嵌入式系統(tǒng)基礎(chǔ)教程JTAG技術(shù)應(yīng)用

嵌入式系統(tǒng)基礎(chǔ)教程JTAG技術(shù)應(yīng)用2第3章嵌入式微處理器技術(shù)基礎(chǔ)本章主要介紹以下內(nèi)容：嵌入式微處理器典型技術(shù)主流嵌入式微處理器嵌入式處理器的調(diào)試技術(shù)邊界掃描測(cè)試技術(shù)JTAG33.4邊界掃描測(cè)試接口JTAGJTAG是一種片上調(diào)試接口，即OCD接口。OCD英文原文：On-ChipDebuggingInterfaceJTAG的建立使得集成電路固定在PCB（PrintedCircuitBoard，印刷電路板）上，只通過(guò)邊界掃描便可以被測(cè)試。含有JTAG口的芯片種類較多，如CPU、DSP、CPLD/FPGA等，廣泛得到應(yīng)用。43.4.1測(cè)試摩爾定律1999年英特爾公司的副總裁PatrickCelsinger先生在美國(guó)大西洋城舉行的國(guó)際測(cè)試會(huì)議上提出了測(cè)試摩爾定律，并就此了講演。該定律預(yù)測(cè)未來(lái)幾年，每一晶體管的硅投資成本將低于其測(cè)試成本。PatrickCelsinger先生指出，硅成本已迅速下降，測(cè)試成本卻基本保持不變。并且，被測(cè)器件的速度常常比測(cè)試設(shè)備能測(cè)的速度高。也就是說(shuō)，測(cè)試設(shè)備的發(fā)展速度已跟不上測(cè)試對(duì)象的發(fā)展。同時(shí)，測(cè)試成本在制造成本中所占比例過(guò)大。

53.4.2JTAG基本概念JTAG是JointTestActionGroup（聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組）的縮寫(xiě)，聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組是IEEE的一個(gè)下屬組織該組織研究標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試訪問(wèn)接口和邊界掃描結(jié)構(gòu)（StandardTestAccessPortandBoundary-ScanArchitecture）JTAG的研究成果被接納為IEEE1149.1-1990規(guī)范JTAG成為電子行業(yè)的一種國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)現(xiàn)在，人們通常用JTAG來(lái)表示IEEE1149.1-1990規(guī)范，或者滿足IEEE1149規(guī)范的接口或者測(cè)試方法。6JTAG掃描循環(huán)示意圖7邊界掃描單元JTAG標(biāo)準(zhǔn)定義了一個(gè)串行的移位寄存器寄存器的每一個(gè)單元分配給IC芯片的相應(yīng)引腳每一個(gè)獨(dú)立的單元稱為BSC（Boundary-ScanCell）邊界掃描單元這個(gè)串聯(lián)的BSC在IC內(nèi)部構(gòu)成JTAG回路所有的BSR（Boundary-ScanRegister）邊界掃描寄存器通過(guò)JTAG測(cè)試激活8ARM的JTAG調(diào)試結(jié)構(gòu)9ARM7TDMI調(diào)試結(jié)構(gòu)(英文)10ARM調(diào)試系統(tǒng)說(shuō)明調(diào)試系統(tǒng)一般包括3部分：調(diào)試主機(jī)是運(yùn)行軟件調(diào)試器的計(jì)算機(jī)例如ADW，ARMDebuggerforWindows調(diào)試主機(jī)允許發(fā)出高級(jí)命令，如設(shè)置斷點(diǎn)或檢查存儲(chǔ)器內(nèi)容。協(xié)議轉(zhuǎn)換器處理調(diào)試主機(jī)和ARM7TDMI處理器JTAG接口之間的通訊包括調(diào)試主機(jī)發(fā)出的高級(jí)命令以及JTAG接口的低級(jí)命令。一般通過(guò)增強(qiáng)型并行口進(jìn)行連接。11ARM調(diào)試系統(tǒng)說(shuō)明（續(xù)）調(diào)試目標(biāo)ARMCPU主處理器邏輯：對(duì)調(diào)試有硬件支持。