《現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)》課程教學(xué)大綱（本科）

1、現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)課程教學(xué)大綱一、課程基本情況課程代碼：1061139009課程名稱：現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)/Modern Testing Tecnology課程類別：專業(yè)方向課程開課學(xué)期：學(xué)期總學(xué)時(shí)：32學(xué)分：2.0理論學(xué)時(shí):32實(shí)驗(yàn)/實(shí)踐學(xué)時(shí)：適用專業(yè)：應(yīng)用化學(xué)適用對(duì)象：本科先修課程：大學(xué)物理，無機(jī)化學(xué)，分析化學(xué)，儀器分析 開課學(xué)院：環(huán)境工程與化學(xué)學(xué)院二、課程簡(jiǎn)介現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)是應(yīng)用化學(xué)專業(yè)的一門專業(yè)課程，是食品分析、工業(yè)分析以及儀淵分析等 課程的延伸與開展，是研究物質(zhì)組成、狀態(tài)和結(jié)構(gòu)的分析測(cè)試方法的一門技術(shù)含量高、實(shí)踐 性強(qiáng)的學(xué)科。通過該課程學(xué)習(xí)，使學(xué)生知道X射線衍射法，透射電鏡法，掃描電鏡法和電子探 針

2、應(yīng)用等測(cè)試方法的基本原理、儀器設(shè)備、樣品制備及應(yīng)用問題；掌握常見現(xiàn)代分析測(cè)試技 術(shù)所獲信息的解釋和分析方法；學(xué)會(huì)根據(jù)不同分析內(nèi)容，準(zhǔn)確選擇、利用各種分析方法和手 段，并得出正確的判斷；培養(yǎng)學(xué)生分析、解決問題的能力：為學(xué)生能夠地進(jìn)行現(xiàn)代分析測(cè)試 和研究T作奠定基礎(chǔ)。三、課程教學(xué)目標(biāo).課程對(duì)畢業(yè)要求的支撐指標(biāo)點(diǎn)7.1 了解分析檢測(cè)、化工技術(shù)及相關(guān)專業(yè)領(lǐng)域的開展前沿，掌握新技術(shù)、新產(chǎn)品 和新工藝動(dòng)態(tài)；指標(biāo)點(diǎn)7.2利用現(xiàn)代技術(shù)工具和信息手段，進(jìn)行分析方法研究、產(chǎn)品（精細(xì)品）開發(fā)和 化工技術(shù)工藝改造，具備開展初步科學(xué)研究和技術(shù)工程研發(fā)能力。.課程教學(xué)目標(biāo)（1）掌握現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的基本理論與方法，理解X射線

3、、電子能譜、電子顯微、粒度 分析等方法在分析應(yīng)用中的檢測(cè)原理與試驗(yàn)技術(shù)；（2）能夠運(yùn)用現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)知識(shí)及技能辨識(shí)化工產(chǎn)品及化工生產(chǎn)過程中的相關(guān)分析問（3） 了解現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的新開展，能夠?qū)μ囟z測(cè)分析問題作實(shí)驗(yàn)方案和方法設(shè)計(jì)。3.教學(xué)內(nèi)容與課程教學(xué)目標(biāo)之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系課程教學(xué)目標(biāo)教學(xué)內(nèi)容教學(xué)方法目標(biāo)1:掌握現(xiàn)代測(cè)試 技術(shù)的基本理論與方法，X射線光譜法、電子能譜法、電子顯微分 析、粒度分析法及熱分析法的基本概念、1.啟發(fā)式教學(xué)2.案例提供課理解X射線、電子能譜、 電子顯微、粒度分析等方 法在分析應(yīng)用中的檢測(cè)原 理與試驗(yàn)技術(shù)。基本理論及相應(yīng)分析儀器的結(jié)構(gòu)及工作 原理。.翻轉(zhuǎn)課堂與討論.動(dòng)畫視頻目標(biāo)2

