手機(jī)硬件測試介紹

1、測試部手機(jī)硬件測試介紹內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 2課程內(nèi)容q概述q基本測試內(nèi)容q相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范q測試文檔的編寫內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 3概述_手機(jī)硬件組成天線天線數(shù)字基帶芯片AD6426LCD模塊音頻和振動(dòng)部分鍵盤板存儲(chǔ)器AT24C128N28F162C3電源管理與充電管理SIM卡系統(tǒng)連接器射頻部分HD155121PF08103BLMX2336L電池模擬基帶芯片AD6421內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 4手機(jī)總體結(jié)構(gòu)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 5基本測試內(nèi)容安全性測試環(huán)境試驗(yàn)音頻性能射頻性能外觀結(jié)構(gòu)電池和充電器可測試性可維修性EMC壽命試驗(yàn)外場測試其它內(nèi)部資

2、料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 6射頻性能_測試項(xiàng)目n發(fā)射機(jī)性能n相位誤差和頻率誤差n多徑與干擾條件下的頻率誤差n發(fā)射機(jī)載頻峰值功率與突發(fā)脈沖定時(shí)n發(fā)射輸出頻譜n接收機(jī)性能n參考靈敏度n接收機(jī)適用的輸入電平范圍n共信道抑制內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 7射頻性能_測試項(xiàng)目n鄰信道抑制n互調(diào)抑制n阻塞和雜散響應(yīng)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 8射頻性能_相位誤差和頻率誤差n定義 測得的實(shí)際頻率、相位與理論期望的頻率、相位之差。目的是檢驗(yàn)發(fā)射機(jī)調(diào)制信號(hào)的質(zhì)量 。n指標(biāo) 頻率誤差相位誤差平均值峰值GSM90090Hz520DCS1800180Hz520內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 9射

3、頻性能_多徑與干擾條件下的頻率誤差n定義n指移動(dòng)臺(tái)在存在多普勒頻移、多徑接收和干擾條件下的載頻頻率誤差。n指標(biāo)傳播條件允許的頻率誤差RA250 郊區(qū)車速250Km/h300HzHT100丘陵車速100km/h175HzTU50 城區(qū)車速50Km/h135HZTu3 城區(qū)車速 3Km/h95Hz內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 10射頻性能_發(fā)射峰值功率和脈沖包絡(luò)n定義n發(fā)射機(jī)峰值功率指發(fā)射機(jī)載頻功率在一個(gè)突發(fā)脈沖的有用信息比特時(shí)間上的平均值。n突發(fā)脈沖定時(shí)指移動(dòng)臺(tái)接收與發(fā)送間的時(shí)間間隔。n目的是檢驗(yàn)發(fā)射機(jī)的發(fā)射能力和功率控制能力。 n指標(biāo)n在正常和極限條件下，在每個(gè)頻率的各個(gè)功率等級(jí)上的發(fā)射

4、功率都在應(yīng)符合規(guī)范要求。n相同頻率及相同測試條件下，兩相鄰功率控制級(jí)的TX載頻峰值功率的差值應(yīng)不少于0.5dB和3.5dB。n正常和極限條件下，各功率等級(jí)控制下的功率/時(shí)間包絡(luò)應(yīng)落在規(guī)范規(guī)定的包絡(luò)框架內(nèi)。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 11射頻性能_發(fā)射峰值功率和脈沖包絡(luò)功率控制級(jí)發(fā)射機(jī)載頻峰值功率(dB)容限功率控制級(jí)發(fā)射機(jī)載頻峰值功率(dB)容限GSM900DCS1800dBGSM900DCS1800dB03031121831283121963226313174332431415234223151303533203161136311831793729163187382714319539

5、25123注：在最高功率控制級(jí)出的最大容限為2dB。1023103內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 12射頻性能_發(fā)射峰值功率和脈沖包絡(luò)常規(guī)突發(fā)脈沖功率/時(shí)間包絡(luò)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 13射頻性能_發(fā)射輸出頻譜n定義n調(diào)制譜：由連續(xù)調(diào)制和寬帶噪聲在標(biāo)稱載頻的鄰近頻帶上產(chǎn)生的頻譜。n開關(guān)譜:由于功率切換而在標(biāo)稱載頻的鄰近頻帶上產(chǎn)生的頻譜。n指標(biāo)n調(diào)制譜功率電平(dBm） 在規(guī)定偏置處的最大電平(dB)測量帶寬30kHz測量帶寬100kHz0100200250400600120012001800180060006000 3300.5-30-33-60-60-60-63-71GSM9

6、00內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 14射頻性能_發(fā)射輸出頻譜頻率偏置（kHz）功率GSM900DCS1800400-23-23600-26-261200-32-321800-36-36開關(guān)譜DCS1800功率電平dBm） 在規(guī)定偏置處的最大電平(dB)測量帶寬30kHz測量帶寬100kHz0100200250400600120012001800180060006000 3000.5-30-33-60-60-60-65-73內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 15射頻性能_參考靈敏度n定義n指在得到規(guī)定的誤碼性能BER或FER條件下的接收機(jī)最小輸入電平。n指標(biāo)n當(dāng)輸入電平為參考靈敏度電平1

7、02dBm時(shí)，測出的BER值應(yīng)不超過0.2。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 16射頻性能_接收機(jī)適用的輸入電平范圍n定義n指接收機(jī)在滿足規(guī)定的BER或FER條件下，接收機(jī)可使用的輸入電平范圍。n指標(biāo)n接收機(jī)的RF輸入電平范圍滿足：n靜態(tài)：-102dBm -15dBm （GSM900) -100dBm -23dBm（GSM1800） n多徑： - 102dBm40dBm（GSM900） - 100dBm48dBm（GSM1800）內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 17射頻性能_共信道抑制n定義n共信道抑制是指接收機(jī)在其標(biāo)稱頻率上存在一個(gè)無用調(diào)制信號(hào)的情況下，接收一個(gè)有用調(diào)制信號(hào)時(shí)其性能不低

8、于給定指標(biāo)的能力。 n指標(biāo)n當(dāng)無用信號(hào)低于有用信號(hào)9dB時(shí)，全速率各類信道測出的錯(cuò)誤率不應(yīng)超過表中給定的值。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 18信道/傳播條件測量類型錯(cuò)誤率極限值（%）最小樣本數(shù)FACCH/FS TU低 無跳頻FER2425000TCH/FS TU低 無跳頻FER24*25000TCH/FS Ib類TU低 無跳頻RBER2.091/3300000TCH/FS II類TU低 無跳頻RBER4.32000000TCH/FS TU高 跳頻FER3.371*17800TCH/FS Ib類TU高 跳頻RBER0.215/2000000TCH/FS II類TU高 跳頻RBER8.33

