leap AIGO操作手冊(cè)范本

./CNLC陣列感應(yīng)儀器AFIT操作手冊(cè)〔草稿版本：1.0日期：2011-.目錄第一章概論11.1導(dǎo)言11.2陣列感應(yīng)<AFIT>儀器技術(shù)性能指標(biāo)21.3配套使用的附件31.4AFIT輸出曲線31.5健康,安全,環(huán)保事項(xiàng)61.5.1人身安全71.5.2設(shè)備安全8第二章測(cè)井基本理論及儀器工作原理92.1儀器功能、特點(diǎn)概述92.2測(cè)量工作原理10基本物理測(cè)量10測(cè)量工作原理11應(yīng)用的基本理論13測(cè)量電路框圖14功能單元電路描述16第三章儀器操作183.1工作前地面軟硬件準(zhǔn)備183.2儀器供電183.3儀器刻度及EEPROM數(shù)據(jù)加載203.4現(xiàn)場(chǎng)測(cè)井步驟213.4.1測(cè)井作業(yè)準(zhǔn)備213.4.2測(cè)井步驟213.4.3注意事項(xiàng)223.4.4輸入輸出參數(shù)223.4.5儀器設(shè)置313.4.6AFIT儀器監(jiān)控量323.4.7AFIT儀器命令323.5儀器刻度.33刻度原理333.5.2刻度前準(zhǔn)備及安全事項(xiàng)35車間刻度403.5.4刻度報(bào)告473.6維護(hù)與檢測(cè)533.6.1工具533.6.2日常維護(hù)533.6.3二級(jí)保養(yǎng)533.6.4循環(huán)油設(shè)備操作規(guī)533.7測(cè)井質(zhì)量控制553.7.1測(cè)速553.7.2環(huán)境553.7.3測(cè)量誤差控制573.7.4主要輸出曲線質(zhì)量要求603.7.5主要輸出曲線默認(rèn)設(shè)置613.8儀器故障653.8.1儀器監(jiān)控量以及儀器曲線653.8.2常見(jiàn)問(wèn)題及解決方案65.第一章概論1.1導(dǎo)言LEAP800-A陣列感應(yīng)測(cè)井儀〔AFIT-ArrayFocusingInductionTool,以下簡(jiǎn)稱AFIT是一種多頻、多陣列、全數(shù)字化的陣列感應(yīng)儀器。其線圈系由一個(gè)共用的發(fā)射線圈和七組不同源距的接收線圈子陣列構(gòu)成<線圈距從6in到93in>。每組接收線圈包括一個(gè)主接收線圈和一個(gè)補(bǔ)償接收線圈,補(bǔ)償接收線圈很好地補(bǔ)償了直耦信號(hào)。AFIT的發(fā)射線圈同時(shí)激勵(lì)6種頻率的發(fā)射電流<16kHz,24kHz,40kHz,64kHz,88kHz,112kHz>。井下的AFIT儀器將7個(gè)接收線圈采集到的信號(hào)數(shù)字化后,得到6個(gè)頻率、7個(gè)陣列共42個(gè)復(fù)感應(yīng)信號(hào)。遙測(cè)系統(tǒng)將感應(yīng)信號(hào)等數(shù)據(jù)送到地面。地面軟件通過(guò)軟件聚焦等處理將接收到的感應(yīng)信號(hào)轉(zhuǎn)換成一系列隨深度變化的電導(dǎo)率〔或電阻率測(cè)井值。根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)條件和客戶的需要,多道信號(hào)處理可提供可靠的徑向與垂向分辨率和環(huán)境校正。大量的測(cè)量信息可以生成地層電阻率定量二維圖像,圖像可清晰、定量地表征層理和侵入帶的特征。侵入帶參數(shù)可用來(lái)描述過(guò)渡帶和環(huán)帶；侵入帶的定量信息還可以轉(zhuǎn)化為含水飽和度的二維圖像,在井場(chǎng)上它可用彩色來(lái)標(biāo)繪。合理而科學(xué)地AFIT陣列感應(yīng),可以解決以下問(wèn)題：儲(chǔ)層劃分；確定地層真電阻率；確定含水飽和度；烴類識(shí)別及成像；確定可動(dòng)烴；侵入帶剖面研究；薄層解釋油氣；水評(píng)價(jià)和地層分析等。1.2陣列感應(yīng)<AFIT>儀器技術(shù)性能指標(biāo)儀器圖性能指標(biāo)溫度和壓力等級(jí)最大工作溫度175°C〔350°F最大工作壓力140MPa〔20Kpsi儀器抗拉強(qiáng)度50,000lbs/22680kg儀器抗壓強(qiáng)度12,000lbs/5443kg外形尺寸及重量?jī)x器直徑9.2cm〔3.625in.儀器連接長(zhǎng)度7.06m<13.16ft>儀器運(yùn)輸長(zhǎng)度7.41m〔儀器總重量150kg測(cè)量圍最小井眼尺寸12cm〔4.73井筒介質(zhì)淡水泥漿、咸水泥漿、油基泥漿、空氣儀器位置居中,偏心測(cè)量動(dòng)態(tài)圍0.2Ohm.m至2000Ohm.m測(cè)量精確度1mS/m+2%重復(fù)性誤差1mS/m+2%縱向分辨率1ft,2ft,4ft探測(cè)深度10in,20in,30in,60in,90in,120in深度采樣間隔3in推薦測(cè)速1800ft/h最大測(cè)速3600ft/h時(shí)間采樣間隔50ms供電要求電纜端頭電壓250V交流工作電流400mA組合兼容性儀器掛接位置儀器串底部1.3配套使用的附件井下可能使用的設(shè)備：底部燈籠體扶正器間隙器車間可能使用的設(shè)備:刻度架感應(yīng)刻度環(huán)及刻度電阻注油管等補(bǔ)油設(shè)備1.4AFIT輸出曲線AFIT測(cè)井過(guò)程中所得到的原始數(shù)據(jù)都被記錄在一個(gè)原始的數(shù)據(jù)文件,該數(shù)據(jù)文件可以用于以后的對(duì)數(shù)據(jù)的分析及回放。與此同時(shí),軟件也會(huì)對(duì)數(shù)據(jù)流進(jìn)行處理。AFIT的地面數(shù)據(jù)處理包括上傳數(shù)據(jù)解包、電子刻度、溫度校正、重采樣和時(shí)深對(duì)齊等基本處理；運(yùn)用刻度系數(shù)把上傳數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為工程值的刻度運(yùn)算；以及趨附校正、井眼校正、軟聚焦、分辨率匹配和一維反演等實(shí)時(shí)高級(jí)處理。