超聲波檢測工藝規(guī)程完整

1、超聲波檢測工藝規(guī)程1適用范圍1.1 本工藝適用于板厚為6-250mm的板材、碳素鋼和低合金鋼鍛件、母材壁厚 8-400mm的全焊透熔化焊對接焊縫及壁厚大于等于 4mm ,管徑為57-1200mm 碳素鋼和低合金石油天然氣長輸、集輸和其他油氣管道環(huán)向?qū)雍缚p、鋼質(zhì)儲 罐對接焊縫的超聲波檢測等。1.2 本工藝規(guī)定了使用 A型脈沖反射式超聲波探傷儀進行檢測過程中，對受檢設備做出準確判定應遵循的一般程序和要求。1.3 引用標準JB4730/T-2005承壓設備無損檢測SY/T4109-2005為油天然氣鋼質(zhì)管道無損檢測GB11345-89鋼焊縫手工超聲波探傷方法和探傷結(jié)果的分級 JB/T9214-19

2、99 A型脈沖反射式超聲探傷系統(tǒng)測試方法JB/T10062-1999超聲探傷用探頭性能測試方法GB50128-2005 金式圓筒形鋼制焊接儲罐施工及驗收規(guī)范2對檢測人員的要求2.1 從事超聲波檢測人員必須經(jīng)過培訓 ，持證上崗。只有取得質(zhì)量技術監(jiān)督部 門頒發(fā)的超聲波檢測技術等級證書的人，方可獨立從事與該等級相應的超聲波 檢測工作。2.2 檢測人員應具有良好的身體素質(zhì)，其校正視力不得低于5.0,并每年檢查一 次。2.3 檢測人員應嚴格執(zhí)行檢測作業(yè)安全防護指導書和其它安全防護規(guī)定，確保安全生產(chǎn)3檢測程序3.1 根據(jù)工程特點和本工藝編制具體的無損檢測技術方案。3.2 受檢設備經(jīng)外觀檢查合格后，由現(xiàn)場監(jiān)

3、理或檢驗員開據(jù)無損檢測指令或 無損檢測委托單到檢測中心。3.3 檢測人員按指令或委托單要求進行檢測準備，技術人員根據(jù)實際情況編制 探傷工藝卡。3.4 檢測人員按超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導書等工藝文件進行設備調(diào)試。3.5 外觀檢查合格后，施加耦合劑，實施檢測，做好超聲波檢測記錄。3.7 根據(jù)檢測結(jié)果和委托單，填寫相應的回執(zhí)單或合格通知單。若有返修，還 應出據(jù)返修通知單，標明返修位置等。將回執(zhí)單和返修通知單遞交監(jiān)理或檢 驗員，同時對受檢設備進行檢驗和試驗狀態(tài)標識 。3.8 返修后，按要求重新進行檢測。3.9 在檢測過程中應有R或田級人員在現(xiàn)場。所有的檢測工作完成后，由具有 超聲波II或m級人員出據(jù)

4、超聲波檢測報告，由技術負責人或其授權(quán)人審核。 4探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能的一般要求4.1 探傷儀采用A型脈沖反射式探傷儀，工作頻率范圍為0.5-10MHZ ,儀器至 少在熒光屏滿刻度80 %范圍內(nèi)呈線性顯示。探傷儀應具有80dB以上的連續(xù)可 調(diào)衰減器，步進級每檔不大于 2dB,其精度為任意相鄰12dB誤差在tdB以 內(nèi)，最大累計誤差不超過1dB,水平線性誤差不超過1%,垂直線性誤差不超過 5%。4.2 探頭晶片有效面積一般不應超過500mm 2,且任一邊長不應大于25mm。單 斜探頭聲束軸線水平偏離角不應大于 2o,主聲束垂直方向不應有明顯的雙峰4.3 探傷儀和探頭的系統(tǒng)性能4.3.1 在

5、達到所探工作的最大檢測聲程時，其有效靈敏度余量應大于或等于10dB。4.3.2 儀器和直探頭組合的始脈沖寬度：對于頻率為5 MHz的探頭，其占寬不 得大于10mm ;對于頻率為2.5MHz的探頭，具占寬不得大于15mm。4.3.3 直探頭的遠場分辨力應大于或等于30dB,斜探頭的遠場分辨力應大于或等于6dB。4.4 超聲波檢測的一般要求4.4.1 檢測時，應盡量掃查到工作的整個被檢區(qū)域，探頭的每次掃查復蓋率應大 于探頭直徑的15%。4.4.2 探頭的掃查速度不應超過150mm/s。當采用自動報警裝置掃查時，不受此限。4.4.3 掃查靈敏度至少應比基準靈敏度高6dB。4.4.4 應采用透聲性好且