9、31200000其中的取值范圍為11.6。Ib類RBER測試中的值應(yīng)與相同測試條件下從FER測試中得出的值相同。射頻性能_共信道抑制內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 19射頻性能_鄰信道抑制n定義n鄰信道抑制是指接收機(jī)在鄰信道存在無用信號(hào)的情況下，接收一個(gè)有用調(diào)制信號(hào)時(shí)，其性能不低于給定指標(biāo)的能力。n指標(biāo)n200kHz鄰頻干擾信號(hào)高于有用信號(hào)9dB、400kHz干擾信號(hào)高于有用信號(hào)41dB時(shí)，各類信道測出的錯(cuò)誤率應(yīng)不超過表中給定的值。n 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 20 GSM 900MHzDCS 1800MHz干擾信道測量類型錯(cuò)誤率極限值(%)最小樣本數(shù)錯(cuò)誤率極限值(%)最小樣本數(shù)

10、 200kHzTCH/FSFER6.742*8900 3.371* 17800Ib類比特RBER0.420/1000000 0.270/ 2000000II類比特RBER8.333600000 8.333 1200000FACCH/FFER10.6405639 3.808 15756 400kHzTCH/FSFER11.461*8900 5.714* 10500Ib類比特RBER0.756/1000000 0.483/ 1200000II類比特RBER9.167600000 9.167 720000FACCH/FFER19.1523133 6.832 8782其中的取值范圍為11.6。Ib類R

11、BER測試中的值應(yīng)與相同測試條件下從FER測試中得出的值相同。射頻性能_鄰信道抑制內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 21射頻性能_互調(diào)抑制n定義n互調(diào)抑制是指當(dāng)存在2個(gè)或多個(gè)與有用信號(hào)存在特定頻率關(guān)系的無用信號(hào)時(shí)，接收機(jī)接收有用調(diào)制信號(hào)時(shí)，其性能不低于給定指標(biāo)的能力。n指標(biāo)n各信道錯(cuò)誤率應(yīng)不超過表中給定的值。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 22射頻性能_互調(diào)抑制 GSM 900MHz DCS 1800MHz信道/傳播條件測量類型錯(cuò)誤率極限值（%）最小樣本數(shù)錯(cuò)誤率極值(%)最小樣本數(shù)TCH/FS II類/靜態(tài)RBER2.4398200 FACCH/F /TU高 無跳頻FER8.961669

12、6 4.368 13736內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 23射頻性能_阻塞和雜散響應(yīng)n定義n阻塞阻塞: 指在非雜散響應(yīng)或鄰頻道的頻率上，存在一個(gè)強(qiáng)無用信號(hào)的條件下，接收機(jī)接收有用的信號(hào)時(shí)，其性能不低于給定指標(biāo)的能力。 n雜散響應(yīng)雜散響應(yīng)： 在FR45MHz頻段內(nèi)（不包括FR800kHz），和100kHz至12.75GHz頻段內(nèi)（不包括FR45MHz），在正常測試條件下，測試時(shí)會(huì)存在一些失敗點(diǎn)，這些失敗點(diǎn)即為雜散響應(yīng)點(diǎn)。n指標(biāo)n在表1所示的無用信號(hào)電平下，當(dāng)測量的樣本數(shù)等于最小樣本數(shù)時(shí)，差錯(cuò)事件的錯(cuò)誤率不應(yīng)超過表2給定的值。 n在雜散響應(yīng)頻點(diǎn)上，干擾信號(hào)電平降至47dbm時(shí)，差錯(cuò)事件的錯(cuò)誤

13、率不應(yīng)超過表2的給定值。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 24頻率輸入的MS的電平dBV(emf)GSM900DCS1800FR600kHzFR800kHz7070FR800kHzFR1.6MHz7070FR1.6MHzFR3MHz8080FR+3MHz98OMHz90-915MHzFR-3MHz90-1785MHzFR-3MHz-87FR+3MHz1920MHz-87835MHz980MHz1000MHz113 100MHz1000MHz12.75GHz90 100MHz1705MHz-1131705MHz1920MHz1980MHz-1011980MHz12.75GHz-90射頻性能_

14、阻塞和雜散響應(yīng)表1 無用信號(hào)電平設(shè)置 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 25 GSM 900MHzDCS 1800MHz信道測量類型錯(cuò)誤率極限值（%）最小樣本數(shù)錯(cuò)誤率極限值(%)最小樣本數(shù)TCH/FS II類RBER2.4398200 FACCH/FFER8.96166964.36813736表2 各信道錯(cuò)誤率極限值和最小樣本數(shù) 射頻性能_阻塞和雜散響應(yīng)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 26音頻性能_測試項(xiàng)目n發(fā)送靈敏度/頻率響應(yīng)n發(fā)送響度評(píng)定值(SLR)n接收靈敏度/頻率響應(yīng)n接收響度評(píng)定值(RLR)n側(cè)音n側(cè)音掩蔽評(píng)定值(SMTR)n受話方側(cè)音評(píng)定值(LSTR)n電話聲耦合損耗(TAL

15、)n回波損耗(EL)n穩(wěn)定度邊緣內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 27音頻性能_測試項(xiàng)目n失真n發(fā)送失真n接收失真n側(cè)音失真n帶外信號(hào)n發(fā)送帶外信號(hào)n接收帶外信號(hào)n空閑信道噪聲n發(fā)送空閑信道噪聲n接收空閑信道噪聲n環(huán)境噪聲抑制內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 28音頻性能_發(fā)送靈敏度/頻率響應(yīng)n定義：指輸入測試單音頻時(shí)，DAI的輸出電平與MRP的輸入聲壓之比。用于測試整個(gè)頻率范圍內(nèi)的發(fā)送靈敏度。n在MRP輸入聲壓為-47dBPa的單音信號(hào)，在1004000頻段內(nèi)，用1/12倍頻間隔進(jìn)行測試，測量DAI處的輸出電平。n發(fā)送靈敏度/頻率響應(yīng)應(yīng)處于下表給出的框架內(nèi)。頻率靈敏度上限（dB）靈敏度下

