中興集團CP和CPK培訓(xùn)(共49頁).ppt

1、 擁有龐大的管理資料庫CPCP和和CPKCPK 擁有龐大的管理資料庫=0.41= 0.81過程過程A過程過程B過程過程 C =標(biāo)準(zhǔn)偏差標(biāo)準(zhǔn)偏差哪一個過程最佳哪一個過程最佳? ?過程表現(xiàn)如何？過程表現(xiàn)如何？什么是最佳的過程？什么是最佳的過程？什么是最差的過程？什么是最差的過程？你是否想知道，為什么？你是否想知道，為什么？= 擁有龐大的管理資料庫什么是工序 擁有龐大的管理資料庫 工序是產(chǎn)品、零部件制造過程的基本環(huán)節(jié)，也是品質(zhì)檢驗的基本環(huán)節(jié)。對工序?qū)嵭袊?yán)格的工序控制，它能在幫助現(xiàn)代工藝更加富有效率工作的同時，也使現(xiàn)代工藝具有經(jīng)濟上的現(xiàn)實意義。 如果一個高速精密的工序控制不當(dāng)，生產(chǎn)出的無用的廢品馬上就

2、會堆成山；如果產(chǎn)品稍微不符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)，它就會在后面的復(fù)雜裝配工序中造成很大的麻煩，并因拆卸、替換部件而造成巨大的損失。 擁有龐大的管理資料庫一道工序，是指一個或一組作業(yè)工人在一個工作地對一個或若干個勞動對象(產(chǎn)品或零件、半成品)進行物理和化學(xué)變化的過程；工序的過程就是操作者、機器、材料、工藝方法和環(huán)境等，在特定條件下，相互結(jié)合、相互作用的過程；工序的劃分主要取決于生產(chǎn)技術(shù)的客觀要求，同時也取決于勞動分工和提高勞動生產(chǎn)率的要求； 擁有龐大的管理資料庫什么是工序能力 擁有龐大的管理資料庫(1) 工序在穩(wěn)定狀態(tài)下能夠生產(chǎn)出合格品的能力稱為工序能力；每道工序都具有定量或定性的品質(zhì)要求(公差范圍或技術(shù)要

3、求)。為了預(yù)防工序產(chǎn)生不合格品，為了工序品質(zhì)的維持和改進，首先必須掌握工序所具有實際達(dá)到品質(zhì)要求的能力。(2) 穩(wěn)定狀態(tài)是指工序中的操作者、機器設(shè)備、所使用的材料、工藝方法和環(huán)境條件等都符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求，且作業(yè)活動處于受控狀態(tài)；(3) 工序能夠生產(chǎn)出合格品的多少，顯然與規(guī)定的品質(zhì)要求(公差范圍大小)直接有關(guān)； 擁有龐大的管理資料庫 產(chǎn)品品質(zhì)的波動性規(guī)律決定著工序加工出的一批產(chǎn)品的品質(zhì)特性值必定有波動幅度，必定有一定的分散范圍。按照數(shù)理統(tǒng)計學(xué)的理論可知，在正態(tài)分布情況下，分散幅度處于6(6倍標(biāo)準(zhǔn)偏差)范圍內(nèi)的比率為99.73%。分散幅度 6，表示該工序具有的實際加工精度，它是衡量工序能力的尺度

4、。若標(biāo)準(zhǔn)偏差越大，則工序的實際精度越差，不合格品率越高，工序能力越??；若標(biāo)準(zhǔn)偏差越小，則工序的實際精度越高，不合格品率越低，工序能力越大；注意：如果工序生產(chǎn)過程不穩(wěn)定，處于失控狀態(tài)，則不能計算標(biāo)準(zhǔn)偏差，應(yīng)找出并排除異常原因后重新抽樣測定，取得數(shù)據(jù), 再計算。 擁有龐大的管理資料庫如何判斷過程是否穩(wěn)定 擁有龐大的管理資料庫使用控制圖標(biāo)判斷過程是否穩(wěn)定控制圖表按照用途分類分析用控制圖控制用控制圖 擁有龐大的管理資料庫分析用控制圖。用全數(shù)連續(xù)取樣的方法獲得數(shù)據(jù)，進而分析、判斷工序是否處于穩(wěn)定。利用控制圖發(fā)現(xiàn)異常，通過分層等方法，找出不穩(wěn)定原因，采取措施加解決；控制用控制圖。按程序規(guī)定的取樣方法獲得數(shù)

