DB63∕T 1781-2020 電站現(xiàn)場晶體硅太陽能電池組件隱性缺陷檢測(cè)技術(shù)規(guī)范

27.160F23備案號(hào)：71030-2020

DB63 DB

63/T

1781—2020電站現(xiàn)場晶體硅太陽能電池組件隱性缺陷檢測(cè)技術(shù)規(guī)范 青海省市場監(jiān)督管理局 發(fā)

布DB63/T

1781—2020 前言

................................................................................

II1

范圍

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12

規(guī)范性引用文件

....................................................................

13

術(shù)語和定義

........................................................................

14

檢測(cè)方法

..........................................................................

25

檢測(cè)類型與設(shè)備

....................................................................

26

檢測(cè)抽樣

..........................................................................

37

檢測(cè)內(nèi)容

..........................................................................

38

檢測(cè)流程

..........................................................................

39

缺陷識(shí)別

..........................................................................

310

檢測(cè)報(bào)告

.........................................................................

3附錄

檢測(cè)報(bào)告模板....................................................

5DB63/T

1781—2020 本標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)GB/T

1.1-2009給出的規(guī)則編寫。本標(biāo)準(zhǔn)由青海天創(chuàng)新能源科技有限公司提出。本標(biāo)準(zhǔn)由青海省市場監(jiān)督管理局歸口。本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：青海天創(chuàng)新能源科技有限公司、青海省產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)所。曉梅、袁嬌、楊西、李鴻鵬、孫雯娟、王霖。本標(biāo)準(zhǔn)由青海省市場監(jiān)督管理局監(jiān)督實(shí)施。IIDB63/T

1781—20201 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電站現(xiàn)場晶體硅太陽能電池組件隱性缺陷的檢測(cè)方法、檢測(cè)類型與設(shè)備、檢測(cè)抽樣、檢測(cè)內(nèi)容、檢測(cè)流程、缺陷識(shí)別和檢測(cè)報(bào)告等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于海拔1500米以上光伏電站現(xiàn)場晶體硅太陽能電池組件隱形缺陷的檢測(cè)。2 規(guī)范性引用文件件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T

計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序

第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣計(jì)劃IEC

光伏器件

第13部分:光伏組件電致發(fā)光（Photovoltaic

devices

-

Part

Electroluminescence

of

photovoltaic

modules）3 術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1電致發(fā)光又可稱場致發(fā)光，簡稱EL（Electro

Luminescent），是通過加在兩電極的電壓產(chǎn)生電場，被電場激發(fā)的電子碰擊發(fā)光中心，而引致電子在能級(jí)間的躍遷、變化、復(fù)合導(dǎo)致發(fā)光的一種物理現(xiàn)象。3.2太陽能電池組件電致發(fā)光檢測(cè)儀利用太陽能電池的電致發(fā)光原理來檢測(cè)組件是否存在缺陷的設(shè)備，簡稱EL檢測(cè)設(shè)備或EL檢測(cè)儀。3.3太陽能電池組件隱性缺陷斷裂、黑片、隱裂片、明暗片等。3.4雜散光指的是太陽能電池組件在進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí)，除電致發(fā)光之外影響成像結(jié)果的外界光。DB63/T

1781—20203.5電勢(shì)誘導(dǎo)衰減Induced

4 檢測(cè)方法對(duì)光伏電站晶體硅太陽能電池組件隱性缺陷的現(xiàn)場檢測(cè)，主要有以下三種方法：a)

直接在光伏陣列上檢測(cè)：1)

拔開被測(cè)組件所在組串的連接插頭；2)

將暗室放置在組件表面（如需要）；3)

接通組串供電電源；4)

連接電腦控制線；5)

打開電腦操作軟件，依據(jù)電池片的規(guī)格設(shè)置參數(shù)；6)

拍攝并保存組件

EL

照片；7)

如沒有其他組件測(cè)試，取下暗室（如需要），斷開電源并恢復(fù)連接插頭。b)

從光伏陣列上拆卸太陽能電池組件，并在現(xiàn)場搭建的暗室環(huán)境中檢測(cè)：1)

在電站現(xiàn)場找一塊平整的地面，搭建暗室；2)

將相機(jī)固定在暗室中；3)

拆卸組件；4)

將組件固定在暗室中；5)

連接組件供電線、連接電腦控制線；6)

打開電腦操作軟件，依據(jù)電池片的規(guī)格設(shè)置電流值；7)

打開直流電源；8)

拍攝并保存組件

EL

照片；9)

取出組件并裝回支架；10)

如沒有其他組件測(cè)試，拆除相機(jī)和暗室。c)

從光伏陣列上拆卸太陽能電池組件，并運(yùn)回實(shí)驗(yàn)室暗室環(huán)境中檢測(cè)：1)

前往光伏電站現(xiàn)場，拆卸所測(cè)組件；2)

運(yùn)回實(shí)驗(yàn)室；3)

在實(shí)驗(yàn)室暗室環(huán)境中測(cè)試；4)