16、限（dB）100-12 2000 3000-1210000-620004-630004-640000-9內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 29音頻性能_發(fā)送響度評(píng)定值(SLR)n定義：是一種基于單音測試的表示發(fā)送頻率響應(yīng)的方法，表示什么樣的話音信號(hào)可以被聽者接受。n按以下頻率做發(fā)送靈敏度測試，將測試的結(jié)果按ITU-T P.79的SLR計(jì)算公式進(jìn)行計(jì)算。 nSLR應(yīng)該是83dB。 測試頻段頻率42005250631574008500963010800111000121250131600142000152500163150174000內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 30音頻性能_接收靈敏度/

17、頻率響應(yīng)n定義：表示從ERP的輸出聲壓與DAI處的PCM比特碼流代表的輸入電平之比，用dB表示。n在DAI接口輸入一個(gè)電平為-16dBm0的單音信號(hào)，在100Hz4000HZ頻段內(nèi)，用1/12倍頻間隔進(jìn)行測試，測仿真耳聲壓。n測得的結(jié)果應(yīng)落在下表規(guī)定的框架內(nèi)。 頻率(Hz)靈敏度上限(dB)靈敏度下限(dB)100-12 2000 3002-71000 -520000-530002-534002-1040002 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 31音頻性能_接收響度評(píng)定值(RLR)n定義：是一種基于客觀單音測試的表示接收頻率響應(yīng)的方法，以表示什么樣的話音信號(hào)可以被聽者接受。n對(duì)原CCITT

18、建議中列出的14個(gè)頻率測接收靈敏度，將測試的結(jié)果按ITU-T P.79的SLR計(jì)算公式進(jìn)行計(jì)算。 n當(dāng)無用戶音量控制時(shí)，RLR因?yàn)?3dB；當(dāng)有音量控制時(shí)，至少有一級(jí)滿足23dB，當(dāng)音量設(shè)置為最大時(shí)，RLR應(yīng)不小于-13dB。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 32音頻性能_側(cè)音掩蔽評(píng)定值(SMTR)n定義：側(cè)音掩蔽評(píng)定值是基于客觀單音的測試，用來表示從電子嘴到電子耳的通道損耗 。n在MRP處輸入一個(gè)聲壓為4.7dBPa的單音，對(duì)原CCITT建議給出的各個(gè)頻率測仿真耳中的聲壓，根據(jù)原CCITT建議計(jì)算側(cè)音通路損耗和SMTR。nSTMR的標(biāo)稱值為135dB。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹

19、 33音頻性能_受話方側(cè)音評(píng)定值(LSTR)n定義：LSTR與受話方接收由麥克風(fēng)提取的背景噪聲有關(guān)，表示影響用戶接收程度的主要參數(shù)。n在DAI接口上向手機(jī)輸入PCM編碼1，在MRP周圍的聲場中沒有障礙物。n用經(jīng)過校準(zhǔn)的1/2英寸的麥克風(fēng)對(duì)MRP處的聲壓進(jìn)行測量。粉紅噪聲的頻譜在+/-1dB范圍內(nèi)，聲壓調(diào)節(jié)為70dBA(-24dBPa(A)，誤差+/-1dB。n 手機(jī)固定在LRGP，用電子耳對(duì)頻段417進(jìn)行測量。LSTR用ITU-T P.79的公式8.4經(jīng)運(yùn)算獲得。nLSTR應(yīng)不小于15dB。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 34音頻性能_回波損耗(EL)n定義：指從系統(tǒng)模擬器的基準(zhǔn)語音編碼

20、器的數(shù)字輸入端至其基準(zhǔn)語音譯碼器的數(shù)字輸出端的通路損耗。n手機(jī)音量設(shè)置為最大，數(shù)字信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生一個(gè)dBm0的單音，送至SS的基準(zhǔn)語音編碼器的數(shù)字輸入端，在3003400Hz頻段內(nèi)，用1/12倍頻間隔進(jìn)行測試，測SS的語音譯碼器的數(shù)字輸出端的數(shù)字信號(hào)的電平。n根據(jù)原CCITT建議G.122計(jì)算回波損耗。n要求Erl不小于46dB。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 35音頻性能_穩(wěn)定度邊緣n定義：用于測量當(dāng)引起振蕩時(shí)的SS話音編碼器進(jìn)出路徑之間的增益。n 將音量控制置于最大值。將相當(dāng)與最小穩(wěn)定度偏移的增益插入SS基準(zhǔn)語音編解碼器的來回通道環(huán)中。n符合ITU-T O.131的信號(hào)在SS基準(zhǔn)語音編

21、解碼器的數(shù)字輸入端處插入環(huán)路，測量穩(wěn)定度。該測試信號(hào)的幅度為-10dBm0，持續(xù)時(shí)間1秒 。n無振蕩現(xiàn)象時(shí)的穩(wěn)定度偏移至少大于6dB。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 36音頻性能_發(fā)送失真n定義：在發(fā)送方向上于DAI接口（連接噪聲濾波器）處測得的信號(hào)功率對(duì)所有失真功率之比.用于檢測發(fā)送設(shè)備（不包括語音編碼器）的線性度 。n要求滿足下表規(guī)定的門限 發(fā)送與ARL之比發(fā)送信噪比(dB)-3517.5-3022.5-2030.7-1033.3033.7+731.7+1025.5內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 37n定義：在接收方向上于ERP（連接噪聲濾波器）處測得的信號(hào)功率對(duì)所有失真功率之比

22、，用于檢測接收設(shè)備（不包括語音解碼器）的線性度。 n要求滿足下表規(guī)定的門限音頻性能_接收失真DAI電平（dBm0）電平當(dāng)量(dB)-4517.5-4022.5-3030.5-2033.0-1033.5-331.2025.5內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 38音頻性能_側(cè)音失真n定義：表示手機(jī)側(cè)音路徑的線性度。n在模擬嘴處加一個(gè)聲壓為4.7dBPa的單音信號(hào)，頻率分別為315，500，1000Hz，在人工耳處測量每一個(gè)頻率的三次倍頻信號(hào)的失真。n要求在每一個(gè)基頻的三次倍頻上的失真不大于10%。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 39音頻性能_發(fā)送帶外信號(hào)n定義：用于檢測在發(fā)送方向上對(duì)帶外輸