5、據(jù)，通過打點觀察，控制異常原因的出現(xiàn)。當(dāng)點子分布出現(xiàn)異常，說明工序品質(zhì)不穩(wěn)定時，找出原因，及時消除異常影響因素，使工序恢復(fù)到正常的控制狀態(tài)。 擁有龐大的管理資料庫分析用控制圖的判斷準(zhǔn)則 擁有龐大的管理資料庫分析用控制圖上的點子同時滿足下述條件時，可認(rèn)為生產(chǎn)過程處于統(tǒng)計的控制狀態(tài)：A. 連續(xù) 25 點中沒有一點在控制界限線外或連續(xù) 35 點中最多 1 點在控制界限線外或連續(xù) 100 點中最多 2 點在控制界限線外。 擁有龐大的管理資料庫B. 控制界限線內(nèi)的點子的排列無下述異?，F(xiàn)象：鏈：連續(xù) 7 點或更多點、11點中有10點、14點中有12點、17點中有14點，20點中有16點在中心線一側(cè)；趨勢：

6、連續(xù)7點或更多的點具有上升或下降趨勢；周期；點子的排列隨時間的推移而呈周期性；點子靠近控制界限線：連續(xù) 3 點中有 2 點、7 點中有 3 點落在“2”與“3”控制線之間。 擁有龐大的管理資料庫控制用控制圖的判斷準(zhǔn)則 擁有龐大的管理資料庫點子落在控制界限線外或控制界限線上；控制界限線內(nèi)的點子的排列有異常：連續(xù)15點靠近中心線附近，落在“1”與中心線之間。鏈：連續(xù) 7 點或更多點、11點中有10點、14點中有12點、17點中有14點，20點中有16點在中心線一側(cè)；趨勢：連續(xù)7點或更多的點具有上升或下降趨勢；周期；點子的排列隨時間的推移而呈周期性；點子靠近控制界限線：連續(xù) 3 點中有 2 點、7

7、點中有 3 點落在“2”與“3”控制線之間。 擁有龐大的管理資料庫什么是工序能力指數(shù) 擁有龐大的管理資料庫(1) 工序能力指數(shù) Cp ，就是產(chǎn)品公差范圍(T)與6之比。Cp 值的大小即可定量計算出該工序的不合格品率，所以工序能力指數(shù) Cp的大小可以直接表示出工序品質(zhì)的水平。 擁有龐大的管理資料庫(2) 工序能力指數(shù) Cp 的計算方法在品質(zhì)特性值屬于計量值數(shù)據(jù)的情況下，工序能力指數(shù)的計算方法如下： 擁有龐大的管理資料庫當(dāng)給定雙向公差，品質(zhì)數(shù)據(jù)分布中心 ( ) 與公差中心 ( M ) 相一致時，用符號 Cp 表示。STTSTCLUP66UTLT公差上限； 公差下限。 X 擁有龐大的管理資料庫當(dāng)給定

8、雙向公差，品質(zhì)數(shù)據(jù)分布中心 ( ) 與公差中心 ( M ) 不一致時，即存在中心偏移量 ()時，用符號 Cpk 表示。 STCPK62|XM Tk2X 擁有龐大的管理資料庫當(dāng)給定單向公差的上限公差時，常采用的公式為：SXTCUPU 擁有龐大的管理資料庫當(dāng)給定單向公差的下限公差時，常采用的公式為： STXCLPL 擁有龐大的管理資料庫plpupkCCMinimumC,過程中心值偏移時過程中心值偏移時 擁有龐大的管理資料庫某零件品質(zhì)要求為 200.15 抽樣 100件，測得：mmX00.20mmS05. 0105. 0685.1915.2066STTSTCLUP 擁有龐大的管理資料庫某零件品質(zhì)要求

9、為 200.15 抽樣 100件，測得： mmX05.20mmS05. 000.20M05. 0|XM67. 005. 061 . 03 . 005. 0605. 023 . 062STCPK 擁有龐大的管理資料庫某部件清潔度的要求不大于 96 毫克，抽樣結(jié)果測得： 33. 112348963SXTCUPU48X12S毫克 擁有龐大的管理資料庫某金屬材料抗拉強度的要求不得少于 2/38cmkgX 2/8 . 1cmkgS11. 18 . 1332383STXCLPL2/ 擁有龐大的管理資料庫工序能力指數(shù)的評定 擁有龐大的管理資料庫67. 10 . 2Cp33. 167. 1Cp133. 1 C

