IE五大手冊——講義SPC

1、Statistical Process control統(tǒng)計過程控制配合、功能關鍵特性：不僅僅合格，還要盡可能接近目標值。檢驗分類:計數(shù)型：檢驗時僅分為合格、不合格;計量型：檢驗時可確定值的大小第一章持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述應用統(tǒng)計技術來控制產(chǎn)生輸出的過程時，才能在改進質(zhì) 量、提高生產(chǎn)率、降低成本上發(fā)揮作用。第一節(jié)預防與檢測容忍浪費 避免浪費檢 測 預 防 第二節(jié) 過程控制系統(tǒng)過 程 共同工作以產(chǎn)生輸出的供方、生產(chǎn)者、人、設備、輸入材料、方法和環(huán)境以及使用輸出的顧客之集 合。過程性能取決于：1. 供方和顧客之間的溝通；2. 過程設計及實施的方式；3. 動作和管理方式。過程控制重點：過程特性 過

2、程控制步驟：確定特性的目標值；監(jiān)測我們與目標值的距離是近還是遠； 對得到的信息作出正確的解釋，確定過程是 在正常的方式下運行； 必要時，采取及時準確的措施來校正過程或剛產(chǎn)生的輸出； 監(jiān)測采取措施后的效果，必要時進一步分析及采取措施。 注：僅對輸出進行檢驗并隨之采取措施，只可作為不穩(wěn)定或 沒有能力的過程的臨時措施。不能代替有效的過程管理。第三節(jié) 變差：普通及特殊原因任何過程都存在引起變差的原因， 產(chǎn)品的差距總是存在。以描述的分布的圖形。例圖）雖然單個的測量值可能全都不同，但形成一組后它們趨于形 成一個影響因素：普通原因：難以排除，具有穩(wěn)定、可重復的分布；此時輸出可以預測。特殊原因： 必須排除，偶

3、然發(fā)生、影響顯著;此時將有不可預測方式影響輸出。生產(chǎn)過程控制就是要清除系統(tǒng)性因素（特殊原因）。第四節(jié)局部措施和對系統(tǒng)采取措施針對特殊原因由直接操作人采取適當糾正措局部措施:施。系統(tǒng)措施:此時大約可糾正15%解決變差的普通原因，此時大約可糾正85%的過程問題。由管理人員來采取措施。的過程問題。采取措施類型不正確，將給機構帶來在的損失，勞而無 功，延誤問題的解決。第五節(jié)過程控制和過程能力過程控制系統(tǒng)的目標：對影響過程的措施作出經(jīng)濟合理的決 定，處理好兩種變差原因的風險。（例滿足要求受控不受控可接受1類3類不可接受2類4類控 制圖） 過程控制系統(tǒng)的作用：當出現(xiàn)變差的特殊原因時提供統(tǒng)計信 號，從而采取

4、適當?shù)拇胧?。過程分類：利用量化的過程性能，反映能否滿足顧客要求的能力。例如：Cp和Cpk第六節(jié)過程改進循環(huán)及過程控制（例圖）第七節(jié) 控制圖：過程控制的工具（例圖）第八節(jié)控制圖的益處控制圖是了解過程變差并幫助達到統(tǒng)計控制狀態(tài)的有效工具;達到質(zhì)量水平的穩(wěn)定的成本;控制圖提供了通用的語言;控制圖減少混淆、挫折以及誤導性解決問題的努力而造成的高成本?？偨Y:SPC對象：過程過程測量利用控制圖分析特殊原因了解過程狀態(tài)受控與否丫控制/改進計算過程能力Cpk是否滿足普通原因改進保持第二章計計量型數(shù)據(jù)控制圖計量型數(shù)據(jù)的控制圖應用廣泛的原因:1. 大多過程和其輸出具有可測量的特性，所以其潛在應用很廣;2. 量化的

5、值比簡單的是一否陳述包含的信息更多;3. 雖然獲得一個測得的數(shù)據(jù)比獲得一個通過或不通過的數(shù)據(jù)成本高，但為了獲得更多的有關過程的信息而需 要檢查的件數(shù)卻較少，因此，在某些情況下測量的費 用更低;4. 由于在作出可靠的決定之前，只需檢查少量產(chǎn)品，因此可以縮短零件生產(chǎn)和采取糾正措施之間的時間間 隔;5. 用計量型數(shù)據(jù)，可以分析一個過程的性能，可以量化所作的改進，即使每個單值都在規(guī)范限界之內(nèi)。統(tǒng)計過程控制有效性評價:-過程質(zhì)量是否達到受控狀態(tài)-過程能力是否達到規(guī)定要求第一節(jié)均值和極差圖（X - R圖）準備工作：建立適合于實施的環(huán)境 定義過程 確定待管理（作圖）的特性應考慮：顧客的需求當前及潛在的問題區(qū)

