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文檔簡介

34影響因素：晶胞體積，結(jié)構(gòu)因子，bragg球差是磁透鏡中心區(qū)和邊沿區(qū)對電子的折射能力不同引起的。增大透鏡引起的，可以通過引入一強(qiáng)度和方位都可以調(diào)節(jié)的矯正磁場來進(jìn)行補(bǔ)償。色差事電子波長或能量發(fā)生一定幅度的改變而造成的，穩(wěn)定加速電壓和透鏡電流可減少色差。答：原理:X特點(diǎn)：1電子波長的波長比X23電子衍射中略偏離布拉格條件的也能發(fā)生衍射412波譜儀：用來檢測X能譜儀：用來檢測X優(yōu)點(diǎn)：1能譜儀探測X2在同一時間對分析點(diǎn)內(nèi)所有元素X射線光子的能量進(jìn)定和計(jì)數(shù)，在幾34缺點(diǎn)：12114923Si16X045sin?法。173mm20-120um，無磁金屬制成。20-0-20作用aB使進(jìn)入投影鏡孔徑很小。20答原子散射因數(shù)f事以一個電子散射振幅為度量單位的一個原子散射一個電子在相同條件下散射波振幅的fX原子散射因數(shù)與其原子序數(shù)有何關(guān)系，z，fX來有一定的。經(jīng)常也稱之為劑K值法不作標(biāo)準(zhǔn)曲線而是選用剛玉Al2O3作為標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，JCPDSK1..xx射線，誰揭示了x答：x射線的本質(zhì)是一種橫電磁波？首先發(fā)現(xiàn)了x射線，揭示了x透射電鏡特點(diǎn)：A透過薄膜樣品B用于觀察樣品的形態(tài)C通過電子衍掃描電鏡特點(diǎn)：A在樣品表面掃描B、用于觀察樣品的形貌（具有立體感）C、通過激發(fā)樣品的特征X射線獲取樣品的成分信息。晶或色譜法進(jìn)行分離提純，否則各組份光譜相互，難于判斷10%~80%范圍內(nèi)。DTADSC比較DTA:分析，靈敏度不高DSC:800℃以下(1650℃)Xps1.激發(fā)光源軟化xUV2.電子能量分析儀器表面分析電子能量3.高真空系統(tǒng)真空腔室UHV避免光電子與氣體分子碰撞的（1）.色譜法的優(yōu)點(diǎn) (2).色譜法的缺點(diǎn) 要求：固定相-離子交換樹脂 離組分---離子型的有機(jī)物或無機(jī)物（親和力SESE1BESE層次，不利于分析，因此，BESE，BE（1.IR（2.（3.吸收峰的強(qiáng)度則主要取決于振動過程中偶極矩變化的大小和能級躍遷的幾率DTADTA4）5）試樣的裝填6）熱中性體（參比物）減小方法1.測溫范圍內(nèi)無熱反應(yīng)2.比熱和導(dǎo)熱性能與試樣相接近力度與試樣相接近

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