4、：能夠運(yùn)用現(xiàn)代 測(cè)試技術(shù)知識(shí)及技能辨識(shí) 化工產(chǎn)品及化工生產(chǎn)過程 中的相關(guān)分析問題。X射線光譜法、電子能譜法、電子顯微分 析法、粒度分析法及熱分析法檢測(cè)分析的 影響因素及檢測(cè)分析條件選擇的技術(shù)與 方法，現(xiàn)代分析檢測(cè)技術(shù)應(yīng)用實(shí)例解析。.啟發(fā)式教學(xué).案例提供課.翻轉(zhuǎn)課堂與討論目標(biāo)3： 了解現(xiàn)代測(cè)試 技術(shù)的新開展，能夠?qū)μ?定檢測(cè)分析問題作實(shí)驗(yàn)方 案和方法設(shè)計(jì)。展示儀器分析技術(shù)的開展、變化。解析應(yīng) 用現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)解決分析問題的一般思 路與方法。.啟發(fā)式教學(xué).案例分析和討論.現(xiàn)場(chǎng)參觀.動(dòng)畫視頻4.課程思政元素：根據(jù)課程特點(diǎn)及教學(xué)內(nèi)容，本課程思政元素：實(shí)事求是，科學(xué)創(chuàng)新, 嚴(yán)謹(jǐn)認(rèn)真。四、教學(xué)內(nèi)容章緒論（2

5、學(xué)時(shí)）.教學(xué)內(nèi)容現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的開展和作用，現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的分類及不同類型測(cè)試技術(shù)的特點(diǎn)，現(xiàn)代測(cè) 試技術(shù)的開展趨勢(shì)。.教學(xué)現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)方法的分類及特點(diǎn)。.教學(xué)難點(diǎn)現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的開展和在生產(chǎn)生活中的作用。.思政元素結(jié)合現(xiàn)代分析技術(shù)的開展激發(fā)學(xué)生創(chuàng)新意識(shí)。章X射線光譜法（8學(xué)時(shí)）.教學(xué)內(nèi)容X射線光譜分析概述：X射線的發(fā)射、吸收、散射與衍射；X射線熒光光譜法：X射線熒光光譜分析的基本原理，X射線熒光光譜儀，定性、定 量分析方法；X射線衍射分析：X射線衍射分析的基本原理，粉末衍射分析，單晶衍射分析。.教學(xué)X射線的產(chǎn)生、發(fā)射及吸收等。.教學(xué)難點(diǎn)X射線熒光光譜法、X射線衍射分析法的分析原理與方法。.翻轉(zhuǎn)課堂：

6、X射線熒光光譜法、X射線衍射分析法兩種分析方法的比擬分析。.課后作業(yè)：P184： 1, 2, 3, 4, 5, 6.章電子能譜法（6學(xué)時(shí)）.教學(xué)內(nèi)容光電子能譜分析：X射線光電子能譜分析的基本原理，X射線光電子能譜儀的結(jié)構(gòu)與工作原理，X射線 光電子能譜分析法試樣的制備與分析；俄歌電子能譜：俄歇電子能譜法的基本原理，俄歇電子能譜法的儀器結(jié)構(gòu)，俄歌電子能譜法的樣品制 備與分析，俄歇電子能譜法的應(yīng)用。.教學(xué)X射線光電子能譜分析法、俄歇電子能譜法的分析原理，X射線光電子能譜儀、俄歇 電子能譜法儀器的結(jié)構(gòu)及工作原理。.教學(xué)難點(diǎn)X射線光電子能譜分析法、俄歇電子能譜法的分析原理。.課后作業(yè):P216： 2,

7、4, 5, 6.章電子顯微分析技術(shù)（6學(xué)時(shí)）.教學(xué)內(nèi)容電子顯微分析技術(shù)概述；電子光學(xué)基礎(chǔ)：顯微鏡的分辨率極限，電子與物質(zhì)的相互作用，電磁透鏡；透射電子顯微鏡：透射電子顯微鏡概述，透射電鏡的基本結(jié)構(gòu)及工作原理，透射電鏡 的成像襯度原理，電子衍射，試樣的制備與分析；掃描電了顯微鏡：掃描電鏡概述，掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)與工作原理，掃描電鏡的成像 襯度原理，試樣的制備與分析。.教學(xué)透射電鏡的結(jié)構(gòu)、工作原理及成像襯度原理，掃描電鏡的結(jié)構(gòu)、工作原理與成像襯 度原理。.教學(xué)難點(diǎn)透射、掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及工作原理。.課后作業(yè):P389： 2, 3, 4, 5, 8, 9.章粒度分析（4課時(shí)）.教學(xué)內(nèi)容粒度分析法概述：

