現(xiàn)代材料分析測試技術智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下煙臺南山學院

現(xiàn)代材料分析測試技術智慧樹知到課后章節(jié)答案2023年下煙臺南山學院煙臺南山學院

緒論單元測試

材料是指可以用來制造有用的構件、器件或其他物品的物質(zhì)。（）

A:對B:錯

答案:對

晶體內(nèi)部原子、分子或離子具有嚴格的周期性有序排列。（）

A:錯B:對

答案:對

材料測試方法的選擇與所研究材料的組成、結構及層次密切相關。（）

A:對B:錯

答案:對

材料的性能只與組成材料的元素成分有關，與其他因素無關。（）

A:對B:錯

答案:錯

材料的宏觀結構設計、相結構、成分都會影響材料的性能。（）

A:錯B:對

答案:對

單一的分析方法往往不能滿足材料分析的要求，常常需要綜合多種分析手段才能獲得豐富而全面的信息。（）

A:錯B:對

答案:對

材料分析測試包括（）。

A:材料性能分析B:組織形貌分析C:材料成分分析D:結構分析

答案:材料性能分析;組織形貌分析;材料成分分析;結構分析

材料科學的主要研究內(nèi)容包括（）

A:材料的性能B:材料的成分結構C:材料應用D:材料的制備與加工

答案:材料的性能;材料的成分結構;材料的制備與加工

以下屬于組織形貌分析的手段有（）。

A:金相顯微鏡B:疲勞試驗機C:光學顯微鏡D:掃描電子顯微鏡

答案:金相顯微鏡;光學顯微鏡;掃描電子顯微鏡

材料科學與工程學院的四個基本要素包括（）。

A:結構B:性能C:加工D:成分

答案:結構;性能;加工;成分

第一章測試

金相試樣制備就是磨制和拋光過程。此說法（）

A:錯B:對

答案:錯

金相試樣制備中的劃痕缺陷只在磨制不當中產(chǎn)生的，此說法（）。

A:對B:錯

答案:錯

所有的金相試樣都需要對邊緣進行倒角，以免劃傷砂紙和拋光布，此說法（）

A:錯B:對

答案:對

金相砂紙的編號越大則其對應的磨料顆粒尺寸越大，如No.1000的砂紙就比No.400的砂紙顆粒粗，此說法（）。

A:錯B:對

答案:錯

金相顯微鏡的極限有效放大倍數(shù)約為（）

A:1500倍B:幾萬倍C:幾十倍D:幾百倍

答案:1500倍

斷口觀察很少用到光學金相顯微鏡，原因是（）

A:放大倍數(shù)太低B:樣品無法放置C:光波波長太大D:景深太小

答案:景深太小

為真實地反映金相試樣組織的情況，組織分析時需要（）

A:單一視場仔細觀察B:低倍、高倍觀察之間反復轉(zhuǎn)換；低倍搜尋視場，高倍仔細觀察C:選擇某處特征區(qū)域D:選擇無劃痕的特定區(qū)域

答案:低倍、高倍觀察之間反復轉(zhuǎn)換；低倍搜尋視場，高倍仔細觀察

透鏡的（），球差越嚴重。

A:曲率半徑越小，光通過透鏡的面積越小B:曲率半徑越小，光通過透鏡的面積越大C:曲率半徑越大，光通過透鏡的面積越小D:曲率半徑越大，光通過透鏡的面積越大

答案:曲率半徑越小，光通過透鏡的面積越大

試樣拋光時，正確的拋光方法為（）

A:從盤的邊緣到中心間或作徑向往復運動B:拋光壓力均勻C:適量、適時的滴入水浸濕D:試樣面與拋光盤面平行

答案:從盤的邊緣到中心間或作徑向往復運動;拋光壓力均勻;適量、適時的滴入水浸濕;試樣面與拋光盤面平行

試樣在拋光過程中，下面哪種情況會會導致劃痕產(chǎn)生。（）

