LCM出貨檢驗標準

版本更改內(nèi)容生效日期A初版發(fā)行增加標準分級，修改/增加其它相關(guān)檢查項目2012-04-08編寫:_______________日期：_____________審批:_______________日期：______________文控中心審核日期：如此印章并非紅色，代表此文件并非合法之版本，并不會受到控制及更新，請使用受控制之文件文件控制印章此標準用于C-STN/TFT液晶顯示模塊抽樣計劃：按照抽樣方案MIL-STD-105DLevelⅡ劃分樣品可以接受或拒絕的等級如下（默認檢查等級為2A級）：3A級、2A級：重缺陷：采用AQL0.25輕缺陷：采用AQL0.4A級：重缺陷：采用AQL0.65 輕缺陷：采用AQL1.2.檢查條件：在20～40W日光燈的光照環(huán)境下，被檢查樣品放在離檢查者眼睛20~30cm的位置，檢查者在垂直方向45度區(qū)域內(nèi)觀察。4545degree3.LCD區(qū)域定義：CCBA區(qū)域A：符號或數(shù)字顯示區(qū)區(qū)域B：視區(qū)（除A區(qū)）（A區(qū)+B區(qū)=最小視區(qū)，相對于模塊確認圖中的VA區(qū)范圍）區(qū)域C：視區(qū)外圍（模塊確認圖的VA區(qū)外，客戶機殼設計應參考此范圍，裝機后看不到此區(qū)域）.注：在區(qū)域C中有看得見的缺陷，但不影響產(chǎn)品穩(wěn)定性及客戶產(chǎn)品組裝，允許出貨。4.檢查標準4.1重缺陷序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法4.1.所有功能缺陷1).不顯示、顯示異常、.2).斷筆、漏筆、短路3)背光不亮，或點亮不正常、閃爍4)TP不觸摸重缺陷目視測試夾具菲林卡卡尺4.1.2遺漏缺少任何元件4.1.尺寸超出模塊外觀尺寸超出圖紙上的規(guī)格值4.2外觀缺陷：序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法4.2.1清晰點暗、黑、白點缺陷針孔,異物,偏光片下污點TP污點點狀缺陷Φ的定義：yΦ=x點不良大小≥單個PIXEL的50%為一個暗點亮點不允許輕缺陷目視測試夾具菲林卡1．3A級區(qū)域尺寸（mm）最多允許數(shù)量ABCΦ≤0.1忽略不計忽略不計0.10＜Φ≤0.1510.15＜Φ≤0.201Φ＞0.200備注：最多容許2個，且兩點之間距離10mm以上。尺寸（mm）最多允許數(shù)量ABCΦ≤0.10忽略不計忽略不計0.10＜Φ≤0.1520.15＜Φ≤0.2010.20＞Φ0備注：缺陷中包括0.10＜Φ≤0.15的點，則最多容許2個點，不含，則最多容許1個點，且兩點距離10mm以上區(qū)域2、2A級區(qū)域輕缺陷目視測試夾具菲林卡尺寸（mm）最多允許數(shù)量ABCΦ≤0.15忽略不計忽略不計0.15＜Φ≤0.2020.20＜Φ≤0.2510.25＜Φ0區(qū)域3、A級區(qū)域最多容許3個點，且每個點之間的距離10mm以上。輕缺陷目視測試夾具菲林卡卡4.2.外觀缺陷序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法4.2.2線缺陷黑線,白線,TP劃傷點亮可見且邊緣模糊的線缺陷：（明顯黑、白線需要參考限度樣板。）3A級尺寸（mm）最多允許數(shù)量L（長度）W（寬度）區(qū)域ABC忽略不計W≤0.02忽略不計忽略不計L≤2.00.02＜W≤0.0310.03＜W當點缺陷處理輕缺陷目視測試夾具菲林卡2A級尺寸（mm）最多允許數(shù)量L（長度）W（寬度）區(qū)域ABC忽略不計W≤0.03忽略不計忽略不計L≤3.00.03＜W≤0.042L≤3.00.04＜W≤0.0510.05＜W當點缺陷處理最多容許2條，2條線間最小距離為20mm以上。輕缺陷目視測試夾具菲林卡A級輕缺陷目視測試夾具菲林卡尺寸(mm)最多允許數(shù)量L（長度）W(寬度)區(qū)域ABC忽略不計W≤0.03忽略不計忽略不計L≤4.00.03＜W≤0.051L≤3.00.05＜W≤0.0710.07＜W當點缺陷處理最多容許3條，每2條線間最小距離為10mm以上4.2.偏光片與TP間裝配異物1、3A級：點亮與非點亮狀態(tài)下區(qū)域A、B均不容許有可見的裝配異物2、2A/A級：按照點缺陷同線缺陷標準輕缺陷目視測試夾具菲林卡4.2.偏光片凹凸點不影響功能效果按點缺陷判定輕缺陷目視測試夾具菲林卡4.