23、 入信號(hào)的抗干擾能力。 n 在MRP處產(chǎn)生一個(gè)聲壓為4.7dBPa的信號(hào)；輸入信號(hào)的頻率分別設(shè)為4.5，5，6，6.5，7和7.5Hz，在DAI處測量任何鏡頻信號(hào)的噪聲電平；n任何鏡像頻率的電平和參考的1KHz信號(hào)的電平關(guān)系應(yīng)滿足下述規(guī)定的門限： 正弦波頻率 門限 (最小) 4,6 kHz 30 dB8 kHz 40 dB 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 40音頻性能_接收帶外信號(hào)n定義：用于檢測在接收方向上對(duì)帶外輸入信號(hào)的抗干擾能力。 n通過DAI向手機(jī)發(fā)送編碼為No1的PCM碼流； 設(shè)置語音音量為中間位置，輸入信號(hào)的頻率分別設(shè)為500，1000，2000，3350Hz，在人工耳處測量每

24、個(gè)頻率上端8kHz處的噪聲電平。n帶外信號(hào)的電平與帶內(nèi)信號(hào)電平之間應(yīng)符合下述規(guī)定的門限：鏡像信號(hào)頻率等效輸入信號(hào)電平 4,6 kHz 35 dBm0 8 kHz 45 dBm0內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 41音頻性能_發(fā)送空閑信道噪聲n定義：用于檢測發(fā)送方向上，MRP在安靜環(huán)境時(shí)的等效噪聲電平。 n測量DAI處經(jīng)過噪聲濾波器加權(quán)的輸出噪聲電平。n要求發(fā)送空閑信道噪聲最不超過64dBm0。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 42音頻性能_接收空閑信道噪聲n定義：用于檢測在接收方向上，DAI處輸入信號(hào)對(duì)帶外輸入信號(hào)的抗干擾能力。 n通過DAI向手機(jī)發(fā)送編碼為No1的PCM碼流；設(shè)置語音音

25、量為中間位置，測量在人工耳處的噪聲電平；將音量設(shè)為最大，測量在人工耳處的噪聲電平。n要求接收方向上的空閑信道噪聲不超過57dBPa，音量設(shè)置為最大時(shí)不超過54dBPa。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 43音頻性能_環(huán)境噪聲抑制n定義：檢測手機(jī)在高環(huán)境噪聲下的抑制環(huán)境噪聲的能力，用DELSM表示。n計(jì)算DELSM (SFDELSM) ： n = 從160Hz3150HZ的三倍頻Deln = 第N個(gè)頻率處的1/3 帶聲壓電平Wm = SLR 加權(quán)nDELSM 應(yīng)大于或等于0SFDELSMDelnWmn 45100 0175114(.)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 44外觀結(jié)構(gòu)_測試項(xiàng)目

26、n外觀n結(jié)構(gòu)n噴漆n鏡片n鍵盤n塑膠件nLCDnPCBn整機(jī)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 45外觀結(jié)構(gòu)_外觀n外觀外觀n手機(jī)外觀應(yīng)整潔，表面不應(yīng)有毛刺、凹痕、裂紋、變形，表面涂層不應(yīng)起泡、龜裂、脫落； n金屬零件不應(yīng)有銹蝕和機(jī)械損傷，灌注物不應(yīng)外溢 ；n開關(guān)、按鍵、旋鈕的操作應(yīng)靈活可靠，零部件應(yīng)無松動(dòng)；指示燈應(yīng)能正確指示 ；n說明功能的文字和圖形符號(hào)標(biāo)志應(yīng)正確、清晰、不易磨損。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 46外觀結(jié)構(gòu)_結(jié)構(gòu)n結(jié)構(gòu)結(jié)構(gòu)n手機(jī)的結(jié)構(gòu)應(yīng)有良好的工藝性，應(yīng)保證足夠的機(jī)械強(qiáng)度，牢固、可靠、安全、便于安裝；n手機(jī)的外殼應(yīng)對(duì)手機(jī)內(nèi)部機(jī)構(gòu)和零件起到可靠的保護(hù)作用，應(yīng)考慮強(qiáng)度、剛

27、度、人員安全、外部連線、易開啟性、安裝特性等因素。 n手機(jī)油漆、噴漆件要求手機(jī)油漆、噴漆件要求 n手機(jī)外殼表面的噴漆必須有足夠的附著強(qiáng)度（350400g/cm2），較高的耐磨性，并要有一定的耐候性、耐醇性，有一定的抗溫度沖擊性和抗轉(zhuǎn)移性。同時(shí)，整個(gè)手機(jī)表面應(yīng)質(zhì)感良好，光滑一致，油漆厚薄均勻，顏色不允許有較明顯的色差。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 47外觀結(jié)構(gòu)_鏡片等n鏡片要求鏡片要求 n鏡片的表面硬度：4Hn表面要求：無劃痕、無擦傷、無飛邊、絲印清晰、字跡清楚端正、透明度好。 n手機(jī)鍵盤裝配件手機(jī)鍵盤裝配件 n硅橡膠與塑料薄膜開關(guān)貼裝整齊無錯(cuò)位，按鍵彈性均一致。無明顯印刷缺陷、毛邊、溢

28、料、破裂、不可搽除污點(diǎn)。 n鏡片外其他塑料件要求鏡片外其他塑料件要求 n不得有頂白、邊拖花、縮水、飛邊、熔結(jié)線、刮傷、劃傷、裂紋、皮紋不一致等缺陷。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 48外觀結(jié)構(gòu)_LCD等nLCDLCDn不能有破裂、較明顯的顏色不均、臟污劃痕。nPCB PCB n無元器件缺少、銹蝕、損壞、翹腳；PCB表面無斷裂、明顯劃痕、變形、無明顯灰塵；電鍍件表面不平度小于0.4mm且表面無油污、劃傷、漏鍍等。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 49外觀結(jié)構(gòu)_整機(jī)要求n整機(jī)要求整機(jī)要求 n手機(jī)外觀應(yīng)整潔，表面不應(yīng)有毛刺、凹痕、裂紋、變形，表面涂層不應(yīng)起泡、龜裂、脫落。金屬零件不應(yīng)有銹蝕和

