第三章-準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直課件

2023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)1準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1激光束的準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直2自準(zhǔn)直法測量光學(xué)零件的平行度3自準(zhǔn)直法測量曲率半徑和焦距2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)1準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1激12023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)21激光束的準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1.1激光束的準(zhǔn)直1.2激光束的自準(zhǔn)直2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)21激光束的準(zhǔn)直和22023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)31.1激光束的準(zhǔn)直采用倒裝的望遠(yuǎn)系統(tǒng)實現(xiàn)光束準(zhǔn)直2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)31.1激光束的準(zhǔn)32023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)42023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)442023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)5ForaGaussianbeam,thecomplexelectricfieldamplitudeisgivenbyristheradialdistancefromthecenteraxisofthebeam,zistheaxialdistancefromthebeam'snarrowestpoint(the"waist"),E0=|E(0,0)|,w(z)istheradiusatwhichthefieldamplitudeandintensitydropto1/eand1/e2oftheiraxialvaluesw0=w(0)isthewaistsize(describedinmoredetailbelow).Thefunctionsw(z),R(z),andζ(z)areparametersofthebeam,whichwedefinebelow.2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)5ForaGau52023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)62023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)662023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)72023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)772023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)82023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)882023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)91.1激光束的準(zhǔn)直零階貝塞爾光束2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)91.1激光束的準(zhǔn)92023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)10實現(xiàn)12023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)10實現(xiàn)1102023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)112023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)11112023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)122023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)12122023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)13實現(xiàn)1:軸錐鏡2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)13實現(xiàn)1:軸錐鏡132023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)142023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)14142023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)152023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)15152023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)162023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)16162023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)172023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)17172023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)182023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)18182023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)191激光束的準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1.1激光束的準(zhǔn)直1.2激光束的自準(zhǔn)直2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)191激光束的準(zhǔn)直192023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)201.2激光束的自準(zhǔn)直平面鏡反射-平面波相位共軛面-任意波2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)201.2激光束的202023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)21平面鏡反射-平面波2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)21平面鏡反射-平面212023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)22相位共軛面-任意波2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)22相位共軛面-任意222023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)23相位共軛面-任意波布里淵散射1四波混頻1B.Ya.Zel’dovich,V.I.Popovichev,V.V.RagulskiiandF.S.Faisullov,“ConnectionbetweenthewavefrontsofthereflectedandexcitinglightinstimulatedMandel’shtamBrillouinscattering,”

Sov.Phys.JETP,15,109(1972)2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)23相位共軛面-任意232023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)24四波混頻2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)24四波混頻242023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)25四波混頻2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)25四波混頻252023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)26準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1激光束的準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直2自準(zhǔn)直法測量光學(xué)零件的平行度3自準(zhǔn)直法測量曲率半徑和焦距2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)26準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1262023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)272自準(zhǔn)直法測量光學(xué)零件的平行度2.1介紹2.2測試原理2.3反射棱鏡的平行度測量2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)272自準(zhǔn)直法測量272023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)282.1介紹2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)282.1介紹282023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)292.2測試原理2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)292.2測試原理292023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)302.3反射棱鏡的平行度測量DI-902023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)302.3反射棱鏡302023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)31第一光學(xué)平行度：在入射光軸界面內(nèi)，角度誤差造成的。第二光學(xué)平行度：垂直于入射光軸界面，棱差造成。問題:45度角那個大?那個小?2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)31第一光學(xué)平行度：312023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)32DII-1802023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)32DII-180322023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)3390角?是大于90度還是小于90度?調(diào)視度:正視度,雙像靠近則大于90度,反之小于90度.半邊遮擋:同邊的雙像消失則大于90度,反之,小于90度2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)3390角?是大于9332023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)34DIIJ-902023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)34DIIJ-90342023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)352023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)35352023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)3690角?是大于90度還是小于90度?半邊遮擋:同邊的雙像消失則大于90度,反之,小于90度2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)3690角?是大于9362023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)37DII-180(角錐棱鏡)35.16度54.44度要求,直角具有高準(zhǔn)確度2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)37DII-180(372023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)38補(bǔ)償棱鏡法OABC2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)38補(bǔ)償棱鏡法OAB382023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)39斜入射法:OABC2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)39斜入射法:OA392023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)40準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1激光束的準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直2自準(zhǔn)直法測量光學(xué)零件的平行度3自準(zhǔn)直法測量曲率半徑2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)40準(zhǔn)直和自準(zhǔn)直1402023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)413自準(zhǔn)直法測量曲率半徑和焦距自準(zhǔn)直法測量曲率半徑自準(zhǔn)直法測量物鏡焦距和頂焦距2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)413自準(zhǔn)直法測量412023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)42簡介自準(zhǔn)直望遠(yuǎn)系統(tǒng)自準(zhǔn)直顯微系統(tǒng)2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)42簡介自準(zhǔn)直望遠(yuǎn)系422023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)43測量曲率半徑測試原理2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)43測量曲率半徑測試432023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)44測量曲率半徑測試方法:先測球心還是頂點?頂點受不受待測球面傾斜影響?如何找到球心凹面和凸面的測量范圍?實際測試中多個像的區(qū)別?2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)44測量曲率半徑測試442023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)45自準(zhǔn)直法測量物鏡焦距和頂焦距2023年8月2日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)45自準(zhǔn)直法測量物鏡452023年8月15日光學(xué)檢測技術(shù)-測控技術(shù)46測量誤差:兩