UT無(wú)損檢測(cè)工作技術(shù)總結(jié)_第1頁(yè)
UT無(wú)損檢測(cè)工作技術(shù)總結(jié)_第2頁(yè)
UT無(wú)損檢測(cè)工作技術(shù)總結(jié)_第3頁(yè)
UT無(wú)損檢測(cè)工作技術(shù)總結(jié)_第4頁(yè)
UT無(wú)損檢測(cè)工作技術(shù)總結(jié)_第5頁(yè)
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PAGE共4頁(yè),第1頁(yè)無(wú)損檢測(cè)技術(shù)工作總結(jié)(UT)何建紅岳陽(yáng)市長(zhǎng)達(dá)無(wú)損檢測(cè)有限公司二O一O年三月技術(shù)工作總結(jié)我于2000年畢業(yè)于湖南省勞動(dòng)人事學(xué)校無(wú)損檢測(cè)技術(shù)與應(yīng)用專業(yè),畢業(yè)后一直堅(jiān)持自學(xué),在2008年取得由湖南大學(xué)主考的機(jī)電一體化工程專業(yè)大專文憑。從2002年到2007年這五年里,我在廣東華泰檢測(cè)科技有限公司茂名項(xiàng)目部工作,主要從事板材、管材入庫(kù)檢驗(yàn)中的無(wú)損檢測(cè)工作部分以及壓力管道安裝對(duì)接焊縫的超聲檢測(cè)。2007年2月至2009年2月,在海南賽福特檢測(cè)科技有限公司工作,主要負(fù)責(zé)化工設(shè)備安裝的無(wú)損檢測(cè)管理工作。2009年3月至今,任岳陽(yáng)市長(zhǎng)達(dá)無(wú)損檢測(cè)有限公司南寧項(xiàng)目部技術(shù)負(fù)責(zé)人,參與了上十臺(tái)1000M3以上球形儲(chǔ)罐的超聲、磁粉檢測(cè)工作參加工作以來(lái),時(shí)刻不忘向身邊經(jīng)驗(yàn)豐富的前輩學(xué)習(xí),以提高自己的專業(yè)知識(shí)和業(yè)務(wù)能力,利用一切機(jī)會(huì)擴(kuò)大自己的知識(shí)面,充實(shí)自己的理論知識(shí)和實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)。經(jīng)過(guò)多年的學(xué)習(xí),專業(yè)水平有了一定的提高,也積累了一些超聲檢測(cè)的經(jīng)驗(yàn)。下面就我在超聲檢測(cè)工作中遇到的一個(gè)問(wèn)題及解決此問(wèn)題的方法及過(guò)程做一個(gè)簡(jiǎn)要的總結(jié),懇請(qǐng)老師指導(dǎo)。問(wèn)題描述在實(shí)際工作中,橫波斜探頭應(yīng)用十分廣泛,常用于對(duì)接焊縫、鋼管、鋼板、鍛件等的檢測(cè)。而K1探頭由于其端角反射率高,經(jīng)常用來(lái)檢測(cè)焊縫單面焊根部未焊透或裂紋,在鋼板、鍛件、厚的對(duì)接焊接接頭的橫波檢測(cè)及缺陷高度的測(cè)量中也經(jīng)常會(huì)用到K1探頭。用2.5P14×14K1橫波斜探頭在CSK-ⅢA試塊上制作DAC曲線時(shí)發(fā)現(xiàn):深度20mm的Φ1×6孔的反射回波比深度為10mm的孔要高3dB

左右,這樣在深度30mm以前的DAC曲線就會(huì)呈現(xiàn)一種忽高忽低的鋸齒狀。而2.5P14塊上深度20mm的Φ1×6短橫孔時(shí),實(shí)際聲程(27.6mm)小于2.5P14×14K1.0探頭在第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)度(35.5mm)。即埋深10、20mm的短橫孔均處在2.5P14×14K1.0探頭在第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)度內(nèi)。這就可以解釋為什么用2.5P14×14K1橫波斜探頭在CSK-ⅢA試塊上制作DAC曲線時(shí)深度20mm的Φ1×6孔的反射回波比深度為10mm的孔要高3dB

左右,在深度小于而用2.5P10×12K1.0、2.5P14×14K2.0探頭掃查CSK-ⅢA試塊上的Φ1×6短橫孔時(shí),只有深度10mm的孔的實(shí)際聲程小于探頭在第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)度。所以不會(huì)出像2.5P14×14K1.0探頭探測(cè)時(shí)的那種現(xiàn)象。四、以上這種情況會(huì)對(duì)探傷產(chǎn)生什么影響及如何避免這種情況發(fā)生顯然,通過(guò)以上的分析和驗(yàn)證,可以肯定導(dǎo)致這種情況的原因就是近場(chǎng)長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng)所引起的。而近場(chǎng)長(zhǎng)度過(guò)長(zhǎng),對(duì)探傷的定位定量都會(huì)產(chǎn)生不利的影響,處在近場(chǎng)長(zhǎng)度內(nèi)的一個(gè)小缺陷如果正好位于聲壓極大值的點(diǎn)上時(shí),反射回波就會(huì)過(guò)高,這樣會(huì)把小缺陷判大,而一個(gè)大缺陷如果正好位于聲壓極小值的點(diǎn)上時(shí),反射回波就會(huì)比實(shí)際值低,這樣會(huì)把大缺陷判小。又因?yàn)榻鼒?chǎng)區(qū)的聲壓分布與遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)不同,聲壓最大值不一定位于聲束軸線上,所以會(huì)造成定位誤差。在橫波斜探頭探傷時(shí)因?yàn)樘筋^的K值不同,而使同樣深度所對(duì)應(yīng)的聲程會(huì)有很大的差距,同樣的深度所對(duì)應(yīng)的聲程會(huì)隨K值的減小而減小。另一方面,橫波斜探頭在第二介質(zhì)中的近場(chǎng)長(zhǎng)度又會(huì)隨K值的減小而增大。所以當(dāng)選用探頭的K值較小時(shí),在保證檢測(cè)靈敏度和分辨力的前提下,應(yīng)適當(dāng)?shù)倪x用小的晶片尺寸,選用較低的頻率,以避免近場(chǎng)長(zhǎng)度對(duì)檢測(cè)的不利影響。以上總結(jié),由于本人工作經(jīng)驗(yàn)的局限性,肯定

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