標(biāo)準(zhǔn)解讀
《GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測(cè)定 X射線小角散射法》與前版《GB 13221-1991》相比,主要在以下幾個(gè)方面進(jìn)行了調(diào)整和完善:
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標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)變化:最顯著的變化是從強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB)轉(zhuǎn)變?yōu)橥扑]性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB/T),意味著新版標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用不再是強(qiáng)制要求,而是為相關(guān)領(lǐng)域提供一種推薦性的測(cè)試方法。
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技術(shù)內(nèi)容更新:新版標(biāo)準(zhǔn)引入了更先進(jìn)的X射線小角散射理論和技術(shù),對(duì)納米粉末粒度分布的測(cè)量原理、計(jì)算方法和數(shù)據(jù)分析過程進(jìn)行了詳細(xì)闡述,提高了測(cè)試精度和適用范圍。特別是對(duì)數(shù)據(jù)處理算法和模型進(jìn)行了優(yōu)化,以適應(yīng)納米材料研究的最新進(jìn)展。
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測(cè)試條件與操作規(guī)范:細(xì)化了測(cè)試條件的選擇原則,包括樣品制備、測(cè)量參數(shù)設(shè)定(如X射線波長(zhǎng)、散射角范圍等)以及環(huán)境控制要求,確保測(cè)試結(jié)果的重復(fù)性和可比性。同時(shí),增加了對(duì)儀器校準(zhǔn)和維護(hù)的具體指導(dǎo),確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。
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結(jié)果表示與解釋:對(duì)粒度分布的表示方法進(jìn)行了規(guī)范,引入了更全面的統(tǒng)計(jì)參數(shù)來描述納米粉末的粒徑特征,如體積分布、數(shù)量分布等,并明確了如何根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行合理解釋,增強(qiáng)了結(jié)果的實(shí)用性和科學(xué)性。
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質(zhì)量控制與不確定度評(píng)估:新版標(biāo)準(zhǔn)強(qiáng)調(diào)了測(cè)試過程中的質(zhì)量控制措施,要求對(duì)測(cè)量結(jié)果的不確定度進(jìn)行評(píng)估,提供了不確定性計(jì)算的方法和示例,有助于用戶更好地理解測(cè)試結(jié)果的可靠性和局限性。
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附錄與參考資料:增加了新的附錄內(nèi)容,提供了X射線小角散射法的理論基礎(chǔ)、實(shí)例分析及常見問題解答,同時(shí)更新了參考文獻(xiàn)列表,反映了該領(lǐng)域最新的研究成果和技術(shù)進(jìn)展。
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2004-09-29 頒布
- 2005-04-01 實(shí)施




文檔簡(jiǎn)介
ICS19.120N78中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T13221-2004代替GB/T13221-1991納米粉末粒度分布的測(cè)定X射線小角散射法Nanometerpowder-Determinationofparticlesizedistribution-SmallangleX-rayscatteringmethod(ISO/TS13762:2001,Particlesizeanalysis-SmallangleX-rayscatteringmethod,MOD)2004-09-29發(fā)布2005-04-01實(shí)施中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
GB/T13221一2004本標(biāo)準(zhǔn)修改采用ISO/TS13762:2001《粒度分析X射線小角散射法》本標(biāo)準(zhǔn)代替(B/T13221—1991《超細(xì)粉末粒度分布的測(cè)定X射線小角散射法》本標(biāo)準(zhǔn)在附錄A中列出了本標(biāo)準(zhǔn)條款和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)條款的對(duì)照一覽表。本標(biāo)準(zhǔn)在采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)時(shí)進(jìn)行了修改·在附錄B中給出了技術(shù)性差異及其原因的一覽表。本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A、附錄B為資料性附錄。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)有色金屬工業(yè)協(xié)會(huì)提出。本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(TC243/SC4)歸口,本標(biāo)準(zhǔn)起草單位:鋼鐵研究總院。本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:張晉遠(yuǎn)、鄭毅、柳春蘭、方建峰、朱瑞珍、金成海、張憲銘本標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況:GB/T13221-1991.
