標(biāo)準(zhǔn)解讀
《JJF 1236-2010 半導(dǎo)體管特性圖示儀校準(zhǔn)規(guī)范》是針對(duì)半導(dǎo)體管特性圖示儀的校準(zhǔn)過程制定的技術(shù)文件,旨在確保此類儀器測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。該標(biāo)準(zhǔn)適用于新制造、使用中以及修理后的半導(dǎo)體管特性圖示儀的校準(zhǔn)工作。
根據(jù)此規(guī)范,校準(zhǔn)項(xiàng)目主要包括但不限于電壓、電流和時(shí)間等基本參數(shù)的準(zhǔn)確性檢查,還包括了對(duì)于特定條件下如溫度穩(wěn)定性等方面的測(cè)試要求。具體而言,它規(guī)定了如何設(shè)置測(cè)試條件,比如輸入信號(hào)幅度與頻率的選擇;明確了不同類型的半導(dǎo)體器件(如晶體管)在進(jìn)行特性曲線繪制時(shí)所需遵循的具體步驟和技術(shù)指標(biāo);還對(duì)校準(zhǔn)時(shí)所使用的參考標(biāo)準(zhǔn)及其精度提出了明確的要求。
此外,《JJF 1236-2010》也詳細(xì)描述了校準(zhǔn)過程中可能出現(xiàn)的各種不確定度來源,并給出了評(píng)估這些不確定度的方法論指導(dǎo)。通過這種方式,可以幫助技術(shù)人員更好地理解和控制整個(gè)校準(zhǔn)流程中的誤差范圍,從而提高最終結(jié)果的可信度。
最后,該文件還強(qiáng)調(diào)了記錄保存的重要性,要求所有參與校準(zhǔn)活動(dòng)的相關(guān)人員都必須按照規(guī)定格式完整地記錄下實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)及分析結(jié)論,以便于后續(xù)審核或復(fù)查之用。
如需獲取更多詳盡信息,請(qǐng)直接參考下方經(jīng)官方授權(quán)發(fā)布的權(quán)威標(biāo)準(zhǔn)文檔。
....
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- 現(xiàn)行
- 正在執(zhí)行有效
- 2010-01-05 頒布
- 2010-04-05 實(shí)施
文檔簡介
中華人民共和國國家計(jì)量技術(shù)規(guī)范
JJF1236—2010
半導(dǎo)體管特性圖示儀校準(zhǔn)規(guī)范
CalibrationSpecificationforSemiconductorDeviceCurveTracers
2010-01-05發(fā)布2010-04-05實(shí)施
國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布
JJF1236—2010
半導(dǎo)體管特性圖示儀校準(zhǔn)規(guī)范??
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CalibrationSecificationfor?JJF1236—2010?
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SemiconductorDeviceCurveTracers
本規(guī)范經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局于年月日批準(zhǔn)并自
201015,
年月日起施行
201045。
歸口單位全國無線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)
:
主要起草單位中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
:
參加起草單位北京無線電儀器廠
:
上海新建電子儀器有限公司
本規(guī)范由全國無線電計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋
JJF1236—2010
本規(guī)范主要起草人
:
陳連啟中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
于利紅中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
劉沖中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
()
參加起草人
:
蔡福明北京無線電儀器廠
()
徐長風(fēng)上海新建電子儀器有限公司
()
JJF1236—2010
目錄
范圍……………………
1(1)
引用文獻(xiàn)………………
2(1)
術(shù)語……………………
3(1)
概述……………………
4(1)
計(jì)量特性………………
5(2)
校準(zhǔn)信號(hào)……………
5.1(2)
軸部分……………
5.2Y(2)
軸部分……………
5.3X(2)
階梯部分……………
5.4(2)
集電極功耗限制電阻………………
5.5(2)
校準(zhǔn)條件………………
6(3)
環(huán)境條件……………
6.1(3)
校準(zhǔn)用標(biāo)準(zhǔn)器及其他設(shè)備…………
6.2(3)
校準(zhǔn)項(xiàng)目及校準(zhǔn)方法…………………
7(3)
校準(zhǔn)項(xiàng)目……………
7.1(3)
校準(zhǔn)方法……………
7.2(4)
校準(zhǔn)結(jié)果的表述………………………
8(15)
復(fù)校時(shí)間間隔…………
9(15)
附錄校準(zhǔn)證書的內(nèi)容………………
A(16)
附錄測(cè)量不確定度評(píng)定的實(shí)例……………………
B(19)
JJF1236—2010
半導(dǎo)體管特性圖示儀校準(zhǔn)規(guī)范
1范圍
本規(guī)范適用于具有插件單元或附屬裝置的半導(dǎo)體管特性圖示儀以下簡稱圖示儀
()
的校準(zhǔn)
。
2引用文獻(xiàn)
半導(dǎo)體管特性圖示儀通用技術(shù)要求
GB/T13973—1992
半導(dǎo)體管特性圖示儀測(cè)試方法
GB/T13974—1992
使用本規(guī)范時(shí)應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本
。
3術(shù)語
集電極電流回流端
3.1collectorcurrentcircuitfluencepoint
集電極電流流經(jīng)電流取樣電阻的返回端用符號(hào)▽表示
,“”。
階梯信號(hào)歸一化電路
3.2normalizedcircuitofstepsignal
階梯信號(hào)歸一化電路就是把各種不同幅值的階梯信號(hào)級(jí)或級(jí)通過
“”(V/A/),
適當(dāng)?shù)谋壤儞Q處理后統(tǒng)一變?yōu)榧?jí)的數(shù)值處理電路
、,1V/。
4概述
圖示儀由主機(jī)部分顯示屏及其控制部分插入單元包括偏轉(zhuǎn)單元偏轉(zhuǎn)
()、(Y、X
單元集電極掃描電壓單元階梯信號(hào)單元與附屬裝置等組成組成框圖如圖所
、、),1
示圖示儀主要用于對(duì)所有二端三端的半導(dǎo)體器件進(jìn)行分析和直流參數(shù)測(cè)量
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