29、機(jī)械損傷，灌注物不應(yīng)外溢；n開關(guān)、按鍵、旋鈕的操作應(yīng)靈活可靠，各部件裝配緊密位置正確、前后蓋合縫較嚴(yán)密，零部件應(yīng)無松動(dòng)；指示燈應(yīng)能正確指示；n標(biāo)貼齊全，說明功能的文字和圖形符號(hào)標(biāo)志應(yīng)正確、清晰、不易磨損。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 50電池和充電器_測試項(xiàng)目n鋰電池n外觀n20放電性能n高、低溫性能n荷電保持能力n循環(huán)壽命n環(huán)境適應(yīng)性n安全保護(hù)性能n電池安全要求內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 51電池和充電器_測試項(xiàng)目n充電器n外觀n電性能要求n安全性能nEMC要求n機(jī)械強(qiáng)度n環(huán)境要求n可靠性指標(biāo)n人機(jī)接口內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 52鋰電池_外觀n外觀外觀n電池外表面

30、應(yīng)清潔，無機(jī)械損傷，觸點(diǎn)無銹蝕n電池表面應(yīng)有必須的產(chǎn)品標(biāo)識(shí)n與蜂窩電話或模擬裝置配合，開機(jī)應(yīng)工作正常，鎖扣可靠。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 53鋰電池_ 20放電性能n預(yù)循環(huán)預(yù)循環(huán)n205 下，以0.2C5A充電，達(dá)到充電限制電壓后，擱置0.5h1h，再以0.2C5A電流放電到終止電壓。n充電制式充電制式n205 下，以0.2C5A充電，達(dá)到充電限制電壓后，改為恒壓充電，直到充電電流小于0.01C5A，最長充電時(shí)間不大于8h。n205 下，以1C5A充電，達(dá)到充電限制電壓后，改為恒壓充電，直到充電電流小于0.01C5A，最長充電時(shí)間不大于8h。n0.2C5A放電性能放電性能n電池按規(guī)定

31、充滿電后，擱置0.51h，在205 下以0.2C5A電流放電到終止電壓，放電時(shí)間應(yīng)不低于5h。n1C5A放電性能放電性能n電池按規(guī)定充滿電后，擱置0.51h，在205 下以1C5A電流放電到終止電壓，放電時(shí)間應(yīng)不低于51Min。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 54鋰電池_高低溫性能n高溫性能高溫性能n電池按規(guī)定充電完成后，將電池放入552的溫度下，以1C5A電流放電到終止電壓，放電時(shí)間應(yīng)不低于51min，電池外觀應(yīng)無變形，無爆裂。n低溫性能低溫性能n電池按規(guī)定充電完成后，將電池放入202的溫度下，以0.2C5A電流放電到終止電壓，放電時(shí)間應(yīng)不低于3h，電池外觀應(yīng)無變形，無爆裂。n荷電保持能

32、力荷電保持能力n電池按規(guī)定充電結(jié)束后，在環(huán)境溫度205條件下，將電池開路擱置28d，再以0.2C5A電流放電到終止電壓，放電時(shí)間應(yīng)不低于4.25h。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 55鋰電池_循環(huán)壽命n循環(huán)壽命循環(huán)壽命n在環(huán)境溫度205條件下，電池以1C5A充電，當(dāng)電池端電壓達(dá)到充電限制電壓時(shí)，改為恒壓充電，直到電流小于或等于20mA，停止充電，擱置0.5h，然后以1C5A電流放電到終止電壓，放電結(jié)束后，擱置0.51h，再進(jìn)行下一個(gè)充放電循環(huán)，直至連續(xù)兩次放電時(shí)間小于36min，則認(rèn)為壽命結(jié)束。n電池循環(huán)壽命應(yīng)不低于300次。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 56鋰電池_環(huán)境適應(yīng)性n恒定

33、濕熱性能恒定濕熱性能n電池按規(guī)定充滿電后，將電池放入402 ，相對(duì)濕度為90%95%的恒溫恒濕箱中擱置48h后，將電池取出在環(huán)境溫度20 5的條件下擱置2h，目測外觀，電池應(yīng)無明顯變形、銹蝕、冒煙或爆炸，再以1C5A電流放電到終止電壓，放電時(shí)間應(yīng)不低于36min。n振動(dòng)振動(dòng)n電池按規(guī)定充滿電后，將電池放在振動(dòng)臺(tái)上，按下面規(guī)定的振動(dòng)頻率和幅度，從X、Y、Z三個(gè)方向從1055Hz循環(huán)掃頻振動(dòng)30min，掃描速率為10ct/min，振動(dòng)頻率：10HZ30HZ 位移幅值（單振幅）：0.38mm 振動(dòng)頻率：30HZ55HZ 位移幅值（單振幅）：0.19mm 振動(dòng)結(jié)束后，電池外觀應(yīng)無明顯損傷、漏液、冒煙或

34、爆炸，電壓應(yīng)不低于3.6V。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 57鋰電池_環(huán)境適應(yīng)性n碰撞碰撞n電池做完振動(dòng)試驗(yàn)后，將電池按X、Y、Z三個(gè)垂直軸向直接或通過夾具固定在臺(tái)面上，按下述要求調(diào)好加速度、脈沖持續(xù)時(shí)間，進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。脈沖峰值加速度100m/s2 每分鐘碰撞次數(shù) 4080脈沖持續(xù)時(shí)間 16ms 碰撞次數(shù) 100010碰撞結(jié)束后，電池外觀應(yīng)無明顯損傷、漏液、冒煙或爆炸，電壓應(yīng)不低于3.6V。n自由跌落自由跌落n電池做完碰撞試驗(yàn)后，將電池由高度1m的位置自由跌落到水泥地面上的18mm22面厚的硬木板上，從X、Y、Z正負(fù)方向自由跌落一次。電池應(yīng)無漏液、冒煙、爆炸，插入手機(jī)后鎖扣可靠。 自由跌

35、落后，將電池按1C5A電流放電到終止電壓，然后進(jìn)行充放電循環(huán)，至放電時(shí)間不小于51min，循環(huán)次數(shù)不大于3。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 58鋰電池_安全保護(hù)性能n過充電保護(hù)過充電保護(hù)n電池按規(guī)定充電結(jié)束后，用恒流源給電池加載8h，恒流恒壓源電壓設(shè)為2倍標(biāo)稱電壓，電流設(shè)為2C5A，電流應(yīng)不爆炸、不起火、不冒煙或漏液。n過放電保護(hù)過放電保護(hù)n電池在環(huán)境溫度205 的條件下，以0.2C5A放電至終止電壓后，外接30負(fù)載放電24h，電流應(yīng)不爆炸、不起火、不冒煙或漏液。n短路保護(hù)短路保護(hù)n電池按規(guī)定充電結(jié)束后，將正負(fù)極用1 電阻器短路1h，電流應(yīng)不爆炸、不起火、不冒煙或漏液；瞬間充電后，電池電壓

