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sm產(chǎn)線上aoi技術(shù)的應(yīng)用
aui(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng))用于從cc相機(jī)中收集圖像。圖像由圖像組成。該系統(tǒng)可以分析實(shí)際圖像的顏色和灰色,并將其與標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較。如果評(píng)估是正確的或錯(cuò)誤的,可以進(jìn)行外觀試驗(yàn)。AOI具有檢測(cè)效率高、檢測(cè)穩(wěn)定而可靠、編程便捷等特點(diǎn),并且它還能夠提供檢測(cè)數(shù)據(jù)分析和實(shí)時(shí)工藝信息反饋,可以用于SMT生產(chǎn)的在線檢測(cè),運(yùn)用其高速高精度視覺處理技術(shù),自動(dòng)檢測(cè)PCB板上各種不同貼裝錯(cuò)誤及焊接缺陷,從而提高SMT產(chǎn)線的產(chǎn)品質(zhì)量和生產(chǎn)效率。1ict檢測(cè)結(jié)果首先,應(yīng)用AOI設(shè)備的意義在于克服人工目檢的局限性。如果在SMT生產(chǎn)線上主要依靠人工目檢進(jìn)行檢測(cè),由于人工檢驗(yàn)的主觀性,其檢驗(yàn)結(jié)果并不十分令人信服,而且對(duì)于高密度復(fù)雜的表面貼裝電路板,人工目檢即不可靠也不經(jīng)濟(jì),而對(duì)微小的組件,如0603、0402等,人工目檢實(shí)際上已失去了意義。其次,應(yīng)用AOI設(shè)備的可以克服ICT測(cè)試的盲點(diǎn),是對(duì)ICT檢測(cè)的很好補(bǔ)充。ICT(INCIRCUITTEST)在線測(cè)試是用電學(xué)的原理對(duì)PCB及PCBA的線路及電子組件的特性進(jìn)行檢查。檢查項(xiàng)目有:開路,短路,電子組件的特性不良,IC的保護(hù)二極管不良,組件空焊,浮高等;但I(xiàn)CT測(cè)試存在明顯的盲點(diǎn)是PCBA的外觀不良(但不影響功能),如:組件的破損、組件的偏位、電器特性相通的短路、大電容串聯(lián)笑電容、大電阻并聯(lián)小電阻等。而AOI是用光學(xué)的原理對(duì)PCB及PCBA上的電子組件進(jìn)行外觀檢查,與ICT測(cè)試的側(cè)重點(diǎn)與盲點(diǎn)是不同的,二者合并對(duì)PCBA進(jìn)行測(cè)試,可以形成互補(bǔ),這樣將大大保證產(chǎn)品的質(zhì)量。2aoi在smt產(chǎn)線上的應(yīng)用現(xiàn)在應(yīng)用AOI的主要指導(dǎo)思想是進(jìn)行缺陷發(fā)現(xiàn),應(yīng)用的側(cè)重點(diǎn)幾乎都是產(chǎn)品的質(zhì)量檢驗(yàn)和品質(zhì)鑒定方面。這是因?yàn)槿藗儗?duì)于產(chǎn)品制造質(zhì)量最感興趣的是在產(chǎn)品離線后的質(zhì)量狀況,即最終品質(zhì),所以檢測(cè)產(chǎn)品質(zhì)量這個(gè)目的是很重要的,也是AOI現(xiàn)在普遍應(yīng)用的方面。鑒于上述AOI的應(yīng)用指導(dǎo)思想、使用目的以及成本的原因,現(xiàn)在SMT產(chǎn)線上,AOI的應(yīng)用方案幾乎全是1臺(tái)AOI置于回流焊爐之后、ICT之前,特別是中小企業(yè)更是采用這種應(yīng)用方案。AOI放在這個(gè)位置,主要用來檢測(cè)貼片機(jī)在貼完零件后,經(jīng)過回焊爐后出現(xiàn)的不良以及測(cè)試元件與焊盤的焊接效果。對(duì)于一些常見的不良,如:少件、偏位、立碑、錯(cuò)件、反白、多件、反向、側(cè)立、短路、少錫、空焊等,都可以做到很好地檢測(cè)。采用這種方案最大的好處是所有工藝環(huán)節(jié)中的不良都能夠在這一階段檢出,因此不會(huì)有缺陷流到最終客戶手中。3監(jiān)視產(chǎn)品生產(chǎn)結(jié)果,監(jiān)視產(chǎn)品生產(chǎn)過程,是aoi工作重點(diǎn)筆者認(rèn)為應(yīng)該調(diào)整AOI應(yīng)用的指導(dǎo)思想和應(yīng)用方案,從主要用于缺陷發(fā)現(xiàn),改變成主要用于缺陷防止,應(yīng)用的側(cè)重點(diǎn)也應(yīng)改為工藝跟蹤和過程控制方面?;谶@種指導(dǎo)思想,AOI的工作重點(diǎn)就從主要用來檢測(cè)產(chǎn)品生產(chǎn)結(jié)果,改為監(jiān)視產(chǎn)品的生產(chǎn)過程,典型的監(jiān)測(cè)內(nèi)容包括詳細(xì)的缺陷分類和元件貼放偏移信息等等,通過AOI的監(jiān)視器可以觀察產(chǎn)品工藝,監(jiān)視工作細(xì)節(jié),雖然工藝控制信息一般比產(chǎn)品質(zhì)量信息少,但它可以直接收集特殊工藝問題,比起其它應(yīng)用目的信息,工藝控制信息對(duì)提高質(zhì)量更重要。