具體處理流程如下圖所示。AFIT數(shù)據(jù)包括原始的遙傳數(shù)據(jù)、刻度轉(zhuǎn)化后的工程數(shù)據(jù)、以及趨附校正、井眼校正、軟聚焦和分辨率匹配、一維反演等處理后的各種數(shù)據(jù),另外,還包括COM板采集的輔助測(cè)量數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)均以曲線形式輸入輸出,其詳細(xì)設(shè)置見(jiàn)下面表。AFIT還把7個(gè)接收線圈上的電壓測(cè)量以及發(fā)射線圈上的電流測(cè)量,共8個(gè)測(cè)量通道的原始波型數(shù)據(jù)上傳至地面,然后以監(jiān)控信息的方式在AFIT-AScope里面輸出,其詳細(xì)設(shè)置見(jiàn)下面表。輔助測(cè)量數(shù)據(jù)輔助測(cè)量數(shù)據(jù)電路校正后R和X信號(hào)及輔助測(cè)量數(shù)據(jù)AFIT遙傳數(shù)據(jù)原始數(shù)據(jù)包原始波列數(shù)據(jù)原始R和X信號(hào)電路校正溫度補(bǔ)償時(shí)深重采樣車間刻度文件車間刻度系數(shù)車間刻度重采樣R和X信號(hào)及輔助數(shù)據(jù)井眼校正數(shù)據(jù)庫(kù)軟聚焦數(shù)據(jù)庫(kù)重采樣R和X信號(hào)及輔助數(shù)據(jù)應(yīng)用刻度系數(shù)進(jìn)行工程值轉(zhuǎn)化趨附校正刻度后視電導(dǎo)率及輔助測(cè)量數(shù)據(jù)趨附校正視電導(dǎo)率conductivities井眼校正井眼校正視電導(dǎo)率徑向反演軟聚焦及分辨率匹配主測(cè)量曲線次測(cè)量曲線Rt,RxoandinvasionRadius圖1.4.1AFIT數(shù)據(jù)處理流程圖表AFIT曲線名稱、單位及保存設(shè)置表曲線描述單位RAiFjR,RAiFjXLogging模式下,第i個(gè)接收線圈、第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的同相分量Logging模式下,第i個(gè)接收線圈、第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的正交分量mS/mRTxFjR,RTxFjXLogging模式下,發(fā)射線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的同相分量Logging模式下,發(fā)射線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的正交分量mAGAiFjR,GAiFjXCal模式下,第i個(gè)接收線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的同相分量Cal模式下,第i個(gè)接收線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的正交分量GTxFjR,GTxFjXCal模式下,發(fā)射線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的同相分量Cal模式下,發(fā)射線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的正交分量ZAiFjR,ZAiFjXZero模式下,第i個(gè)接收線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的同相分量Zero模式下,第i個(gè)接收線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的正交分量ZTxFjR,ZTxFjXZero模式下,發(fā)射線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的同相分量Zero模式下,發(fā)射線圈第j個(gè)頻率測(cè)量信號(hào)的正交分量AiFjR,AiFjX第i個(gè)接收線圈第j個(gè)頻率的測(cè)量視電導(dǎo)率同相分量第i個(gè)接收線圈第j個(gè)頻率的測(cè)量視電導(dǎo)率正交分量mS/mSECi趨附校正后的第i個(gè)接收線圈的視電導(dǎo)率BHCi井眼校正后的第i個(gè)接收線圈的視電導(dǎo)率RO06,RO10,RO20,RO30,RO60,RO90,RO120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,90inohm.mRT06,RT10,RT20,RT30,RT60,RT90,RT120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,90inRF06,RF10,RF20,RF30,RF60,RF90,RF120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,90inCO06,CO10,CO20,CO30,CO60,CO90,CO120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,90inmS/mCT06,CT10,CT20,CT30,CT60,CT90,CT120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,90inCF06,CF10,CF20,CF30,CF60,CF90,CF120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,90inSWF06,SWF10,SWF20,SWF30,SWF60,SWF90,SWF120探測(cè)深度為6in,10in,20in,30in