上海佳研仿真工作室期刊三電磁兼容EMC(Electrom

1、 j i j j i a y j i a j i j i a y a n i a y a a y a n y a a j i y n j a n j n i a a y n j a i a j y i a n j a a i y a a n y i j i j a a y n a j n y i a j i y a a i n a j n y a a y n a i y a a j n a n j i y n a a j i j i j a i y n a y i a y a a y a n a n y a n a n n-電磁兼容EMC （Electromagnetic Compatibil

2、ity）概述對(duì)于當(dāng)今的電子產(chǎn)品，其電磁兼容性（Electromagnetic Compatibility，簡(jiǎn)寫(xiě)為EMC ）是指產(chǎn)品既不要產(chǎn)生過(guò)大的電磁干擾（Electromagnetic Interference，簡(jiǎn)寫(xiě)為EMI ）影響其它產(chǎn)品或者設(shè)備的正常運(yùn)行，又應(yīng)有一定的承受其它產(chǎn)品或設(shè)備干擾的能力或抗擾度（Immunity ）。隨著經(jīng)濟(jì)的發(fā)展及人們生活水平的提高，家用及辦公用電子產(chǎn)品越來(lái)越普及，而這些家用及辦公用電子產(chǎn)品在消耗大量電能的同時(shí)，也將一部分能量通過(guò)電磁場(chǎng)的形式輻射到空間以影響我們的生活環(huán)境，這種生活環(huán)境中的電磁場(chǎng)如果超過(guò)一定限值將會(huì)影響我們的身體健康，所以國(guó)內(nèi)外均有相關(guān)的EMC

3、 標(biāo)準(zhǔn)來(lái)限制電子產(chǎn)品的電磁干擾，如國(guó)內(nèi)的3C 認(rèn)證、歐美的CE 、FCC 認(rèn)證等。如果我們的電子產(chǎn)品不能通過(guò)這些EMC 標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證，將無(wú)法獲得市場(chǎng)準(zhǔn)入證，所以產(chǎn)品的EMC 設(shè)計(jì)已越來(lái)越受到重視。圖1為某款家用終端產(chǎn)品的CLASS B標(biāo)輻射發(fā)射摸底測(cè)試結(jié)果，該款終端產(chǎn)品為塑料外殼且無(wú)金屬屏蔽罩的家用電子產(chǎn)品，產(chǎn)品EMC 設(shè)計(jì)的好壞完全依賴(lài)于板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)。如果板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)不好，將會(huì)嚴(yán)重影響產(chǎn)品的研發(fā)進(jìn)度，增加產(chǎn)品的研發(fā)成本并削弱產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力，進(jìn)而影響到該款產(chǎn)品的盈利能力。圖1 某款終端產(chǎn)品RE CLASS B標(biāo)摸底測(cè)試結(jié)果上海佳研仿真工作室期刊三 j i j j i a y j i a j i

4、 j i a y a n i a y a a y a n y a a j i y n j a n j n i a a y n j a i a j y i a n j a a i y a a n y i j i j a a y n a j n y i a j i y a a i n a j n y a a y n a i y a a j n a n j i y n a a j i j i j a i y n a y i a y a a y a n a n y a n a n n 電子產(chǎn)品的小型化、輕量化及美觀化是其市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵，無(wú)笨重的金屬屏蔽結(jié)構(gòu)是產(chǎn)品小型化、輕量化的基礎(chǔ)，無(wú)金屬屏蔽罩的產(chǎn)

5、品EMC 設(shè)計(jì)完全依賴(lài)于板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)； 低成本也是產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力的關(guān)鍵，家用或者辦公用電子產(chǎn)品的低成本對(duì)于EMC 設(shè)計(jì)可以從以下幾方面加以考慮，一是廉價(jià)的塑料外殼替代較昂貴的屏蔽金屬外殼，在大批量生產(chǎn)時(shí)將成本較明顯；二是板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)的低成本化，盡量避免過(guò)度EMC 設(shè)計(jì)及避免使用昂貴的EMC 器件；三是減小板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)的改版次數(shù)，縮短研發(fā)周期并節(jié)約研發(fā)成本； 板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)對(duì)于板級(jí)可靠性及系統(tǒng)級(jí)可靠性至關(guān)重要，板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)與SI、PI設(shè)計(jì)及分析關(guān)聯(lián)性較強(qiáng)，如果在PCB 板級(jí)很好地兼容SI、PI及EMC 設(shè)計(jì)，對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量將有非常大的幫助。對(duì)于板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)，目前除了豐富的板

6、級(jí)EMC 規(guī)則、規(guī)范外，業(yè)界還有很多很好的EMC 分析工具，這些工具不僅可以對(duì)板級(jí)信號(hào)進(jìn)行EMI 分析（如圖2）、對(duì)單板進(jìn)行近場(chǎng)分析及遠(yuǎn)場(chǎng)分析（如圖3、圖4），還可以進(jìn)行板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)措施的定性及定量分析及產(chǎn)品的遠(yuǎn)場(chǎng)量化評(píng)估。這為我們的板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)提供了非常好的分析平臺(tái)。圖2 信號(hào)的頻域仿真分析作為系統(tǒng)電路原理載體的PCB 單板，PCB 板級(jí)EMC 設(shè)計(jì)非常關(guān)鍵： 圖4 板級(jí)空間場(chǎng)分析圖3 板級(jí)近場(chǎng)分析（類(lèi)似于EMSCAN 掃描測(cè)試）上海佳研仿真工作室j i j j i a y j i a j i j i a y a n i a y a a y a n y a a j i y n j a n j n i a a y n j a i a j y i a n j a a i y a a n y i j i j a a y n a j n y i a j i y a a i n