表面粗糙度的測(cè)量-課件

第四章表面粗糙度的測(cè)量第四章表面粗糙度的測(cè)量1§4.1概述§4.1概述2一、表面形貌誤差的概念與形成1.表面形貌誤差分類： 實(shí)際加工表面通常包括如下三種表面形貌誤差：表面粗糙度：波距小于1mm，大體呈周期性變化，屬于微觀幾何形狀誤差；表面波度：波距在1－10mm，呈周期性變化，屬于中間幾何形狀誤差；形狀誤差：波距大于10mm，無(wú)明顯周期性變化，屬于宏觀幾何形狀誤差。紋理方向、傷痕一、表面形貌誤差的概念與形成1.表面形貌誤差分類：32.表面粗糙度：是一種微觀幾何形狀誤差又稱微觀不平度。λ/h<50,50~1000,>10003.表面粗糙度的產(chǎn)生原因：在加工過(guò)程中，刀具和零件表面間產(chǎn)生摩擦、高頻振動(dòng)及切削時(shí)在工件表面上留下的微觀痕跡。2.表面粗糙度：是一種微觀幾何形狀誤差又稱微觀不平度。4高斯濾波器（ISO11562）：評(píng)定基準(zhǔn)線：高斯濾波器（ISO11562）：評(píng)定基準(zhǔn)線：5二、表面粗糙度的影響表面粗糙度對(duì)零件的使用性能有著重要的影響，主要表現(xiàn)在：對(duì)摩擦和磨損的影響：表面粗糙度大—磨損大—壽命低對(duì)配合性的影響：表面粗糙度影響配合性質(zhì)的穩(wěn)定性對(duì)接觸剛度的影響：表面越粗糙，接觸剛度越低對(duì)疲勞強(qiáng)度的影響：表面越粗糙，疲勞強(qiáng)度越低對(duì)抗腐蝕性的影響：粗糙的表面易造成表面銹蝕對(duì)結(jié)合密封性的影響對(duì)檢驗(yàn)零件時(shí)的測(cè)量不確定度、零件的外形美觀等的影響二、表面粗糙度的影響表面粗糙度對(duì)零件的使用性能有著重要的影響6三、表面形貌測(cè)量的特點(diǎn)與范圍特點(diǎn)：通常為量程小、測(cè)量分辨率高（nm）、無(wú)目標(biāo)靶。表面粗糙度測(cè)量的范圍 現(xiàn)在表面分析技術(shù)已遠(yuǎn)走出機(jī)械零件，如：1.微電子工業(yè)：硅片、磁盤表面、光盤、光學(xué)元件2.材料科學(xué)：表面形貌分析、材料微裂紋3.生物科學(xué)：細(xì)胞生物、芯片、遺傳學(xué)4.科學(xué)研究：納米技術(shù)、物理、化學(xué)、生物等基礎(chǔ)科學(xué)等三、表面形貌測(cè)量的特點(diǎn)與范圍特點(diǎn)：通常為量程小、測(cè)量分辨率高7§4.2表面粗糙度的評(píng)定參數(shù)§4.2表面粗糙度的評(píng)定參數(shù)8國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)我國(guó)參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ISO），對(duì)原表面粗糙度國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1031-1983、GB131-1983作了修訂和增訂，新國(guó)標(biāo)有： GB/T3505-2000《表面結(jié)構(gòu)的術(shù)語(yǔ)、定義及參數(shù)》 GB/T1031-1995《表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值》GB/T131-1993《機(jī)械制圖表面粗糙度符號(hào)、代號(hào)及其注法》。國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)我國(guó)參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（ISO），對(duì)原表面粗9一、主要術(shù)語(yǔ)及定義

1.實(shí)際輪廓：平面與實(shí)際表面相交所得的輪廓線。 按照相截方向的不同，可分為橫向?qū)嶋H輪廓和縱向?qū)嶋H輪廓。除非特別指明，通常均指橫向?qū)嶋H輪廓，即與加工紋理方向垂直的截面上的輪廓。一、主要術(shù)語(yǔ)及定義

