射線三級(jí)開(kāi)卷必過(guò)秘籍綜合分析題

射線三級(jí)開(kāi)卷必過(guò)秘籍綜合分析題無(wú)損檢測(cè)是一項(xiàng)重要的技術(shù)，在考試中也占有重要的地位。本文將介紹無(wú)損檢測(cè)射線三級(jí)考試的開(kāi)卷必過(guò)秘籍，主要考核以下四個(gè)方面的內(nèi)容：1.檢測(cè)工藝規(guī)程的編制能力。要求三級(jí)人員根據(jù)單位的制造、安裝、檢驗(yàn)檢測(cè)對(duì)象或投標(biāo)過(guò)程產(chǎn)品的類別，材料結(jié)構(gòu)特點(diǎn)和現(xiàn)有檢測(cè)人員、設(shè)備器材、場(chǎng)所技術(shù)等條件，按照法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)要求制定具體而實(shí)用的射線檢測(cè)工藝規(guī)程或通則?？忌枰莆展に囈?guī)程的涵蓋范圍、內(nèi)容、相關(guān)因素的范圍、設(shè)備器材的要求、具體技術(shù)和工藝內(nèi)容、檢測(cè)實(shí)施的要求、操作指導(dǎo)書的要求內(nèi)容以及記錄和報(bào)告的規(guī)劃和控制要求等。2.特征設(shè)備對(duì)象（結(jié)構(gòu)和材料）的射線檢測(cè)必要性分析?？疾閷W(xué)員對(duì)特種設(shè)備典型結(jié)構(gòu)和材料的了解。例如，在制產(chǎn)品要求根據(jù)法規(guī)、標(biāo)準(zhǔn)分析是否需要進(jìn)行射線檢測(cè)，從對(duì)象的材料結(jié)構(gòu)和成型方式及熱處理、焊接、在加工等方面分析容易出現(xiàn)的缺陷是什么，為什么有時(shí)候要求優(yōu)先采用射線檢測(cè)。對(duì)于在役產(chǎn)品，要求根據(jù)工況（如高溫、低溫、腐蝕和硫化氫腐蝕等）分析可能產(chǎn)生的缺陷，分析其檢測(cè)特點(diǎn)?？忌枰煜しㄒ?guī)、標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于射線檢測(cè)的要求及為什么這些要求。3.容器還是管道的審題工藝的對(duì)象。容器的檢測(cè)工藝規(guī)程需遵循TSGR004-2009《固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》和無(wú)損檢測(cè)NB/T47013-2015。制造方面需遵循GB150.1～4-2011《壓力容器》。在用方面需遵循TSGR7001-2013《壓力容器定期檢驗(yàn)規(guī)則》第二十六條表面缺陷檢測(cè)和第二十七條埋藏缺陷檢測(cè)。管道的檢測(cè)需遵循TSGD0001-2009《壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程——工業(yè)管道》和GB/T20801及NB/T47013-2015的檢測(cè)等級(jí)、范圍和部位、數(shù)量、合格要求。4.實(shí)驗(yàn)室的質(zhì)量保證體系?？忌枰煜?shí)驗(yàn)室的質(zhì)量保證體系，包括實(shí)驗(yàn)室的質(zhì)量管理體系文件、實(shí)驗(yàn)室內(nèi)部質(zhì)量控制和質(zhì)量保證管理體系、實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)設(shè)備和器材管理體系、實(shí)驗(yàn)室的人員培訓(xùn)和能力評(píng)估管理體系等。以上是無(wú)損檢測(cè)射線三級(jí)考試的開(kāi)卷必過(guò)秘籍，希望考生們能夠認(rèn)真掌握，取得好成績(jī)。射線檢測(cè)的等級(jí)、范圍、部位和數(shù)量詳見(jiàn)第85條。全部合格為Ⅱ級(jí)，局部合格為Ⅲ級(jí)。制造方面，按照GB/T20801.1～6-2006《壓力管道規(guī)范工業(yè)管道》6.3焊接接頭的無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，全部（Ⅰ100%）為合格Ⅱ級(jí)，局部（檢查等級(jí)Ⅱ20%、Ⅲ10%、Ⅳ5%）為合格Ⅲ級(jí)。