6、不損傷受檢設備表面的耦合劑，如機油、漿糊、甘油和水等。4.4.5 檢測面應經(jīng)外觀檢查合格，所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物都應予 以清除，具表面粗糙度應符合檢測要求。4.4.6 在制作距離-波幅曲線時，應考慮各種耦合補償。4.5 校準4.5.1 校準應在標準試塊上進行，校準中應使超聲主聲束垂直對準反射體的軸線，以獲得穩(wěn)定的和最大的反射信號。專業(yè)word可編輯4.5.2 儀器在開始使用時，應對其水平線性進行測定。使用中，每隔三個月至少 應對儀器的水平線和垂直線性進行一次測定。4.5.3 斜探頭使用前，應進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨 力等的校準。使用過程中，每個工作日應校準前

7、沿距離、K值和主聲束偏離。 直探頭使用前檢查始脈沖占寬、靈敏度余量和分辨力。4.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復核4.6.1 復核的時機：每次檢測前均應對掃描線、靈敏度進行校核，遇有下列情況應隨時進行重 新校核：a）校準后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時；b）檢測者懷疑掃描量程或靈敏度有變化時；c）連續(xù)工作4小時以上時；d）工作結(jié)束時。4.6.2 每次檢查結(jié)束前，應對掃描量程進行復核。如果任意一點在掃描線上的偏 移超過掃描讀數(shù)的10%,則掃描量程應予以重新調(diào)整，并對上一次復核以來所 有的檢測部位進行復驗。4.6.3 每次檢查結(jié)束前，應對掃查靈敏度進行復核，距離-波幅曲線的校核一般 不少于3點。校核

8、時，如曲線上任何一點幅度下降 2dB,則應對上一次以來所 有的檢測結(jié)果進行復檢；如幅度上升2dB,則應對所有的記錄信號進行重新評 定。4.7 試塊4.7.1 試塊應妥善保管，各種缺欠孔要經(jīng)常清理。4.7.2 試塊選擇應注意外形尺寸應能代表被檢工件的特征，試塊的厚度應與被檢 工作的厚度相對應。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進行熔焊時，試塊的厚度應由其最大厚度來確定。4.7.3 現(xiàn)場檢測時，可以采用其它型式的等效試塊。4.8 探傷儀、探頭、試塊和系統(tǒng)性能測試按超聲波探傷儀調(diào)試作業(yè)指導書進行。5鋼板的超聲檢測本條適用于板厚6250mm的板材的超聲檢測和缺欠等級評定。5.1 探頭的選用按下表進

9、行。板厚mm采用探頭公稱頻率探頭晶片尺寸雙晶直探頭單晶直探頭620雙晶直探頭5MHz晶片面積不小于150mm 2/>20 40單晶直探頭5MHz/圓晶片直徑為 1420mm>40 250單晶直探頭2.5MHz/圓晶片直徑為 2025mm5.2 標準試塊5.2.1 用雙晶直探頭檢測壁厚小于或等于20mm的鋼板時，采用CBI標準試5.2.2 用單晶直探頭檢測壁厚大于 20mm的鋼板時，采用CBII標準試塊。試塊 厚度與被檢鋼板厚度相近。5.3 檢測時機對于要求淬火、正火或回火處理的鋼板，檢測應在熱處理后進行。5.4 檢測靈敏度5.4.1 板厚小于或等于20mm時，用CBI試塊將工件等厚

10、部位第一次底波高度 調(diào)整到滿刻度的50%,再提高10dB作為基準靈敏度。5.4.2 板厚大于20mm時，應將CBII試塊05平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻 度的50 %作為檢測靈敏度。5.4.3 板厚大于探頭的三倍近場區(qū)時，也可取鋼板無缺欠的完好部位的第一次底波來校準靈敏度，其結(jié)果應與5.4.2條相一致。5.5 檢測方法5.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制平面進行檢測。若檢測人員認為需要或設計上有要求 時，也可對鋼板的上下兩軋制平面分別進行檢測。5.5.2 掃查方式a）探頭沿垂直于鋼板壓延方向，按間距不大于100mm的平行線進行掃 查。在鋼板剖口預定線兩側(cè)各 50mm （當板厚超過100mm時