1.實(shí)際輪廓：平面與實(shí)際表面相交所得的10表面粗糙度的測(cè)量-課件112.取樣長(zhǎng)度L：用于判別和測(cè)量表面粗糙度時(shí)所規(guī)定的一段基準(zhǔn)線長(zhǎng)度。量取方向：在輪廓總的走向上。目的：限制和削弱表面波度對(duì)表面粗糙度測(cè)量結(jié)果的影響。選擇原則：下一頁(yè)2.取樣長(zhǎng)度L：用于判別和測(cè)量表面粗糙度時(shí)所規(guī)定的一段基準(zhǔn)12表面粗糙度的測(cè)量-課件133.評(píng)定長(zhǎng)度L：評(píng)定輪廓所必須的一段長(zhǎng)度，它包括一個(gè)或數(shù)個(gè)取樣長(zhǎng)度。目的：為充分合理地反映某一表面的粗糙度特性（加工表面有不同程度的不均勻性）。選擇原則：一般按五個(gè)取樣長(zhǎng)度來(lái)確定。3.評(píng)定長(zhǎng)度L：144.輪廓中線m 是評(píng)定表面粗糙度數(shù)值的基準(zhǔn)線。具有幾何輪廓形狀與被測(cè)表面幾何形狀一致，并將被測(cè)輪廓加以劃分的線。類型有：（1）最小二乘中線： 使輪廓上各點(diǎn)的輪廓偏轉(zhuǎn)距y（在測(cè)量方向上輪廓上的點(diǎn)至基準(zhǔn)線的距離）的平方和為最小的基準(zhǔn)線。4.輪廓中線m15（2）算術(shù)平均中線： 在取樣長(zhǎng)度范圍內(nèi)，劃分實(shí)際輪廓為上、下兩部分，且使上下兩部分的面積相等的線。(a)輪廓最小二乘中；(b)輪廓算術(shù)平均中線（2）算術(shù)平均中線：(a)輪廓最小二乘中；(b)輪廓算術(shù)平均16二、評(píng)定參數(shù)及數(shù)值對(duì)評(píng)定參數(shù)的基本要求：（1）正確、充分反映表面微觀幾何形狀特征；（2）具有定量的結(jié)果；（3）測(cè)量方便。 國(guó)標(biāo)從水平和高度兩方向各規(guī)定了三個(gè)評(píng)定參數(shù)，三個(gè)基本參數(shù)，三個(gè)附加的評(píng)定參數(shù)二、評(píng)定參數(shù)及數(shù)值對(duì)評(píng)定參數(shù)的基本要求：171、輪廓算術(shù)平均偏差Ra 在取樣長(zhǎng)度L內(nèi)，輪廓偏轉(zhuǎn)距絕對(duì)值的算術(shù)平均值。1、輪廓算術(shù)平均偏差Ra182.微觀不平度十點(diǎn)高度Rz(新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中已取消） 在取樣長(zhǎng)度內(nèi)五個(gè)最大的輪廓峰高的平均值與五個(gè)最大的輪廓谷深的平均值之和。 在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，也可從平行于輪廓中線m的任意一個(gè)線算起，計(jì)算被測(cè)輪廓的五個(gè)最高點(diǎn)（峰）到五個(gè)最低點(diǎn)（谷）間的平均距離：2.微觀不平度十點(diǎn)高度Rz(新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中已取消） 在取19表面粗糙度的測(cè)量-課件203、輪廓最大高度Ry（新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中用Rz

） 在取樣長(zhǎng)度內(nèi)，輪廓峰頂線和輪廓谷底線之間的距離。lrcXs1XsjXsnRy3、輪廓最大高度Ry（新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)中用Rz）lrcXs121Ra、Rz哪個(gè)能充分反映粗糙度的特性??

Rz

用于控制不允許出現(xiàn)較深加工痕跡的表面，此外，當(dāng)被測(cè)表面段很短(不足一個(gè)取樣長(zhǎng)度)，不適宜采用Ra評(píng)定時(shí)，也常采用Rz參數(shù)。當(dāng)粗糙度值在0.025～6.3時(shí)，輪廓好測(cè)量，標(biāo)Ra

（一般用電動(dòng)輪廓儀進(jìn)行測(cè)量）；Ra、Rz哪個(gè)能充分反映粗糙度的特性??Rz用于控制不22表面粗糙度的測(cè)量-課件234、輪廓微觀不平度的平均間距Sm 含有一個(gè)輪廓峰和相鄰輪廓谷的一段中線長(zhǎng)度Sm，稱為輪廓微觀不平度間距。