在SMT產(chǎn)線上,AOI應(yīng)用于不同的位置可以產(chǎn)生相應(yīng)不同的工藝控制信息和質(zhì)量信息,于是就有了多種應(yīng)用策略。3.11印刷錫膏印刷不良的量3所測(cè)資料這種方案,AOI主要用來測(cè)試錫膏印刷的效果,可以發(fā)現(xiàn)印刷過程的不良,從而將因?yàn)殄a膏印刷不良產(chǎn)生的焊接缺陷降低到最低。在這個(gè)階段可生成一些定量程控信息資料,如印刷偏移和焊錫量信息,而有關(guān)印刷焊錫的定性信息也會(huì)產(chǎn)生,供生產(chǎn)工藝人員分析使用。測(cè)試項(xiàng)目主要有:無錫、少錫、多錫、短路、錫膏印刷偏位等錫膏印刷不良,這些主要是通過檢測(cè)錫膏的X-Y尺寸、錫膏體積(X-Y-Z)來計(jì)算的。由于SMT絕大部分不良來自于印刷,所以控制改善印刷工藝環(huán)節(jié)的缺陷,有著很重要的意義,特別是對(duì)于那些批量大、設(shè)計(jì)相對(duì)簡(jiǎn)單的產(chǎn)品加工,把AOI放置于印刷機(jī)之后,會(huì)起到事半功倍的效果。3.21貼片機(jī)參數(shù)設(shè)置這種方案AOI主要用來測(cè)試貼片機(jī)的貼片效果,這是一個(gè)典型的檢查位置,因?yàn)檫@里可發(fā)現(xiàn)來自錫膏印刷以及機(jī)器貼放的大多數(shù)缺陷,主要有:少件、偏位、立碑、錯(cuò)件、反白、多件、反向、側(cè)立等。特別是對(duì)應(yīng)窄間距、密腳、BGA或其它大元件來說,這是一個(gè)好檢測(cè)位置,因?yàn)榇蠖鄶?shù)缺陷與密腳元件有關(guān)。在這位置可以產(chǎn)生定量程控信息,提供貼裝設(shè)備校準(zhǔn)的信息,該信息可用來修改組件貼放或表明貼片機(jī)需要校準(zhǔn)。這種方案的優(yōu)點(diǎn)是,在這個(gè)環(huán)節(jié)上發(fā)現(xiàn)不良時(shí),修復(fù)成本費(fèi)用很低,如果能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)不良,就能及時(shí)改正修復(fù)。這種方案比較適合那種只有少數(shù)窄間距密腳元件的產(chǎn)品生產(chǎn)。3.32生產(chǎn)成本增加這種方案,既檢測(cè)了產(chǎn)品的最終焊接效果,不至于使不良流到用戶手中,又能兼顧檢測(cè)監(jiān)控印刷和貼片的工藝狀況,對(duì)于中型電子制造企業(yè)來說,不失為一種不錯(cuò)的AOI配置策略,但顯然生產(chǎn)成本增加了。3.43工藝的智能分析和監(jiān)控理論上這是最理想的方案,AOI系統(tǒng)放在每一個(gè)工藝步驟之后:錫膏印刷、高速貼片、BGA和密腳貼裝和回流焊接,各個(gè)AOI把各自檢測(cè)監(jiān)控的有關(guān)數(shù)據(jù)(錫膏印刷缺陷數(shù)據(jù)、貼片缺陷數(shù)據(jù)、焊接缺陷數(shù)據(jù)),通過總線傳輸?shù)接?jì)算機(jī)數(shù)據(jù)庫(kù),進(jìn)行智能分析,然后反過來去控制各個(gè)工藝環(huán)節(jié),從而使產(chǎn)品的品質(zhì)得到有效保障,但這種方案將大大地提高生產(chǎn)成本。4在爐后總檢查aoiroi、t、p-t-u任何事物都不可能是十全十美,AOI技術(shù)不管是在缺陷發(fā)現(xiàn)方面還是缺陷防止方面也都存在其不足之處,它也有難檢測(cè)和不可檢測(cè)的元器件,如:AOI系統(tǒng)不能檢測(cè)電路錯(cuò)誤、對(duì)不可見焊點(diǎn)(BGA、CSP、FlipChip等不可見的焊點(diǎn))的檢測(cè)也無能為力等等。由于AOI存在著這種應(yīng)用上的局限性,就要求我們AOI技術(shù)人員,一方面應(yīng)該針?biāo)a(chǎn)的每種產(chǎn)品,制作相應(yīng)的AOI盲點(diǎn)圖,這樣AOI檢查人員和爐后總檢就可以根據(jù)AOI盲點(diǎn)圖來重點(diǎn)查看AOI難檢測(cè)和不可檢測(cè)的元件。另一方面,利用ICT、X射線測(cè)試等其它技術(shù)作為補(bǔ)充,通過與其它技術(shù)一起使用來達(dá)到最佳的測(cè)試效果??傊?AOI測(cè)試技術(shù)在我國(guó)的應(yīng)用仍屬于起步發(fā)展階段,雖然還存在著
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