11、，以板厚的一半 為準）內(nèi)應作100 %掃查。b）根據(jù)合同、技術協(xié)議書或圖樣的要求，也可進行其它形式的掃查。5.6 缺欠記錄5.6.1 在檢測過程中出現(xiàn)下列三種情況之一者及作為缺欠：a）缺欠第一次反射波（Fi）波高大于或等于滿刻度的50%,即Fi>50%者。b）當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎ˙i）波高未達到滿刻度，此時，缺欠第一次反射 波（Fi）波高與底面第一次反射波（Bi）之比大于或等于的 50%,即Bi<100%,而 Fi/ Bi>50%者。c）當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǎㄋ龋┎ǜ叩陀跐M刻度的50%,即Bi<50%者。5.6.2 缺欠的邊界或指示長度的測定方法a）檢出缺欠后，應在它的周

12、圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺欠的延伸及范圍。b）用雙晶直探頭確定缺欠的邊界或指示長度時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直，使缺欠波下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的 25%或使 缺欠第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為 50%。此時，探頭中心的移 動距離即為缺欠的指示長度，探頭中心點即為缺欠的邊界點。兩種方法測得的 結(jié)果以較嚴重者為準。c）用單直探頭確定缺欠的邊界或指示長度時，移動探頭，使缺欠第一次反 射波高下降到檢測靈敏度條件下熒光屏滿刻度的 25 %或使缺欠第一次反射波與 底面第一次反射波高之比為 50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺欠的指示 長度，探頭中心點即為缺欠的邊界點。兩種

13、方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。d）確定5.6.i c）條邊界或指示長度時，移動探頭，使底面第一次反射波升 高到熒光屏滿刻度的50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺欠的指示長度， 探頭中心點即為缺欠的邊界點。e）當采用第二次缺欠波和第二次底波來評定缺欠時，檢測靈敏度應以相應 的第二次反射波來校準。5.7 缺欠的評定方法5.7.1 缺欠指示長度的評定準則：一個缺欠按其指示的最大長度作為該缺欠的指示長度。若單個缺欠的指示長度小于40mm時，可不做記錄。5.7.2 單個缺欠指示面積的評定規(guī)則a) 一個缺欠按其指示的最大面積作為該缺欠的單個指示面積。當其小于下表時，可不作記錄。等級單個缺欠指示長度(mm

14、)單個缺欠指小面積(cm2)在任, 1m X1m檢測面積內(nèi)存在的缺欠面積百分比()以下單個缺欠指小面積不記(cm2)I<80<25<3<9R<100<50<5<15m<120<100<10<25IV<150<100<10<25V超過IV級者b)多個缺欠其相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰小缺欠的指示長度(取其較大值)時，其各缺欠面積之和作為單個缺欠指示面積。5.7.3 缺欠面積占有率的評定規(guī)則：在任一 1mX1m檢測面積內(nèi)，按缺欠所占的 百分比來確定。如鋼板面積小于Imxim,可按比例折算。5.8

15、 鋼板缺欠等級評定5.8.1 缺欠等級劃分見5.7.2的表格。5.8.2 在坡口預定線兩側(cè)各50mm (板厚超過100mm時，以板厚的一半為準) 內(nèi)，缺欠的指示長度大于或等于50mm時，則應評為V級。專業(yè)word可編輯5.8.3 在檢測過程中，檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺欠存在 時，則應評為V級。6鍛件的超聲檢測本條適用于碳素鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和缺欠等級評定。不適用于奧氏體鋼等粗晶材料的超聲檢測，也不適用于內(nèi)外徑之比小于 80%的環(huán)形和筒 形鍛件的周向橫波檢測。6.1 試塊6.1.1 縱波直探頭標準試塊采用CSI和CSH、CSIH試塊，也可自行加工其他對比試塊。6.1.2

16、 縱波雙晶直探頭標準試塊a）工件檢測距離小于45mm時，應采用CSII試塊。b）縱波雙晶直探頭標準試塊的形狀和尺寸應符合JB4730表5和圖5的規(guī)定。6.1.3 檢測面是曲面時，應采用CSIH標準試塊來測定由于曲率不同而引起的聲 能損失，其形狀和尺寸符合JB4730圖6的規(guī)定。6.2 檢測時機原則上應安排在熱處理后，槽、孔、臺階加工前進行。若熱處理后鍛件形 狀不適合超聲檢測時，也可在熱處理前進行，但在熱處理后仍應對鍛件進行盡 可能完全的檢測。檢測面的表面粗糙度Ra為6.3um。6.3 檢測方法鍛件一般應進行縱波檢測。對筒形和環(huán)形鍛件還應進行橫波檢測，但掃查 部位和驗收標準應由供需雙方商定。6.

