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文檔簡介
存儲系統(tǒng)需解決的主要問題:(1)存儲器如何存儲信息?(2)在實際應用中如何用存儲芯片組成具有一定容量的存儲器?單位通常意義2的冪K(kilo)103210M(mega)106220G(giga)109230T(tera)1012240存儲容量
Sm=W.L(位或字節(jié))
Sm是存儲器容量,W是字數(shù),L是位數(shù)若一個塊中有k個字,則傳送這一塊數(shù)據(jù)的時間是:T=T1+k*Bm存儲器的分類1.按存儲器在系統(tǒng)中的作用分類(1)主存(內(nèi)存)主要存放CPU當前使用的程序和數(shù)據(jù)。速度快容量有限(2)輔存(外存)存放大量的后備程序和數(shù)據(jù)。速度較慢容量大(3)高速緩存存放CPU在當前一小段時間內(nèi)多次使用的程序和數(shù)據(jù)。速度很快容量小2.按存儲介質(zhì)分類(1)半導體存儲器利用雙穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器存儲信息速度快,信息易失非破壞性讀出和破壞性讀出(只讀存儲器除外)。作主存、高速緩存。3.按存取方式分類隨機存?。嚎砂吹刂吩L問存儲器中的任一單元,(1)隨機存取存儲器訪問時間與單元地址無關。RAM存取周期或讀/寫周期固存:(ns):可讀可寫ROM:只讀不寫PROM:用戶不能編程用戶可一次編程EPROM:用戶可多次編程(紫外線擦除)EEPROM:用戶可多次編程(電擦除)速度指標:總線周期時鐘周期的若干倍作主存、高速緩存。(2)順序存取存儲器(SAM)訪問時讀/寫部件按順序查找目標地址,訪問時間與數(shù)據(jù)位置有關。(磁帶)主存儲器的組成DBMDR存儲陣列讀/寫放大電路
寫驅動電路譯碼器MARRDWRABn02n-1主存儲器的組成AB地址總線DB數(shù)據(jù)總線RD/WR讀寫控制線低電平有效MAR內(nèi)存地址寄存器MDR內(nèi)存數(shù)據(jù)寄存器又叫MBR譯碼器:將具有一定含義的二進制碼辨別出來,并轉換成控制信號。半導體存儲器工藝雙極型MOS型TTL型ECL型速度很快、功耗大、容量小電路結構PMOSNMOSCMOS功耗小、容量大工作方式靜態(tài)MOS動態(tài)MOS1、TTL存儲元transistor-transistorlogicWVccW雙極型存儲器的存儲元電路讀放AD1D2BT1T2ZTTL原理:用兩個雙射極晶體管交叉反饋,構成雙穩(wěn)態(tài)電路。圖中,T1,T2交叉反饋,構成雙穩(wěn)態(tài)電路,發(fā)射極接字線Z,如果字線Z為低電平,可讀/寫,如果字線Z為高電平,則數(shù)據(jù)保持。W和W是位線,數(shù)據(jù)通過W和W讀出或寫入。定義:當T1通導而T2截止時,存儲信息為0,當T2通導而T1截止時,存儲信息為1。缺點:管子多,功耗大,集成度低優(yōu)點:速度快,非破壞性讀出TTL芯片舉例12345678161514131211109VccA1A2A3DI4DO4DI3DO3A0SWDI1DO1DI2DO2GNDSN7418916x4一個位平面的譯碼結構I/O1I/O2I/O3I/O4X0X1X2X3W0W0W1W1W2W2W3W3Y0Y1Y2Y3電路結構圖ABCWVccWT3T4T5ABT6T1T2ZMOS管說明:當C為高時,A和B電壓相同。當C為低時,A和B電壓無關六管靜態(tài)MOS存儲元等效電路NMOS原理:T1與T3、T2與T4,分別是MOS反相器T3,T4是負載管,這兩個反相器交叉反饋,構成一個雙穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器。T5,T6是控制門管,由字線控制它們的通斷。當字線Z為高電平,T5,T6導通,可讀/寫,如果字線Z為低電平,則T5,T6截止,數(shù)據(jù)保持。定義:當T1通導而T2截止時,存儲信息為0,當T2通導而T1截止時,存儲信息為1。優(yōu)點:功耗低缺點:速度稍慢,非破壞性讀出六管靜態(tài)MOS存儲元六管靜態(tài)MOS存儲器六管改為四管,集成度提高。芯片舉例
