基于掃描鏈和ATPG的IP核可測性設(shè)計及測試優(yōu)化研究

基于掃描鏈和ATPG的IP核可測性設(shè)計及測試優(yōu)化研究基于掃描鏈和ATPG的IP核可測性設(shè)計及測試優(yōu)化研究

摘要：

IP（IntellectualProperty）核在現(xiàn)代集成電路設(shè)計中被廣泛應用，它們的功能復雜，內(nèi)部結(jié)構(gòu)龐大，對于可測試性和測試的要求也越來越高。本文針對IP核的可測性設(shè)計和測試優(yōu)化進行研究，通過引入掃描鏈和自動測試生成技術(shù)（ATPG），提高IP核的可測試性和測試效率，減少測試開銷，提高測試覆蓋率。

1.引言

近年來，集成電路設(shè)計中的IP核得到了廣泛應用，以提高設(shè)計效率和降低開發(fā)成本。隨著設(shè)計規(guī)模的不斷擴大，IP核內(nèi)部結(jié)構(gòu)越來越復雜，如何保證其可測試性成為一個重要課題。傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)無法滿足對IP核的高要求，因此需要采用新的設(shè)計和測試方法。

2.IP核可測性設(shè)計

針對IP核的可測性設(shè)計，主要包括掃描鏈的設(shè)計和插入、內(nèi)部電路的結(jié)構(gòu)優(yōu)化以及設(shè)計規(guī)約的制定。掃描鏈是一種用于測試的輔助電路，可以提取出IP核內(nèi)部所有信號的狀態(tài)，并將其輸出到測試控制器。通過插入掃描鏈，可以大大提高IP核的可測試性。此外，對IP核內(nèi)部電路進行結(jié)構(gòu)優(yōu)化，如增加可測試點、減少不可測點等，也可以大幅提升可測試性。

3.ATPG技術(shù)在IP核測試中的應用

自動測試生成技術(shù)（ATPG）是另一種重要的測試方法，它基于IP核的設(shè)計規(guī)約和可測試性信息，自動生成測試模式。ATPG技術(shù)通過分析IP核內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)和測試要求，生成一套完善的測試模式，以覆蓋盡可能多的故障。ATPG技術(shù)可以提高測試效率和覆蓋率，減少測試開銷。

4.IP核可測性設(shè)計和測試優(yōu)化策略

針對IP核的可測性設(shè)計和測試優(yōu)化，我們提出了以下策略：首先，對IP核的設(shè)計規(guī)約進行全面考慮，制定詳盡的測試要求和目標。其次，通過掃描鏈的插入和優(yōu)化，提高IP核的可測試性。再次，利用ATPG技術(shù)生成優(yōu)化的測試模式，以提高測試效率和覆蓋率。最后，結(jié)合實際測試情況，對測試數(shù)據(jù)進行分析和優(yōu)化，進一步提升測試效果。

5.實驗結(jié)果與分析

我們通過對幾個常見的IP核進行測試，驗證了所提出的可測性設(shè)計和測試優(yōu)化策略。實驗結(jié)果表明，引入掃描鏈和ATPG技術(shù)的方法可以顯著提高IP核的可測試性和測試效率。同時，通過分析和優(yōu)化測試數(shù)據(jù)，可以進一步提高測試覆蓋率。

6.結(jié)論

本文研究了基于掃描鏈和ATPG技術(shù)的IP核可測性設(shè)計和測試優(yōu)化策略。實驗結(jié)果表明，所提出的方法可以有效提高IP核的可測試性和測試效率，減少測試開銷，提高測試覆蓋率。未來，我們將進一步研究和改進IP核的可測性設(shè)計和測試優(yōu)化方法，以滿足不斷增長的集成電路設(shè)計需求。

本文針對IP核的可測性設(shè)計和測試優(yōu)化問題進行了研究。通過引入掃描鏈和ATPG技術(shù)，我們提出了一系列策略來提高IP核的可測試性和測試效率。實驗結(jié)果表明，這些方法能夠顯著提高IP核的可測試性和測試效率，并且通過分析和優(yōu)化測試數(shù)據(jù)，還能進一步提高測