貢獻(xiàn)非均勻折射率的變化已被刪除，但低條紋可見(jiàn)度的問(wèn)題也必須解

16、決。我們已經(jīng)用于在任何時(shí)候測(cè)量腐蝕狀態(tài)下的過(guò)程是以下幾點(diǎn)：（a） 該濾波的相位差映射為短腐蝕倍，TC，計(jì)算（b） 所有的映射的值相加，用一個(gè)時(shí)間解包程序（c） 對(duì)指甲油的垂直相位梯度覆蓋條減去（d） 該腐蝕的深度圖從相得到根據(jù)等式差異（4）。用于第一步驟分析了短腐蝕時(shí)間（一）必須保證沒(méi)有大的不相關(guān)的領(lǐng)域出現(xiàn)。值的=10 s已被用于這些實(shí)驗(yàn)。該解包步驟（步驟（b）是由象素進(jìn)行象素但同時(shí)只有一個(gè)每五像素。各隨時(shí)間的變化像素相位是通過(guò)添加2倍數(shù)解開(kāi)時(shí)，相突然從變?yōu)?弧度，即從明亮到暗的灰度級(jí)，根據(jù)所使用的相灰“灰度級(jí)映射。圖7（a）示出了總的相位差地圖對(duì)應(yīng)的60分鐘總腐蝕的時(shí)間。圖是加入360濾波的

17、相位差異圖的結(jié)果。圖7（b）示出了后所得到的相位差地圖步驟（c），其中只有捐款（表面的變化）的相關(guān)的評(píng)估腐蝕水平仍.6 可行性腐蝕測(cè)量與DSPI現(xiàn)在讓我們來(lái)分析一下可以得到有用的信息從DSPI腐蝕測(cè)量。表面形貌用共聚焦顯微鏡中得到已被用于比較（圖8）。圖8（a）示出了腐蝕深度圖，根據(jù)等式（4）得到的圖7（b）所示。圖樣已被縮小。根據(jù)試樣的原始尺寸為更好用共聚焦圖像的比較。表面形貌（圖8的（b），測(cè)定腐蝕后的的變化。這里重要的是要注意，在Z的坐標(biāo)的絕對(duì)值這些測(cè)量值是不相關(guān)的。它是由系統(tǒng)選擇作為平均值。區(qū)別相關(guān)信息不同的點(diǎn)的表面在Z坐標(biāo)之間。該實(shí)驗(yàn)顯示，腐蝕過(guò)程是不統(tǒng)一的，它涉及產(chǎn)生的小型腔的表面

18、直徑在10-30微米的范圍內(nèi)。該現(xiàn)象如圖所示（圖8的（b）和DSPI結(jié)果之間（圖8（a）表示所提供的質(zhì)量信息由DSPI測(cè)量是相關(guān)的，讓我們知道，在哪些地方發(fā)生了腐蝕變換。重要的是要記住，DSPI測(cè)量（圖8（a）表面腐蝕過(guò)程中的表面的變化，同時(shí)共焦測(cè)量已用于分析表面的最終形態(tài)。一個(gè)更定量的比較，四個(gè)不同的區(qū)域更詳細(xì)地進(jìn)行了分析。相應(yīng)的區(qū)域地形呈現(xiàn)為放大的影像，這顯示了共焦顯微鏡的空間分辨率高測(cè)量（0.33微米/像素在這些觀察條件。四個(gè)選定的區(qū)域具有不同的腐蝕水平，根據(jù)DSPI測(cè)量。如圖8（c）示出面積在左下角。的左邊部分照片對(duì)應(yīng)于布滿(mǎn)釘子的條在實(shí)驗(yàn)過(guò)程中拋光，并且，在結(jié)果，它顯示了表面的原始畫(huà)面

19、?？拷鼛н吙颍g是非常均勻的約一個(gè)區(qū)域250微米。地形測(cè)量表明，深度這種腐蝕層為約8.6微米。DSPI結(jié)果在此區(qū)域還表明，腐蝕明顯高于在其他領(lǐng)域，腐蝕層可達(dá)到的深度約3.5微米。圖8（d）表示在右邊的上部的區(qū)域中腐蝕很小。地形測(cè)量顯示該腐蝕集中在小腔與直徑為10-25微米，深度為7-10微米的范圍內(nèi)。DSPI測(cè)量解決不了這樣的空洞和部分出現(xiàn)非腐蝕。圖8（e）和（F）對(duì)應(yīng)的區(qū)域與中間行為，顯示在15的范圍內(nèi)的空腔-50微米。這些小腔不解決與DSPI檢索介質(zhì)腐蝕的深度值。未過(guò)濾的相位數(shù)據(jù)的分辨率取決于光學(xué)放大率和它已被計(jì)算為5.7微米/像素在水平和3.8微米/像素在垂直。該數(shù)據(jù)濾波用低通濾波器的