答案1：在用壓力容器內(nèi)外部無(wú)損檢測(cè)應(yīng)按照固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程、壓力容器定期檢驗(yàn)規(guī)則和NB/T47013-2015承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)要求進(jìn)行。答案2：磁粉檢測(cè)是檢測(cè)應(yīng)力腐蝕裂紋最有效的無(wú)損檢測(cè)方法。因?yàn)閼?yīng)力腐蝕裂紋是一種表面缺陷，磁粉檢測(cè)適合于檢測(cè)鐵磁性材料的表面和近表面缺陷，靈敏度高于滲透檢測(cè)。答案3：在對(duì)細(xì)小應(yīng)力腐蝕裂紋進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，應(yīng)選擇X射線而非γ源，使用細(xì)顆粒C4類及更高的膠片和位于產(chǎn)生裂紋的一面的布片。同時(shí)，需要屏蔽無(wú)用射線，控制防散射，并避免高電壓短時(shí)間的曝光量。答案4：在對(duì)貯罐的應(yīng)力腐蝕裂紋進(jìn)行返修過(guò)程中，需要邊返修邊進(jìn)行MT或PT檢測(cè)以確認(rèn)裂紋是否消除。如果采用補(bǔ)焊方式返修，則需要返修完畢后進(jìn)行MT或PT檢測(cè)，以確認(rèn)未產(chǎn)生新的表面超標(biāo)缺陷。同時(shí)，需要使用與原方法一致的方法檢測(cè)，以確認(rèn)未產(chǎn)生新的內(nèi)部超標(biāo)缺陷。在這種情況下，需要使用RT方法。在考慮無(wú)損檢測(cè)的方式時(shí)，需要主要考慮材質(zhì)和規(guī)格（直徑、壁厚）。在材質(zhì)方面，需要考慮裂紋、焊接缺陷以及應(yīng)力腐蝕傾向等因素。根據(jù)這些條件，可以確定透照方式，即內(nèi)透或外透。一般在使用設(shè)備時(shí)，我們主要考慮采用外透源在外膠片貼內(nèi)的方式，這樣可以使內(nèi)表面腐蝕裂紋的L2變小，從而減小幾何不清晰度Ug，進(jìn)而提高照相靈敏度。在選擇膠片時(shí)，我們優(yōu)先選用梯噪比高的C4類膠片。梯噪比高意味著信號(hào)的放大能力越強(qiáng)，產(chǎn)生的附加噪聲越小，從而提高底片對(duì)影像細(xì)節(jié)的顯示能力，最終提高細(xì)小裂紋的檢出率。對(duì)于制造容器，我們需要考慮制造過(guò)程工藝，選擇合理的透照方式。對(duì)于在用容器，如果有人孔，我們可以考慮中心透照，如果內(nèi)表面有裂紋，則優(yōu)先采用外透法。在對(duì)一具在役球罐進(jìn)行開(kāi)罐檢測(cè)時(shí)，如果發(fā)現(xiàn)裂紋，我們應(yīng)該進(jìn)行邊返修，邊MT或PT檢測(cè)，確認(rèn)裂紋消除。如果采用補(bǔ)焊方式返修，則返修完畢后需要進(jìn)行MT或PT檢測(cè)，確認(rèn)未產(chǎn)生新的表面超標(biāo)缺陷，并使用RT方法確認(rèn)未產(chǎn)生新的內(nèi)部超標(biāo)缺陷。在編制射線檢測(cè)工藝卡時(shí)，我們需要注意射線檢測(cè)的技術(shù)等級(jí)、焊補(bǔ)質(zhì)量驗(yàn)收等級(jí)和檢測(cè)時(shí)機(jī)等問(wèn)題，以確保檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。對(duì)于焊補(bǔ)部位的射線檢測(cè)，采用源在外透照方式操作方便且防護(hù)更容易，而且由于焊補(bǔ)部位在球殼外壁，采用源在外透照方式的幾何不清晰度較小，更有利于發(fā)現(xiàn)焊補(bǔ)區(qū)域靠近外壁的裂紋等細(xì)小缺陷。在制造氯氣罐時(shí)，我們需要考慮設(shè)計(jì)壓力、設(shè)計(jì)溫度、材質(zhì)、容器類別和規(guī)格等因素，以確保制造的氯氣罐符合要求。在對(duì)接焊縫采用埋弧自動(dòng)焊，其余為手工雙面電弧焊，B6為單面焊，其焊縫余高均為2mm。B4為罐體的最后一道焊縫。