5、輪廓單峰平均間距S 兩相鄰輪廓單峰的最高點(diǎn)在中線上的投影長(zhǎng)度S，稱為輪廓單峰的間距。4、輪廓微觀不平度的平均間距Sm246.輪廓支承長(zhǎng)度率tp（反映耐磨性） 一根平行于中線且與輪廓峰頂線相距為C的線與輪廓峰相截所得到的各段截線bi之和，稱為輪廓支承長(zhǎng)度p

輪廓支承長(zhǎng)度與取樣長(zhǎng)度之比，就是輪廓支承長(zhǎng)度率。6.輪廓支承長(zhǎng)度率tp（反映耐磨性）25三、一般規(guī)定1.為保證零件的表面質(zhì)量，可按功能需要規(guī)定表面粗糙度。2.在規(guī)定表面粗糙度要求時(shí)，必須給出粗糙度參數(shù)值和測(cè)定時(shí)的取樣長(zhǎng)度值兩項(xiàng)基本要求，也可規(guī)定表面紋理、不同區(qū)域的粗糙度等附加要求。3.評(píng)定過(guò)程中，不應(yīng)把表面缺陷（如溝槽、氣孔、劃傷等）包含進(jìn)去，必要時(shí)，應(yīng)單獨(dú)規(guī)定表面缺陷要求。三、一般規(guī)定1.為保證零件的表面質(zhì)量，可按功能需要規(guī)定表面粗26§4.3表面粗糙度的測(cè)量方法§4.3表面粗糙度的測(cè)量方法27一、表面粗糙度的測(cè)量方法分類定性評(píng)定：待測(cè)表面和已知表面光潔度級(jí)別的標(biāo)準(zhǔn)樣板相比較，通過(guò)目估或借助顯微鏡以判別其級(jí)別。定量評(píng)定：通過(guò)一定的測(cè)量方法和相應(yīng)的儀器，測(cè)出待測(cè)表面的不平度數(shù)值。一、表面粗糙度的測(cè)量方法分類定性評(píng)定：待測(cè)表面和已知表面光潔281、與表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣板比較

表面粗糙度樣板：按各種加工方法做成的不同幾何形狀的一套標(biāo)準(zhǔn)表面樣板，用來(lái)與被測(cè)的表面相比較。1、與表面粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣板比較29測(cè)量方法：目測(cè)法－▽6以下表面（即Ra值大于2.5m）；用5～10倍放大鏡比較－▽6～▽8的表面；用比較顯微鏡－▽8以上的表面；也可用手摸靠感覺(jué)來(lái)判斷被加工表面的粗糙度。注意點(diǎn)：樣板與被測(cè)件的加工方法、材料、形狀都相同。適用范圍：工廠比較常用，尤其是車間檢驗(yàn)中常用。一般只用于粗糙度評(píng)定參數(shù)值較大的情況下，其判斷的準(zhǔn)確性很大程度上取決于檢驗(yàn)人員的經(jīng)驗(yàn)，當(dāng)有爭(zhēng)議時(shí)可用儀器進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量方法：目測(cè)法－▽6以下表面（即Ra值大于2.5m）；用302、在選定截面上直接測(cè)量表面微觀不平度數(shù)值的方法普遍采用、定量測(cè)量、嚴(yán)格按照定義測(cè)。常用的有光切法、干涉法、觸針?lè)ǖ取?、印模法測(cè)量表面粗糙度對(duì)大型零件或內(nèi)表面等不易直接測(cè)量的情況。印模表面的峰谷值總要比被測(cè)表面的峰谷值小，對(duì)結(jié)果需加以修正。修正系數(shù)值與所用材料等有關(guān)，應(yīng)由實(shí)驗(yàn)確定。2、在選定截面上直接測(cè)量表面微觀不平度數(shù)值的方法314、間接測(cè)量方法氣動(dòng)法：利用流經(jīng)測(cè)量頭與被測(cè)表面間氣流量的大小或其所引起的壓力變化來(lái)評(píng)定表面粗糙度。電容法：利用測(cè)量頭與被測(cè)表面間形成的電容量大小來(lái)評(píng)定表面粗糙度。不能直接測(cè)出表面參數(shù)，而需進(jìn)行比對(duì)定標(biāo)，且要配備和被測(cè)表面幾何形狀相適應(yīng)的測(cè)量頭。其他方法：激光散射法、激光散斑法、激光全息法等。4、間接測(cè)量方法32二、光切法測(cè)量表面粗糙度1、光切法原理 用一狹窄的扁平光以一定傾斜角照射到被測(cè)面，發(fā)生反射，將表面微觀不平度用顯微鏡放大成像進(jìn)行觀測(cè)。二、光切法測(cè)量表面粗糙度1、光切法原理33表面粗糙度的測(cè)量-課件342、測(cè)量?jī)x器原理及定度（1）原理(a)測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；(b)目鏡視場(chǎng)的影像；(c)測(cè)量原理簡(jiǎn)圖1—光源；2—聚光鏡；3—狹縫；4、5—物鏡；6—分劃板；7—目鏡；8—被測(cè)表面2、測(cè)量?jī)x器原理及定度(a)測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖；(b)目鏡視場(chǎng)35由于物鏡分辨率及景深的限制，光切法測(cè)量范圍一般為：Rz=(80～0.8)