運(yùn)回電站現(xiàn)場，并安裝回支架。5 檢測(cè)類型與設(shè)備5.1 檢測(cè)類型根據(jù)其不同的環(huán)境和操作方式，有以下5種類型：a)

白天在光伏陣列上搭建暗室的檢測(cè)；b)

白天直接用相機(jī)拍攝的檢測(cè)；c)

夜間直接用相機(jī)拍攝的檢測(cè)；DB63/T

1781—2020d)

現(xiàn)場搭建暗室，將組件拆卸下來的現(xiàn)場檢測(cè)；e)

拆卸組件運(yùn)回實(shí)驗(yàn)室的檢測(cè)。5.2 檢測(cè)設(shè)備a)

相機(jī)。具有紅外成像功能，能捕捉到足夠的視場角，成像空間分辨率應(yīng)大于每像素

500

um；b)

暗室或暗環(huán)境。能使電池測(cè)試面上雜散光在

nm～1200

nm

范圍內(nèi)的總強(qiáng)度應(yīng)小于每平方米1mW；c)

電源。應(yīng)采用直流恒流源；d)

計(jì)算機(jī)；e)

圖像處理軟件。能夠處理相機(jī)拍攝圖像的專用軟件；f)

圖像顯示系統(tǒng)?；竟δ馨@示、放大、裁剪、旋轉(zhuǎn)、水平范圍調(diào)整等。6 檢測(cè)抽樣依據(jù)GB/T

2828.1的規(guī)定和相關(guān)要求確定。7 檢測(cè)內(nèi)容EL檢測(cè)設(shè)備能夠檢測(cè)的內(nèi)容有：a)

單塊太陽能電池組件的多種隱形缺陷；b)

太陽能組件的

效應(yīng)。8 檢測(cè)流程應(yīng)包括以下檢測(cè)流程：a)

檢查測(cè)試暗室是否黑暗（如需要）；b)

根據(jù)測(cè)試樣品信息設(shè)置測(cè)試參數(shù)；c)

調(diào)節(jié)電源使其提供的電流等于組件額定短路電流；d)

打開暗室并將測(cè)試樣品放入測(cè)試區(qū)域（如需要），確保測(cè)試樣品的測(cè)試表面垂直于相機(jī)鏡頭；e)

確保測(cè)試樣品的圖像可以在測(cè)試區(qū)域中捕獲；f)

將測(cè)試樣品的正極連接到直流恒流源的正極，負(fù)極連接到直流恒流源的負(fù)極；g)

輸入測(cè)試樣品序列號(hào)代碼，關(guān)閉暗室（如需要），并開始拍攝圖像；h)

拍攝清晰的圖像并保存；i)

從暗室中取出測(cè)試樣品（如需要）；j)

恢復(fù)組件安裝及電纜。9 缺陷識(shí)別缺陷識(shí)別參照IEC

10 檢測(cè)報(bào)告DB63/T

1781—2020檢測(cè)報(bào)告（參見附錄A）應(yīng)包括但不限于以下信息：a)

標(biāo)題；b)

測(cè)試組織、機(jī)構(gòu)的名稱和地址，以及測(cè)試地點(diǎn)；c)

每頁的認(rèn)證標(biāo)識(shí)或報(bào)告編號(hào)；d)

客戶的姓名和地址；e)

測(cè)試項(xiàng)目的說明、性能、條件和標(biāo)識(shí)；f)

測(cè)試項(xiàng)目收到日期和測(cè)試日期、時(shí)間；g)

測(cè)量設(shè)備信息，包括名稱，相機(jī)、暗室、電源等；h)

參考標(biāo)準(zhǔn)；i)

確定組件類型；j)

相關(guān)的任何其他信息，例如環(huán)境條件等；k)

安裝在一個(gè)陣列中可適當(dāng)作為表明組件定位，為引用特別的電池在可移動(dòng)組件中的策略；l)

壓；m)

測(cè)試結(jié)果，包括缺陷類型、數(shù)量和圖像，在組件位置和缺陷類型上的任何故障；n)

關(guān)于測(cè)試結(jié)果的不確定聲明，包括信噪比信息等相關(guān)情況；o)

告編號(hào)；p)

在相關(guān)的情況下，聲明結(jié)果只與被測(cè)試項(xiàng)目相關(guān)的聲明；q)

未經(jīng)檢測(cè)機(jī)構(gòu)書面批準(zhǔn)，不得復(fù)制證書或報(bào)告的聲明；r)

制造商應(yīng)保留報(bào)告的副本，以備參考之用；s)

需要說明的其他項(xiàng)目，如包含測(cè)試的性能特征、任何失敗的測(cè)試或重新測(cè)試的細(xì)節(jié)。ADB63/T

1781—2020附 錄 A（資料性附錄）檢測(cè)報(bào)告模板檢測(cè)報(bào)告模板見表A.1表A.1 檢測(cè)報(bào)告模板DB63/T

1781—2020表

A.1

檢測(cè)報(bào)告模板（續(xù)）DB63/T

1781—2020表

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檢測(cè)報(bào)告模板（續(xù)）DB63/T

1781—2020表

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檢測(cè)報(bào)告模板（續(xù)）DB