標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 19404-2003 是一項(xiàng)由中國發(fā)布的國家標(biāo)準(zhǔn)，全稱為《微波鐵氧體器件主要性能測量方法》。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了微波鐵氧體器件在性能測試時(shí)應(yīng)遵循的方法和要求，旨在為行業(yè)內(nèi)提供統(tǒng)一的測試標(biāo)準(zhǔn)，以確保不同廠家生產(chǎn)的微波鐵氧體器件性能指標(biāo)的可比性和可靠性。以下是標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的大致框架和要點(diǎn)：

標(biāo)準(zhǔn)適用范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于微波頻段下工作的鐵氧體器件，包括隔離器、環(huán)行器、相移器等，明確了這些器件的主要性能參數(shù)測量原則和程序。

定義與術(shù)語

標(biāo)準(zhǔn)首先對(duì)涉及的術(shù)語進(jìn)行了定義，確保讀者對(duì)諸如插入損耗、隔離度、電壓駐波比(VSWR)、方向性等關(guān)鍵性能參數(shù)有統(tǒng)一的理解。

測量環(huán)境與設(shè)備

詳細(xì)描述了進(jìn)行性能測試所需的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境條件，如溫度、濕度控制要求，以及測試儀器的精度等級(jí)、校準(zhǔn)方法等，確保測試環(huán)境和設(shè)備不會(huì)對(duì)測量結(jié)果造成顯著影響。

測量方法

  • 插入損耗與回波損耗：規(guī)定了如何使用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量器件的插入損耗和回波損耗（或VSWR），并要求考慮測試電纜和適配器的損耗。
  • 隔離度與方向性：闡述了如何設(shè)置測試電路來準(zhǔn)確測量器件的隔離度和方向性，強(qiáng)調(diào)了測試配置的對(duì)稱性和信號(hào)的純凈度。
  • 功率容量：介紹了測量鐵氧體器件最大可承受功率的方法，通常涉及逐步增加輸入功率直至達(dá)到預(yù)定指標(biāo)的測試過程。
  • 溫度特性：規(guī)定了在不同溫度點(diǎn)下測量器件性能變化的步驟，以評(píng)估其工作穩(wěn)定性。

數(shù)據(jù)處理與誤差分析

說明了測試數(shù)據(jù)的記錄、處理方法及如何評(píng)估測量誤差，包括重復(fù)性、再現(xiàn)性誤差的計(jì)算，確保測試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

報(bào)告格式

規(guī)范了測試報(bào)告應(yīng)包含的信息項(xiàng)，如樣品基本信息、測試條件、所用儀器、測量結(jié)果及其不確定度等，便于信息交流和產(chǎn)品質(zhì)量追溯。


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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2003-11-24 頒布
  • 2004-08-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
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文檔簡介

ICS29.100.10L19中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T19404-2003/IEC61830:1997微波鐵氧體器件主要性能測量方法Microwaveferritecomponents-Measuringmethodsformajorproperties(IEC61830:1997.IDT)2003-11-24發(fā)布2004-08-01實(shí)施中華人民共和國發(fā)布國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局

GB/T19404一2003/IEC61830:1997前本標(biāo)準(zhǔn)等同采用IEC61380:1997《微波鐵氧體元件主要性能測量方法》英文版)本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)IEC61380中各圖位置按相關(guān)條款作了移動(dòng),并去掉了第1章中的說明性注解1.本標(biāo)準(zhǔn)由全國磁性元件與鐵氧體材料標(biāo)委會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所(CESI)總歸口.本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國電子科技集團(tuán)公司第九研究所、中國航天集團(tuán)第二十三研究所.本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：張?zhí)J、胡濱、國論、尹景林。

GB/T19404-2003/IEC61830:19971EC61830:1997《微波鐵氧體器件主要性能測量方法》給出了經(jīng)典的、傳統(tǒng)的測量微波鐵氧體器件主要性能的測量方法。本標(biāo)準(zhǔn)不排斥通常使用的網(wǎng)絡(luò)分析儀測量微波鐵氧體器件主要性能的測量方法·實(shí)用的微波鐵氧體器件主要性能的測量方法標(biāo)準(zhǔn)有：-GJB2650—1996微波元器件性能測量方法;11996-1990微波器件測試方法。

GB/T19404一2003/IEC61830:1997微波鐵氧體器件主要性能測量方法范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定微波鐵氧體器件主要性能的測量方法導(dǎo)則。l。這些性能參數(shù)包括：反射損耗、正向損耗、反向損耗、相位移和群延時(shí)。注：盡管目前網(wǎng)絡(luò)分析儀已被大多數(shù)廠商用于測量微波鐵氧體器件上述各項(xiàng)參數(shù).然面.要了解包括使用網(wǎng)絡(luò)分析儀在內(nèi)的通用測量方法.需要掌握基本測量方法的知識(shí)。因此·傳統(tǒng)測量方法還是在此進(jìn)行了敘述。規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn).然而，鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。EC60510-1-3:1980衛(wèi)星地面站用無線電設(shè)備的測量方法第1部分：分系統(tǒng)和分系統(tǒng)組合通用的測量反射損耗第3節(jié)：中頻范圍內(nèi)的測量IEC60510-1-3AMD1:1988反射損耗3.1阻抗、反射損耗、反射系數(shù)和電壓駐波比(VSWR)之間的關(guān)系對(duì)于微波鐵氧體器件，更注重反射損耗的測量而不是阻抗、反射系數(shù)或電壓駐波比（VSWR）的測量。阻抗乙相對(duì)于其標(biāo)稱值Z。的反射系數(shù)或VSWR的測量：反射損耗L（單位dB)與阻抗乙和Z。的關(guān)系見式(1)：·（1）反射損耗L（單位dB)也可以表示見式(2)：……（2）式中：電壓反射系數(shù)。與阻抗Z、Z的關(guān)系見式(3)：電壓駐波比（VSWR）表示見式(4)：VSWR（4）3.2測量方法反射損耗的測量方法可以用遙點(diǎn)法或掃頻法。作為示例下面章條款中規(guī)定了后一種方法·但是·任何一種其他方法只要

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