,60in,INVECC反演得到的儀器偏心率m/mINVBHD反演得到的井徑inINVSMUD反演得到的泥漿電導(dǎo)率mS/mINVSBACK反演得到的背景電導(dǎo)率SIGT地層真電導(dǎo)率RT地層真電阻率ohm.mSIGXO傾入帶電導(dǎo)率mS/mRXO傾入帶電阻率ohm.mIFIR傾入帶徑inIFOR傾入帶外徑UST探頭上部溫度degCDST探頭下部溫度ET電子線路溫度COMTEMPCOM板溫度TXPSI發(fā)射正電流mATXNSI發(fā)射負(fù)電流TXPSV發(fā)射正電壓mVTXNSV發(fā)射負(fù)電壓PREAMPPSV前放正電壓PREAMPNSV前放負(fù)電壓DSP3V3DSP3.3伏電源電壓PS5V信號(hào)處理板正5伏電壓NS5V信號(hào)處理板負(fù)5伏電壓COMREF2V5COM板參考電壓COMAGNDCOM板接地電壓備注i,ji代表子陣列序號(hào),i=0,1,2,3,4,5,6;j代表頻率序號(hào),j=0,1,2,3,4,5.采樣率1.時(shí)間:50ms,100ms,200ms,400ms,1000ms,10000ms2.深度:4點(diǎn)/英尺表1.4.2AFIT波形數(shù)據(jù)輸出設(shè)置表輸出波形描述RWR0子陣列A0的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR1子陣列A1的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR2子陣列A2的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR3子陣列A3的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR4子陣列A4的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR5子陣列A5的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR6子陣列A6的接收線圈上的測(cè)量信號(hào)RWR7發(fā)射線圈上的電流測(cè)量信號(hào)1.5健康,安全,環(huán)保事項(xiàng)〔HEALTH,SAFTY,ANDENVIRONMENT"安全第一",是任何人都必須時(shí)刻想到的第一要?jiǎng)?wù),無(wú)論是現(xiàn)場(chǎng)操作工程師還是儀修、保養(yǎng)工程師。時(shí)時(shí)、處處、人人把質(zhì)量、健康、安全和環(huán)保放在第一位,避免事故發(fā)生,確保我們和客戶的人身和財(cái)產(chǎn)安全,保護(hù)公共環(huán)境是我們永恒的追求。下面注意事項(xiàng)是操作AFIT時(shí)必須注意的。1.5.1人身安全人身安全對(duì)我們來(lái)說(shuō)具有極端的重要性。下面信息是操作或測(cè)試AFIT前必須明白的。常規(guī)預(yù)防當(dāng)儀器加電后,請(qǐng)注意使用如下的常規(guī)安全預(yù)防事項(xiàng)：測(cè)試儀器時(shí),使用帶接地的三孔電源插板供電。不要單獨(dú)在帶電的設(shè)備旁邊操作,確保一旦發(fā)生危險(xiǎn),能有人及時(shí)提供幫助?，F(xiàn)場(chǎng)操作工在儀器加電、測(cè)試、刻度等作業(yè)過(guò)程中必須戴絕緣手套,并且確保儀器外殼接地。現(xiàn)場(chǎng)操作安全要求,戴普通皮手套時(shí)要在里面襯上絕緣橡膠手套。電焊作業(yè)時(shí),注意保護(hù)眼睛。起吊、抬起儀器時(shí)請(qǐng)遵守作業(yè)規(guī)程,避免傷害。當(dāng)心有缺陷的儀器,損壞的儀器可能導(dǎo)致異常的電壓和輻射傷害。不要同時(shí)觸摸測(cè)試盒和儀器,它們之間可能存在較大的電壓。同樣注意的危險(xiǎn)是,當(dāng)儀器加電后也不要同時(shí)觸摸儀器的兩個(gè)部分。在儀器旁邊工作時(shí),盡量站在干燥的木頭平臺(tái)上,或橡膠及其它類似的絕緣墊子上。連接、斷開(kāi)儀器時(shí)確保儀器在斷電狀態(tài)下。電擊電壓〔電擊風(fēng)險(xiǎn)打開(kāi)儀器后,以下兩處存在電擊風(fēng)險(xiǎn)：1.250VACbus,2.AFIT發(fā)射交流激勵(lì)〔＜90VRMS為降低電擊風(fēng)險(xiǎn)：1.儀器的檢修,保養(yǎng)應(yīng)由熟悉AFIT操作和保養(yǎng)事項(xiàng)并經(jīng)過(guò)培訓(xùn)的技術(shù)人員來(lái)完成2.裝配和拆卸儀器時(shí)要斷電3.儀器加電工作時(shí),儀器外殼要安全接地4.盡可能站在干的地方或橡膠墊子上5.避免同時(shí)接觸儀器的兩個(gè)部位磁場(chǎng)防護(hù)高強(qiáng)度的磁場(chǎng)可導(dǎo)致心臟起搏器的故障,帶有起搏器者請(qǐng)不要靠近加電的AFIT儀器長(zhǎng)時(shí)間曝露在高強(qiáng)度的磁場(chǎng)中可能導(dǎo)致身體傷害,儀器加電后,遠(yuǎn)離儀器至少10in儀器搬運(yùn)儀器電子線路和探頭重達(dá)150公斤,在運(yùn)輸、搬移、懸掛等過(guò)程中要采用合適的設(shè)備、安全的方法,防止人員受到傷害。同時(shí)要確保起重設(shè)備、夾具、工作面正確受力和負(fù)重儀器重量,并且定期檢查所有的起重設(shè)備、夾具、工作面,排除損壞或老化引起的安全隱患,確保儀器的起重設(shè)備、夾具、工作面在使用時(shí)是安全的。靜電放電靜電敏感的電子元件可能會(huì)因不正確的操作而導(dǎo)致?lián)p壞。按照規(guī)定的靜電操作規(guī)程來(lái)操作此類器件。1.5.2設(shè)備安全AFIT儀器總重150kg,特別是儀器探頭部分為瓷結(jié)構(gòu)及玻璃鋼外殼,儀器容易受力折斷。使用前必須檢查循環(huán)油,否則過(guò)高的外界壓力會(huì)導(dǎo)致閉塞閥開(kāi)啟而損壞電子線路。