A:拋光壓力過大B:加水量少C:砂粒帶到拋光布上D:拋光布損壞

答案:拋光壓力過大;加水量少;砂粒帶到拋光布上;拋光布損壞

第二章測試

顯微鏡的分辨率和照明光源的波長沒有關系。（）

A:錯B:對

答案:錯

掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡相同。（）

A:錯B:對

答案:錯

掃描電鏡的分辨率一般是二次電子分辨率。（）

A:對B:錯

答案:對

表面形貌分析技術經(jīng)歷了光學顯微鏡、電子顯微鏡、掃描探針顯微鏡三個階段。（）

A:錯B:對

答案:對

掃描電鏡的分辨率是指（）

A:吸收電子像分辨率B:背散射電子像分辨率C:俄歇電子分辨率D:二次電子像分辨率

答案:二次電子像分辨率

掃描電子顯微鏡的分辨率已經(jīng)達到了（）

A:100nmB:10nmC:0.1nmD:1.0nm

答案:1.0nm

1924年，（）提出運動的電子、質(zhì)子、中子等實物粒子都具有波動性質(zhì)。

A:布施B:狄拉克C:德布羅意D:薛定諤

答案:德布羅意

電子槍由（）組成

A:陰極、陽極、柵極B:陰極、陽極C:正極、負極、柵極D:陰極、柵極

答案:陰極、陽極、柵極

關于二次電子的描述，正確的是（）

A:二次電子信號的分辨率高B:二次電子信號反映樣品的表面形貌特征C:二次電子是入射電子與原子核外的價電子發(fā)生非彈性散射時被激發(fā)的核外電子D:二次電子信號反映樣品的成分信息

答案:二次電子信號的分辨率高;二次電子信號反映樣品的表面形貌特征;二次電子是入射電子與原子核外的價電子發(fā)生非彈性散射時被激發(fā)的核外電子

背散射電子的性質(zhì)是（）

A:可用于樣品的表面成分分析B:產(chǎn)額隨原子序數(shù)增加而增加C:產(chǎn)生范圍在表層100~1000nm內(nèi)D:可用于樣品的表面形貌分析

答案:可用于樣品的表面成分分析;產(chǎn)額隨原子序數(shù)增加而增加;產(chǎn)生范圍在表層100~1000nm內(nèi);可用于樣品的表面形貌分析

第三章測試

透射電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡相同。（）

A:對B:錯

答案:對

非彈性散射電子動能和方向都不發(fā)生改變。（）

A:錯B:對

答案:錯

透射電鏡中的中間鏡是可變倍率透鏡。（）

A:錯B:對

答案:對

透射電鏡的工作原理是阿貝成像原理。（）

A:對B:錯

答案:對

讓衍射束通過物鏡光闌，用物鏡光闌套住某一衍射斑點，擋住中心透射斑點和其它衍射斑點，選擇衍射束成像，是（）

A:中心明場成像B:明場成像C:暗場成像D:中心暗場成像

答案:暗場成像

將入射電子束轉(zhuǎn)動一定角度，使得衍射束沿著光軸傳播，讓衍射束通過物鏡光闌，用物鏡光闌套住某一衍射斑點，擋住透射束和其它衍射斑點擋住，選擇衍射束成像，是（）

A:明場成像B:暗場成像C:中心暗場成像D:中心明場成像

答案:中心暗場成像

透射電子顯微鏡的兩種主要功能是（）

A:組織觀察和物相分析B:表面形貌和成分價鍵C:內(nèi)部組織和成分價鍵D:成分價鍵和晶體結構

答案:組織觀察和物相分析

多晶體的電子衍射花樣是（）

A:不規(guī)則斑點B:暈環(huán)C:規(guī)則的平行四邊形斑點D:同心圓環(huán)

答案:同心圓環(huán)