17、3.1 橫波檢測應按JB4730附錄C的要求進行。6.3.2 縱波檢測原則上應從兩個相互垂直的方向進行檢測，盡可能檢測到鍛件的 全體積。鍛件厚度超過400mm時，應從相對兩端面進行100%的掃查。6.4 檢測靈敏度的確定6.4.1 縱波直探頭檢測靈敏度的確定當被檢部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時 ，原則上可選用底波計 算法確定檢測靈敏度。對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的 三倍近場區(qū)時，可直接采用CSI標準試塊確定檢測靈敏度。6.4.2 縱波雙晶直探頭檢測靈敏度的確定選if¥ CSII試塊，并依次測試一組不同檢測距離的3平底孔（至少三個）。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的

18、回波幅度達到滿刻度的 80%。不改變儀器的 參數(shù)，測出其它平底孔回波的最高點，將其標在熒光屏上，連接這些點，即是 對應于不同直徑平底孔的縱波雙晶直探頭的距離 一波幅曲線，并以此作為檢測 靈敏度。6.4.3 檢測靈敏度一般不得低于最大檢測距離的 2mm平底孔當量直徑。6.5 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的確定6.5.1 在工件無缺欠完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面平行且有代表性的部位 ， 調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度 （B1）為滿刻度的50%,記錄此時衰減器的讀 數(shù)，再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2）為滿刻度的50%,兩次衰減 器讀數(shù)之差即為（BB2）的dB差值。6.5.2 衰減系數(shù)的計算公式為：（T

19、WN）(B1- B2) -6dB2T當 T<3N ,且滿足 n>3N/t,m=2n:a= (Bi- B2) -6dB2(m-n) T式中：a-衰減系數(shù)，dB/m (單程)；(Bi- B2)-兩次衰減器讀數(shù)之差，dB;T工件檢測厚度，mm 0m、n一底波反射次數(shù)。6.5.3 工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。6.6 缺欠當量的確定6.6.1 采用AVG曲線及計算法確定缺欠的當量。對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺欠，可 采用單直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺欠當量。也可采用其它 等效方法來確定。6.6.2 計算缺欠當量時，當材質(zhì)衰減系數(shù)超過4 dB/m ,應考慮修正。6.

20、7 缺欠記錄6.7.1 記錄當量直徑超過4mm的單個缺欠的波幅和位置。6.7.2 密集性缺欠：記錄密集性缺欠中最大當量缺欠的位置和分布。餅形鍛件應 記錄大于或等于4mm當量直徑的缺欠密集區(qū)，其它鍛件應記錄大于或等于 3mm直徑的缺欠密集區(qū)。缺欠密集區(qū)面積以50mm X50mm的方塊作為最小量 度單位，其邊界可由6 dB法決定。應按表二要求記錄底波降低量。6.7.3 衰減系數(shù)：若供需雙方有規(guī)定時，應記錄衰減系數(shù)。6.8 缺欠等級評定6.8.1 單個缺欠等級評定見表一。6.8.2 底波降低量的等級評定見表二。6.8.3 密集區(qū)缺欠等級評定見表三。表一單個缺欠等級評定等級IRmIVV缺欠當量直徑曲0

21、4+(>08dB)C4+(>8 12dB)04+(>12 16dB)>O4+16dB表二由缺欠引起底波降低量的等級評定等級IRmIVV底波降低量BG/BF<8> 8 14> 14 20>20 26>26注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺欠。表三 密集區(qū)缺欠的等級評定等級IRmIVV密集區(qū)缺欠占檢測總面積百分比%0>05> 510> 10 20>206.8.4 表一、表二和表三的等級應作為獨立的等級分別使用。6.8.5 如果工件的材質(zhì)衰減對檢測效果有較大的影響，應重新進行熱處理。6.8.6 如果被檢測人員判定為危害

