2023年高分子材料測試技術(shù)思考題及答案

千里之行，始于足下讓知識帶有溫度。第第2頁/共2頁精品文檔推薦高分子材料測試技術(shù)思考題及答案一、聚合物結(jié)構(gòu)與性能

1.非晶體聚合物的力學(xué)三態(tài)，說明各自分子運動特點，并用曲線表示出來。

玻璃態(tài)：溫度低，鏈段的運動處于凍結(jié)，惟獨側(cè)基、鏈節(jié)、鏈長、鍵角等局部運動，形變?。?/p>

高彈態(tài)：鏈段運動充分進(jìn)展，形變大，可恢復(fù)；

粘流態(tài)：鏈段運動強(qiáng)烈，導(dǎo)致分子鏈發(fā)生相對位移，形變不行逆。

2.晶態(tài)聚合物的力學(xué)狀態(tài)及其改變

在輕度結(jié)晶的聚合物中，少量的晶區(qū)起類似交聯(lián)點的作用，當(dāng)溫度上升時，其中非晶區(qū)由玻璃態(tài)改變?yōu)楦邚棏B(tài)，可以觀看到Tg的存在，但晶區(qū)的鏈段因為受晶格能的限制難以運動，使其形變受到限制，囫圇材料表現(xiàn)為因為非晶區(qū)的高彈態(tài)而具有一定的韌性，因為晶區(qū)的存在具有一定的硬度。

若晶區(qū)的Tm>Tf(非晶區(qū))，則當(dāng)晶區(qū)熔融后，非晶區(qū)已進(jìn)入粘流態(tài)，不展現(xiàn)高彈態(tài)；

若TmTf時才進(jìn)入粘流態(tài)。

3．聚合物的分子運動具有以下特點

（1）運動單元的多重性：

聚合物的分子運動可分小尺寸單元運動（即側(cè)基、支鏈、鏈節(jié)、鏈段等的運動）和大尺寸單元運動（即囫圇分子運動）。

（2）聚合物分子的運動是一個松弛過程：

在一定的外力和溫度條件下，聚合物從一種平衡狀態(tài)通過分子熱運動達(dá)到相應(yīng)的新的平衡狀態(tài)需要克服運動時運動單元所受到的大的內(nèi)摩擦力，這個克服內(nèi)摩擦力的過程稱為松弛過程。松弛過程是一個緩慢過程。

4．玻璃化溫度的影響因素：1）聚合物的結(jié)構(gòu)：(a)主鏈結(jié)構(gòu)(b)側(cè)基或側(cè)鏈(c)分子量(d)化學(xué)交聯(lián)2）共聚、共混與增塑3）外界條件：測定Tg時升溫或降溫速度慢，Tg偏低；外力作用速度快，Tg高；外力愈大，Tg降低愈顯然。單向外力可促使鏈段運動，使Tg降低。

5.聚合物的耐熱性包含兩方面：1）熱穩(wěn)定性；（a）盡量避開分子鏈中弱鍵的存在（b）引入梯形結(jié)

構(gòu)；（c）在主鏈中引入Si、P、B、F等雜原子，即合成元素有機(jī)聚合物。熱變形性：.（a）增強(qiáng)結(jié)晶度；b）增強(qiáng)分子鏈剛性：引入極性側(cè)基；在主鏈或側(cè)基上引入芬芳環(huán)或芬芳雜環(huán)；（c）使分子間產(chǎn)生適度交聯(lián)：交聯(lián)聚合物不熔不溶，惟獨加熱到分解溫度以上才遭破壞。(廢塑料廢橡膠裂解）

6.測定硬度的辦法無數(shù)，可分為以下三類。(1)測定材料的頂針(球形)壓入能力的硬度實驗。(2)測定材料對尖頭或另一種材料的抗劃痕性硬度實驗。（3)測定材料回彈性的硬度實驗。

7.聚合物強(qiáng)度的影響因素（1）有利因素（i）聚合物自身的結(jié)構(gòu)（ii）結(jié)晶和取向（iii）共聚和共混（iv）

材料復(fù)合（2）不利因素（i）應(yīng)力集中（ii）惰性填料（iii）增塑（iv）老化

8.高彈性的特點：

（i）彈性模量小，形變量很大；（ii）形變需要時光：形變隨時光而進(jìn)展直至最大形變；（iii）橡膠受拉

伸會發(fā)熱。

9.

