標準解讀

《GB/T 5170.17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備》是針對電工電子產(chǎn)品在進行低溫、低氣壓以及濕熱綜合環(huán)境條件下性能測試時所使用試驗設(shè)備的基本參數(shù)設(shè)定與檢驗方法的標準。該標準適用于需要按照特定順序經(jīng)歷不同環(huán)境條件（如先低溫后低氣壓再濕熱）的試驗裝置，確保這類設(shè)備能夠準確模擬出所需的各種極端或復(fù)合環(huán)境狀態(tài)，從而為產(chǎn)品提供可靠性的驗證依據(jù)。

根據(jù)此標準，對于上述提到的三類環(huán)境因素，分別定義了各自的試驗范圍和條件要求。比如，在低溫試驗中，會明確指出最低溫度值及其波動允許的最大范圍；低氣壓試驗則關(guān)注于可以達到的壓力水平及穩(wěn)定性指標；而濕熱試驗不僅包括了濕度百分比的具體數(shù)值，還涵蓋了溫度的變化區(qū)間等細節(jié)。此外，該文件還詳細描述了如何通過一系列標準化的操作步驟來校準這些關(guān)鍵參數(shù)，以保證每次試驗都能夠重現(xiàn)一致的結(jié)果。

同時，《GB/T 5170.17-2005》也強調(diào)了對整個試驗過程中控制精度的要求，這涉及到溫濕度傳感器的選擇、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的準確性等多個方面。為了確保所有參與方都能遵循相同的標準進行操作，該文檔還提供了詳細的試驗程序指南，從準備工作直至最終結(jié)果記錄都有明確指導(dǎo)。


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  • 正在執(zhí)行有效
  • 2005-08-26 頒布
  • 2006-04-01 實施
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GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備_第1頁
GB/T 5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備_第2頁
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文檔簡介

ICS19.040K04中華人民共和國國家標準GB/T5170.17-2005代替GB/T5170.17-—1987電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備Inspectionmethodsforbasicparametersofenvironmentaltestingequipmentsforelectricandelectronicproducts-Combinedsequentialcoldlowairpressureanddampheattestingequipments2005-08-26發(fā)布2006-04-01實施中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局愛布中國國家標準化管理委員會

GB/T5170.17-2005次前言范圍2規(guī)范性引用文件3檢定項目4檢定用主要儀器及要求5檢定條件6測量點數(shù)量及位置7檢定步·……………….8數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果附錄A(規(guī)范性附錄）溫度波動度、溫度均勻度檢定方法A.1檢定步驃·………A.2數(shù)據(jù)處理與計算附錄B(規(guī)范性附錄）干濕表法測量相對濕度·B.1干濕表法測量相對濕度的方法B.2風速的測量

GB/T5170.17-2005本部分是GB/T5170《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法》的第17部分本部分代替GB/T5170.17—1987。與GB/T5170.17—1987比較技術(shù)內(nèi)容主要有如下變化明確本部分適用于環(huán)境試驗設(shè)備在使用期間的周期檢定,以區(qū)別產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗等：增加了“規(guī)范性引用文件”一章；在“檢定用主要儀器及要求"一章中.給出了儀器的擴展不確定度(=2)的要求；增加了“檢定條件”一章；對于溫度測量點數(shù)量.設(shè)備的工作空間容積由“以1m2分界"改為"以2m2分界”.對于"大于2m的設(shè)備".溫度和風速的測量點由21點減少為15點;在“數(shù)據(jù)處理與檢定結(jié)果"中，給出了“溫度偏差、降溫速率、氣壓偏差、氣壓變化速率、風速”的計算公式：在溫度與氣壓綜合檢定時,如果低氣壓值低于10kPa.則“溫度偏差"允許適當放寬;增加了“環(huán)境參數(shù)場的調(diào)整”和“試驗設(shè)備儀表修正值的范圍”.并且對限用的范圍給予了必要的說明：本部分的附錄中給出“溫度波動度、溫度均勻度的檢定方法和計算公式”及“干濕表法測量相對濕度”：h）刪除了記錄表格。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境技術(shù)標準化技術(shù)委員會歸口本部分起草單位：信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所本部分主要起草人：謝晨浩、賴文光。本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況-GB/T5170.17-1987。

GB/T5170.17-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備范圍1.1本部分規(guī)定了低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步霖、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。1.2本部分適用于對GB/T2423.27-—2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD:低溫低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定本部分也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過GB/T5170的本部分的引用而成為本部分的條款。。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單(不包括勒誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據(jù)本部分達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件.其最新版本適用于本部分。GB/T2423.27—2005電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Z/AMD:低溫低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(IEC60068-2-39:1976.IDT)GB/T5170.1—1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則GB/T6999環(huán)境試驗用相對濕度查算表檢定項目本部分規(guī)定的檢定項目如下：降溫速率與溫度偏差；降壓速率；溫度偏差和氣壓偏差綜合檢定：升溫時間、升壓時間和加濕時間：溫度與相對濕度：風速4檢定用主要儀器及要求41溫度測量儀器采用由鉑電阻、熱電偶或其他溫度傳感器組成的溫度測量系統(tǒng)。溫度測最系統(tǒng)的擴展不確定度(A=2)不大于0.4C：傳感器的熱時間常數(shù)：20s～40。4.2低氣壓測量儀器采用擴展不確定度(人=

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