22、性缺欠時，鍛件的質(zhì)量等級為V級。6.8.7 鍛件修補后，應按本標準的要求進行檢測和評定。7焊縫的超聲波檢測（JB4730標準）本條適用于母材厚度為6400mm全焊透熔化焊對接焊縫的超聲檢測。不 適用于鑄鋼及奧氏體鋼焊縫，也不適用于外徑小于 250mm 或內(nèi)外徑之比小于 80%的縱向焊縫檢測。7.1 試塊7.1.1 采用的標準試塊為 CSK-IA、CSK-HA、CSK-IHA、CSK-IVA。CSK-1 A、CSK-HA、CSK-IHA試塊適用壁厚范圍為 6120mm的焊縫；CSK-1 A和 CSK-IVA系列試塊適用壁厚范圍大于120400mm的焊縫。在滿足靈敏度要求 時，也可采用其它型式的等

23、效試塊。7.1.2 檢測曲面工件時,如檢測面曲率半徑R小于等于W2/4時（W為探頭接觸 面寬度，環(huán)縫檢測時為探頭寬度，縱縫檢測時為探頭長度），應采用與檢測面 曲率相同的對比試塊，反射孔的位置可參照對比試塊確定。試塊應滿足：b>2 店/D0式中：b一試塊寬度，mm；入i波波長，mm；S一聲程，mm；D0聲源有效直徑，mm。7.2 檢測準備7.2.1 檢測面a）焊縫檢測一般采用一種 K值頭、利用一次反射法在焊縫的單面雙側(cè)對整 個焊接接頭進行檢測。當母材厚度大于46mm時，采用雙面雙側(cè)的直射波檢 測。對于要求比較高的焊縫，根據(jù)實際需要也可將焊縫余高磨平，直接在焊縫 上進行檢測。b）檢測區(qū)域的寬

24、度應是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當于母材厚度30%的一段區(qū)域，這個區(qū)域最小為5mm,最大為10 mm。c）探頭移動區(qū)應清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測表面應平整 光滑，其表面粗糙度Ra應小于等于6.3um, 一般應進行打磨。移動區(qū)范圍應滿足 下列要求：采用直射法時，移動區(qū)應不少于 0.75TK;采用一次反射法或用列式掃查 時，移動區(qū)應不少于1.25TK （T板厚；K探頭K值。）。d）去除余高的焊縫，應將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫， 如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應進行適當?shù)男弈?，并作圓滑過 渡以免影響檢驗結(jié)果的評定。7.2.2 探頭K值的選擇7.2.2.1

25、探頭K值的選擇按下表規(guī)定選擇：厚度（mm）探頭K值（折射角）6253.02.0 (72° -60° )>25 462.51.5 (68° 46° )>46 1202.01.0 (60° -45° )>120 4002.01.0 (60° -45° )7.2.2.2 用列式掃查，推薦選用兩個K1值的探頭，兩探頭實際折射角相差不應 超過2o,探頭前沿長度相差應小于2mm。為便于探測厚焊縫坡口邊緣未熔合缺 欠，亦可選用兩個不同K值的探頭，但兩個探頭K值 均應在0.71.43范圍。7.3 距離一波幅曲線的

26、繪制7.3.1 曲線按所用探頭和儀器在相應的試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成 ，該曲線族由 評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)， 定量線與判廢線之間（包括定量線）為R區(qū)，判廢線及其以上為田區(qū)。7.3.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇a） 壁厚為6120mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏度按表四規(guī)定；b） 壁厚大于120400mm的焊縫，其距離一波幅曲線靈敏度按表五規(guī)定；c）直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表六規(guī)定；d） 檢測橫向缺欠時,應將各線靈敏度均提高6dB;e） 檢測面曲率半徑R小于或等于 W2/4時，距離一波幅曲線的繪制應在曲面對比試塊上進行。f）工件的表面耦合損失和

27、材質(zhì)衰減應與試塊相同，在一跨距離聲程內(nèi)最 大傳輸損失差不超過2 dB時可以不進行補償。表四 距離一波幅曲線的靈敏度（JB4730）試塊型式板厚mm評定線定量線判廢線CSK-HA6462X40-18dBC2 W0-12dB2 W0-4dB>46 1202X40-14dB2 X40-8dB2 X40+2dBCSK-IHA81501 X6-12dB 1 X6-6dB 1 X6+2dB>15 46 1 x6-9dB 1 X6-3dB 1 X6+5dB>46 120 1 x6-6dB1 X6 1 X6+10dB表五 距離一波幅曲線的靈敏度（JB4730）試塊型式板厚mm評定線定量線判廢

