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文檔簡介
1、 PAGE PAGE 2GZ2022* 7及“集成電路應(yīng)用”四部分組成。第一部分 集成電路設(shè)計與仿真使用集成電路版圖設(shè)計軟件,根據(jù)表 1-1 所示的集成電路真值表(Y0Y15 隨機抽?。?,PDK理圖和版圖,并進行功能仿真。設(shè)計要求如下: 個輸入端 個輸出端VCC;1。1-1 所示的集成電路真值表, 、D 輸入不同的邏輯電平, Y 輸出對應(yīng)邏輯電平。上述邏輯Y0Y15 由比賽現(xiàn)場裁判長抽取的任務(wù)參數(shù)確定。為4kHz,D 8kHz。DRCLVS驗證。MOS管數(shù)量應(yīng)盡量少?,F(xiàn)場評判要求:DRC LVS結(jié)果、版圖及尺寸。不能進行增加、刪除、修改、連線等操作。輸入輸出Y10 Y輸入輸出Y10 Y11 Y
2、12 Y13 Y14Y15YY15 Y14 Y13 Y12 Y11 Y10 Y9 Y8 Y7 Y6 Y5 Y4 Y3 Y2 Y1Y0ABCDY0000Y00001Y10010Y20011Y30100Y40101Y50110Y60111Y71000Y81001Y9101010111100110111101111第二部分 集成電路工藝仿真在交互仿真平臺進行仿真操作。(單選)在視頻中,標注的是選項中的哪種溶液?A.二甲苯B.KOHC.去離子水D.丙酮(單選)劃片,則會造成()現(xiàn)象。晶圓沾污C.藍膜切透D.切割處嚴重崩邊(單選)能會造成()。A.塑封料填充不足B.開模失敗C.溢料D.塑封體變色3(單選
3、)視頻展示的裝片機外觀中,進行芯片粘接動作的位置是()標注的區(qū)域。(單選)可能會造成()。塑封體氣泡塑封體上的打標字跡模糊塑封溢料塑封料流動性差(多選)怎樣的異?,F(xiàn)象?無影響C.墨點偏大D.墨點偏小4(多選)()。A.操作簡單,技術(shù)要求較低B.技術(shù)要求較高C.墨點較精確D.墨點大小不可控(多選(傳統(tǒng)?;蛉钡囊徊?,該操作的作用有()。A.去除塑封料中的水分B.制作高質(zhì)量塑封料C.提高塑封料的可重復(fù)使用率D.加快模壓過程,提高塑封機工作效率(多選)指示的部位是()。第一焊點第一鍵合點第二焊點第二鍵合點510.(多選)激光打標是為芯片打上標識的過程,當(dāng)大量出現(xiàn)視頻中標注的現(xiàn)象時,下列操作正確的有()
4、。繼續(xù)完成本批次作業(yè)暫停設(shè)備作業(yè)將存在該問題的芯片報廢處理技術(shù)人員檢修光路 11.(仿真操作)膜部分貼膜機操作過程12.(仿真操作)激光打標結(jié)批:集成電路制造封裝工藝激光打標部分故障排除和作業(yè)結(jié)批過程6 PAGE PAGE 1013.(仿真操作)轉(zhuǎn)塔式分選機設(shè)備運行:集成電路制造芯片測試工藝轉(zhuǎn)塔式測試分選環(huán)節(jié)分選機設(shè)備運行14.(仿真操作)單晶硅生長拉晶與檢測:集成電路制造晶圓制造工藝單晶硅生長環(huán)節(jié)的拉單晶和單晶硅質(zhì)量檢測15.(仿真操作)物理氣相淀積參數(shù)設(shè)置與淀積:集成電路制造流片工藝金屬化部分的物理氣相淀積設(shè)備操作環(huán)節(jié)的參數(shù)設(shè)置和淀積設(shè)備運行第三部分 集成電路測試參賽選手從現(xiàn)場下發(fā)的元器件
5、中選取待測試芯片及工裝所需元 件和材料,參考現(xiàn)場下發(fā)的技術(shù)資料(芯片手冊、元器件清單等測試任務(wù)。項子任務(wù)。子任務(wù)一:數(shù)字集成電路測試待測芯片:觸發(fā)器(例如:XD74LS76 參數(shù)測試開短路測試VOLIOHIH功能測試設(shè)計、焊接、調(diào)試完成測試工裝,搭建并配置測試環(huán)境,測試芯片邏輯功能,應(yīng)設(shè)置輸入引腳、控制引腳狀態(tài),記錄輸出引腳電壓值并標注單位。子任務(wù)二:模擬集成電路測試待測芯片:TPS73625TPS73625NMOS400mA電容也可以保持穩(wěn)定的輸出。TPS736xx 系列器件的另一個顯著優(yōu)點是它們采用先進的雙極互補金屬氧化物半導(dǎo)體 (BiCMOS)工藝在保持LDO3-1圖 3-1 TPS73
6、625封裝及引腳圖參數(shù)測試輸出電源最大輸出電流輸入輸出壓差接地電流負載調(diào)整率線性調(diào)整率電源抑制比應(yīng)用電路測試TPS736XX5V測試并記錄以下數(shù)據(jù);輸出電源最大輸出電流輸入輸出壓差接地電流負載調(diào)整率線性調(diào)整率電源抑制比輸出噪聲電源第四部分 集成電路應(yīng)用STC12C5AS12stm32f103c8t6AT24c02、DS18B20參賽選手應(yīng)利用STC12C5AS12stm32f103c8t6DS18B20AT24c02AMS1117SS8550(帶轉(zhuǎn)速傳感器) 和LED4834-14-24-3低擋 中擋 高擋計時模式圖4-1LED顯示方式0000圖4-2 轉(zhuǎn)速數(shù)據(jù)顯示圖4-3 溫度數(shù)據(jù)顯示實現(xiàn)過程系統(tǒng)開機初始化,讀取AT24C024-3作擋位及模式;當(dāng)按下模式切換按鍵切換工作模式且AT24c02式,模式燈計時模式點亮、非計時模式熄滅。(120s2
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