與掃描電鏡和X射線衍射儀相比，透射電子顯微鏡的優(yōu)勢有（）

A:可以實現(xiàn)微區(qū)物相分析B:觀察細胞內(nèi)部超微結構C:高的圖像分辨率D:獲得立體豐富信息

答案:可以實現(xiàn)微區(qū)物相分析;高的圖像分辨率;獲得立體豐富信息

電子束入射到樣品表面后，會產(chǎn)生下列哪些信號（）。

A:特征X射線B:俄歇電子C:二次電子D:背散射電子

答案:特征X射線;俄歇電子;二次電子;背散射電子

第四章測試

掃描隧道顯微鏡的分辨率可以到達原子尺度級別。（）

A:錯B:對

答案:對

接觸式原子力顯微鏡可以利用原子之間吸引力的變化來記錄樣品表面的輪廓起伏。（）

A:對B:錯

答案:錯

掃描探針顯微鏡可以在溶液環(huán)境下工作。（）

A:錯B:對

答案:對

造成AFM懸臂偏轉(zhuǎn)的力包括范德瓦爾斯力和毛細力。（）

A:對B:錯

答案:對

利用量子隧穿效應進行分析的儀器是（）

A:掃描探針顯微鏡B:掃描隧道顯微鏡C:原子力顯微鏡D:掃描電子顯微鏡

答案:掃描隧道顯微鏡

下列關于掃描探針顯微鏡的描述，錯誤的是（）

A:可以對原子分子進行操縱B:可以獲得樣品表面的摩擦力、粘附力等信息性C:一種具有非常高的空間分辨率的三維輪廓儀D:分辨率從原子尺度級到毫米量級

答案:分辨率從原子尺度級到毫米量級

掃描隧道顯微鏡是基于哪個原理進行工作的（）

A:表面效應B:原子間相互作用力C:量子尺寸效應D:量子隧穿效應

答案:量子隧穿效應

在接觸式原子力顯微鏡中，哪個描述是錯誤的（）

A:探針與樣品的距離小于1nmB:針尖與樣品有輕微的物理接觸C:針尖與懸臂受范德瓦爾斯力和毛細力兩種力的作用D:利用原子之間吸引力的變化來記錄樣品表面輪廓的起伏

答案:利用原子之間吸引力的變化來記錄樣品表面輪廓的起伏

下列關于原子力顯微鏡的描述，正確的是（）

A:位敏光探測器可檢測懸臂針尖小于1nm的垂直運動B:樣品在針尖下做光柵式運動C:位敏光探測器可實時監(jiān)測微懸臂的變化D:記錄微懸臂對應于掃描各點的位置變化，獲得樣品的表面形貌信息