36、應(yīng)不低于3.6V。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 59鋰電池_電池安全要求n重物沖擊重物沖擊n電池放置于沖擊臺(tái)上，將10kg重錘自1m自由落下，沖擊固定在夾具中的電池，電池允許變形，但應(yīng)不起火、不爆炸。n熱沖擊熱沖擊n電池放置于熱箱中，溫度以52/min的速率升至1502并保溫30min，電池應(yīng)不起火、不爆炸。n過充電過充電n電池拆除外部保護(hù)電路后，以3C5A充電，直到電壓為10V，電流為0，當(dāng)電池溫度下降到峰值10時(shí)，結(jié)束測試，電池應(yīng)不起火、不爆炸。n短路短路n電池拆除保護(hù)電路后，短路正負(fù)極，電池應(yīng)不起火、不爆炸，電池的外部溫度不得高于150。n儲(chǔ)存儲(chǔ)存n電池儲(chǔ)存12個(gè)月后，經(jīng)完全充電后

37、，以0.2C5A放電，放電時(shí)間不小于4h。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 60充電器_外觀n外觀外觀n充電器表面應(yīng)無劃傷、毛刺、裂痕或其它缺陷，外露金屬部分不得出現(xiàn)銹蝕和鍍層脫落。n有清晰的型號(hào)和安全認(rèn)證等標(biāo)志。n搖晃充電器，充電器內(nèi)部應(yīng)無晃動(dòng)感。n連線表面無開裂，高壓部分接入市電后，無外露帶電金屬。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 61充電器_電性能n連續(xù)工作時(shí)間連續(xù)工作時(shí)間n應(yīng)不少于16 小時(shí)。 n輸出電壓和電流輸出電壓和電流 n如下表所示。 額 定 輸出電壓 額 定 輸出電流 輸出電壓范圍 輸 出 電 流范圍紋波和噪聲 最小 最大 最小 最大 最大 +4.3V 500mA0V 4.

38、3v 0500mA60mVpp內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 62充電器_電性能n充電器輸出特性的電壓電流關(guān)系應(yīng)該滿足下圖。 n充電器應(yīng)能正確指示充電階段。 n充電器空載輸出要求在4.350.05V。n充電器的紋波要求控制在60mVpp以下。 I (mA)V (V)5004.154.2560III內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 63充電器_電性能n 過充過充n加電時(shí)，輸出電壓應(yīng)不超過4.4V。 n短路保護(hù)短路保護(hù) n無論在充電器加電前或加電后，充電器的負(fù)載出現(xiàn)持續(xù)短路，充電器應(yīng)不致?lián)p壞。當(dāng)負(fù)載短路被去除后，充電器應(yīng)恢復(fù)正常輸出。 n過載保護(hù)過載保護(hù) n充電器應(yīng)具有過載保護(hù)功能。 n穩(wěn)定

39、性穩(wěn)定性 n充電器應(yīng)在所有輸入、輸出條件下保持輸出的穩(wěn)定。 n效率效率 n在滿載情況下充電器效率至少為50%（參考值）。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 64充電器_電性能n輸入電流輸入電流 n充電器的輸入電流最大不超過200mA rms（參考值）。 nAC浪涌電流浪涌電流n在220V時(shí)，充電器的峰值浪涌電流應(yīng)限制在30A/10ms（參考值）。n輸入漏電流輸入漏電流 n充電器的輸入漏電流不能超過0.25mA（參考值）。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 65充電器_安全性能 n安全性安全性n充電器的安全性能應(yīng)滿足CCEE規(guī)定要求。符合國標(biāo)GB4943-1995 信息技術(shù)設(shè)備（包括電器事務(wù)

40、設(shè)備）的安全規(guī)定的要求。 n溫升溫升 n充電器外殼溫度應(yīng)不大于65。 n絕緣要求絕緣要求n電涌試驗(yàn)要求電涌試驗(yàn)要求 輸出和輸入間應(yīng)能承受瞬變電涌沖擊，沖擊后其絕緣電阻不小于2M（直流500V）。 n絕緣電阻和抗電強(qiáng)度絕緣電阻和抗電強(qiáng)度 在輸入和外殼及可能觸及的部位間，以5.25KV靜電放電，經(jīng)1min而無擊穿、飛弧現(xiàn)象，試驗(yàn)后充電器的絕緣電阻應(yīng)滿足4 M 。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 66充電器_EMC性能nEMC性能性能n充電器的EMC性能應(yīng)符合下述標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)要求：n1. Limits and methods of radio disturbance characteristics

41、of information technology equipment EN55022:1994+A1:1995n2.Disturbance in supply system:harmonics EN61000-3-2:1995nDisturbance in supply system: voltage fluctuations EN61000-3-3:1995n3.Electrostatic discharge IEC801-2 Category An4.Radiated, radio-frequency,eletromagnetic field IEC801-3 Category An5.

42、Electrical fast transient/burst IEC801-4 Category A內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 67充電器_ 機(jī)械強(qiáng)度 n連接線強(qiáng)度連接線強(qiáng)度 n采用彈簧秤或砝碼，檢查電源輸入、輸出插頭及連接線的牢固性，經(jīng)50N拉力無損壞、無移位或松脫。 n導(dǎo)線彎曲測試導(dǎo)線彎曲測試 n充電器殼體固定，取下方導(dǎo)線1m處懸掛500g砝碼，手持砝碼拉緊導(dǎo)線，使得導(dǎo)線與鉛垂線呈90度角，左右懸擺500次以上，試驗(yàn)后,輸出導(dǎo)線應(yīng)無損壞、無松脫。 n跌落試驗(yàn)跌落試驗(yàn) n無包裝狀態(tài)下從1m高度處自由跌落到厚度為20mm硬木木質(zhì)臺(tái)上，各面跌3次，應(yīng)無損壞。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件