蠕變：定義：在恒溫下施加較小的恒定外力時，材料的形變隨時光而逐漸增大的力學(xué)松弛現(xiàn)象。蠕

變過程包括三種形變：普彈形變,高彈形變,粘性流淌

10應(yīng)力松弛：定義：應(yīng)力松弛是指在恒定溫度和形變保持不變的狀況下，聚合物內(nèi)部的應(yīng)力隨時光增

加而逐漸衰減的現(xiàn)象。二、紅外光譜分析思量題

1．紅外光譜的定義：記錄物質(zhì)對紅外光的汲取程度(或透過程度)與波長或波數(shù)關(guān)系曲線，就得到紅外

光譜。

2．紅外光譜的劃分，最適于舉行紅外光譜的定性和定量分析是在哪個區(qū)域？為什么？

近紅外光區(qū)（0.75~2.5μm）中紅外光區(qū)（2.5~25μm）絕大多數(shù)有機(jī)化合物和無機(jī)離子的基頻吸

收帶浮現(xiàn)在該光區(qū)。因為基頻振動是紅外光譜中汲取最強(qiáng)的振動，所以該區(qū)最適于舉行紅外光譜的定性和定量分析。遠(yuǎn)紅外光區(qū)（25~1000μm）

3．紅外光譜的特點？幾乎全部的有機(jī)化合物在紅外光譜區(qū)均有汲取。汲取譜帶的汲取強(qiáng)度與分子組成

或化學(xué)基團(tuán)的含量有關(guān)，可用以舉行定量分析和純度鑒定氣體、液體、固體樣品都可測定，并具實用量

少，分析速度快，不破壞樣品的特點。

4．產(chǎn)生紅外光譜的條件1）輻射光子具有的能量與發(fā)生振動躍遷所需的躍遷能量相等2）惟獨在振動過

程中偶極矩發(fā)生變化的那些振動方式才干汲取紅外輻射,從而在紅外光譜中浮現(xiàn)汲取譜帶。

5．雙原子分子振動公式，說明影響基頻振動的直接影響因素？

影響基本振動頻率的直接緣由是相對原子質(zhì)量或波數(shù)=

和化學(xué)鍵的力常數(shù)。

6．簡正振動的基本形式？簡正振動自由度數(shù)目，試用公式說明。

1）普通將振動形式分成兩類：伸縮振動和變形振動。2）簡正振動的數(shù)目稱為振動自由度，每個振動自

由度相當(dāng)于紅外光譜圖上一個基頻汲取帶。3）設(shè)分子由n個原子組成，每個原子在空間都有3個自由

度，原子在空間的位置可以用直角坐標(biāo)中的3個坐標(biāo)x、y、z表示，因此，n個原子組成的分子總共應(yīng)

有3n個自由度，有6種運動都不是分子振動，因此，振動形式應(yīng)有（3n-6）種。

但對于直線型分子，因此，直線性分子的振動形式為（3n-5）種。

7．汲取譜帶的強(qiáng)度與那些因素有關(guān)？紅外汲取譜帶的強(qiáng)度取決于分子振動時偶極矩的變化，而偶極矩

與分子結(jié)構(gòu)的對稱性有關(guān)。

8．影響基團(tuán)頻率的因素，詳細(xì)如何影響的？內(nèi)部因素1）誘導(dǎo)效應(yīng)：因為取代基具有不同的電負(fù)性，

通過靜電誘導(dǎo)作用，引起分子中電子分布的變化。從而轉(zhuǎn)變了鍵力常數(shù)，使振動頻率發(fā)生變化,這種效

應(yīng)叫誘導(dǎo)效應(yīng).誘導(dǎo)效應(yīng)使基團(tuán)的特征頻率向高頻方向發(fā)生了移動。2.共軛效應(yīng)：共軛效應(yīng)的結(jié)果使共軛

