標(biāo)準(zhǔn)解讀

《YS/T 604-2006 金基厚膜導(dǎo)體漿料》是中國有色金屬行業(yè)的一項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn),該標(biāo)準(zhǔn)主要針對金基厚膜導(dǎo)體漿料的技術(shù)要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則以及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存等方面進(jìn)行了詳細(xì)規(guī)定。適用于電子工業(yè)中用于制造各種電路板上導(dǎo)電圖形的金基厚膜導(dǎo)體漿料。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容,金基厚膜導(dǎo)體漿料的主要技術(shù)指標(biāo)包括但不限于:固體含量、粘度、細(xì)度等物理性能;同時(shí),還對漿料在特定條件下的燒結(jié)后電阻率、附著力等關(guān)鍵電氣與機(jī)械性能提出了明確要求。此外,對于漿料的顏色也有一定的描述性規(guī)定,確保其外觀符合預(yù)期使用需求。

關(guān)于試驗(yàn)方法部分,則涵蓋了從樣品準(zhǔn)備到具體測試步驟的一系列指導(dǎo),如通過旋轉(zhuǎn)粘度計(jì)測定粘度值,采用刮刀法測量漿料細(xì)度,利用四點(diǎn)探針法檢測燒結(jié)膜層電阻率等。這些方法旨在為生產(chǎn)廠家及用戶提供了統(tǒng)一的操作規(guī)范,以保證測試結(jié)果的一致性和可比性。

檢驗(yàn)規(guī)則方面,《YS/T 604-2006》明確了出廠檢驗(yàn)項(xiàng)目、型式檢驗(yàn)條件及其判定原則等內(nèi)容,確保每批次產(chǎn)品均能滿足既定質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。而有關(guān)標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸和貯存的規(guī)定,則是為了更好地保護(hù)產(chǎn)品免受外界環(huán)境因素的影響,在整個(gè)物流過程中保持其原有特性不變。

本標(biāo)準(zhǔn)不僅促進(jìn)了行業(yè)內(nèi)產(chǎn)品質(zhì)量水平的整體提升,也為相關(guān)領(lǐng)域內(nèi)的交流與合作奠定了基礎(chǔ)。


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  • 2006-05-25 頒布
  • 2006-12-01 實(shí)施
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文檔簡介

ICS77.120.99YSH68中華人民共和國有色金屬行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)YS/T604—2006金基厚膜導(dǎo)體漿料Goldbasedthickfilmconductorpastes2006-05-25發(fā)布2006-12-01實(shí)施中華人民共和國國家發(fā)展和改革委員會(huì)發(fā)布

YS/T604—2006前本標(biāo)準(zhǔn)的附錄A為資料性附錄.附錄B、附錄C為規(guī)范性附錄.本標(biāo)準(zhǔn)由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口。本標(biāo)準(zhǔn)由貴研鉑業(yè)股份有限公司負(fù)責(zé)起草本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人:李世鴻、金勿毀、范順科、魏麗紅、余青智、杜紅云、嚴(yán)先雄本標(biāo)準(zhǔn)由全國有色金屬標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋。本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布。

YS/T604-2006金基厚膜導(dǎo)體漿料范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了金基厚膜導(dǎo)體漿料的要求、試驗(yàn)方法、檢驗(yàn)規(guī)則及標(biāo)志、包裝、運(yùn)輸、購存及訂貨單內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于厚膜混合集成電路、傳感器等器件用的金基厚膜導(dǎo)體漿料(以下簡稱金漿)2規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括期誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵(lì)根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。GB/T17473.1厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法固含量測定GB/T17473.2厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法細(xì)度測定GB/T17473.3厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法方阻測定GB/T17473.4厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法附著力測定GB/T17473.5厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法粘度測定GB/T17473.7厚膜微電子技術(shù)用貴金屬漿料測試方法可焊性、耐焊性試驗(yàn)3定義下列定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。金基厚膜導(dǎo)體漿料gOldbasedthickfimconductorpaste由超細(xì)金粉、超細(xì)鈀粉、無機(jī)添加物、有機(jī)載體等組成的滿足于印刷或涂敷的膏狀物要要求4.1產(chǎn)產(chǎn)品分類4.1.1金漿按產(chǎn)品的用途分為導(dǎo)體金漿、焊接金漿4.1.1.1導(dǎo)體金漿用于厚膜混合集成電路、傳感器等器件.用作導(dǎo)帶和電極等??梢栽谔沾?、玻璃等基體上燒結(jié)形成附著力。4.1.1.2焊接金漿用于傳感器電極引線的焊接。只能在貴金屬基體上或貴金屬化的陶瓷(玻璃)基體上燒結(jié)形成附著力。4.1.2導(dǎo)體金漿的牌號標(biāo)記方法如下:C-X廣品編號貴金屬元素符號導(dǎo)體貴金屬示例1:PC-Au49

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