GB/T13221-2004X射線小角散射(SAXS)系發(fā)生于原光束附近·至幾度范圍內(nèi)的相干散射現(xiàn)象,物質(zhì)內(nèi)部尺度在1納米至數(shù)百納米范圍內(nèi)的電子密度的起伏是產(chǎn)生這種散射效應(yīng)的根本原因。利用SAXS技術(shù)可以表征物質(zhì)的長(zhǎng)周期、準(zhǔn)周期結(jié)構(gòu)和測(cè)定納米粉末的粒度分布。廣泛應(yīng)用于尺度屬納米級(jí)的各種金屬、無機(jī)非金屬、有機(jī)聚合物粉末以及生物大分子、膠體溶液、磁性液體等顆粒尺寸分布的測(cè)定:也可對(duì)各種材米中的納米級(jí)孔洞、偏聚區(qū)、析出相等的尺寸進(jìn)行分析研究。其粒度分析結(jié)果所反應(yīng)的既非品粒亦非團(tuán)粒,而是一次顆粒的尺寸.在測(cè)定中參與散射的顆粒數(shù)一般高達(dá)數(shù)億個(gè).在統(tǒng)計(jì)上有充分的代表性:其制樣方法相對(duì)比較簡(jiǎn)單.對(duì)顆粒分散的要求也不像其他方法那樣嚴(yán)格。當(dāng)然,X射線小角散射法也有它的局限性:首先,它本身不能有效地區(qū)分來自顆?;蛭⒖椎纳⑸?其次,對(duì)于密集的散射體系·會(huì)發(fā)生顆粒散射之間的干涉效應(yīng),將導(dǎo)致測(cè)量結(jié)果有所偏低。眾所周知,X射線對(duì)人體是有可能造成傷害的.本標(biāo)準(zhǔn)不是要規(guī)定有關(guān)X射線小角散射測(cè)量的所有安全問題;而是要求操作者在實(shí)驗(yàn)工作前,應(yīng)當(dāng)接受必要的技術(shù)和安全培訓(xùn),并在操作過程中嚴(yán)格遭守相應(yīng)的安全防護(hù)規(guī)程。
GB/T13221-2004納米粉末粒度分布的測(cè)定X射線小角散射法1范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了利用X射線小角散射效應(yīng)測(cè)定納米粉末粒度分布的方法本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定顆粒尺寸在1nm~300nm范圍內(nèi)的粉末的粒度分布,對(duì)于無機(jī)、有機(jī)溶膠及生物大分子粒度的測(cè)定,也可參照?qǐng)?zhí)行,當(dāng)粉末的顆粒形狀偏離球形時(shí),本方法給出的為等效散射球直徑。本方法不適用于由不同材質(zhì)的顆粒組成的混合粉末:一般也不適用于有微孔存在的粉末,但當(dāng)微孔尺寸為納米級(jí)而顆粒(或骨架)尺寸在0.5㎡m以上時(shí),可以用來測(cè)定相應(yīng)的孔徑分布.2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。ISO9276-1粒度分析結(jié)果的表示第1部分:圖解表示法ISO9276-2粒度分析結(jié)果的表示第2部分:由粒度分布計(jì)算平均粒度/直徑和各次矩3符號(hào)與縮略語SAXSX射線小角散射粒度,球直徑CSAXS,等效散射球直徑:與所測(cè)顆粒具有相同散射效應(yīng)的球體的直徑AI,第)個(gè)粒度間隔的寬度,元=2一元-小粒度分級(jí)總數(shù)第,個(gè)粒度間隔,內(nèi)以體積為權(quán)頻度分布的均值“Q·。落在粒度間隔范圍內(nèi)的體積分?jǐn)?shù)(以%表示)AQ。=?!:拉度<r的累積體積分?jǐn)?shù)(以%表示),體積分布累積中位粒徑S,以體積為權(quán)的粒度分布散度。散射角Ie)樣品在處的
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