可提供的檢測(cè)設(shè)備包括XXH2505和XXQ2505射線機(jī)（焦點(diǎn)大小分別為2.5×2.5mm、2.5×2.5mm）、Se-75γ射線機(jī)（現(xiàn)有活度50Ci、焦點(diǎn)為2×2mm），以及天津Ⅲ型和Ⅴ型膠片（膠片規(guī)格：300×80、200×80）。設(shè)備結(jié)構(gòu)示意圖見(jiàn)圖1，曝光曲線圖見(jiàn)圖2、圖3。1、根據(jù)固容規(guī)和GB150的相關(guān)規(guī)定，B1焊縫的檢測(cè)方法和比例如何選擇？答：固容規(guī)要求對(duì)B1焊縫進(jìn)行100%射線或超聲波檢測(cè)，而GB150.4-2011規(guī)定需對(duì)B1焊縫進(jìn)行100%射線或超聲波檢測(cè)。超聲檢測(cè)包括衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)（TOFD)、可記錄的脈沖反射法超聲檢測(cè)和不可記錄的脈沖法超聲檢測(cè)。當(dāng)采用不可記錄的脈沖反射法超聲檢測(cè)時(shí)，還應(yīng)當(dāng)采用射線檢測(cè)或衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)作為附加局部檢測(cè)。2、B5焊縫最優(yōu)的透照方式是哪種？給出選擇的理由。答：源在外單壁透照是最優(yōu)的方式。雖然源在內(nèi)中心透照的一次透照長(zhǎng)度、K值及裂紋檢出角均優(yōu)于源在外單壁透照法，但采用X射線機(jī)時(shí)機(jī)頭尺寸過(guò)大且不利于源在中心布置。選擇γ射線機(jī)時(shí)由于源的強(qiáng)度過(guò)大，根據(jù)曝光曲線可知F=152mmT=14時(shí)的曝光時(shí)間僅需6s，因此不符合標(biāo)準(zhǔn)要求。而源在內(nèi)透照法時(shí)焦距F過(guò)小，導(dǎo)致底片的幾何不清晰度過(guò)低，因此不采用。根據(jù)NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)，盡量選擇單壁透照，因此雙壁單影不考慮。3、若B6焊縫采用雙壁單影透照，其最小焦距為多少？對(duì)于該焊縫，大焦距（700）和最小焦距的比較？答：根據(jù)NB/T47013-2015，AB級(jí)f≥10d*b2/3，d=2.5mm，b=6+2mm，得f≥100mm。機(jī)頭貼緊管透照時(shí)焦距最小，其焦距若用X射線機(jī)時(shí)約為159+2+150（機(jī)頭），即Fmin=311mm。而γ射線機(jī)因曝光時(shí)間過(guò)短棄用。F=700mm時(shí)幾何不清晰度小，而一次透照長(zhǎng)度小，曝光時(shí)間長(zhǎng)，效率低；Fmin時(shí)幾何不清晰度大，而一次透照長(zhǎng)度大，曝光時(shí)間短，效率高。4、A1焊縫，若透照焦距為600mm，其一次透照長(zhǎng)度為多少？答：當(dāng)F=600mm時(shí)，由b=14+2*2mm且L3=0.5f得f=F-b=582mm、L3=291mm。因此，焦距為600mm時(shí)，一次透照長(zhǎng)度為291mm。答：對(duì)于B1焊縫，根據(jù)所給設(shè)備，可以比較不同工藝的優(yōu)劣。首先考慮源在內(nèi)中心周向透照，這種方式的優(yōu)勢(shì)在于一次透照長(zhǎng)度、K值及裂紋檢出角均優(yōu)于其它透照方式，同時(shí)工作效率也最高。比較γ射線機(jī)和XXH2505射線機(jī)的透照時(shí)，由于焦點(diǎn)尺寸的不同，幾何不清晰度也有所不同，但是源在內(nèi)偏心透照相比源在外單壁透照，一次透照長(zhǎng)度大，效率高，散射小，底片靈敏度高，但內(nèi)部定位困難。對(duì)于B2焊縫，選擇曝光量時(shí)需要根據(jù)焊縫厚度來(lái)選擇，因?yàn)榘茨覆倪x擇曝光量時(shí)，當(dāng)母材黑度達(dá)到基準(zhǔn)黑度2.5時(shí)，焊縫黑度可能達(dá)不到標(biāo)準(zhǔn)要求，而按焊縫厚度選擇則能保證母材部位黑度不致太高。