體系中的電子云密度平均化,雙鍵略有伸長,單鍵略有縮短,使雙鍵具有單鍵特性而單鍵具有雙鍵特性.振

動頻率向低波數(shù)位移動.3.鍵應(yīng)力和空間效應(yīng)的影響.(向高頻方向移動）環(huán)狀化合物的環(huán)張力越大,振動

頻率增高.空間位阻使振動頻率增高.4.氫鍵的影響(使汲取峰向低頻方向移動)氫鍵的形成使電子云密

度平均化，從而使伸縮振動頻率降低。分子內(nèi)氫鍵不受濃度影響，分子間氫鍵受濃度影響較大5.偶合效

應(yīng)：當(dāng)兩個頻率相同或相近的基團(tuán)銜接在一起時會發(fā)生偶合,其結(jié)果是使振動頻率發(fā)生變化，一個向高

頻移動，另一個向低頻移動，譜帶分裂。振動耦合常浮現(xiàn)在一些二羰基化合物中。6.費米共振：當(dāng)一

個基團(tuán)的倍頻或合頻與另一個基團(tuán)的基頻頻率相近,并且具有相同的對稱性時,他們可能產(chǎn)生共振,使譜

帶分裂,并使強(qiáng)度很弱的倍頻或合頻譜帶變得異樣強(qiáng),這一現(xiàn)象稱為費米共振.

外部因素外部因素主

要指測定時物質(zhì)的狀態(tài)以及溶劑效應(yīng)等因素。

9．Fourier變換紅外光譜儀構(gòu)成及其主要特點是什么？1）Fourier變換紅外光譜儀沒有色散元件，主

要由光源、邁克爾遜干涉儀、檢測器、計算機(jī)和記錄儀組成。2）（1）具有很高的辨別率v=

(2)波數(shù)精度高3）掃描速度極快4）光譜范圍寬(5)輸出能量大

10．紅外光譜中固體試樣的制備辦法

（1）溶液鑄模法（2）鹵化物壓片法（3）顯微切片法（4）熱壓成膜法5）熱裂解辦法

10.2.液體和溶液試樣1）液體池法2）液膜法

10.3.氣體樣品氣態(tài)樣品可在玻璃氣槽內(nèi)舉行測定，它的兩端粘有紅外透光的NaCl或KBr窗片。先

將氣槽抽真空，再將試樣注入。

11.目前主要有兩類紅外光譜儀：色散型紅外光譜儀和Fourier（傅立葉）變換紅外光譜儀。

12.紅外光譜的三要素：峰位，峰形，峰強(qiáng)

三、熱分析測量技術(shù)與儀器思量題

1英文簡寫：熱差分析法(DTA)差示掃描量熱法DSC熱重法TG

2畫出DTA曲線，并分析各點的物理意義。

在0-a區(qū)間，ΔT大體上是全都的，形成DTA曲線

的基線。隨著溫度的增強(qiáng)，試樣產(chǎn)生了熱效應(yīng)，則與參比物間的溫差變大，在DTA曲線中表現(xiàn)為峰。DTA曲線的起始溫度可取下列任一點溫度：曲線偏離基線之點Ta；曲線陡峭部分切線和基線延伸線這兩條線交點Te(外推始點)。

3DTA結(jié)構(gòu)：爐子、爐溫控制器、微伏放大器、氣氛控制、記錄儀等部分組成。

4影響DTA分析有哪些因素：（一是儀器，二是試樣：）1.參比物的挑選2.試樣的預(yù)處理及用量3.升溫速率的影響和挑選4.氣氛和壓力的挑選

5DTA面積確定辦法有哪幾種？①使用積分儀，可以直接讀數(shù)或自動記錄下差熱峰的面積。②假如差熱峰的對稱性好，可作等腰三角形處理，用峰高乘以半峰寬(峰高1/2處的寬度)的辦法求面積。

③剪紙稱重法，若記錄紙厚薄勻稱，可將差熱峰剪下來，在分析天平上稱其質(zhì)量，其數(shù)值可以代表峰面積。

6DSC定義及其分類1.定義：差示掃描量熱法（DSC）是在程序控制溫度下，測量輸給試樣和參比物的功率差與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。2.分類：按照測量辦法的不同，分為功率補(bǔ)償型DSC和熱流型DSC兩種類型。