8、基本概念，粒度分析方法，粒度分析制樣方法；粒度分析原理方法：激光衍射光譜粒度分析法，激光光散射粒度分析法，激光相關(guān) 光譜粒度分析法，激光粒度分析實(shí)驗(yàn)方法；納米材料粒度分析綜合案例。.教學(xué)粒度分析的分析原理與分析方法。.教學(xué)難點(diǎn)激光粒度分析法。.案例教學(xué)：納米材料粒度分析案例。.課后作業(yè)：P256： 1, 2, 3.章熱分析法（6學(xué)時(shí)）.教學(xué)內(nèi)容熱分析法概述：熱重法：熱重法原理及儀濟(jì)，熱重曲線分析及應(yīng)用，熱重分析結(jié)果的影響因素；差熱分析：差熱分析法原理及儀器，差熱曲線分析及應(yīng)用，影響差熱分析結(jié)果的因素:差示掃描量熱法：差示掃描量熱法原理及儀器，差示掃描曲線分析及應(yīng)用，影響差示 掃描量熱分析結(jié)果的

9、因素。.教學(xué)熱重法原理及儀器，差熱分析法原理及儀器，差示掃描量熱法原理及儀器。.教學(xué)難點(diǎn)熱分析法的分析原理與分析方法。.課后作業(yè):P281： 1, 2, 5, 6, 7.五、教學(xué)安排序號(hào)教學(xué)內(nèi)容學(xué)時(shí)對(duì)應(yīng)課程教學(xué)目標(biāo)對(duì)應(yīng)畢業(yè)要 求指標(biāo)點(diǎn)1章緒論21、37.12章X射線光譜法81、2、37.17.23章電子能譜法61、2、37.1、7.24章電子顯微分析技術(shù)61、2、37.1、7.25章粒度分析41、2、37.1、7.26章熱分析法61、2、37.1、7.2六、課程考核與評(píng)分標(biāo)準(zhǔn)1.課程考核本課程總成績(jī)包括形成性評(píng)價(jià)（平時(shí)成績(jī)）和結(jié)果性評(píng)價(jià)（期末成績(jī)）兩個(gè)局部，形成 性評(píng)價(jià)（平時(shí)成績(jī)）占40 %,

10、結(jié)果性評(píng)價(jià)（期末考試成績(jī)）占60 %。形成性評(píng)價(jià)包括分析 方案設(shè)計(jì)（10%）,作業(yè)（20%）,慣（考勤、課堂表現(xiàn)等，10%）,期末考試采用百分制，總分值 100分，折算60 %計(jì)入總成績(jī)。2.課程教學(xué)目標(biāo)的考核3.成績(jī)?cè)u(píng)定標(biāo)準(zhǔn)（為平時(shí)成績(jī)的評(píng)定方法）平時(shí)成績(jī)?cè)u(píng)定方法序號(hào)課程教學(xué)目標(biāo)考核內(nèi)容考核1掌握現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的基 本理論與方法，理解X 射線、電子能譜、電子 顯微、粒度分析等方法 在分析應(yīng)用中的檢測(cè)原 理與試驗(yàn)技術(shù)。X射線、電子能譜、電子顯微、 粒度分析及熱分析方法的基本 概念和基礎(chǔ)理論，現(xiàn)代測(cè)試儀 器的結(jié)構(gòu)及工作原理。課堂提問與研討、 階段性形成評(píng)價(jià) 和作業(yè)、考試。2能夠運(yùn)用現(xiàn)代測(cè)試技術(shù) 知