嵌入式ICE-RT邏輯：這是用于產(chǎn)生調(diào)試異常(如斷點(diǎn))的寄存器和比較器的集合。TAP控制器：用JTAG串行接口控制掃描鏈的動(dòng)作。12協(xié)議轉(zhuǎn)換器的調(diào)試擴(kuò)充功能ARM7TDMI具有易于在最低層調(diào)試的硬件擴(kuò)充，其調(diào)試擴(kuò)充功能如下列出：允許暫停程序的執(zhí)行；檢查和修改內(nèi)核的內(nèi)部狀態(tài)；查看和修改存儲(chǔ)器系統(tǒng)的狀態(tài)；執(zhí)行中止異常，允許實(shí)時(shí)的內(nèi)核監(jiān)控；重新開(kāi)始程序執(zhí)行。133.4.3ARM7TDMI掃描鏈布局14ARM7TDMI內(nèi)核掃描鏈結(jié)構(gòu)113位38位33位15JTAG接口的IC內(nèi)部結(jié)構(gòu)16JTAG狀態(tài)轉(zhuǎn)換圖17JTAG信號(hào)TMS：測(cè)試模式選擇（TestModeSelect）通過(guò)TMS信號(hào)控制JTAG狀態(tài)機(jī)的狀態(tài)。TCK：JTAG的時(shí)鐘信號(hào)TDI：數(shù)據(jù)輸入信號(hào)TDO：數(shù)據(jù)輸出信號(hào)nTRST：JTAG復(fù)位信號(hào)，復(fù)位JTAG的狀態(tài)機(jī)和內(nèi)部的宏單元（Macrocell）。183.4.4TAP控制器TAP控制器內(nèi)部有多個(gè)寄存器測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器JTAG控制指令寄存器旁路寄存器ARM7TDMI器件識(shí)別碼(ID)寄存器掃描路徑選擇寄存器19JTAG的TAP控制器結(jié)構(gòu)20測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器在TDI和TDO之間可以連接的測(cè)試數(shù)據(jù)寄存器有如下8個(gè)：指令寄存器；旁路寄存器；ARM7TDMI的器件識(shí)別(ID)碼寄存器；掃描路徑選擇寄存器；掃描鏈0、1、2和3。21JTAG控制指令寄存器JTAG接口中指令寄存器長(zhǎng)度是4位在指令寄存器共安排10條控制指令，見(jiàn)下表。指令二進(jìn)制指令二進(jìn)制EXTEST0000HIGHZ0111SCAN_N0010CLAMPZ1001SAMPLE/PRELOAD0011INTEST1100RESTART0100IDCODE1110CLAMP0101BYPASS111122JTAG的指令寄存器在SHIFT-IR態(tài)，將指令寄存器選做TDI和TDO之間串行路徑。見(jiàn)(a)在UPDATE-IR態(tài)，指令寄存器的值成為當(dāng)前指令。見(jiàn)(b)在CAPTURE-IR態(tài)，將b0001加載到該寄存器。該值在SHIFT-IR態(tài)移位輸出。見(jiàn)(c)復(fù)位時(shí)，IDCODE(b1110)成為當(dāng)前指令。見(jiàn)(d)指令寄存器的最低有效位首先被掃描輸入和輸出。指令寄存器TDITDOSHIFT-IR狀態(tài)(a)指令寄存器值=0001CAPTURE-IR狀態(tài)(c)TDITDO當(dāng)前指令寄存器TDITDOUPDATE-IR狀態(tài)(b)當(dāng)前指令寄存器IDCODE=0001IDCODE-IR狀態(tài)(d)TDITDO23旁路寄存器功能：通過(guò)提供TDI和TDO之間的路徑，在掃描測(cè)試期間對(duì)器件旁路。長(zhǎng)度：1位操作方式：當(dāng)BYPASS指令是指令寄存器中的當(dāng)前指令時(shí)，串行數(shù)據(jù)在SHIFT-DR態(tài)以1個(gè)TCK周期的延遲從TDI傳到TDO。旁路寄存器沒(méi)有并行輸出。在CAPTURE-DR態(tài)，從旁路寄存器的并行輸入端裝入“0”。24ARM7TDMI器件