Intel21141Kx4,18腳123456789181716151413121110VccA7A8A9I/O1I/O2I/O3I/O4WEA6A5A4A3A0A1A2CSGND21141Kx4六管靜態(tài)MOS存儲器讀寫時序為了讓芯片正確工作,必須按時序提供正確的地址、控制、數(shù)據(jù)信號。1)讀周期地址信號:控制信號:CS數(shù)據(jù)信號:Dout六管靜態(tài)MOS存儲器2)寫周期地址信號:控制信號:CSWE數(shù)據(jù)信號:Dout
Din單管動態(tài)MOS存儲元讀寫過程1)寫入:字線Z加高電平,使V通導
“0”:W加低;“1”:W加高2)保持:字線Z加低電平,無放電回路,有泄漏電流,C的信息可保存幾毫秒,或保持無電荷狀態(tài)。3)讀出:對W充電至高電平(可隨放電降低),然后將字線Z加高電平動態(tài)存儲器芯片舉例Intel216412345678161514131211109GNDCASDoutA6A3A4A5A7NCDinWERASA0A2A1Vcc216464Kx164K需16位地址解決方案:8根地址線分時復用,行選RAS和列選CAS就代替了CS信號。存儲器的各芯片同時刷新,每個芯片內(nèi)是按行刷新,刷新一行的時間是一個刷新周期。集中刷新方式有“死”時間R/WR/WR/W刷新刷新2ms動態(tài)存儲器的刷新動態(tài)存儲器的刷新分散刷新方式刷新次數(shù)過多R/WR/W刷新刷新存取周期異步刷新方式克服前兩種的缺點R/WR/W刷新15.6usR/WR/W刷新15.6usR/WROM指一般情況下只能讀出、不能寫入的存儲器1、掩模型只讀存儲器(MROM)地址譯碼驅動器VccA1A9數(shù)據(jù)緩沖器D0D1…D7011023讀出放大器01…700…110…111…0011023A0半導體只讀存儲器半導體只讀存儲器上頁MROM結構圖的說明:1)MROM的存儲元可由二極管、雙極型晶體管或MOS管等構成,廠家生產(chǎn)時按用戶要求做好,用戶不能修改。2)上圖是采用MOS管的1024*8位的MROM,單譯碼,1024行,每行8位。譯碼器行選擇線選中為高電平,一行8管,如果某管導通,則對應位為0,否則為1。輸出為D0,D1…D7。3)特點:信息一次寫入后不能修改,靈活性差。信息固定不變,可靠性高。生產(chǎn)周期長,適合定型批量生產(chǎn)。半導體只讀存儲器2、可編程只讀存儲器(PROM)1)為克服MROM的缺點,設計了一種出廠時全0,用戶可修改1次的ROM。2)有兩種產(chǎn)品:結破壞型:行列交點處制作一對彼此反向的二極管,平時不通,為0;若加高電平,擊穿1只二極管,則寫1。熔絲型:行列交點處連接一段熔絲,連通為0,若加高電平熔斷,則寫1。3)以熔絲型為例:見下圖,單譯碼,4字*4位,每個字實際上是一個多發(fā)射極管,每個發(fā)射極通過熔絲與位線相連。半導體只讀存儲器可編程只讀存儲器(PROM)結構圖:行譯碼器A1A0讀寫讀寫讀寫讀寫D0D1D2D30123Vcc0110101101011010Ec半導體只讀存儲器4、電可擦除可編程只讀存儲器(EEPROM)將EPROM改為用電來擦寫。而且一次不需全部擦除,可以只改寫某個單元。思考:可讀,可寫。能不能代替RAM?1。反復擦寫會擊穿浮空門附近的絕緣層。編程次數(shù)有限(10萬)2。寫操作時間是10us左右,擦除操作是10ms.和CPU速度不匹配。3、可擦除(紫外線)可編程只讀存儲器(EPROM)基本存儲器電路
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