水平吊起AFIT時(shí)至少要有四個(gè)著力點(diǎn)。第二章測(cè)井基本理論及儀器工作原理2.1儀器功能、特點(diǎn)概述AFIT是一種聚焦式,多頻測(cè)量的陣列感應(yīng)儀器,它由以下幾個(gè)主要部分組成：電子短節(jié)AFIT-E前放及探頭短節(jié)AFIT-SSP電極從功能上,AFIT由發(fā)射線圈和七組接收線圈系構(gòu)成的陣列探頭,以及SP電極,前放短節(jié)和電子線路等部分組成。儀器的控制部分由地面軟件完成。電子短節(jié)由儀器通信模塊,數(shù)字處理模塊,發(fā)射模塊,電源模塊等模塊組成。前放模塊包括多路測(cè)量信號(hào)的前置放大器,對(duì)來(lái)自接收線圈陣列的感應(yīng)信號(hào)進(jìn)行預(yù)放大。AFIT陣列探頭由一個(gè)共用的發(fā)射線圈Tx和七個(gè)接收線圈系Rx組成；每個(gè)接收線圈系和發(fā)射線圈構(gòu)成的子陣列是一個(gè)測(cè)量單元,如圖。OnetranOnetransmitter+sevensub-arraysTworeceiversforeachsub-array圖2.1.1–AFITTxRx每個(gè)接收線圈由主接收線圈和副接收線圈兩部分組成,副接收線圈也稱為屏蔽接收線圈或補(bǔ)償接收線圈。如圖2.1.2所示,發(fā)射線圈激勵(lì)電磁場(chǎng),電磁場(chǎng)和地層相互作用后的場(chǎng)被接收線圈探測(cè)到,這部分信號(hào)攜帶著地層信息,是我們測(cè)井所關(guān)心的；同時(shí)發(fā)射線圈和接收線圈之間還存在相當(dāng)強(qiáng)的直耦信號(hào),這對(duì)測(cè)井是無(wú)用信號(hào),補(bǔ)償接收線圈的設(shè)計(jì)目的就是屏蔽AFIT是一種電法測(cè)井儀器,利用電磁感應(yīng)的原理來(lái)測(cè)量地層的電導(dǎo)率。AFIT儀器包括一個(gè)發(fā)射線圈以及一個(gè)感應(yīng)陣列。發(fā)射線圈在地層中產(chǎn)生一個(gè)變化的電磁場(chǎng),感應(yīng)陣列測(cè)量電磁場(chǎng)的變化情況。伴隨著儀器在井下位置的移動(dòng),周圍地層情況也在不斷的發(fā)生變化從而導(dǎo)致電磁場(chǎng)的改變。AFIT儀器持續(xù)的測(cè)量并且記錄電磁場(chǎng)的變化。通過(guò)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)的解釋,可以獲得地層電導(dǎo)率的數(shù)據(jù)。AFIT是一種陣列式的感應(yīng)測(cè)井儀器,其線圈系由7個(gè)3線圈系測(cè)量子陣列和一個(gè)發(fā)射線圈構(gòu)成,6個(gè)工作頻率。AFIT對(duì)來(lái)自不同子陣列的信號(hào),測(cè)量處理后得到10in、20in、30in、60in、90in、120in6個(gè)探測(cè)深度的地層電阻率信息。經(jīng)過(guò)分辨率合成匹配,提供1ft、2ft、4ft3種縱向分辨率6種探測(cè)深度的電阻率曲線。90in和120in兩條深探測(cè)曲線能夠幫助判斷是否能夠探測(cè)到地層的真電阻率曲線。當(dāng)90in和120in兩條曲線重合的時(shí)表明較深的探測(cè)深度所獲得的讀數(shù)接近地層電導(dǎo)率。主接收線圈主接收線圈副接收線圈Tx:發(fā)射線圈發(fā)射地層直藕信號(hào)經(jīng)過(guò)地層的信號(hào)圖2.1.2AFIT子陣列結(jié)構(gòu)2.2測(cè)量工作原理本節(jié)概述感應(yīng)儀器的基本原理,同時(shí)介紹感應(yīng)測(cè)量數(shù)據(jù)的基本處理和高級(jí)處理理論。感應(yīng)測(cè)井〔Doll,1949最初是為解決電極型儀器在油基泥漿和空氣鉆井條件下,非導(dǎo)電泥漿環(huán)境中的地層電阻率測(cè)量問(wèn)題而提出的。然而,由于感應(yīng)儀器的容易操作、需要更少的校正圖版等優(yōu)點(diǎn),很快,感應(yīng)儀器在一個(gè)很寬的礦化度井眼環(huán)境中得到應(yīng)用?；疚锢頊y(cè)量本小節(jié)簡(jiǎn)要介紹AFIT儀器測(cè)量的基本物理量。儀器的探頭包括7個(gè)彼此平衡的接收子陣列,源距從幾英寸到幾英尺。單個(gè)發(fā)射陣列同時(shí)發(fā)射6個(gè)頻率的電流。每個(gè)接收子陣列同時(shí)測(cè)量6個(gè)頻率的實(shí)部信號(hào)和虛部信號(hào)。這樣,每3英寸輸出84個(gè)原始的電導(dǎo)率測(cè)量信號(hào)。與同類感應(yīng)儀器一樣,AFIT用一個(gè)帶電阻和電感的刻度環(huán)來(lái)進(jìn)行刻度。同時(shí),為消除電子漂移和溫度漂移,AFIT進(jìn)行實(shí)時(shí)的電子刻度和溫度較正等基本處理。地面系統(tǒng)對(duì)84個(gè)原始信號(hào)進(jìn)行趨附校正提升、井眼校正處理、2維軟聚焦、分辯率匹配等一系列處理,得到分辯率為1英尺、2英尺、3英尺,探測(cè)深度為6英寸、10英寸、20英寸、30英寸、60英寸、90英寸、120英寸的21條基本曲線。得到這些基本曲線后,通過(guò)對(duì)AFIT響應(yīng)函數(shù)的反褶積處理,可以獲得徑向電阻率的詳細(xì)分布,這些分布可以轉(zhuǎn)化為一系列的不同深度的電阻率曲線,也可以表示為二維的電阻率成像結(jié)果。2.2.2測(cè)量工作原理感應(yīng)測(cè)井是一種利用交流電的互感原理進(jìn)行測(cè)井的方法。儀器的工作原理是發(fā)射線圈產(chǎn)生交變的電流,在地層中感應(yīng)出渦流,這個(gè)渦流又使得接收線圈中感應(yīng)出電動(dòng)勢(shì)。