43、測試介紹 68充電器_ 機(jī)械強(qiáng)度n振動(dòng)試驗(yàn)振動(dòng)試驗(yàn) n將充電器按正常的使用位置固定在振動(dòng)臺(tái)上。按下述參數(shù)進(jìn)行試驗(yàn)，持續(xù)時(shí)間 30min，試驗(yàn)結(jié)束后，電池外觀應(yīng)無損傷，電性能符合指標(biāo)。 振幅 0.35mm 掃描頻率范圍 10Hz、50Hz、10Hz 掃描速率 近似每分鐘一倍頻。n碰撞試驗(yàn)碰撞試驗(yàn)按下述件進(jìn)行試驗(yàn)，全部試驗(yàn)做完后，充電器輸出電壓電流和漏電流應(yīng)滿足指標(biāo)要求。 脈沖持續(xù)時(shí)間 16ms 每分鐘碰撞次數(shù) 40-80 加速度 100m/s2 總次數(shù) 100010 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 69充電器_環(huán)境要求 n濕熱試驗(yàn)濕熱試驗(yàn) n工作溫度 402 相對(duì)濕度 90%-95%n試驗(yàn)持

44、續(xù)時(shí)間 48h 恢復(fù)時(shí)間 4hn低溫試驗(yàn)低溫試驗(yàn) n貯存溫度 （-402）n試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間 8hn恢復(fù)時(shí)間 4h n高溫試驗(yàn)高溫試驗(yàn) n貯存溫度 （852）n試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間 8hn恢復(fù)時(shí)間 2h 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 70充電器_可靠性指標(biāo)n采用定時(shí)截尾MTBF驗(yàn)證試驗(yàn)方案考核。n連續(xù)試驗(yàn)時(shí)間為500h，抽樣被測件10臺(tái)，試驗(yàn)項(xiàng)目和順序見下表：n共3個(gè)循環(huán)，試驗(yàn)結(jié)束后，進(jìn)行常溫測量及外觀檢查，基本電性能4.3.2，4.3.5，4.3.6，4.3.7，4.3.8超標(biāo)或明顯變形，即判定為失效，失效數(shù)大于等于3拒絕。 項(xiàng)目要求時(shí)間常溫測量及檢查電性能4.3.2，4.3.5，4.3.6，4.

45、3.7，4.3.80低溫運(yùn)行-20，通電4高溫運(yùn)行+55，通電4低溫貯存-308高溫貯存+658常溫貯存+251.5常溫測量及檢查室溫0.5濕熱+40，9524常溫測量及檢查 0.5低溫貯存（加速因子取2）-4020高溫貯存（加速因子取4）+8520常溫測量及檢查 0.5共計(jì)3天170下一循環(huán) 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 71充電器_人機(jī)接口n人機(jī)接口人機(jī)接口n充電器插頭應(yīng)可以同電池連接部正確對(duì)接。n人機(jī)界面要求人機(jī)界面要求n充電器與市電、手機(jī)的接插部位，應(yīng)便于操作者插拔操作。確保操作者不會(huì)接觸高壓，以及確保接插后連接可靠。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 72環(huán)境適應(yīng)性_測試項(xiàng)目

46、n溫度環(huán)境溫度環(huán)境n高低溫運(yùn)行n高溫存儲(chǔ)n低溫存儲(chǔ)n溫度沖擊n恒定濕熱n力學(xué)試驗(yàn)力學(xué)試驗(yàn)n隨機(jī)振動(dòng)n沖擊n自由跌落內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 73測試項(xiàng)目_環(huán)境適應(yīng)性n其它其它n沙塵n濺水n電強(qiáng)度內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 74高低溫運(yùn)行n高低溫運(yùn)行高低溫運(yùn)行n設(shè)置環(huán)境試驗(yàn)箱為最低工作溫度-20；30分鐘后進(jìn)行指標(biāo)監(jiān)測，每10分鐘采樣一次數(shù)據(jù)；2h后，設(shè)置環(huán)境試驗(yàn)箱為+55度 ， 30分鐘后進(jìn)行指標(biāo)監(jiān)測，每10分鐘采樣一次數(shù)據(jù)；2h后關(guān)閉環(huán)境試驗(yàn)箱。n進(jìn)行外觀和指標(biāo)檢查，要求外觀和所有指標(biāo)測試符合規(guī)定要求。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 75高低溫存儲(chǔ)n高低溫存儲(chǔ)高低溫存儲(chǔ)

47、n設(shè)置環(huán)境試驗(yàn)箱為最低貯存溫度：65； 保持4h后，環(huán)境試驗(yàn)箱關(guān)電。進(jìn)行外觀和指標(biāo)測試，要求所有測試符合規(guī)定要求。設(shè)置環(huán)境試驗(yàn)箱為最低貯存溫度：-40； 保持4h后，環(huán)境試驗(yàn)箱關(guān)電。n進(jìn)行外觀和指標(biāo)測試，要求所有測試符合規(guī)定要求。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 76溫度沖擊n溫度沖擊溫度沖擊n將手機(jī)置于空閑模式，放置在+55高溫箱內(nèi) ，30分鐘后，將手機(jī)置于-20度低溫箱內(nèi)，轉(zhuǎn)箱時(shí)間小于3分鐘； 循環(huán)12h。n進(jìn)行外觀和指標(biāo)測試，要求所有測試符合規(guī)定要求。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 77恒定濕熱n恒定濕熱恒定濕熱n將手機(jī)于空閑狀態(tài)置于環(huán)境試驗(yàn)箱內(nèi)，將環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)置為最高貯存溫度+5

48、5，相對(duì)濕度952%，1小時(shí)后，進(jìn)行指標(biāo)監(jiān)測，約每1小時(shí)采一組測試數(shù)據(jù)，共計(jì)10組；保持48h后，環(huán)境試驗(yàn)箱關(guān)電。 n進(jìn)行外觀和指標(biāo)測試，要求所有測試符合規(guī)定要求。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 78隨機(jī)振動(dòng)n隨即振動(dòng)隨即振動(dòng)n頻率：ASD(加速度譜密度)自由振動(dòng) 520Hz：0.96m2/s3 20500Hz：在20Hz處0.96m2/s3，此后-3dB/倍頻程n進(jìn)行外觀和指標(biāo)測試，要求所有測試符合規(guī)定要求。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 79沖擊n沖擊沖擊n沖擊脈沖持續(xù)時(shí)間：11ms 加速度：150m/s2 總沖擊次數(shù)：18n進(jìn)行外觀和指標(biāo)測試，要求所有測試符合規(guī)定要求，允許有磨損

