標準解讀

《GB/T 14004-1992 電子設備用固定電容器 第六部分：分規(guī)范 金屬化聚碳酸酯膜介質直流固定電容器(可供認證用)》作為一項具體的標準文檔，其主要規(guī)定了金屬化聚碳酸酯膜介質直流固定電容器的技術要求、試驗方法、檢驗規(guī)則以及標志、包裝、運輸和儲存要求。然而，您提供的信息中并未直接給出另一個對比的標準或版本，這使得直接比較具體變更內容變得不可能。

不過，如果將此標準與同類標準或前一版（如果存在）進行一般性比較，可能的變更點通常會涉及以下幾個方面：

  1. 技術參數(shù)更新：新標準可能會根據(jù)材料科學、制造工藝的進步調整電容器的性能指標，如耐壓等級、電容量穩(wěn)定性、溫度系數(shù)、絕緣電阻、損耗角正切值等。

  2. 測試方法改進：隨著檢測技術的發(fā)展，新標準可能會引入更精確、更高效的測試方法來驗證電容器的性能，確保其符合使用要求。

  3. 環(huán)境與可靠性要求：考慮到環(huán)境保護和產(chǎn)品長期使用的可靠性，新標準可能會加強對電容器工作溫度范圍、濕度抵抗能力、機械強度等方面的要求。

  4. 安全規(guī)范：針對用戶安全和設備兼容性，新標準可能會增加或修訂安全相關的條款，確保電容器在各種應用環(huán)境下的安全性。

  5. 標志與包裝要求：為了提高產(chǎn)品的可追溯性和用戶友好度，新標準可能會對產(chǎn)品的標識、包裝材料、運輸防護措施等提出新的或更嚴格的規(guī)定。

  6. 認證與符合性評估：隨著國際貿(mào)易和技術交流的加深，新標準可能會融入國際通用的認證體系要求，為產(chǎn)品出口和國際認可提供便利。

由于缺乏具體的對比對象，以上僅是基于標準更新常見趨勢的一般性推測。如果您需要了解該標準與某一特定前版或相關標準的具體差異，提供詳細的標準編號或名稱將有助于獲得更加精確的分析。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 1992-12-17 頒布
  • 1993-08-01 實施
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GB/T 14004-1992電子設備用固定電容器第六部分：分規(guī)范金屬化聚碳酸酯膜介質直流固定電容器(可供認證用)_第1頁
GB/T 14004-1992電子設備用固定電容器第六部分：分規(guī)范金屬化聚碳酸酯膜介質直流固定電容器(可供認證用)_第2頁

文檔簡介

UDC621.319.4L11中華人民共和國國家標準GB/T14004-92IEC384-6-1987電子設備用固定電容器第六部分：分規(guī)范金屬化聚碳酸酯膜介質直流固定電容器FixedcapacitorsforuseinelectronicequipmentPart6：SeetionalspecificationFixedmetallizedpolycarbonatefilmdielectricd.c.capacitors（可供認證用)1992-12-17發(fā)布1993-08-01實施國家技術監(jiān)督局發(fā)布

中華人民共和國國家標準電子設備用固定電容器第六部分：分規(guī)范金屬化聚碳酸酯膜介質直流固定電容器GB/Tiec384-6-1987FixedcapacitorsforuseinelectronieequipmentPart6：SectionalspecificationFixedmetallizedpolycarbonatefilmdielectricd.c.capacitors（可供認證用)IEC384-6(1987)本標準等同采用國際標準，《電子設備用固定電容器第6部分：分規(guī)范金屬化FQC300500聚碳酸酯膜介質直流固定電容器》。述1.1范圍本標準規(guī)定了金屬化案碳酸酯膜介質直流固定電容器的一般要求，質量評定規(guī)定和試驗方法本標準適用于電子設備用金屬化案碳酸酯膜介質直流固定電容器，這類電容器可以有取決于使用條件的“自愈特性”,主要用在其交流成分比額定電壓小的地方。本標準包括兩個性能等級的電容器：1級為長壽命用，2級為普通用。本規(guī)范中不包括抑制無線電干擾固定電容器。1.2目的本標準規(guī)定了這種類型電容器規(guī)定的優(yōu)先額定值和特性，并根據(jù)GB2693標準選擇規(guī)定了適當?shù)馁|量評定程序、試驗和測量方法,以及一般性能要求。引用本分規(guī)范所規(guī)定詳細規(guī)范的試驗嚴醋度和要求,必須是同等的或較高的性能等級，不允許降低性能等級1.3引用標準GB2691電阻器、電容器標志內容與標志方法GB2471電子設備用電阻器標稱阻值系列和固定電容器標稱電容量系列及其允許偏差GB2693電子設備用固定電容器第1郡分：總規(guī)范GB321優(yōu)先數(shù)和優(yōu)先數(shù)系IEC68基本環(huán)境試驗規(guī)程IEC410計數(shù)檢查抽樣方案和程序IECQ/QC001001TEC電子元器件質址評定體系（IECQ)基本章程IECQ/QC001002IEC電子元器件質址評定體系（IECQ)程序規(guī)則注：上述標準除IEC68外，其余的均采用現(xiàn)行版本，對

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