10、p范 圍Cp1一般應(yīng)停止繼續(xù)加工，找出原因，改進工 藝，提高Cp值，否則全數(shù)檢驗，挑出不良品 分析分散程度大的原因，制訂措施加以改進，在不影響產(chǎn)品品質(zhì)情況下，放寬公差范圍，加強品質(zhì)檢驗，全數(shù)檢驗或增加檢驗頻次。必須用控制圖或其它方法對工序進行控制和監(jiān)督，以便發(fā)現(xiàn)異常波動；對產(chǎn)品按正常規(guī)定進行檢驗當(dāng)不是關(guān)鍵或主要項目時，放寬波動幅度降低對原材料的要求；簡化品質(zhì)檢驗，采用抽樣檢驗或減少檢驗頻次為提高產(chǎn)品品質(zhì)，對關(guān)鍵或主要項目，再次縮小公差范圍；或為提高效率、降低成本而放寬波動幅度，降低設(shè)備精度等級等。措 施0 . 2C 擁有龐大的管理資料庫提高工序能力指數(shù)的途徑 擁有龐大的管理資料庫影響工序能力指

11、數(shù)的三個變量STCPK62產(chǎn)品品質(zhì)規(guī)格的范圍，公差范圍 T；工序加工分布中心與公差中心 M 的偏移量 工序加工的品質(zhì)特性值的分散程度，標(biāo)準(zhǔn)偏差 S；由工序能力指數(shù)的計算公式可見：減少中心偏量 ，或減少標(biāo)準(zhǔn)偏差 S，或增大公差范圍 T，都能提高工序能力指數(shù)。 擁有龐大的管理資料庫 實踐證明，在工序加工分析時，減少中心偏移量的防誤措施，在技術(shù)上、操作上比較容易實現(xiàn)，又比較經(jīng)濟，不必為此而花費大量的人力、物力和財力，因此，把它作為提高工序能力指數(shù)的首要措施。 當(dāng)中心偏移量=0 時，Cp 值仍舊較小時，才考慮減小工序加工的分散程度或研究是否有可能放寬公差范圍，放寬公差范圍必須有不影響產(chǎn)品品質(zhì)、不影響用

12、戶使用效果的充分依據(jù)。提高工序能力往往需要對現(xiàn)場的生產(chǎn)進行工藝上的改進和改造。技術(shù)上難度較大，花費時間較長，需要耗用較多的費用，然而提高工序能力卻正是提高了制造品質(zhì)的水平，企業(yè)為保證品質(zhì)，有時是必要的。 擁有龐大的管理資料庫CpkCpk：process capability process capability （K K是偏移量），是是偏移量），是過程能力指數(shù)，表示過程能力滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的過程能力指數(shù)，表示過程能力滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的程度；程度；PpkPpk：process performanceprocess performance（K K同樣是偏移量），同樣是偏移量），指的是長期過程性能指數(shù)。指的

13、是長期過程性能指數(shù)。cpk=cpk=（1-k1-k）T/6T/6STST, ,其中其中T T就是技術(shù)規(guī)格的公差幅度，即上下規(guī)格限就是技術(shù)規(guī)格的公差幅度，即上下規(guī)格限之差；之差；Ppk=Ppk=（1-k1-k）T/6T/6LTLTPpkPpk表明過程可能不穩(wěn)定的情況。表明過程可能不穩(wěn)定的情況。CpkCpk要求過程要求過程穩(wěn)定且數(shù)據(jù)正態(tài)。穩(wěn)定且數(shù)據(jù)正態(tài)。 擁有龐大的管理資料庫過程能力分析操作流程圖 擁有龐大的管理資料庫 擁有龐大的管理資料庫操作實例：操作實例：現(xiàn)安排SMT第13生產(chǎn)線，生產(chǎn)P100手機主板，其錫膏厚度要求是，0.1280.196mm。 生產(chǎn)線經(jīng)過設(shè)備調(diào)整后開始正常生產(chǎn)。為了觀察生產(chǎn)

14、是否穩(wěn)定，QC連續(xù)檢查了35塊PCB板的錫膏厚度，并做成I-MR圖表。 擁有龐大的管理資料庫1571481791491611671581901651541691731561731491661711531711711831481651691541731581541811561721731501631613530252015105Subgroup0210200190180170160150140130120Individual ValueMean=164.0UCL=205.3LCL=122.650403020100Moving RangeR=15.55UCL=50.80LCL=0I and MR