答案:樣品在針尖下做光柵式運動;位敏光探測器可實時監(jiān)測微懸臂的變化;記錄微懸臂對應于掃描各點的位置變化，獲得樣品的表面形貌信息

掃描隧道顯微鏡的兩種工作模式是（）

A:恒定電壓模式B:恒定電流模式C:恒定掃速模式D:恒定高度模式

答案:恒定電流模式;恒定高度模式

第五章測試

粉末衍射卡(pdf卡片)可以查看晶體的晶面間距和對應的衍射線相對強度。（）

A:錯B:對

答案:對

晶體對X射線的相干散射只占入射能量的極小部分。（）

A:對B:錯

答案:對

X射線衍射方法可以進行多相體系的綜合分析，也可以實現(xiàn)對亞微米量級單顆晶體材料的微觀結構分析。（）

A:錯B:對

答案:錯

對于原子序數(shù)確定的物質(zhì)其特征x射線波長為定值。（）

A:錯B:對

答案:對

X射線衍射儀中X射線發(fā)生器固定時，測角儀中探測器的轉(zhuǎn)速與樣品的轉(zhuǎn)速滿足哪種關系（）

A:1:1B:2:1C:1:2D:1:0

答案:2:1

M層電子遷遷移到K層后，多余的能量釋放的特征X射線是（）

A:KαB:KγC:LαD:Kβ

答案:Kβ

X射線照射到晶體上時，產(chǎn)生衍射的條件是（）

A:晶體形狀B:滿足布拉格條件，同時衍射強度不為0C:衍射強度不為0D:滿足布拉格條件

答案:滿足布拉格條件，同時衍射強度不為0

短波長的X射線稱（），常用于金屬部件的無損探傷。

A:硬X射線B:紫外光C:軟X射線D:倫琴射線

答案:硬X射線

下列關于X射線的描述，正確的是（）

A:X射線是一種電磁波B:倫琴發(fā)現(xiàn)X射線C:X射線具有波動性D:勞厄發(fā)現(xiàn)X射線衍射現(xiàn)象

答案:X射線是一種電磁波;倫琴發(fā)現(xiàn)X射線;X射線具有波動性;勞厄發(fā)現(xiàn)X射線衍射現(xiàn)象

常用的X射線衍射方法是（）

A:德拜法B:勞厄法C:粉末法D:轉(zhuǎn)動晶體法

答案:勞厄法;粉末法;轉(zhuǎn)動晶體法

第六章測試

1.利用差熱分析可以研究物質(zhì)的相轉(zhuǎn)變。（）

A:錯B:對

答案:對

熱分析可以解釋為以熱進行分析的一種方法，其歷史發(fā)展久遠，應用面較寬，涉及多種學科領域。（）

A:對B:錯

答案:對

熱分析技術的基礎是物質(zhì)在溫度變化過程中發(fā)生各種物理、化學變化。（）

A:對B:錯

答案:對

差熱分析儀一般有溫度程序控制單元、可控硅加熱單元、差熱信號放大單元、信號記錄單元(記錄儀或微機)等部分組成。（）

A:對B:錯

答案:對

對差熱曲線的分析一般包括對起止溫度與峰面積的確定。（）

A:錯B:對

答案:對

影響差熱分析的因素有升溫速率、壓力和氣氛、試樣因素等。（）

A:錯B:對

答案:對

差熱分析中參比物在分析過程中會放熱或吸熱。（）

A:錯B:對

答案:錯

一般來說，相轉(zhuǎn)變、脫氫還原和一些分解反應產(chǎn)生吸熱效應；而結晶、氧化等反應產(chǎn)生放熱效應。（）

A:錯B:對

答案:對

差熱曲線的分析究其根本就是解釋差熱曲線上每一個峰谷產(chǎn)生的原因，從而分析被測樣是由哪些相組成。（）

A:對B:錯

答案:對

物質(zhì)在加熱過程中所產(chǎn)生的相變或多晶轉(zhuǎn)變多變現(xiàn)為（）

A:無熱效應產(chǎn)生B:無變化C:吸熱D:放熱

答案:吸熱

第七章測試

特征X射線的頻率或波長只取決于物質(zhì)的原子結構，是物質(zhì)固有特性，與其它外界因素無關。（）

A:對B:錯

答案:對

電子探針X射線顯微分析儀的入射束是電子束。（）

A:錯B:對

答案:對

能譜儀的分辨率比波譜儀低。（）

A:對B:錯

答案:對

X射線光譜分析可以對樣品的元素組成進行分析。（）

A:對B:錯

答案:對

X射線光譜分析的信號是（）。

A:二次電子B:特征X射線C:光電子D:連續(xù)X射線

答案:特征X射線

波長色散譜儀(WDS)，簡稱波譜儀，是利用特征X射線的（）不同來展譜。

A:光子數(shù)量B:能量C:強度D:波長

答案:波長

能量色散譜儀(EDS)，簡稱能譜儀，是利用特征X射線的（）不同來展譜。

A:光子數(shù)量B:波長C:能量D:強度

答案:能量

對鋼進行成分分析可以采用以下分析手段。（）

A:EDSB:DSCC:XRDD:WDS

答案:EDS;WDS

如要分析斷口上某種顆粒相的化學成分，應采用哪種分析方法？（）

A:DTAB:XRDC:EDSD:WDS

答案:EDS;WDS

X攝像光譜分析的分析模式有（）。

A:高度掃描B:點掃描C:面掃描D:線掃描

答案:點掃描;面掃描;線掃描

第八章測試

原子吸收分光光度計主要由光源、原子化系統(tǒng)、單色器、檢測系統(tǒng)等四個部分組成。（）

A:對B:錯

答案:對

在正常狀態(tài)下，元素處于基態(tài)，元素在受到熱（火焰）或電（電火花）激發(fā)時，由基態(tài)躍遷到激發(fā)態(tài)，返回到基態(tài)時，發(fā)射出特征光譜。（）

A:對B:錯

答案:對

原子光譜分析法是利用特征光譜研究物質(zhì)結構和測定化學成分的方法。（）

A:錯B:對

答案:對

原子的特征光譜是連續(xù)光譜。（）

A:對B:錯

答案:錯

原子的吸收光譜和特征光譜是不連續(xù)的。（）

A:對B:錯

答案:對

原子的吸收光譜條紋和發(fā)射光譜條紋是一一對應的。（）

A:錯B:對

答案:對

下列各種說法中錯誤的是（）

A:原子發(fā)射光譜分析是靠識別元素特征譜線來鑒別元素的存在B:原子發(fā)射光譜是線狀光譜C:對于復雜組分的分析我們通常以鐵光譜為標準，采用元素光譜圖比較法D:原子發(fā)射光譜主要依據(jù)元素特征譜線的高度進行定量分析

答案:原子發(fā)射光譜主要依據(jù)元素特征譜線的高度進行定量分析

原子發(fā)射光譜中，常用的光源有（）

A:電弧、電火花、電感耦合等離子炬等B:棱鏡和光柵C:空心陰極燈D:鎢燈、氫燈和氘燈

答案:電弧、電火花、電感耦