由于發(fā)射線圈和接收線圈都在井,發(fā)射線圈的交流電流在井周圍的地層中感應(yīng)出渦流的強(qiáng)度與地層電導(dǎo)率有關(guān),因此接收線圈感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)與周圍地層電導(dǎo)率是函數(shù)關(guān)系。我們可以給發(fā)射線圈一個(gè)交流信號(hào),這個(gè)信號(hào)經(jīng)過(guò)地層的渦流之后在接收線圈產(chǎn)生另一個(gè)信號(hào),測(cè)出這個(gè)信號(hào)的特性,通過(guò)適當(dāng)?shù)男盘?hào)處理,將測(cè)量電壓轉(zhuǎn)換為地層電導(dǎo)率,再經(jīng)過(guò)一系列的推導(dǎo)就可以得到地層的一系列的性質(zhì)。線圈系位于均勻、各向同性、時(shí)不變的地層,磁導(dǎo)率、電導(dǎo)率和介電常數(shù)均為常數(shù)；地層繞井軸旋轉(zhuǎn)對(duì)稱；和分別為發(fā)射和接受線圈,匝數(shù)為和,線圈半徑均為,為發(fā)射線圈與接受線圈之間的間距,線圈在一定頻率下工作。發(fā)射線圈上有一等幅、穩(wěn)頻的交變電流,發(fā)射電流,當(dāng)線圈系統(tǒng)在井中運(yùn)動(dòng)時(shí),線圈系周圍的地層不斷變化,因而接收線圈接收到的信號(hào)也是變化的。由于發(fā)射線圈變電流在周圍地層中激發(fā)電磁場(chǎng),從而在以井軸為軸心的無(wú)數(shù)多個(gè)地層單元環(huán)中產(chǎn)生感應(yīng)電流,感應(yīng)電流的大小與地層單元環(huán)的電導(dǎo)率成正比。這些感應(yīng)電流與電流線圈相似,也會(huì)產(chǎn)生交變電磁場(chǎng),通常被稱為二次場(chǎng)。二次場(chǎng)在接收線圈中生成感應(yīng)電動(dòng)勢(shì),我們把他稱為二次場(chǎng)感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)。線圈與地層的電磁感應(yīng)關(guān)系如下圖所示。圖感應(yīng)測(cè)井原理示意圖在均勻無(wú)限大介質(zhì)中,當(dāng)忽略渦流間相互作用時(shí),二次場(chǎng)感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)與介質(zhì)電導(dǎo)率成正比。發(fā)射線圈的交變電磁場(chǎng)直接在接收線圈中產(chǎn)生的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)二者相位差為90度,而發(fā)射線圈的交變電磁場(chǎng)在接收線圈中的二次場(chǎng)相位差為180度?？梢岳孟嗝魴z波技術(shù)把二次場(chǎng)感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)檢測(cè)出來(lái),從而達(dá)到測(cè)量周圍地層電阻率的目的。各個(gè)電流的相位關(guān)系如下圖所示。發(fā)射線圈電流相位地層感應(yīng)電流相位感應(yīng)線圈電流相位發(fā)射線圈電流相位地層感應(yīng)電流相位感應(yīng)線圈電流相位直接耦合電流相位圖發(fā)射線圈、地層單元環(huán)、接收線圈電流的相位關(guān)系對(duì)于均勻介質(zhì)的感應(yīng)測(cè)井,由電磁場(chǎng)理論可以推知接受線圈中的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)為：式中,為角頻率,為磁導(dǎo)率〔H/m,是發(fā)射線圈面積,是接受線圈面積,是地層介質(zhì)的波數(shù),。在上式中,當(dāng)電導(dǎo)率,即時(shí),得到直藕電動(dòng)勢(shì)為：此電壓為無(wú)用信號(hào),對(duì)有用信號(hào)會(huì)形成極大的干擾,導(dǎo)致無(wú)法得到想要的結(jié)果,在實(shí)際測(cè)量中應(yīng)想辦法濾除掉。實(shí)際感應(yīng)測(cè)井中一般采取三線圈系測(cè)井儀器,即一個(gè)發(fā)射線圈和一對(duì)接受線圈,并且這兩個(gè)接受線圈反向纏繞,這樣就可以濾除掉大部分的直藕信號(hào),這也是陣列感應(yīng)測(cè)井的基本原理。設(shè)兩個(gè)發(fā)射線圈到接收線圈的距離分別為和,接受線圈的匝數(shù)分別為和,則接收信號(hào)的強(qiáng)度與和線圈匝數(shù)N成正比,這樣如果將兩個(gè)接收線圈的纏繞方向相反,并且滿足下面的關(guān)系：則可以抑制掉大部分的直接耦合信號(hào)〔這里只考慮了距離D和接收線圈的匝數(shù)N這兩個(gè)主要因素,而只采集經(jīng)地層渦流之后產(chǎn)生的信號(hào),從而得到有用的信息。在感應(yīng)測(cè)井中,直接測(cè)量的信號(hào)為電壓信號(hào),即感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)。在實(shí)際應(yīng)用中,通常定義一個(gè)測(cè)量電導(dǎo)率來(lái)表示測(cè)量信號(hào)。由于地層是非均勻的,測(cè)量電導(dǎo)率并不等于真電導(dǎo)率,故稱其為視電導(dǎo)率,視電導(dǎo)率定義為：其中稱為儀器常數(shù)。對(duì)于頻率給定的線圈系,是常數(shù)。這就是感應(yīng)測(cè)井的基本原理,雙線圈系測(cè)量各項(xiàng)指標(biāo)都不理想,它的無(wú)用信號(hào)過(guò)大,使儀器無(wú)法測(cè)量比直耦信號(hào)弱幾十倍到幾千倍的地層信號(hào),從而導(dǎo)致信號(hào)的信噪比很低,不利于信號(hào)的處理；線圈系的縱向分辨率和徑向探測(cè)深度也很難同時(shí)滿足,即線圈距L的取值無(wú)法解決二者存在的矛盾。