6、域特性間的相互關系確定測量系統(tǒng)使不必要的變差最小化確定需要控制的質(zhì)量特性能定量的質(zhì)量特性與生產(chǎn)和使用關系重大的質(zhì)量特性對下道工序影響較大的質(zhì)量特性經(jīng)常出問題的質(zhì)量特性分析生產(chǎn)過程掌握規(guī)范對所選擇的質(zhì)量特性提出的要求 研究每一個生產(chǎn)步驟和多個特性之間的關系以 說明生產(chǎn)過程可能發(fā)生異常的地點及起因研究所選擇質(zhì)量特性的檢查方法，特別注意產(chǎn)生 測量誤差的因素考慮整個產(chǎn)品是作為同一總體還是多個總體確定控制點計量型數(shù)據(jù)控制圖的繪制與應用：A. 收集數(shù)據(jù)A.1 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)a. 子組大小所有的子組樣本的容量應保持恒定， 一般為 45 件連續(xù)生產(chǎn)的產(chǎn)品的組合；b. 子組頻率 應當在適當?shù)臅r間收集足

7、夠的子組，這樣子組才能反映潛在的變化；c.A.2子組數(shù)的大小一般情況下，包含100或更多單值讀數(shù)的 25或更多個的子組可以很好地用來檢驗穩(wěn)定性。A.3計算每個子組的均值（X）和極差（R）建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù)=(Xi + X 2 + + Xn)/ nR = X最大值一X最小值式中：Xl , X2為子組內(nèi)的每個測量值。n為子組的樣本容量。A.4選擇控制圖的刻度對于X圖：坐標上的刻度的最大值與最小值之差至少為子組均值的最大值與最小值的2倍。對于R圖：刻度值應從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差的2倍。A.5將均值和極差畫到控制圖上B. 計算控制限B.1計算R及XRi +

8、 R 2+ +R KXi + X2 + +XkX =B.2計算控制限UCLr=D 4RLCLr=D 3RUCLx=X + A2RLCLx=X - A2RB.3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線C. 過程控制解釋C .1分析用控制圖受控狀態(tài)的判斷準則：連續(xù)25個點都在控制界限內(nèi)，或 連續(xù)35個點中，在控制界限外的點不超過1個點，或 連續(xù)100個點中，在控制界限外的點不超過 2個點， 且點子無非隨機排列。非隨機排列情況:（在 2 S外的范圍內(nèi)）至少有2個點接近界限至少有3個點接近界限點子屢屢接近控制界限a. 連接3個點中，b. 連接7個點中，連（控制圖中心線一側連續(xù)出現(xiàn)的點）長（點子的 數(shù)目

9、）不少于間斷的連連續(xù) 側 連續(xù) 側 連續(xù) 側 連續(xù) 側a.b.C.d.11141720個點中，至少有10個點中，至少有12個點中，至少有14個點中，至少有16個點在中心線的個點在中心線的個點在中心線的個點在中心線的C.連接10個點中，至少有4個點接近界限6個點中，至少有 5個點超過中心線一側的 1連續(xù)3界限連續(xù)不少于7個點的上升或下降C .2識別并標注特殊原因C .3重新計算控制極限D. 過程能力解釋D.1A(T=R/d 2 = (yR/d2D.2計算過程能力ACp = （USL - LSL） / （6 TR/d廠） 注：僅限于公差中心與過程中心重合。SL :規(guī)范界限當Cp < 1能力不合格；當Cp > 1能力合格；CPU= （ uSL -X 廠/ （ 3 銅d2）ACPL= （X - LSL ）廣（3 赤/d2 ）Cpk =Z min /3=CPU 或 CPL 的最小值D.3評價過程能力基本目標：對過程的性能進行持續(xù)改進，首先應 考慮的是哪些過程應優(yōu)先獲得注意。未滿足要求的措施：通過減少普通原因引起的變差或將過程均值 調(diào)整到接近目標值方法來改進過程性能；臨時措施：對輸出進行篩選，根據(jù)需要進行報廢或返工 處置；改變規(guī)范使之與過程性能一致。D.