識(shí)別碼(ID)寄存器識(shí)別碼用途：讀32位器件識(shí)別碼。不提供可編程的識(shí)別碼。長(zhǎng)度：32位。寄存器的格式如下圖所示。操作方式當(dāng)IDCODE指令是當(dāng)前指令時(shí)，將ID寄存器選做TDI和TDO之間的串行路徑。ID寄存器沒(méi)有并行輸出。在CAPTURE-DR態(tài)，32位器件識(shí)別碼從其并行輸入端加載到ID寄存器。寄存器的最低有效位首先被掃描輸出。版本4位部件編號(hào)16位制造者標(biāo)識(shí)12位031112825掃描路徑選擇寄存器用途和長(zhǎng)度變換當(dāng)前活動(dòng)的掃描鏈，4位。操作方式僅當(dāng)執(zhí)行了一條SCAN_N指令或當(dāng)發(fā)生復(fù)位時(shí)，當(dāng)前所選的掃描鏈改變。復(fù)位時(shí)，將掃描鏈0選做活動(dòng)的掃描鏈。在SHIFT-DR態(tài)，SCAN_N指令把掃描路徑選擇寄存器作為T(mén)DI和TDO之間的串行數(shù)據(jù)移位路徑。在CAPTURE-DR態(tài)，將b1000加載到該寄存器。這個(gè)值在SHIFT-DR態(tài)加載輸出，同時(shí)裝入新值。在UPDATE-DR態(tài)，由寄存器中的值選擇一個(gè)掃描鏈成為當(dāng)前活動(dòng)的掃描鏈。所有進(jìn)一步的指令(如INTEST)都應(yīng)用到該掃描鏈上。26掃描鏈編號(hào)分配掃描鏈編號(hào)功能0宏單元掃描測(cè)試1調(diào)試2嵌入式ICE-RT邏輯編程3外部邊界掃描（由ASIC設(shè)計(jì)者實(shí)現(xiàn)）4保留8保留273.4.5JTAG掃描鏈工作原理JTAG掃描鏈由掃描單元組成每一個(gè)被測(cè)試邏輯電路引出信號(hào)線同它的引腳之間配置一個(gè)掃描單元每一個(gè)掃描單元的內(nèi)部由兩個(gè)D觸發(fā)器和兩個(gè)多路選擇器組成分別把邏輯電路輸入輸出線同引腳之間的穿越掃描單元的電流方向成為橫向，沿掃描單元串接線運(yùn)動(dòng)的電流方向成為縱向。JTAG掃描鏈一共有四種操作：掛起、捕獲、移位和更新。28JTAG掃描單元構(gòu)造縱向縱向橫向橫向橫向四種操作:掛起，移位，俘獲，更新29JTAG掃描鏈的組成LogicPinPinPinPinLogicLogicLogicLogic縱向橫向PinPinLogic30JTAG處于掛起狀態(tài)橫向直行橫向直行如同掃描鏈不存在31捕獲JTAG狀態(tài)當(dāng)前引腳信號(hào)的快照存入掃描鏈32移位數(shù)據(jù)縱向直行此刻處理器的工作脈沖暫停33移位結(jié)束縱向直行此刻處理器的工作脈沖暫停34數(shù)據(jù)更新JTAG掃描鏈取代系統(tǒng)向處理器輸入信號(hào)，并且替代處理器向系統(tǒng)輸出信號(hào)。35掃描鏈0ScanChain0：有113個(gè)掃描單元，包括ARM核的所有的I/O、地址數(shù)據(jù)總線和輸入輸出控制信號(hào)。這條鏈上的信號(hào)復(fù)雜，不易控制，但是包含的信息豐富，可以通過(guò)這條鏈得到ARM7TDMI內(nèi)核的所有信息。從查詢數(shù)據(jù)輸入到輸出，掃描鏈的順序?yàn)椋?1)數(shù)據(jù)總線位[0]-位[31]；(2)內(nèi)核控制信號(hào)；(3)地址總線位[31]-位[0]；(4)嵌入式ICE-RT控制信號(hào)。嵌入式ICE-RT控制信號(hào)(特別是DBGRQI)首先被掃描輸出。36掃描鏈0單元編號(hào)信號(hào)類型編號(hào)信號(hào)類型1~32D[0]~D[31]輸入/輸出41BL[0]輸入33BREAKPT輸入42BL[1]輸入34NENIN輸入43BL[2]輸入35NENOUT輸出44BL[3]輸入36LOCK輸出45DCTL輸出37BIGEND輸入46nRW輸出38DBE輸入47DBGACK輸出39MAS[0]輸出48CGENDBGACK輸出40MAS[1]輸出49nFIQ輸入37掃描鏈0單元(續(xù)1)編號(hào)信號(hào)類型編號(hào)信號(hào)類型50nIRQ輸入59nMREQ輸出51nRESET輸入60SEQ輸入52ISYNC輸入61nTRANS輸入53BRGRQ輸入62CPB輸入54ABORT輸入63nM[4]輸出55CPA輸入64nM[3]輸出56nOPC輸出65nM[2]輸出57IFEN輸入66nM[1]輸出58nCPI輸出67nM[0]輸出38掃描鏈0單元(續(xù)2)編號(hào)信號(hào)類型編號(hào)信號(hào)類型68nEXEC輸出69ALE輸出70ABE輸入71APE輸入72TBIT輸出73nWAIT輸入74~105A[31]~A[0]輸出106~113ICE-RT信號(hào)39掃描鏈1掃描鏈1：有33個(gè)掃描單元，包括ARM核的數(shù)據(jù)總線和一個(gè)斷點(diǎn)控制信號(hào)。