在選擇檢測(cè)技術(shù)或工藝時(shí)，需要考慮具體對(duì)象的結(jié)構(gòu)和材料特點(diǎn)、檢測(cè)環(huán)境和其他要求，比較分析不同檢測(cè)技術(shù)或工藝的效果、特點(diǎn)和適應(yīng)性，以選定正確的透照方式。需要考慮透照靈敏度、缺陷檢出特點(diǎn)、透照厚度差和橫向裂紋檢出角、一次透照長(zhǎng)度和操作方便性等因素。源在內(nèi)透照法具有更小的透照厚度差和橫向裂紋檢出角，而一次透照長(zhǎng)度較大的透照方式可以提高檢測(cè)速度和工作效率。對(duì)于容器透照，源在外的操作更方便一些，而球罐的X射線透照，上半球位置需要特別注意。在進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，試件及探傷設(shè)備的具體情況是非常重要的。當(dāng)試件直徑較小時(shí)，源在內(nèi)透照可能不能滿足幾何不清晰度的要求，因此需要采用源在外的透照方式。使用γ射線源或周向X射線機(jī)時(shí)，選擇源在內(nèi)中心透照法對(duì)環(huán)焊縫周向曝光，更能發(fā)揮設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)。在對(duì)環(huán)焊縫進(jìn)行各種透照方式的比較中，源在內(nèi)中心透照周向曝光法是最佳的選擇。該方法透照厚度均一，橫向裂紋檢出角為90度，底片黑度、靈敏度俱佳，缺陷檢出率高，且一次透照整條環(huán)縫，工作效率高，應(yīng)盡可能選用。在進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，透照方式的選擇也是非常關(guān)鍵的。對(duì)B1焊縫進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，采用內(nèi)透法和外透法各有其優(yōu)缺點(diǎn)。采用中心內(nèi)透法便于實(shí)施，對(duì)焦容易，K值為1，且檢測(cè)效率高，但對(duì)根部裂紋性質(zhì)的小缺陷檢出率則低于外透法。采用外透法，對(duì)焦不容易，易受到管內(nèi)散射線的影響，需要進(jìn)行多次分段透照，檢測(cè)效率低于內(nèi)透法，但對(duì)根部裂紋性質(zhì)的小缺陷的檢出高于內(nèi)透法。對(duì)焊補(bǔ)部位進(jìn)行射線檢測(cè)時(shí)，采用源在外和源在內(nèi)兩種透照方式也各有其優(yōu)缺點(diǎn)。從操作方便性的角度考慮，采用源在外透照方式時(shí)擺放射線機(jī)等比源在內(nèi)透照方式方便。從缺陷的檢出能力方面考慮，由于焊補(bǔ)部位在球殼外壁，且15MnVR為裂紋敏感性材質(zhì)，采用源在內(nèi)透照方式的幾何不清晰度較小，更有利于發(fā)現(xiàn)焊補(bǔ)區(qū)域靠近外壁的裂紋等細(xì)小缺陷。附加雙壁單影，透照次數(shù)低于外透法，但曝光時(shí)間比單壁透照時(shí)間長(zhǎng)，靈敏度不如單壁透照。管座角焊縫容易出現(xiàn)根部缺陷，優(yōu)先采用外透法，膠片離根部缺陷近，幾何不清晰度小，控制焦距，提高缺陷檢出率。采用內(nèi)透法時(shí)，射線源放在支管軸線上的透照布置，接近中心內(nèi)透法，K值接近1，有效檢測(cè)范圍大，工作效率高。在進(jìn)行射線檢測(cè)設(shè)備選擇時(shí)，應(yīng)考慮試件的具體情況和要求?，F(xiàn)場(chǎng)可供使用的射線檢測(cè)設(shè)備和器材有300kVX射線機(jī)、Se-75、Ir-192射線探傷儀和Agfa-D7膠片、0.03mm及0.1mm的鉛箔增感屏。在此情況下，應(yīng)選用X射線機(jī)。因?yàn)橥刚蘸穸冗_(dá)到46mm，Se-75不能滿足穿透力要求。同時(shí)，15MnVR為裂紋敏感性材質(zhì)，若使用Ir-192需使用細(xì)顆粒膠片。因此，X射線機(jī)是更合適的選擇。與Ir-192相比，X射線機(jī)具有更高的穿透力和更好的檢測(cè)效率。X射線機(jī)能量分布為連續(xù)譜，能量可調(diào)節(jié)，可以根據(jù)工件厚度選擇合適的管電壓，從而獲得較高的對(duì)比度和靈敏度，提高小缺陷的檢出率。