因此在實(shí)際工作中一般并不采用雙線圈系,而采用復(fù)合線圈系,即陣列感應(yīng)測(cè)井。2.2.3應(yīng)用的基本理論AFIT是一種用來(lái)測(cè)量地層電導(dǎo)率的感應(yīng)裝置?；陔姶鸥袘?yīng)原理來(lái)測(cè)定井眼中含有中低導(dǎo)電率液體或空氣時(shí)地層的電阻率〔淡水基或油基泥漿或空氣井中測(cè)量地層電阻率。AFIT有以下應(yīng)用：1.確定原狀地層電阻率Rt2.劃分含水〔咸水和含烴地層3.劃分地層邊界4.估計(jì)侵入邊界5.顯示可動(dòng)烴6.顯示滲透層7.地層較深2.2.4測(cè)量電路框圖下圖為AFIT的測(cè)量電路框圖。.圖2.2.3.2.2.5功能單元電路描述AFIT儀器系統(tǒng)包括通信模塊,數(shù)字處理模塊,發(fā)射模塊,前放模塊,電源模塊和傳感器部分組成。 通信模塊的功能主要包括接收地面系統(tǒng)發(fā)送的指令發(fā)送給儀器,并將儀器的測(cè)量數(shù)據(jù)傳回地面系統(tǒng)。 數(shù)字處理模塊的主要作用是解析命令,控制儀器工作狀態(tài),同時(shí)對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,送到通信模塊。 發(fā)射模塊的主要功能是將數(shù)字電路產(chǎn)生的發(fā)射信號(hào)進(jìn)行功率放大,把發(fā)射信號(hào)通過(guò)發(fā)射線圈進(jìn)行發(fā)射。儀器部有若干個(gè)供電模塊,能夠產(chǎn)生如下電壓,+5v/-5v模擬電源,+5v/-5v數(shù)字電源,+15v/-15v電源,3.3V和-9v電源。前置放大器位于線圈陣列探頭部分,電路將接收線圈感應(yīng)到的信號(hào)進(jìn)行放大和濾波。前置放大器有兩塊相同的放大電路板,分別處理來(lái)自接收線圈陣列的信號(hào),一塊電路板接收3個(gè)接收線圈,即A4,A5,A6線圈的信號(hào),而另一塊電路板接收余下4個(gè)接收A0,A1,A2,A3線圈的信號(hào)。前置放大器的主要功能是將較弱的接收線圈信號(hào)放大成能被A/D使用的可用信號(hào)。AFIT電子部分各電路板及電源板的安裝示意圖如下圖所示,左側(cè)為儀器上端。DAC發(fā)射多頻率合成信號(hào),低通濾波器對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波,該信號(hào)通過(guò)功率放大器放大之后,通過(guò)調(diào)諧電路連接到發(fā)射線圈,使得儀器能夠以最大功率輸出發(fā)射信號(hào)。圖2.2.4A線圈陣列探頭部分是充油的壓力平衡設(shè)備,它包括線圈陣列,溫度傳感器和SP傳感器。探頭的主要測(cè)量數(shù)值為感應(yīng)數(shù)值,溫度傳感器用來(lái)輔助修正感應(yīng)測(cè)量的數(shù)值。接收線圈陣列位于發(fā)射線圈的上方,間隔距離依次為6in、10in、18in、30in、45in、63in、93in。SP傳感器的感應(yīng)點(diǎn)為4個(gè)金屬觸點(diǎn),位于儀器外殼玻璃鋼上,玻璃鋼外殼側(cè)有一金屬環(huán)將這4個(gè)觸點(diǎn)相連接,SP信號(hào)通過(guò)儀器部的連線送入AFIT的電子部分。儀器的軸心是鈹青銅管,外面固定玻璃鋼套管,接收線圈和發(fā)射線圈都安裝在玻璃鋼套管上。鈹青銅的電導(dǎo)率會(huì)隨著溫度的變化而變化,因此每個(gè)接收線圈的信號(hào)也會(huì)隨之變化。為了消除溫度因素對(duì)結(jié)果的影響,鈹青銅管的上方和下方分別安裝有兩個(gè)溫度傳感器。溫度傳感器能夠讀取儀器部溫度的數(shù)值,從而修正由于溫度變化導(dǎo)致的數(shù)據(jù)偏差。儀器與其他儀器連接為31芯接頭,如下圖所示。儀器通斷絕緣檢查,使用萬(wàn)用表測(cè)量供電電源輸入接頭1和4端子的電阻值,電阻應(yīng)為25歐姆,用萬(wàn)用表測(cè)量同軸電纜纜芯27和屏蔽28之間電阻,阻值應(yīng)為50歐姆。測(cè)量這幾個(gè)針和外殼之間無(wú)短路現(xiàn)象。切忌不能用搖表進(jìn)行測(cè)量,會(huì)損害儀器。圖2.2.531芯接頭示意圖發(fā)射線圈的測(cè)量,在sonde與上電子線路之間是50芯接頭,見(jiàn)下圖。48連接的是發(fā)射線圈的中心抽頭,49是發(fā)射線圈正極,50是發(fā)射線圈負(fù)極。用萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)量,48和49之間為2歐姆,48和50為應(yīng)2歐姆。圖2.2.650芯接頭示意圖第三章儀器操作3.1工作前地面軟硬件準(zhǔn)備感應(yīng)測(cè)井是常見(jiàn)的測(cè)井項(xiàng)目,在一般情況下感應(yīng)測(cè)井的地面準(zhǔn)備工作如下：1.對(duì)陣列感應(yīng)儀器做全面的PMI檢查,包括儀器的通斷、絕緣檢查和硅油的檢查,尤其是對(duì)于曾經(jīng)在高溫高壓井中用過(guò)的儀器,更要注意硅油的油量。2.檢查感應(yīng)儀器可能需要的所有輔助設(shè)備。包括扶正器、standoffs,補(bǔ)油及油量檢查設(shè)備等。3.考慮泥漿電阻率測(cè)定問(wèn)題。確認(rèn)測(cè)井計(jì)劃中是否有測(cè)泥漿電阻率的儀器,同時(shí)安排泥漿取樣及測(cè)試,并記錄泥漿取樣測(cè)試溫度及電導(dǎo)率數(shù)據(jù),填入?yún)?shù)表中相關(guān)數(shù)據(jù)欄。4.考慮井徑測(cè)量問(wèn)題。確認(rèn)測(cè)井計(jì)劃中是否有測(cè)井徑的儀器,同時(shí)收集BS及井眼等相關(guān)信息。5.考慮井眼大小及井斜等情況,確定扶正器及standoffs數(shù)量和尺寸以及安裝位置選擇及方案。6.準(zhǔn)備好用于較深的其它測(cè)井資料。7.