49、和輕微的裂縫，但不應(yīng)碎裂或破裂 。內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 80自由跌落n自由跌落自由跌落n按背面、正面、左側(cè)面、右側(cè)面、頂面(天線)、底面、左側(cè)前棱、右側(cè)后棱、底面前棱、左上角、右下角共11個(gè)方向，每個(gè)手機(jī)做4個(gè)方向，3個(gè)手機(jī)完成1個(gè)跌落循環(huán)，每種高度至少3個(gè)循環(huán) 。n開機(jī)狀態(tài)， 從80cm高度自由跌落在橡膠或木板上 n關(guān)機(jī)狀態(tài)，從150cm高度自由跌落到鋪3層報(bào)紙的水泥地板n80cm跌落后，以不掉電，結(jié)構(gòu)無損傷，操作正常；測試電氣性能應(yīng)正常。 n150cm跌落后，能開機(jī)，結(jié)構(gòu)無中等程度以上的損傷，操作正常，按6.2的規(guī)定電氣性能正常為合格。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 8

50、1電強(qiáng)度測試n電壓拉偏電壓拉偏n高壓對(duì)于電源供電，1.1標(biāo)稱電壓對(duì)于鋰電池，1.0標(biāo)稱電壓n低壓0.85倍標(biāo)稱電壓內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 82EMC_測試項(xiàng)目n騷擾測量n傳導(dǎo)雜散騷擾n輻射雜散騷擾n傳導(dǎo)連續(xù)騷擾n輻射連續(xù)騷擾n抗擾度測量手機(jī)可靠性測試規(guī)范.docn靜電放電抗擾度n輻射騷擾抗擾度內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 83傳導(dǎo)雜散騷擾n測試天線端口傳導(dǎo)雜散騷擾。模式頻率范圍MHz功率電平峰值限dBmGSM900結(jié)論DCS1800結(jié)論UeUe專用模式0.1-10001000-17101710-17851785-12750-36-30-30-30 -36-30-36-30 空

51、閑模式0.1-880880-915915-10001000-17101710-17851785-12750-57-59-57-47-53-47 -57-59-57-47-53-47 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 84輻射雜散騷擾n測試射頻對(duì)外界造成的干擾。n要求測試不超過下表范圍模式頻率范圍MHz功率電平峰值限dBmGSM900結(jié)論DCS1800結(jié)論專用模式30-10001000-17101710-17851785-6000-36-30-30-30 -36-30-36-30 空閑模式30-880880-915915-10001000-17101710-17851785-6000-57-5

52、9-57-47-53-47 -57-59-57-47-53-47 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 85傳導(dǎo)連續(xù)騷擾n測充電器的電源端口產(chǎn)生的傳導(dǎo)連續(xù)騷擾。但手機(jī)必須連接充電器 n要求測試不超過下表范圍頻率 范圍MHz電壓限值dBV結(jié)論電流限值dBA結(jié)論準(zhǔn)峰值平均值準(zhǔn)峰值平均值0.15-0.50.5-3084-747474-6464 40-303030-2020 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 86輻射連續(xù)騷擾n該項(xiàng)目測手機(jī)和充電器共同產(chǎn)生的輻射連續(xù)騷擾。n 要求測試結(jié)果不超過下表規(guī)定門限頻率范圍限值（準(zhǔn)峰值）30230MHz30dBV/m2301000 MHz37dBV/m內(nèi)部資料 僅

53、供參考手機(jī)硬件測試介紹 87靜電放電抗擾度n模擬人或物體在接觸手機(jī)時(shí)的靜電放電，考察被測手機(jī)抵抗靜電干擾能力。 n接觸放電： 2kV、 4kVn空氣放電：2kV、 4kV、 8kV n被測手機(jī)各試驗(yàn)點(diǎn)受直接接觸放電和空氣放電至少10次/點(diǎn)，以1次/s的單電放電方式進(jìn)行；至少接受50次間接接觸放電，共計(jì)約3000次放電 。n試驗(yàn)后，手機(jī)應(yīng)能正常工作，無用戶可察覺的通信質(zhì)量的降低，無用戶功能的喪失或存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的丟失，空閑模式下試驗(yàn)時(shí)，發(fā)信機(jī)不會(huì)誤操作。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 88輻射騷擾抗擾度n測試手機(jī)對(duì)環(huán)境輻射騷擾的承受能力。n要求測試中手機(jī)的下行鏈路的收信質(zhì)量RXQUAL值不超過3

54、。n當(dāng)通過頻率中心為1 kHz帶寬為200 kHz的音頻帶通濾波器測量時(shí)，手機(jī)的上下行語音輸出電平應(yīng)至少比記錄的參考電平低35dB。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 89壽命試驗(yàn)n按鍵n按鍵壽命大于10萬次n翻蓋n翻蓋次數(shù)大于5萬次n電池n可循環(huán)充電300次以上內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 90安全性測試n要求n手機(jī)及其附件在使用及維護(hù)過程中不對(duì)人體產(chǎn)生電擊、過流、燃燒、機(jī)械及物理損傷、過熱、化學(xué)腐蝕反應(yīng)等傷害，要符合國標(biāo)GB4943-1995 信息技術(shù)設(shè)備（包括電器事務(wù)設(shè)備）的安全規(guī)定的要求。 n手機(jī)使用過程中應(yīng)不對(duì)人體產(chǎn)生有害的電磁輻射，手機(jī)必須滿足 0Hz-300GHz電磁輻射

55、的人體安全限值及測試方法。 n測試項(xiàng)目n電池：見電池安全性要求部分。n充電器：見充電器安全性能部分。n輻射：符合EMC性能要求和相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。 內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 91可測試性n要求n有能對(duì)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品進(jìn)行測試的設(shè)備或自主開發(fā)的測試系統(tǒng)n有足夠的接口對(duì)設(shè)計(jì)的產(chǎn)品進(jìn)行功能測試、指標(biāo)測試和參數(shù)調(diào)整。 n測試項(xiàng)目n校準(zhǔn)n終測n外部測試接口（數(shù)據(jù)接口，射頻接口，電源接口）n內(nèi)部測試點(diǎn)內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)硬件測試介紹 92可維修性n要求n從一個(gè)手機(jī)分解為單板和零件，調(diào)換任意一個(gè)元件，零件或模塊，再組裝成手機(jī)，所用時(shí)間應(yīng)不大于30分鐘。n測試項(xiàng)目n分解n組裝n元件更換內(nèi)部資料 僅供參考手機(jī)