7DTA與DSC共同點和區(qū)分？共同特點：峰的位置、外形和峰的數(shù)目與物質(zhì)的性質(zhì)有關(guān)，故可以定性地用來鑒定物質(zhì);從原則上講，物質(zhì)的全部改變和反應(yīng)都應(yīng)有熱效應(yīng)，因而可以采納DTA和DSC檢測這些熱效應(yīng)。區(qū)分：（1）用差示掃描量熱法可以直接測量熱量，這是與差熱分析的一個重要區(qū)分。（2）DTA在試樣發(fā)生熱效應(yīng)時，試樣的實際溫度已不是程序升溫時所控制的溫度(如在升溫時試樣因為放熱而一度加速升溫)。而DSC因為試樣的熱量變化隨時可得到補(bǔ)償，試樣與參比物的溫度始終相等，避開了參比物與試樣之間的熱傳遞，故DSC儀器的反應(yīng)敏捷，辨別率高，重臨性好。（3）而峰面積的大小與反應(yīng)熱焓有關(guān)，即ΔH=KS。對DTA曲線，K是與溫度、儀器和操作條件有關(guān)的比例常數(shù)。而對DSC曲線，K是與溫度無關(guān)的比例常數(shù)。這說明在定量分析中DSC優(yōu)于DTA。（4）目前DSC儀測定溫度只能達(dá)到750℃左右。DTA則普通可用到1600℃的高溫，最高可達(dá)到2400℃。

8DSC試驗中的影響因素1.掃描速度的影響2.樣品制備的影響

9熱重法定義：在程序控制溫度下，測量物質(zhì)質(zhì)量與溫度關(guān)系的一種技術(shù)。m=f(T)是使用最多、最廣泛

的熱分析技術(shù)。類型：兩種1.等溫（或靜態(tài)）熱重法：恒溫2.非等溫（或動態(tài)）熱重法：程序升溫

TG特點：定量性強(qiáng)，能精確?????地測量物質(zhì)的質(zhì)量變化及變化的速率，不管引起這種變化的是化學(xué)的還是物理的。

10DTG曲線上浮現(xiàn)的各種峰對應(yīng)著TG線的各個分量變

化階AB段：熱重基線B點：Ti起始溫度C點：Tf終

止溫度

D點：Te外推起始溫度，外推基線與TG線最大斜率切線

交點。最大反應(yīng)速率溫度

11影響熱重法測定結(jié)果的因素1、儀器因素：升溫速率

爐內(nèi)氣氛記錄紙速支持器及坩堝材料爐子的幾何

外形熱天平敏捷度2、試樣因素：試樣用量、粒度

四、核磁共振思量題目

1．核磁共振產(chǎn)生條件：1）原子核的自旋量子數(shù)I不能為零。(2)有自旋的原子核必需置于一外加磁場H0中，使核磁能級發(fā)生分裂。(3)必需有一外加的頻率為ν的電磁輻射,其能量正巧是作旋進(jìn)運動的原子核的兩能級差,才干被原子核汲取,使其從低能態(tài)躍遷到高能態(tài),從而發(fā)生核磁共振。

2．核磁共振儀器的性能指標(biāo)：辨別率敏捷度穩(wěn)定性

3．化學(xué)位移及影響化學(xué)位移的因素：1）在有機(jī)化合物中，各種氫核周圍的電子云密度不同（結(jié)構(gòu)中不同位置）共振頻率有差異，即引起共振汲取峰的位移，這種現(xiàn)象稱為化學(xué)位移。2）1.核外電子云密度的影響-電負(fù)性2.磁各向異性效應(yīng)3.氫鍵4.溶劑

4．自旋-自旋偶合：自旋磁場的這種作用對鄰近的質(zhì)子會產(chǎn)生影響,使鄰近質(zhì)子實際受到的外磁場強(qiáng)度發(fā)生極小的變化。這種因為鄰近核的自旋磁場所造成的互相影響而使NMR譜峰分裂的現(xiàn)象叫做自旋-自旋偶合.

5．核磁共振（NMR）譜圖有四個基本特征峰的位置峰的強(qiáng)度峰的分裂峰的寬度

五、X射線衍射思量題：

1．平面間距與哪些因素有關(guān)？平面間距既與晶胞參數(shù)有關(guān),又與晶面指數(shù)h,k,l有關(guān).

2．X射線分為兩種：延續(xù)X射線譜和特征X射線譜.