啟動(dòng)好測(cè)井軟件,檢查纜芯分配面板CSP上旋鈕開(kāi)關(guān)的位置是否正確。3.2儀器供電AFIT的供電方式與其它儀器一樣,可以采用手動(dòng)或自動(dòng)供電。根據(jù)測(cè)井服務(wù)進(jìn)入測(cè)井主界面,首先檢查L(zhǎng)EAP800系統(tǒng)各IP之間的連接,如果連接不正常,需檢查各面板是否供電及工作正常：確認(rèn)軟件與各面板之間連接正常后,電極測(cè)井主界面的加電頭標(biāo)〔InitializeSystem；出現(xiàn)以下界面：可以選擇手動(dòng)加電或者自動(dòng)加電：〔1手動(dòng)加電命令后。等PSP面板上IAC指示燈變綠后,旋動(dòng)旋耦同時(shí)觀察面板上電壓指示到250伏；〔2自動(dòng)加電命令后,系統(tǒng)就自動(dòng)控制Elgar,PSP面板給儀器自動(dòng)加電,PSP電壓自動(dòng)加到250伏。連接儀器通訊。儀器加完電后,點(diǎn)擊OK,出現(xiàn)下面連接界面：儀器連接完成后出現(xiàn)下面界面：同時(shí)STP面板綠燈常亮,如果出現(xiàn)問(wèn)題,則需重復(fù)上面加電步驟。3.3儀器刻度及EEPROM數(shù)據(jù)加載一般陣列感應(yīng)儀器AFIT不在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行刻度。在陣列感應(yīng)儀器AFIT中,與儀器相關(guān)的一些刻度等信息保存在儀器的EEPROM中。EEPROM數(shù)據(jù)包括：電子電路刻參數(shù)、感應(yīng)測(cè)量刻度數(shù)據(jù)〔出廠刻度和最新刻度、COM輔助測(cè)量刻度數(shù)據(jù)、溫度校正系數(shù)、儀器日志等。AFIT儀器出廠時(shí)EEPROM已經(jīng)寫(xiě)好,同時(shí)在隨儀器一起出廠的外部介質(zhì)〔光盤(pán),U盤(pán)等上保存一份副本,以供EEPROM數(shù)據(jù)讀取失敗時(shí)備用。地面在測(cè)井前讀取井下儀器中EEPROM參數(shù),如讀取失敗,則從外部介質(zhì)的備份文件中讀取數(shù)據(jù)。儀器上電,通訊建立完成后,地面軟件會(huì)自動(dòng)從井下儀器的EEPROM中讀取EEPROM信息,如EEPROM數(shù)據(jù)讀取成功,則在GeoScope的Message窗口打印提示信息"GetAFIT-AEEPROMdatasuccessfully!"；然后,可在儀器刻度界面瀏覽新加載的刻度數(shù)據(jù)。如數(shù)據(jù)讀取失敗則會(huì)顯示"LoadAFIT-Adefaultcalibrationdataerror!Pleaseloaddatafromfile!"信息,此時(shí)需要重新啟動(dòng)軟件,重新加電建立通訊讀取EEPROM信息或者直接從外部介質(zhì)〔光盤(pán),U盤(pán)等上加載EEPROM備份數(shù)據(jù)。3.4現(xiàn)場(chǎng)測(cè)井步驟測(cè)井作業(yè)準(zhǔn)備正常情況下,陣列感應(yīng)測(cè)井的操作步驟如下：在軟件中建立儀器串。根據(jù)儀器串掛接配置情況,在參數(shù)表中填寫(xiě)井徑曲線來(lái)源、鉆井液類型、泥漿電阻率曲線來(lái)源、泥漿取樣電阻率及溫度、井溫以及standoff尺寸等信息以及井眼校正選項(xiàng)。根據(jù)井深、井溫情況選擇溫度校正參數(shù)。加載并根據(jù)當(dāng)?shù)乜蛻粢蠡蛄?xí)慣設(shè)定測(cè)井曲線出圖格式〔LogView。參考質(zhì)量控制章節(jié)詳細(xì)講述有關(guān)曲線和輸出的顯示。向儀器供電,觀察電流、電壓等監(jiān)控量。檢查EEPROM信息讀取情況,觀察消息〔Message窗口的信息,確保刻度等數(shù)據(jù)正確加載。開(kāi)啟發(fā)射電流,檢查發(fā)射電流監(jiān)控量變化。確保儀器發(fā)射線圈工作正常。時(shí)間模式測(cè)井,觀察各線圈各頻率原始視電導(dǎo)率信號(hào)是否與儀器所處環(huán)境相一致。檢查儀器的全部輸出量是否全部存在并且合理。下放儀器進(jìn)入泥漿后,觀察原始波形監(jiān)控器上各測(cè)量通道信號(hào)是否正常。儀器進(jìn)入套管后關(guān)閉發(fā)射電流。測(cè)井步驟1.確定儀器工作正常后,以正常速度下放儀器串。2.儀器將要出套管時(shí),開(kāi)啟發(fā)射電流,檢查發(fā)射電流監(jiān)控量變化,確保儀器發(fā)射線圈工作正常。然后在套管中測(cè)量一段曲線,儀器發(fā)射電流開(kāi)啟后,不要在套管中測(cè)量時(shí)間超過(guò)3分鐘。3.儀器下放過(guò)程中可以正常測(cè)井,觀察各子陣列的不同測(cè)量頻率間原始視電導(dǎo)率曲線關(guān)系是否正?！灿捎谮吀叫?yīng),一般來(lái)說(shuō),頻率越高,視電導(dǎo)率越低。同時(shí),結(jié)合泥漿電阻率和地層情況,檢查井眼校正等處理結(jié)果曲線關(guān)系。4.儀器到達(dá)井底后,按照當(dāng)?shù)乜蛻粢筮M(jìn)行重復(fù)段測(cè)井。5.進(jìn)行主曲線測(cè)井。6.實(shí)時(shí)檢查測(cè)井曲線的質(zhì)量。3.4.3注意事項(xiàng)對(duì)AFIT測(cè)井來(lái)說(shuō),最理想的情況是儀器居中。但多數(shù)情況下,很難保證,特別是井斜大于5度時(shí),儀器往往是處于貼井壁狀態(tài)。最糟糕的情況是儀器在井中晃蕩,導(dǎo)致儀器姿態(tài)不確定,特別是在井眼條件不友好,并且泥漿電導(dǎo)率比較大的情況下,會(huì)導(dǎo)致井眼校正嚴(yán)重不可靠。一般的處理方法是使用間隙器〔standoff和燈籠體,關(guān)于間隙器〔standoff和燈籠體的使用原則和注意事項(xiàng),詳見(jiàn)3.7測(cè)井質(zhì)量控制。