m(舊國(guó)際▽3～▽9)。由于物鏡分辨率及景深的限制，光切法測(cè)量范圍一般為：36雙管顯微鏡1－底座；2－立柱；3－橫梁；4－手輪；5－固定螺絲；6－微調(diào)手輪；7－殼體8－鎖緊手柄；9－工作臺(tái)；10－物鏡組；11－測(cè)微目鏡；12－燕尾導(dǎo)軌；13－千分尺雙管顯微鏡1－底座；2－立柱；3－橫梁；4－手輪；5－固定螺37雙管顯微鏡視場(chǎng)圖雙管顯微鏡視場(chǎng)圖38表面粗糙度的測(cè)量-課件39（2）定度：在光切顯微鏡上，把確定測(cè)微目鏡的鼓輪上每小格所對(duì)應(yīng)的被測(cè)峰谷高度值的過(guò)程叫作“定度”。定度首先是求物鏡的放大倍率。求物鏡的放大倍率的方法是用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)刻線尺（通常為專用附件，刻度間隔為0.01mm，共101條刻線）來(lái)測(cè)定各個(gè)物鏡的實(shí)際放大倍率。物鏡放大率為：令C=5/V，則：h=Cn式中，n為測(cè)量峰谷高度時(shí)兩次讀數(shù)的差值（格數(shù)）。顯然，上式使用簡(jiǎn)便。C值的物理意義就是測(cè)微鼓輪一小格所對(duì)應(yīng)的峰谷方向的高度值。（2）定度：令C=5/V，則：h=Cn403、測(cè)量方法 測(cè)量前，選擇相應(yīng)的物鏡并已知定度值C。然后調(diào)節(jié)顯微鏡使視場(chǎng)呈現(xiàn)清晰的狹縫及表面像，且至狹縫像的一個(gè)邊緣最清晰為止。（1）測(cè)量Rz值： 其測(cè)量方法應(yīng)符合定義。Rz值可按下式計(jì)算：（2）測(cè)量Ry值：3、測(cè)量方法41（3）測(cè)量單峰平均間距S值（4）測(cè)量平均間距Sm（5）用光切法測(cè)量Ra值 因測(cè)量與計(jì)算都很麻煩，故很少應(yīng)用（3）測(cè)量單峰平均間距S值424、儀器的測(cè)量誤差和示值相對(duì)誤差的檢定（1）測(cè)量誤差的主要因素有：瞄準(zhǔn)誤差、測(cè)微目鏡制造誤差、估讀誤差、定度用標(biāo)準(zhǔn)尺誤差、被測(cè)工件定位誤差、儀器使用調(diào)整誤差等。（2）儀器示值誤差的檢定：根據(jù)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程，僅檢定其示值相對(duì)誤差是否在要求的范圍內(nèi)，測(cè)量范圍（即物鏡）不同，要求不同。（3）儀器示值相對(duì)誤差的檢定是用受檢定的光切顯微鏡去實(shí)測(cè)已知其刻線深度的單刻線樣板（也可用階梯量塊代替），則該儀器示值的相對(duì)誤差為：4、儀器的測(cè)量誤差和示值相對(duì)誤差的檢定43三、干涉顯微鏡測(cè)量表面粗糙度干涉顯微鏡測(cè)量原理： 聯(lián)合運(yùn)用干涉原理和顯微放大原理。對(duì)測(cè)量面垂直高度方向的微觀不平度通過(guò)光波干涉法進(jìn)行放大測(cè)量，對(duì)表面粗糙度的水平參數(shù)通過(guò)顯微放大系統(tǒng)測(cè)量。干涉顯微鏡測(cè)量范圍：Rz=0.8um-0.025um。三、干涉顯微鏡測(cè)量表面粗糙度干涉顯微鏡測(cè)量原理：44表面粗糙度的測(cè)量-課件45e.g.在檢測(cè)某工件表面平整度時(shí),在工件上放一標(biāo)準(zhǔn)平面玻璃,使其間形成一空氣劈尖，并觀察到彎曲的干涉條紋，如圖所示。求紋路深度H。解若工件表面是平的,等厚條紋應(yīng)為平行于棱邊的直線條紋。由于一條條紋對(duì)應(yīng)一個(gè)厚度，由圖的紋路彎曲情況可知，工件表面的紋路是凹下去的。