相比之下，Ir-192的能量不可調(diào)節(jié)，線質(zhì)硬，散射線多，灰霧度大，對(duì)比度小，對(duì)裂紋缺陷的檢出率低。該檢測(cè)公司擁有的射線檢測(cè)設(shè)備和器材有XXQ2505X射線機(jī)、Se-75γ射線探傷儀和Ir-192γ射線探傷儀。我們選擇Se-75射線探傷儀，因?yàn)樗耐刚蘸穸葹?3mm，相對(duì)于Ir-192，Se-75射線能量較低、線質(zhì)適中，具有較高的靈敏度。Se-75對(duì)小徑管透照的靈敏度接近或達(dá)到X射線的質(zhì)量，而有效檢出范圍又明顯大于X射線的水平，且Se-75探傷儀在水冷壁安裝現(xiàn)場(chǎng)操作更為方便。在選擇膠片時(shí)，我們遵循以下原則：A級(jí)和AB級(jí)檢測(cè)技術(shù)不得低于C5類，B級(jí)檢測(cè)技術(shù)不得低于C4類。采用γ射線或高能射線照相必須采用C4類或更高類別的膠片。當(dāng)對(duì)公稱厚度或透照厚度較薄的工件進(jìn)行γ射線照相時(shí)應(yīng)采用高類別的膠片。對(duì)可焊性差的材料或Rm≥540MPa的低合金高強(qiáng)鋼，γ射線照相時(shí)應(yīng)選擇C4類或更高類別的膠片。我們選擇了C5富士100AA400AGFAC7D7、C4柯達(dá)T200AGFAD5天津V和C3AGFAC4D4天津Ⅲ。在放置像質(zhì)計(jì)時(shí)，線型像質(zhì)計(jì)一般應(yīng)放置在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（在被檢區(qū)長(zhǎng)度的1/4左右位置），金屬絲應(yīng)橫跨焊縫，細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)一張膠片上同時(shí)透照多條焊接接頭時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在透照區(qū)最邊緣的焊縫處。單壁透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在源側(cè)，雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)，雙壁雙影透照像質(zhì)計(jì)可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。如果像質(zhì)計(jì)無(wú)法放置在源側(cè)，允許放置在膠片側(cè)。但是像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)所顯示的靈敏度是不真實(shí)的，不允許像質(zhì)計(jì)隨便放在膠片上。如果像質(zhì)計(jì)放置在膠片側(cè)，應(yīng)進(jìn)行對(duì)比試驗(yàn)，F(xiàn)標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計(jì)的標(biāo)記同時(shí)出現(xiàn)在底片上，并在檢測(cè)報(bào)告中標(biāo)出。在選擇透照焦距時(shí)，我們比較了431mm和600mm焦距的優(yōu)缺點(diǎn)。與600mm焦距相比，選擇431mm焦距的優(yōu)點(diǎn)是可以縮短曝光時(shí)間近50%，提高檢測(cè)工作效率，并減少人員所受到的輻射影響。本文介紹了小徑管射線透照的缺點(diǎn)和有效措施，旨在提高射線照相的質(zhì)量和減少散射線的影響。首先，小徑管射線透照存在幾何不清晰度低和透照?qǐng)鼍鶆蛐圆畹膯?wèn)題，這限制了有效透照長(zhǎng)度和提高射線照相靈敏度。為了解決這些問(wèn)題，可以選擇600mm焦距的射線照相機(jī)，并且采用T3類以上的膠片、適宜的源活度-曝光時(shí)間控制、小焦點(diǎn)、橢圓開(kāi)口寬度控制和底片黑度控制等有效措施。其次，散射線是無(wú)法消除的，但可以盡量減少。為了控制散射線，可以選擇合適的射線能量、使用鉛箔增感屏、背防護(hù)鉛板、鉛罩和光闌、厚度補(bǔ)償物、濾板和遮蔽物等措施。這些措施可以減小照射場(chǎng)范圍、吸收低能散射線、減少