這是一條很有用的鏈，通過(guò)控制這條鏈，可以控制ARM核執(zhí)行指定的指令，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)ARM的內(nèi)部寄存器、協(xié)處理器以及外部存儲(chǔ)器的讀寫(xiě)操作。40掃描鏈1（續(xù)）掃描鏈1的前32位用于數(shù)據(jù)值，加上在BREAKPT內(nèi)核輸入上的掃描單元。第33位有如下4個(gè)用途：在正常INTEST測(cè)試條件下，允許將已知值掃描到BREAKPT的輸入。在EXTEST測(cè)試條件下，捕獲從系統(tǒng)加到BREAKPT輸入的值。在調(diào)試期間，第33位的值決定在執(zhí)行指令之前ARM7TDMI核是否同步回系統(tǒng)速度。ARM7TDMI核進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)后，該位第一次被捕獲并被掃描輸出。其值告訴調(diào)試器內(nèi)核是否由斷點(diǎn)(位[33]清零)或由觀察點(diǎn)(位[33]置位)進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)。41掃描鏈2ScanChain2共有38個(gè)掃描單元，通過(guò)控制EmbeddedICE宏單元，實(shí)現(xiàn)對(duì)ARM執(zhí)行指令的斷點(diǎn)、觀察點(diǎn)的控制。從TDI到TDO的掃描鏈次序如下：讀/寫(xiě)；寄存器地址位[4]-位[0]；數(shù)據(jù)值位[31]-位[0]。423.4.6嵌入式ICE-RT邏輯嵌入式ICE-RT邏輯也稱為EmbeddedICE或者EmbeddedICE-RT，其主要功能是為ARM7TDMI核提供集成的在線調(diào)試支持。ARM公司的片上測(cè)試部件。使用ARM7TDMI的TAP控制器來(lái)控制嵌入式ICE-RT邏輯的串行數(shù)據(jù)輸入。下圖給出了內(nèi)核、嵌入式ICE-RT邏輯和TAP控制器之間的關(guān)系。圖中僅顯示了有關(guān)的信號(hào)。43嵌入式ICE-RT連線結(jié)構(gòu)圖44嵌入式ICE-RT邏輯的組成嵌入式ICE-RT邏輯的組成如下：2個(gè)實(shí)時(shí)觀察點(diǎn)單元；3個(gè)獨(dú)立的寄存器：調(diào)試控制寄存器、調(diào)試狀態(tài)寄存器、中止?fàn)顟B(tài)寄存器；調(diào)試通信通道DCC(DebugCommunicationsChannel)。45嵌入式ICE-RT邏輯的組成（續(xù)）調(diào)試控制寄存器和調(diào)試狀態(tài)寄存器提供嵌入式ICE-RT操作的所有控制。在選擇監(jiān)控模式時(shí)使用中止?fàn)顟B(tài)寄存器?？梢跃幊?個(gè)或2個(gè)觀察點(diǎn)單元來(lái)暫停內(nèi)核程序的執(zhí)行。當(dāng)編程進(jìn)入嵌入式ICE-RT的值與當(dāng)前出現(xiàn)在地址總線、數(shù)據(jù)總線和各種控制信號(hào)的值匹配時(shí)，暫停執(zhí)行。46EmbeddedICE的數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)EmbeddedICE是集成在ARM內(nèi)核中的嵌入式ICE仿真器。其結(jié)構(gòu)如下圖所示。通過(guò)對(duì)EmbeddedICE的控制，對(duì)EmbeddedICE中寄存器的讀取，可以獲得ARM內(nèi)核的狀態(tài)，為程序設(shè)置斷點(diǎn)以及讀取Debug通訊通道。