偏光片氣泡在可視區(qū)（AA）不可有，不可超過非可視的1/2，雜質(zhì)氣泡不可有。特殊產(chǎn)品除外。輕缺陷目視測試夾具菲林卡4.2.膠不良IC保護膠不高于偏光片，伸縮W≤1.5mm黃膠須涂滿，中間不可有斷膠輕缺陷目視，卡尺4.2.7.4偏光片位置1）偏光片張貼要附合圖紙要求，不允許超出玻璃邊緣。2）偏光片必須完全覆蓋視區(qū)，偏光片至少與環(huán)氧框相交（圖紙有特別要求的除外）輕缺陷目視4.2外觀缺陷序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法4.2.8玻璃缺陷(i)破碎在邊角（注:S=引線腳長度）破碎邊角破碎不允許延伸到ITO引線部分，不允許進入封口。XYZ≤2.0≤S不考慮輕缺陷目視卡尺(=2\*romanii)常見表面破損XYZ≤2.0<環(huán)氧框內(nèi)邊緣不考慮輕缺陷目視卡尺(=3\*romaniii)裂痕不允許有延伸趨勢的裂痕重缺陷目視4.2.LCD或TP邊緣突起1、外凸以工程圖尺寸為準2、內(nèi)凹依破損判定方法判定3、組裝效果不影響輕缺陷目視4.2.10屏翹LCD同背光組裝存在縫隙，一邊翹起，翹起高度H≤0.15，OKH>0.15,NG輕缺陷目視，塞規(guī)4.2.1對比度電壓偏差1、3A級：樣板的VOP/Vlcd電壓±0.1V控制2、2A級：樣板的VOP/Vlcd電壓±0.1V控制3、A級：樣板的VOP/Vlcd電壓±0.15V控制輕缺陷測試夾具萬用表4.2.1顏色模塊的顏色和亮度范圍參考各個型號的工程規(guī)格書輕缺陷目視測試夾具4.2.1交叉效應參考雙方共同制定的極限樣板輕缺陷目視測試夾具4.3元件缺陷序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法4.3背光亮度與顏色按規(guī)格書中的標準。重缺陷目視4.3對位IC和FPC與LCD的熱壓引線對位不允許超出引線線寬的3/1。焊接元件與焊盤的中心偏離不允許超出30%4.3導電性異物不允許PCB/FPC上絕緣部位存在焊錫小球重缺陷5、觸摸屏檢查標準5.1電子特性序號檢查項目判定標準缺陷程度判定方法5牛頓環(huán)/干涉線在黃色臺燈下迎光目視帶顏色的不允許，不帶顏色的在白熾燈下不可見可PASS輕缺陷迎光目視5.1.2觸摸屏鼓LCDLCDFilm膜鼓起在LCDLCDFilm輕缺陷目鏡或塞規(guī)5.1.3Film表面：魚眼、汽泡直徑規(guī)格備注Φ≤0.10不計1、兩個汽泡之間的距離≥10mm2、Φ=（X+Y）/20.10<Φ≤0.15允收1個0.15<Φ≤0.20允收0個Φ>0.20拒收輕缺陷目視目鏡菲林卡5.14回路電阻按樣品承認書確認規(guī)格標準5.1.線性（適用于模擬式T/P）（測量到邊距離：1.0～2.0mm）X軸：±1.5％；Y軸：±1.5％5.2外觀標準序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法5.2.1點缺陷同4.2.1輕缺陷同4.2.15.2.2黑線,白線同4.2.2輕缺陷同4.2.25.2.3劃痕同4.2.3輕缺陷同4.2.3序號檢驗項目判定標準缺陷程度判定方法5.2.4圖案字體圖案字體清晰，無嚴重粗細現(xiàn)象，允許輕微圖案字體滲透或干版；字體線條變粗或變細較正常線條寬度≤1/3（且≤±0.1mm），無斷字輕缺陷目視測試架5.2.5可視區(qū)邊緣之毛刺披鋒可視區(qū)內(nèi)之毛刺披鋒長度（或D）≤0.2mm；不超過2處，每處距離≥20mm輕缺陷目視5.2.6FPC金手指氧化不允許重缺陷目視5.2.7FPC金手指斷裂不允許重缺陷目視5.2.8FPC折痕死折（銳角折痕）不允許輕缺陷目視5.2.9FPC金手指上錫焊接類FPC金手指不允許缺損和不可恢復抓痕；焊接類FPC金手指上錫，且條數(shù)≤3條，不出現(xiàn)連錫短路可接受；插接類FPC金手指上錫/擦拭不掉的污痕，影響插接功能時不可接受。輕缺陷目視5.2.表面灰塵1、3A級：產(chǎn)品保護膜下面臟污不容許，保護膜表面有可移動臟物及明顯灰塵不容許。2、2A級：產(chǎn)品保護膜下面臟污不容許，保護膜表面明顯灰塵不容許3、A級別：產(chǎn)品保護膜下面有不可以擦掉的臟污不容許輕缺陷目視5.2.模塊表面保護膜1、3A級：不可以有翹起、明顯臟污、折痕及劃痕不容許2、2A級：不可以有翹起、明顯臟污、折痕及劃痕不容許3、A級別：不可以有翹起、明顯折痕及劃痕不容許輕缺陷目視5.2.各種保護紙不可以有翹起、明