15、Chart for C1做成IMR控制圖表，并執(zhí)行穩(wěn)定狀態(tài)是否異常的測試 擁有龐大的管理資料庫1. 一個點在中心線3Sigma范圍之外2. 連續(xù)9個點在中心線的一側(cè)或1Sigma范圍以外 3. 連續(xù)6個點同時上升或下降 4. 連續(xù)14個點交替上升和下降 5. 連續(xù)3個點中有2個點在2Sigma范圍之外6. 連續(xù)5個點中有4個在1Sigma范圍之外7. 連續(xù)15個點在中心線兩側(cè)的1Sigma范圍內(nèi) 8. 連續(xù)8個點在中心線兩側(cè)的1Sigma范圍外 連續(xù) 25 點中沒有一點在控制界限線外或連續(xù) 35 點中最多 1 點在控制界限線外或連續(xù) 100 點中最多 2 點在控制界限線外。鏈：連續(xù) 7 點或更

16、多點、11點中有10點、14點中有12點、17點中有14點，20點中有16點在中心線一側(cè)；趨勢：連續(xù)7點或更多的點具有上升或下降趨勢；周期；點子的排列隨時間的推移而呈周期性；點子靠近控制界限線：連續(xù) 3 點中有 2 點、7 點中有 3 點落在“2”與“3”控制線之間。Minitab的8項判斷判穩(wěn)原則 擁有龐大的管理資料庫數(shù)據(jù)顯示過程穩(wěn)定?？梢赃M行正常過程控制。 擁有龐大的管理資料庫生產(chǎn)線每小時抽檢一PCB板的錫膏厚度，并記錄測量數(shù)據(jù)。中途如果有調(diào)機，恢復(fù)生產(chǎn)時需要重新判穩(wěn)。6月1日6月2日6月3日6月4日6月5日6月6日6月7日6月8日6月9日6月10日6月11日6月12日6月13日6月14日

17、161171160181169178171173170157162174162159176165157182154158151175170167169138167159160154170156143168151176177183162160171174146159160159163168157165146170153172165164165155170153164157165160180149156170165155155155164160157176189150158157183153148169153164149151146186165167168168169161169156140170

18、161176164154155167173159168175167168136165153156149152163167158171146160173178161166186166154176161153158160149168165165175159145165144147164153155136170160168173175171158161166166165141145167174164144156157167156169165172171162165183151161145171165136145163183164164139158168169163154170138153170172

19、162154162164173163151168163175171153168171165160158169154158每天的數(shù)據(jù)如下表： 擁有龐大的管理資料庫Average: 162.355StDev: 9.31334N: 22Anderson-Darling Normality TestA-Squared: 0.142P-Value: 0.966144154164174184.001.01.05.20.50.80.95.99.999Probability6月 1日Normal Probability Plot檢驗6月1日數(shù)據(jù)是否正態(tài)P值大于0.05，可以認(rèn)為服從正態(tài)分布 擁有龐大的管理資料

20、庫0.95Subgroup1.001.05155160165170Sample MeanMean=162.4UCL=168.4LCL=156.351015Sample StDevS=9.313UCL=13.65LCL=4.977Xbar/S Chart for 6月 1日開始做成控制圖表 擁有龐大的管理資料庫130140150160170180190200LSLUSLTargetProcess Capability Analysis for 6月 1日USLTargetLSLMeanSample NStDev (Within)StDev (Overall)CpCPUCPLCpkCpmPpPPU

21、PPLPpkPPM USLPPM TotalPPM USLPPM TotalPPM USLPPM Total196.000162.000128.000162.355229.424839.424831.201.191.221.191.221.201.191.221.19 0.00 0.00 0.00133.60178.63312.23133.60178.63312.23Process DataPotential (Within) CapabilityOverall CapabilityObserved PerformanceExp. Within PerformanceExp. Overall

22、PerformanceWithinOverall計算當(dāng)日的CPK200190180170160150140130TargetUSLLSLProcess Capability Analysis for 6勻PPM TotalPPM USLPPM USLPPM USLPPM LSLPpkPPLPPUPpCpmCpkCPLCPUCpStDev (Overall)StDev (Within)Sample NMeanLSLTargetUSL699.40607.52 91.88699.40607.52 91.88 0.00 0.00 0.001.081.251.081.161.141.081.251.081.169.748149.7481422164.462128.000162.000196.000Exp. Overall PerformanceExp. Within PerformanceObserved PerformanceOverall CapabilityPotential (Within) CapabilityProcess DataWithinO 擁有龐大的管理資料庫將CPK做成IMR控制圖2.01.5Su