28、線CSK-IVA>120 400RI-16dB d-10dBd表六 T型焊接接頭直探頭距離一波幅曲線的靈敏度（JB4730）評定線定量線判廢線2mm平底孔3mm平底孔C4mm平底孔7.4 檢測方法7.4.1 平板對接焊縫的檢測a）為檢測縱向缺欠,原則上采用一種K值或兩種K值探頭在焊縫的單面雙 側(cè)進行檢測。母材厚度大于 46mm時，采用雙面雙側(cè)檢測，如受幾何條件限 制，也可在焊縫雙面單側(cè)采用兩種 K值探頭進行檢測。斜探頭應垂直于焊縫中 心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查。探頭前后移動的范圍應保證掃查到全部 專業(yè)word可編輯焊縫截面。在保持探頭垂直焊縫作前后移動的同時，還應作10o15o的左

29、右轉(zhuǎn) 動。當壁厚大于40mm且單側(cè)坡口角度小于5o時，應采用用列式檢測。b）為檢測焊縫及熱影響區(qū)的橫向缺欠應進行平行和斜平行掃查 。檢測時， 可在焊縫兩側(cè)邊緣使探頭與焊縫中心線成 10o20o作斜平行掃查。焊縫余高磨 平時，可將探頭放在焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查。焊縫母材超過100mm時，應在焊縫的兩面作平行掃查或采用兩種 K值探頭（K1和K1.5或K1 和K2并用）作單面兩個方向的平行掃查；必要時亦可用兩個K1探頭作用列掃 查。對電渣焊縫還應增加與焊縫中心線成 45o的掃查。c）為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號或 偽缺欠信號，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞

30、等四種探頭基本掃查方式。7.4.2 曲面工件對接焊縫的檢測7.4.2.1 檢測面為曲面時，可盡量按平板對接焊縫的檢測方法進行檢測。對于受 幾何條件限制，無法檢測的部位應予以記錄。7.4.2.2 縱縫檢測時，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應小于10%。a）根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭K值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個焊縫。b）探頭接觸面修磨后，應注意探頭入射點和K值的變化，并用曲率試塊作 實際測定。c）當檢測面曲率半徑 R大于W2/4且采用平面對比試塊調(diào)節(jié)儀器時,應注 意到熒光屏指示的缺欠深度或水平距離與缺欠實際的徑向埋藏深度或水平距離 弧長的差異，必要時應進行修正。

31、7.4.2.3 環(huán)縫檢測時，對比試塊的曲率半徑應為檢測面曲率半徑的0.91.5倍。7.5 缺欠定量檢測7.5.1 靈敏度應調(diào)到定量線靈敏度。7.5.2 對所有反射波幅超過定量線的缺欠，均應確定其位置、最大反射波幅和缺 欠當量。7.6 缺欠定量應根據(jù)缺欠最大反射波幅確定缺欠當量直徑或缺欠指示長度 從。7.6.1 缺欠當量直徑，用當量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測，可采用 公式計算，距離一波幅曲線和試塊對比來確定缺欠當量尺寸。7.6.2 缺欠指示長度從的測定采用以下方法：a）當缺欠反射波只有一個高點，且位于II區(qū)或II區(qū)以上時，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用6dB法測其指示長度。b）當缺

32、欠反射波峰值起伏變化,有多個高點,且位于II區(qū)或H區(qū)以上時，使波幅降到熒光屏滿刻度的80%后，用端點6dB法測其指示長度。c）當缺欠反射波峰位于I區(qū)時，如認為有必要記錄時，將探頭左右移動， 使波幅降到評定線，以此測定缺欠指示長度。7.7 缺欠評定7.7.1 超過評定線的信號應注意其是否具有裂紋等危害性缺欠特征，如有懷疑時，應采取改變探頭 K值、增加檢測面、觀察動態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特征作 判定，如對波型不能判斷時，應輔以其它檢測方法作綜合判定。7.7.2 缺欠指示長度小于10mm時，按5mm計。7.7.3 相鄰兩缺欠在一直線上，其間距小于其中較小的缺欠長度時，兩缺欠指示 長度之和作為單個缺欠的