EmbeddedICE的串行數(shù)據(jù)長(zhǎng)度是38位，包括：32位數(shù)據(jù)5位的訪問(wèn)EmbeddedICE中寄存器的地址1個(gè)讀寫(xiě)控制位47EmbeddedICE結(jié)構(gòu)EmbeddedICE掃描鏈共38位48EmbeddedICE的寄存器地址寬度功能地址寬度功能000006Debugcontrol011009Watchpoint0controlvalue000015Debugstatus011018Watchpoint0controlmask000101Abortstatus1000032Watchpoint1addressvalue001006Debugcommandscontrolregister1000132Watchpoint1addressmask0010132Debugcommandsdataregister100102Watchpoint1datavalue0100032Watchpoint0addressvalue1001132Watchpoint1datamask0100132Watchpoint0addressmask101009Watchpoint1controlvalue0101032Watchpoint0datavalue101018Watchpoint1controlmask0101132Watchpoint0datamask49Watchpoint寄存器的使用

EmbeddedICE的一個(gè)主要作用就是可以在ARM的程序中設(shè)置軟件或者硬件的斷點(diǎn)。在EmbeddedICE中，集成了一個(gè)比較器，比較器負(fù)責(zé)把ARM處理器取指的地址A[31:0]、數(shù)據(jù)D[31:0]以及一些控制信號(hào)與EmbeddedICE中Watchpoint寄存器中設(shè)置的數(shù)值相比較具體的說(shuō)應(yīng)該是進(jìn)行同或運(yùn)算比較的結(jié)果用來(lái)確定輸出一個(gè)ARM的斷點(diǎn)（Breakpoint）信號(hào)。具體的運(yùn)算關(guān)系如下公式所描述：({Av[31:0],Cv[4:0]}XNOR{A[31:0],C[4:0]})OR{Am[31:0],Cm[4:0]}==0x1FFFFFFFFF50EmbeddedICE斷點(diǎn)信號(hào)條件當(dāng)上述表達(dá)式為真的時(shí)候，斷點(diǎn)信號(hào)有效，ARM的內(nèi)核就進(jìn)入了Debug模式。在Debug模式下，ARM內(nèi)核的時(shí)鐘從系統(tǒng)的主時(shí)鐘（MCLK）被替換成跟蹤時(shí)鐘（DCLK）。跟蹤時(shí)鐘（DCLK）是通過(guò)在JTAG的狀態(tài)機(jī)的Run-test/Idle狀態(tài)的TCK來(lái)控制的。

51Watchpoint表達(dá)式的含義

信號(hào)說(shuō)明Av[31:0]Watchpoint中地址寄存器（Addressregister）的數(shù)據(jù)Am[31:0]Watchpoint中地址mask寄存器（addressmaskregister）的數(shù)據(jù)A[31:0]從ARM7TDMI的核中得到的總線的地址，也就是當(dāng)前處理器取址的地址Dv[31:0]Watchpoint中數(shù)據(jù)寄存器（dataregister）中的數(shù)據(jù)Dm[31:0]Watchpoint中數(shù)據(jù)mask寄存器（datamaskregister）的數(shù)據(jù)D[31:0]從ARM7TDMI的核中得到的總線的數(shù)據(jù)，也就是當(dāng)前處理器取址所到的數(shù)據(jù)Cv[8:0]Watchpoint中控制寄存器（controlregister）中的數(shù)據(jù)Cm[7:0]Watchpoint中控制mask寄存器（controlmaskregister）中的數(shù)據(jù)C[9:0]ARM7TDMI的控制總線523.4.7ARM7TDMI斷點(diǎn)的設(shè)置ARM中斷點(diǎn)的設(shè)置主要是設(shè)置EmbeddedICE中的寄存器主要包括：設(shè)置EmbeddedICE的兩個(gè)watchpoint單元的地址、數(shù)據(jù)或控制信號(hào)寄存器。