11、以及技能辨識(shí)化工產(chǎn) 品及化工生產(chǎn)過程中的 相關(guān)分析問題。X射線、電子能譜、電子顯微、 粒度分析及熱分析方法的檢測(cè) 原理、特點(diǎn)，測(cè)試條件及影響 檢測(cè)因素。課堂提問、作業(yè)、 階段性形成評(píng)價(jià)、 考試。3了解現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)的新 開展，能夠?qū)μ囟z測(cè) 分析問題作實(shí)驗(yàn)方案和用所學(xué)現(xiàn)代測(cè)試技術(shù)方法正確 識(shí)別所面對(duì)的分析檢測(cè)問題， 找出適當(dāng)?shù)慕鉀Q方法。分析方案設(shè)計(jì)，考 試。方法設(shè)計(jì)。考核環(huán)節(jié)考核結(jié)果及標(biāo)準(zhǔn)評(píng)估工程及權(quán) 重（90100 分）良好（80-90 分）中等（7080 分）及格（60-70 分）不及格（60 分）慣和課堂表現(xiàn) （10 分）全勤，上課注意 聽講，積極參與 課堂教學(xué)過程 及課堂討論。缺勤一次或

12、請(qǐng) 假兩次以上，課 堂表現(xiàn)較好，積 極參加課堂討 論。缺勤二次，課堂 表現(xiàn)一般，能夠 主動(dòng)參加課堂 討論。缺勤三次，課堂 表現(xiàn)較差，能夠 參加課堂討論.缺勤四次以上， 不能參與課堂 教學(xué)過程及課 堂討論。分析方案設(shè)計(jì) （10 分）分析方案設(shè)計(jì) 正確、全面，外 觀整潔、清晰。分析方案設(shè)計(jì) 正確、完整，方 案外觀不整潔、 字跡較潦草。分析方案設(shè)計(jì) 正確，但不全面 或不完整。分析方案設(shè)計(jì) 存在模糊、不準(zhǔn) 確，內(nèi)容不完整 現(xiàn)象。分析方案設(shè)計(jì) 錯(cuò)誤，或不會(huì)設(shè) 計(jì)分析方案。課下作業(yè) （20 分）作業(yè)能夠完成， 字跡清晰，布局 合理，能夠靈活 運(yùn)用所學(xué)知識(shí) 和理論解決問 題，并獲得正確 結(jié)論。作業(yè)能夠完成，

13、 字跡較清晰，布 局較合理，能夠 運(yùn)用所學(xué)知識(shí) 和理論解決問 題，并獲得正確 結(jié)論作業(yè)能夠完成， 字跡能夠看清。 能夠運(yùn)用所學(xué) 知識(shí)和理論解 決問題，并獲得 結(jié)論作業(yè)能夠完成， 但局部題目解 答存在錯(cuò)誤或 缺少局部作業(yè) 內(nèi)容作業(yè)不能完成； 字跡看不清，敷 衍了事。結(jié)果性評(píng)價(jià)（60%）：期末考試考查范圍涉及X射線光譜法、電子能譜法、電子顯微分析法、粒度分析法及熱分析法等所有章節(jié)，考核內(nèi)容除基本概念、基礎(chǔ)理論外，重視應(yīng)用能 力考查?？荚嚳偡种禐?00分，按60%折算計(jì)入學(xué)期總成績(jī)七、教材、參考書目、重要文獻(xiàn)以及課程網(wǎng)絡(luò)資源建議教材：（1）袁存光，祝優(yōu)珍等主編.現(xiàn)代儀器分析.化學(xué)工業(yè).2012年出版（2）劉淑萍，孫彩云等編著.現(xiàn)代儀器分析方法及應(yīng)用.質(zhì)檢與標(biāo)準(zhǔn).2013 年出版參考書：（1）陳培榕，李景虹，鄧勃主編.現(xiàn)代儀器分析實(shí)驗(yàn)與技術(shù).清華大學(xué)（版）.2006 年出版（2）祁景玉主編.現(xiàn)代分析測(cè)試技術(shù).同濟(jì)大學(xué).2006年出版（3）武漢大學(xué)主編.分析化學(xué)（第5版）下冊(cè)，2007年（4）劉密新，羅國(guó)安等編著.儀器分析（第2版）.清