Hla

工件標(biāo)準(zhǔn)平面

由圖：H=asin

因：lsin=/2,所以紋路深度e.g.在檢測(cè)某工件表面平整度時(shí),在工件上放一標(biāo)準(zhǔn)平面玻璃46表面粗糙度的測(cè)量-課件47表面粗糙度的測(cè)量-課件48四、觸針?lè)y(cè)量表面粗糙度1、觸針?lè)ǖ臏y(cè)量原理觸針?lè)ㄓ址Q針描法，它是一種接觸式測(cè)量方法，是利用儀器的測(cè)針與被測(cè)表面相接觸，并使測(cè)針沿表面輕輕劃過(guò)以測(cè)量表面粗糙度的一種測(cè)量法。它是將一個(gè)很尖的觸針（半徑可以做到微米量級(jí)的金剛石針尖）垂直安置在被測(cè)表面上作橫向移動(dòng)，由于工作表面粗糙不平，因而觸針將隨著被測(cè)表面輪廓形狀作垂直起伏運(yùn)動(dòng)。將這種微小位移通過(guò)電路轉(zhuǎn)換成電信號(hào)并加以放大和運(yùn)算處理，即可得到工作表面粗糙度參數(shù)值；也可通過(guò)記錄器描繪出表面輪廓圖形，再進(jìn)行數(shù)據(jù)處理，進(jìn)而得出表面粗糙度參數(shù)值。這類儀器垂直方向的分辨率最高可達(dá)到幾納米。適宜測(cè)量值為5－0.02

m范圍內(nèi)的表面粗糙度。四、觸針?lè)y(cè)量表面粗糙度1、觸針?lè)ǖ臏y(cè)量原理49表面粗糙度的測(cè)量-課件50表面粗糙度的測(cè)量-課件51電感輪廓儀電感輪廓儀523、激光干涉式輪廓儀激光干涉式輪廓儀中，干涉系統(tǒng)的測(cè)量鏡與觸針?lè)謩e位于杠桿的兩端，其位移量之間為確定的比例關(guān)系，因此由測(cè)得的測(cè)量鏡的位移量可算得觸針的位移量。與電感式輪廓儀相比，激光式輪廓儀具有寬量程和高分辨的特點(diǎn)。4、壓電式輪廓儀壓電式輪廓儀具有壓電特性的晶體作為傳感器的換能元件。硅脂是一種粘滯性很強(qiáng)的液體，當(dāng)觸針隨工件表面快速上下運(yùn)動(dòng)時(shí)，液體摩擦很大，可認(rèn)為觸針桿被夾緊在槽片中，壓電晶片因觸針的位移而產(chǎn)生變形，并在晶片表面產(chǎn)生與變形成比例的電荷。壓電式輪廓儀結(jié)構(gòu)緊湊，便于攜帶。3、激光干涉式輪廓儀53表面粗糙度的測(cè)量-課件54表面粗糙度的測(cè)量-課件55表面粗糙度的測(cè)量-課件56表面粗糙度的測(cè)量-課件57表面粗糙度的測(cè)量-課件58便攜式表面粗糙度儀便攜式表面粗糙度儀59表面粗糙度的測(cè)量-課件60影響因素：觸針形狀&測(cè)量力影響因素：觸針形狀&測(cè)量力61非接觸測(cè)量方法