33、指示長度（不考慮間距）。.專業(yè)word可編輯7.8缺欠等級評定7.8.1 不允許存在下列缺欠：a）反射波幅位于判廢線及田區(qū)的缺欠；b）檢測人員判定為裂紋等危害性的缺欠。mm7.8.2 最大反射波幅位于II區(qū)的缺欠，根據(jù)其指示長度按表七規(guī)定予以評級等級板厚T反射波幅（所在區(qū)域）單個缺欠指示長度L多個缺欠累計長度L'I6 400I非裂紋類缺欠6 120nL= T /3 ,最小為10 ,最大不超過30在任意9T焊縫長度范圍內(nèi)L不超過T> 120 400L=T /3 ,最大不超過50n6 120nL= 2 T/3 ,最小為12,最大不超過40在任總4.51焊縫長度范圍內(nèi)L'不超過

34、T最大不超過75>120 400m6 400n超過n級者超過n級者m所有缺欠焊接接頭質(zhì)量分級專業(yè)word可編輯I、n、田裂紋等危害性缺欠注：1母材板厚不同時，取薄板側(cè)厚度值。2當焊縫長度不足 9T （I級）或4.5T（n級）時，可按比例折算。當折算后的缺欠累計長度小于單個缺欠指示長度時，以單個缺欠指示長度為準 。7.8.3 最大反射波幅低于定量線的非裂紋類缺欠，均評為I級。7.8.4 不合格缺欠應予以返修。返修部位及熱影響區(qū)仍按本標準進行檢測和等級 評定。8長輸管道焊縫的超聲波檢測（SY4109標準）本條適用于壁厚為550mm ,管徑為571400mm 碳素鋼和低合金鋼等 金屬材料的石油

35、天然氣長輸管道、集輸及其站場的管道環(huán)向?qū)雍缚p的超聲檢 測與質(zhì)量分級；不適用于彎頭與直管、帶頸法蘭與直管，回彎頭與直管對接接 頭的檢測。8.1 試塊采用的標準試塊為SGB和SRB試塊。SRB試塊用于比較焊縫根部未焊透深 度。SGB試塊用于測定探傷儀、探頭和系統(tǒng)的性能以及對儀器做調(diào)整和校驗 。 SGB試塊適用范圍見下表：編號弧面半徑R適用管外徑中SGB-13054 89SGB-248>89 140SGB-376>140 210SGB-4120>210 360SGB-5200>360 600SGB-6平向>6008.2 檢測準備8.2.1 檢測面a）焊縫檢測一般采用一

36、種 K值頭，單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反 射法。b）檢測區(qū)域的寬度應是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各10mm區(qū)域。c）探頭移動區(qū)應清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其它雜質(zhì)。檢測表面應平整 光滑，其表面粗糙度Ra不應超過6.3um, 一般應進行打磨。移動區(qū)范圍應滿足下 列要求：采用一次反射法檢測時，探頭移動區(qū)應不小于1.25PP=2KT（P探頭移動區(qū)；T板厚；K一折射角正切值。）采用直射法檢測時，探頭移動區(qū)應不小于0.75 P8.2.2 探頭K值的選擇探頭K值的選擇按下表規(guī)定：管壁厚度（mm）探頭K值（折射角）5-832.5 (71.568.2° )>8 142.5 2.0 (68.

37、2° -63.5° )>14 502.01.0 (63.5° -45° )8.3 距離一波幅曲線的繪制8.3.1 曲線按所用探頭和儀器在相應的SGB和SRB試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為止區(qū)，判廢線及其以上 為田區(qū)。8.3.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇長輸管道的距離一波幅曲線靈敏度按下表規(guī)定選擇：試塊型式板厚mm評定線定量線判廢線SGB550 2mm-2dB2mm -8dB 2mm -14dB8.4 檢測方法采用單面雙側(cè)直射法及一次反射法或二次反射法。探傷靈敏度不低于評定 線靈敏度，對未焊透靈敏度不低于SRB試塊人工矩形槽反射波峰值點高度。為確定缺欠的位置、方向和形狀，觀察缺欠動態(tài)波形和區(qū)分缺欠信號或偽 缺欠信號，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角和環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式。8.5 缺欠定量檢測8.5.1 靈敏度應調(diào)到定量線靈敏度。8.5.2 對波幅超過評定線的反射波應根據(jù)探頭位置、方向，反射波在熒光屏上的 波形和位置及焊縫情況判定是