當(dāng)一個(gè)（或者兩個(gè)）watchpoint寄存器滿足條件的時(shí)候，ARM就從運(yùn)行狀態(tài)進(jìn)入Debug狀態(tài)。也就是與ARM中的地址（也可以包括數(shù)據(jù)）和ARM所執(zhí)行的當(dāng)前的指令相同的時(shí)候53硬件斷點(diǎn)和軟件斷點(diǎn)在ARM7TDMI處理器的內(nèi)核中，有兩種斷點(diǎn)的設(shè)置方式：硬件斷點(diǎn)和軟件斷點(diǎn)硬件斷點(diǎn)通過(guò)設(shè)置EmbeddedICE中的Watchpoint寄存器中的地址相關(guān)的寄存器，來(lái)實(shí)現(xiàn)斷點(diǎn)。通過(guò)這種方式設(shè)置斷點(diǎn)，斷點(diǎn)數(shù)目受EmbeddedICE中的Watchpoint數(shù)目的限制（在ARM7TDMI處理器的內(nèi)核中，只有兩組Watchpoint寄存器，最多只能設(shè)置兩個(gè)硬件斷點(diǎn)）。硬件斷點(diǎn)可以在任何地方設(shè)置。不受存儲(chǔ)器類型的限制。54軟件斷點(diǎn)軟件斷點(diǎn)的實(shí)現(xiàn)比較復(fù)雜，需要如下幾個(gè)步驟：通過(guò)設(shè)置EmbeddedICE中的Watchpoint寄存器中的數(shù)據(jù)相關(guān)寄存器(datavalue和datamaskvalue)為一個(gè)特殊的32位數(shù)字—ARM的未定義指令，比如：0x06000010。替換RAM中的指令為上面所設(shè)置的那個(gè)未定的指令0x06000010，作為一個(gè)標(biāo)志。當(dāng)系統(tǒng)運(yùn)行到RAM中所設(shè)定的單元位置時(shí)候，那個(gè)事先設(shè)置的標(biāo)志數(shù)字將被當(dāng)作一個(gè)指令讀入處理器的內(nèi)核。55軟件斷點(diǎn)（續(xù)）此時(shí)，系統(tǒng)所讀入的指令的數(shù)據(jù)剛好和datavalue中的數(shù)字相吻合，系統(tǒng)就進(jìn)入了Debug模式。這就是軟件斷點(diǎn)的工作過(guò)程。軟件斷點(diǎn)的數(shù)目不受ARM內(nèi)核的Watchpoint數(shù)目的限制，不管系統(tǒng)設(shè)置多少個(gè)軟件斷點(diǎn)，僅僅使用了ARM內(nèi)核的一個(gè)Watchpoint資源。軟件斷點(diǎn)是通過(guò)替換系統(tǒng)的斷點(diǎn)地址的指令實(shí)現(xiàn)的，所以，軟件斷點(diǎn)只能在可寫(xiě)的存儲(chǔ)器的地址中設(shè)置（比如：RAM），而不能在ROM（比如：Flash）中設(shè)置。56斷點(diǎn)設(shè)置小結(jié)總之，在有兩個(gè)Watchpoint資源的ARM7TDMI的內(nèi)核中，斷點(diǎn)可以有如下情況：2個(gè)硬件斷點(diǎn)，沒(méi)有軟件斷點(diǎn)1個(gè)硬件斷點(diǎn)，任意多個(gè)軟件斷點(diǎn)任意多個(gè)軟件斷點(diǎn)573.4.8ARM調(diào)試接口ARM7TDMI調(diào)試接口基于IEEE標(biāo)準(zhǔn)1149.1-1990以及標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試訪問(wèn)口和邊界掃描體系結(jié)構(gòu)(StandardTestAccessPortandBoundary-ScanArchitecture)。調(diào)試擴(kuò)充可強(qiáng)迫內(nèi)核進(jìn)入下列模式之一：暫停模式（調(diào)試模式）：在斷點(diǎn)或觀察點(diǎn)，內(nèi)核進(jìn)入調(diào)試狀態(tài)。在調(diào)試狀態(tài)，內(nèi)核停止工作并與系統(tǒng)的其它部分隔離。當(dāng)調(diào)試完成后，調(diào)試主機(jī)恢復(fù)內(nèi)核和系統(tǒng)狀態(tài)，程序重新開(kāi)始執(zhí)行。