20、頻率帶進(jìn)行5像素的半徑高斯核。因此，最終的空間分辨率該DSPI測(cè)量估計(jì)為57微米/像素在水平和38微米/像素在垂直。由此，DSPI表面平均超過(guò)57×38平方微米的區(qū)域變化，防止DSPI從檢測(cè)變化的發(fā)生在腔體比在直徑約50m小顯然，DSPI觀察測(cè)量變化在樣品表面上，并以比較共焦和SPI觀察，的共焦地形樣品應(yīng)記錄之前和之后的腐蝕過(guò)程發(fā)生。減去地形測(cè)量在幾平方毫米有足夠的精確度的區(qū)域會(huì)需要一個(gè)系統(tǒng)，使樣品與精確定位比微米更好。這不能用做我們實(shí)驗(yàn)的可行性。出于這個(gè)原因，為了執(zhí)行這DSPI和地形之間的定量比較測(cè)量，新的測(cè)量方法已經(jīng)進(jìn)行了看著較小的區(qū)域。圖9（a）示出的區(qū)域的地形685×

21、;512平方微米的腐蝕前的樣本。地形清楚地顯示了晶粒顯微組織，具有典型30微米量級(jí)的尺寸大小。表面是非常平坦的，表面的高度最大差別在4-5微米的范圍內(nèi)的不同點(diǎn)之間。表面這個(gè)區(qū)域的粗糙度為0.7微米。后地形腐蝕過(guò)程示于圖9（b）所示?？梢杂^察到該腐蝕主要發(fā)生在小腔，其尺寸為10-20微米與深度的順序順序?yàn)?m。樣品粗糙度提高到2.2微米。它重要的是要注意到，由于沒(méi)有在這些參考點(diǎn)觀察，共焦測(cè)量不給絕對(duì)Z坐標(biāo)。其結(jié)果，主信息，可以而獲得，當(dāng)這兩個(gè)拓樸圖中減去，不腐蝕深度的絕對(duì)值，但只顯示在腐蝕狀態(tài)的差異相對(duì)值對(duì)于在表面上的不同點(diǎn)。表面形貌已經(jīng)記錄了更高的空間分辨率比DSPI實(shí)驗(yàn)。共聚焦顯微鏡的放大倍

22、率50×記錄了每一個(gè)點(diǎn)0.33微米。DSPI測(cè)量的較低的空間分辨率不允許我們解決這個(gè)小特點(diǎn)非均勻腐蝕的過(guò)程。放大倍率為DSPI在該實(shí)驗(yàn)中測(cè)量為12.1微米/像素在橫向和9.1微米/像素的垂直。這也反映在一種是與這兩種技術(shù)獲得的結(jié)果。如圖10（a）示出了與DSPI確定的表面高度的變化實(shí)驗(yàn)。圖10（b）表示的表面變化通過(guò)減去數(shù)字9得到（a）和（b）所示。空間分辨率顯然是非常不同的兩種情況下，重要差額在被測(cè)物表面的高度也觀察相關(guān)的腐蝕層的深度。我們認(rèn)為起源這些差異在于不同空間分辨率這兩種技術(shù)。這證實(shí)了與工作用共聚焦顯微鏡在以下所獲得的數(shù)據(jù)方法。（）平均15×15點(diǎn)的過(guò)濾器已被應(yīng)用

23、到數(shù)據(jù)。（）一個(gè)抽樣已通過(guò)采取每點(diǎn)進(jìn)行1.4微米。（）之前的平均過(guò)濾器已被再次施加（IV）新的采樣過(guò)程已經(jīng)完成，此時(shí)取一個(gè)點(diǎn)每14微米其結(jié)果列于圖10中給出（c）所示。差異在表面上的兩個(gè)點(diǎn)之間的高度已經(jīng)降低到的原始值的25，并已成為更接近DSPI結(jié)果。結(jié)果，DSPI測(cè)量會(huì)同意與表面形貌數(shù)據(jù)更均勻腐蝕更好流程。我們已經(jīng)指出，DSPI不能提供詳細(xì)介紹了腐蝕過(guò)程的共焦的程度相同顯微鏡一樣。但是，我們也要跟著也強(qiáng)調(diào)優(yōu)勢(shì)的DSPI在共聚焦顯微鏡。首先，可以DSPI采取就地測(cè)量和比共聚焦快得多顯微鏡。此外，DSPI直接測(cè)量表面變化，因此，它不需要重新定位樣品后的腐蝕過(guò)程。使用不腐蝕條使得可以進(jìn)行測(cè)量，而樣品是浸漬在腐蝕溶液，因?yàn)樗峁┝艘环N方法來(lái)從慢變折射率刪除任何貢獻(xiàn)變化。7 評(píng)估的腐蝕速率比DSPI允許我們?cè)谌魏螘r(shí)候獲得2D腐蝕地圖腐蝕過(guò)程，從而提供了關(guān)于信息耐腐蝕等級(jí)的每個(gè)表面點(diǎn)時(shí)間演化。在這些測(cè)量中的誤差估計(jì)將在下面5。圖11示出了腐蝕的時(shí)間演化層在圖8中給出的四個(gè)不同的區(qū)域，它是觀察到腐蝕過(guò)程不是在時(shí)間上恒定對(duì)于所有的點(diǎn)。在各區(qū)域的給定點(diǎn)（c）中，（e）和（f）所示，腐蝕速率為第15分鐘，大約是相同的，但它隨時(shí)間增加，成為4.3微米小時(shí)-1，3.3微米的H-1和2.2微米H-1，分別在過(guò)去的60分鐘。正如預(yù)期的那樣，無(wú)腐