3．當(dāng)強(qiáng)度為I0的X射線穿過具有線汲取系數(shù),

厚度為x的物質(zhì)時，穿透X射線強(qiáng)度為：4．聯(lián)系衍射方向和晶胞大小外形間關(guān)系的兩個方程，各以什么為動身點？勞厄方程以直線點陣為動身點，布拉格方程以平面點陣為動身點

5．衍射產(chǎn)生的充分須要條件：衍射產(chǎn)生的充分須要條件應(yīng)為：衍射須要條件(衍射矢量方程或其它等效形式)是|F|2≠0。

6．衍射波的兩個基本特征：衍射線束在空間分布的衍射方向和強(qiáng)度，與晶體內(nèi)原子分布邏輯（晶體結(jié)構(gòu)）密切相關(guān)。

7．X射線衍射底片的安裝a）正裝法（b）反裝法（c）不對稱安裝法

8．X射線儀的基本組成

（1）X射線發(fā)生器；2）衍射測角儀；（3）輻射探測器；（4）測量電路；（5）控制操作和運行軟件的電子計算機(jī)系統(tǒng)。

9．X射線衍射峰位確實定辦法（1）用衍射峰形的表觀最大值所對應(yīng)的衍射角（2θ）作為衍射峰位P；

（2）切線法，將衍射峰形兩端的直線部分延伸，取其交點P，所對應(yīng)的衍射角（2θ）作為衍射峰位；（3）弦中點法和弦中點連線法；（4）三點拋物線法(5)重心法

10．簡述利用X射線舉行物相定性分析的基本步驟：1）制備待分析物質(zhì)樣品；（2

）用衍射儀法或照

01exp()

IIxμ=--

相法獲得樣品衍射花樣；（3）檢索PDF卡片；（4）核對PDF卡片與物相判定。

11.衍射方向：晶體衍射方向是指晶體在入射X射線照耀

下產(chǎn)生的衍射線偏離入射線的角度。衍射方向取決于晶體內(nèi)部結(jié)構(gòu)周期重復(fù)的方式和晶體安置的方位。

12.F值只與晶胞所含原子數(shù)及原子位置有關(guān)而與晶胞外形無關(guān)。

13X射線衍射的辦法多晶體衍射辦法：照相法{德拜法（德拜-謝樂法）和聚焦法}針孔法；衍射儀法。單晶體衍射辦法：勞埃法；周轉(zhuǎn)晶體法；四圓衍射儀。

六、炭黑簇?fù)砑夹g(shù)思量題目

1.常用的有哪幾種簇?fù)矶葴y量技術(shù)：光學(xué)技術(shù)、電子顯微鏡技術(shù)、電子技術(shù)和力學(xué)辦法

2.直接測試炭黑簇?fù)矶鹊募夹g(shù)有哪些？表面觀看法、粒徑測量法、表面粗糙度分析法和改進(jìn)的顯

微照相法。

3.請畫出新型炭黑簇?fù)矶葴y量流程圖。

4.對混合狀態(tài)的描述有直接描述和間接描述兩種辦法

5.目前炭黑簇?fù)矶鹊臏y量辦法：直接測量法和間接測量法

6.新型簇?fù)矶葴y量儀由以下幾個系統(tǒng)組成：1、試樣制作系

統(tǒng)；2、光學(xué)系統(tǒng)；3、圖像采集變送系統(tǒng)；4、數(shù)字圖像處理

系統(tǒng)；5、數(shù)據(jù)計算分析系統(tǒng)。

7.常用的圖像清楚度評價辦法有：1）邊緣檢測法；2）均方

差法；3）最大熵法。

七、電鏡思量題目

1．掃描電鏡與透射電鏡的英文縮寫SEMTEM

2．透射電子顯微鏡樣品的普通制備辦法1、粉末樣品可

將其簇?fù)碓谥С帜ど吓e行觀看。2、直接制成厚度在100

－200nn之間的薄膜樣品，觀看其形貌及結(jié)晶性質(zhì)。

普通有真空蒸發(fā)法、溶液凝固(結(jié)晶)法、離子轟擊減

薄法、超薄切片法、金屬薄片制備法。3、采納復(fù)型

技術(shù)，即制作表面顯微組織浮雕的復(fù)形膜，然后放在透射電子顯微鏡中觀看。制作辦法普通有四種，即塑料(火棉膠)膜一級復(fù)型、碳膜一級復(fù)型、塑料－碳膜二級復(fù)型、萃取復(fù)型