①光學(xué)探針?lè)á谂R界角法③外差干涉法非接觸測(cè)量方法

①光學(xué)探針?lè)?2表面粗糙度的測(cè)量-課件63表面粗糙度的測(cè)量-課件64 測(cè)量時(shí)，壓電驅(qū)動(dòng)器線性移動(dòng)參考表面，從而導(dǎo)致兩個(gè)光束相位發(fā)生移動(dòng)。系統(tǒng)記錄不同相位下條紋強(qiáng)度，并綜合光強(qiáng)數(shù)據(jù)，作出隨相位變化的光強(qiáng)變化波形。表面高度由以下公式得出：H(x,y)=λ*Ф(x,y)/(4*Π) λ為光源波長(zhǎng)，Ф(x,y)是相位。 當(dāng)條紋圖案足夠時(shí)，這項(xiàng)技術(shù)是可靠的。但如果相鄰測(cè)點(diǎn)高度超過(guò)λ/4，半波長(zhǎng)的倍數(shù)會(huì)被忽略。 測(cè)量時(shí)，壓電驅(qū)動(dòng)器線性移動(dòng)參考表面，從而導(dǎo)致兩個(gè)光束相位65表面粗糙度的測(cè)量-課件66表面粗糙度的測(cè)量-課件67表面粗糙度的測(cè)量-課件68表面粗糙度的測(cè)量-課件693DSurfaceTextureParameters

PartI–Glossary&Definition補(bǔ)充材料：3DSurfaceTextureParameters

70MainParameters–“Birmingham14”AmplitudeParameters(4)RMSdeviation:SqTenpointheight:Sz Skewness:SskKurtosis:SkuSpatialParameters(4) Densityofsummits:SdsTextureaspectratio:StrFastestdecayautocorrelationlength:SalTexturedirection:StdHybridParameters(3)RMSslope:SdqMeansummitcurvature:SscDevelopedinterfacialarearatio:SdrFunctionalParameters(3) Surfacebearingindex:Sbi Corefluidretentionindex:Sci Valleyfluidretentionindex:SviMainParameters–“Birmingham71AmplitudeParametersSq:Insensitiveindifferentiatingpeaks,valleysandspacingofvarioustexturefeaturesAmplitudeParametersSq:Insens72AmplitudeParametersSsk:Preponderanceofpeaks(Ssk>0)Preponderanceofvalleys(Ssk<0)Sku:highpeaks/deepvalleys(Sku>3.00)orelse(Sku<3.00)AmplitudeParametersSsk:Prep73SpatialParametersSds:Applicationsinbearings,seals,electroniccontacts……SpatialParametersSds:Applic74SpatialParametersSpatialParameters75HybridParametersApplicationsin:roughcontact(elastic,plastic)….HybridParametersApplications76HybridParametersApplicationsin:surfacecoating,adhesion,lubrication……HybridParametersApplications77FunctionalParametersApplicationsin:tribology,lubrication,wear……FunctionalParametersApplicati78ReferencesSPIP:ImageMetrologyCom.Helpfiles

(ISO4287,DIN4768,ASMEB46.1)CentreforUltraPrecisionTechnologies

UniversityofHuddersfield(Web)MichiganMetrology,LLC(Document)ReferencesSPIP:ImageMetrology793DSurfaceTextureParameters

PartII–ProgrammingResults3DSurfaceTextureParameters

80表面粗糙度的測(cè)量-課件81表面粗糙度的測(cè)量-課件82表面粗糙度的測(cè)量-課件83表面粗糙度的測(cè)量-課件84表面粗糙度的測(cè)量-課件85表面粗糙度的測(cè)量-課件86表面粗糙度的測(cè)量-課件87表面粗糙度的測(cè)量-課件88ParametersBySPIPMycalculationAgreementSq0.102nm0.102nm100%Sz0.605nm0.605nm100%Ssk0.6210.621100%Sku2.772.77100%Sal---0.804nm---Sds21.41/nm221.61/nm2100.9%Str0.120.1192%Std143degree144degree100.7%Sdq1.251/nm1.261/nm101%Ssc0.7271/nm37.151/nm??Sdr65.0%65.0%100%Sbi0.3890.38