3．掃描電子顯微鏡的工作內(nèi)容：微區(qū)形貌觀測：①二次電子像可得到物質(zhì)表面形貌反差的信息，即微觀形貌像。②背反射電子像可得到不同區(qū)域內(nèi)平均原子序數(shù)差別的信息，即組成分布像。③X射線元素分布像可得到樣品表面元素及其X射線強(qiáng)度變化的分布圖像。微區(qū)定性和定量分析：常規(guī)的定性、定量分析辦法不同的是，掃描電子顯微鏡系統(tǒng)是在微觀形貌觀測的基礎(chǔ)上，針對感愛好區(qū)域舉行特定的定性或定量分析。

4．掃描電鏡與透射電鏡的主要區(qū)分.1.原理上，SEM不是用透射電子成像，而是用二次電子加背景散射電子成像。2.在儀器構(gòu)造上，除了光源、真空系統(tǒng)相像外，檢測系統(tǒng)徹低不同。

5.電鏡三要素：辨別率放大倍速襯度

6.透射電子顯微鏡的樣品處理對樣品的普通要求1、樣品需置于直徑為2－3mm的銅制載網(wǎng)上，網(wǎng)上附有支持膜,支持膜必需很薄和勻稱(普通支持膜的厚度應(yīng)小于20nm)，以便透過盡可能多的電子．2、樣品必需很薄，使電子束能夠穿透，普通厚度為100nm左右；3、樣品應(yīng)是固體，不能含有水分及揮發(fā)物；4、樣品應(yīng)有足夠的強(qiáng)度和穩(wěn)定性，在電子線照耀下不至于損壞或發(fā)生變化；5、樣品及其周圍應(yīng)十分清潔，以免污染而造成對像質(zhì)的影響。

7鏡的觀測內(nèi)容--透射電子顯微鏡表面起伏狀態(tài)所反映的微觀結(jié)構(gòu)問題；觀測顆粒的外形、大小及粒度分布；觀測樣品個各部分電子射散能力的差異；晶體結(jié)構(gòu)的鑒定及分析。

8.掃描電子顯微鏡的樣品制備，掃描電子顯微鏡常見的制樣辦法有:金屬涂層法離子刻蝕化學(xué)刻蝕法八光度法思量題目

1．吸光光度法分哪幾種？紅外汲取光譜汲取光譜見汲取光譜

2．寫出朗伯-比爾定律，寫出各量的物理意義，并對摩爾吸光系數(shù)舉行研究。

A＝lg（I0/It)=εbc

式中A：吸光度；描述溶液對光的汲取程度；

b：液層厚度(光程長度)，通常以cm為單位；

c：溶液的摩爾濃度，單位mol·L－１；

ε：摩爾吸光系數(shù)，單位L·mol－１·cm－１；

或:A＝lg（I0/It)=abc

c：溶液的濃度，單位g·L－１

a：吸光系數(shù)，單位L·g－１·cm－１

a與ε的關(guān)系為：

a=ε/M（M為摩爾質(zhì)量）

（1）汲取物質(zhì)在一定波長和溶劑條件下的特征常數(shù)；

（2）不隨濃度c和光程長度b的轉(zhuǎn)變而轉(zhuǎn)變。在溫度和波長等條件一定時，ε僅與汲取物質(zhì)本身的性質(zhì)有關(guān)，與待測物濃度無關(guān)；（3）可作為定性鑒定的參數(shù)；（4）同一汲取物質(zhì)在不同波長下的ε值是不同的。（5）εmax越大表明該物質(zhì)的吸光能力越強(qiáng)，用光度法測定該物質(zhì)的敏捷度越高。6）ε在數(shù)值上等于濃度為1mol/L、液層厚度為1cm時該溶液在某一波長下的吸光度。

3．請寫出偏離偏離朗伯—比耳定律的緣由，用數(shù)學(xué)公式分析非單色光作為入射光引起的偏離緣由。引起這種偏離的因素（兩大類）：

（1）物理性因素，即儀器的非抱負(fù)引起的；

（2）化學(xué)性因素。

（1）物理性因素

由波長為λ1和λ2的兩單色光

組成的入射光通過濃度為c的溶液，則：

A1＝lg（Ｉo1/Ｉt1）＝ε1bc

A2＝lg(Ｉo2/Ｉt2）＝ε2bc

故：式中：Ｉo1、Ｉo2分離為λ1、λ2的入射光強(qiáng)度；

Ｉt1、Ｉt2分離為λ1、λ2