AFIT測(cè)量時(shí)需要同時(shí)測(cè)量井徑,所以最好儀器串中配上井徑測(cè)量?jī)x器。AFIT是一支只能掛接在儀器串底部的儀器,它的下邊不能再掛接別的測(cè)井儀器。AFIT儀器上有SP測(cè)量傳感器AFIT儀器可以在4.73in到24in的井中測(cè)井。AFIT儀器最高耐溫175°C〔350°F、最高耐壓140MPa〔20Kpsi電阻率測(cè)量：感應(yīng)儀器對(duì)于地層電阻率小于100ohm-m〔電導(dǎo)率大于10mS/m的地層有比較好的反應(yīng)。當(dāng)?shù)貙与娮杪市∮?50ohm-m〔電導(dǎo)率大于4mS/m時(shí),測(cè)量結(jié)果往往可以接受。當(dāng)?shù)貙与娮杪蚀笥?50ohm-m〔電導(dǎo)率小于4mS/m時(shí),感應(yīng)測(cè)量值仍然反應(yīng)地層電阻率,但精度將大大降低。感應(yīng)儀器推薦的電阻率測(cè)量圍一般為小于200ohm-m。對(duì)于AFIT儀器,更詳細(xì)的精度指標(biāo)和測(cè)井安排、以及精度指示,詳見(jiàn)3.7測(cè)井質(zhì)量控制。AFIT儀器分兩截,電子線路短截、探頭和前放短截。吊起連接儀器串時(shí),應(yīng)先吊起探頭和前放短節(jié),并且確保斷開(kāi)供電,同時(shí)注意保護(hù)探頭部分不要過(guò)分用力。AFIT可以在套管短時(shí)間工作,以檢查儀器工作正常。在儀器正常測(cè)井開(kāi)始前確?？潭日_加載。刻度加載信息和方法詳見(jiàn)3.5儀器刻度。在儀器正常測(cè)井開(kāi)始前確保儀器處于發(fā)射電流狀態(tài)；當(dāng)儀器長(zhǎng)時(shí)間處于套管中時(shí)〔5分鐘,確保儀器發(fā)射處于關(guān)閉狀態(tài)。儀器發(fā)射電流開(kāi)關(guān)方法詳見(jiàn)3.4.7儀器命令實(shí)時(shí)的軟聚焦處理會(huì)導(dǎo)致聚焦處理曲線大約30米的延時(shí)。3.4.4輸入輸出參數(shù)AFIT處理參數(shù)見(jiàn)下表3.4.1AFIT處理參數(shù)表。其中參數(shù)"BS","RMS"和"MST"為公共參數(shù),其余為AFIT儀器處理專用參數(shù)。在WellLogging界面可以通過(guò)點(diǎn)擊圖標(biāo)"Parameter"打開(kāi)Service參數(shù)管理表〔見(jiàn)圖3.4.圖3.4.1也可以單擊"View"里面的"Parameter",打開(kāi)Parameter視窗〔見(jiàn)圖3.4圖3.4.2WellLogg圖3.4單擊"View"->"Acquisition",打開(kāi)Acquisition視窗〔見(jiàn)圖3.4.4AcquisitionView。右鍵單擊"AFIT"打開(kāi)"AFIT命令"〔見(jiàn)圖3.圖3.4圖3.4單擊"Parameter"命令可以打開(kāi)AFIT的參數(shù)管理表〔見(jiàn)圖3.4圖3.4通過(guò)鼠標(biāo)雙擊參數(shù)表中參數(shù)彈出修改對(duì)話框來(lái)修改參數(shù)。圖3.4.表3.4.1ATool儀器Parameter參數(shù)簡(jiǎn)稱Description參數(shù)全稱Options選項(xiàng)Default默認(rèn)值DetialDescription參數(shù)說(shuō)明AFITABCCAFITBoreholeCorrectionChoiceAFIT井眼校正選擇No_Borehole_Correction不校正井眼影響Conventional_Correction常規(guī)校正不對(duì)井眼影響作校正Conventional_Correction常規(guī)校正根據(jù)測(cè)量或輸入的井徑、泥漿、偏心等信息校正井眼〔泥漿對(duì)測(cè)量視電導(dǎo)率的影響B(tài)orehole_Size_Inverted優(yōu)化井徑的井眼校正在井徑、泥漿、偏心等井眼校正變量中,其中井徑〔對(duì)應(yīng)于Mud_Resistivity_Inverted為泥漿電阻率,對(duì)應(yīng)于Eccentricity_Inverted為儀器偏心率為優(yōu)化反演得到,其余由測(cè)量曲線或參數(shù)表輸入得到。Mud_Resistivity_Inverted優(yōu)化泥漿電阻率的井眼校正Eccentricity_Inverted優(yōu)化儀器偏心率的井眼校正AFITAIBCAFITBoreholeSizeCorrectionSourceAFIT井眼校正所用井徑選擇BS鉆頭尺寸CALS用于AFIT井眼校正時(shí),井徑曲線或井徑值的選擇。儀器串中有井徑儀或四臂井徑等儀器時(shí)選擇相應(yīng)的曲線作為AFIT井眼校正時(shí)所用井徑輸入。當(dāng)無(wú)曲線可選時(shí),根據(jù)情況,直接用鉆頭直徑〔BS作為井徑輸入,或估計(jì)一合適的值〔Fixed_Value作為井徑輸入。一旦選擇了BS或Fixed_Value,請(qǐng)確保在相應(yīng)參數(shù)表中輸入相應(yīng)的值。CALS井徑曲線CALSFCAL四臂井徑曲線FCALFC13四臂井徑曲線FC13FC24四臂井徑曲線FC24Fixed_Value估計(jì)一個(gè)固定井徑值SharedBSBitSize鉆頭尺寸<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位8.0inAIBC=BS,用作井眼校正時(shí)井徑輸入。AFITFBHDFixedBoreholeDiameter估計(jì)井徑值<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位8.0inAIBC=Fixed_Value,用作井眼校正時(shí)井徑輸入。AFITAITPAFITToolPosition儀器偏心情況Eccentric偏心Eccentric用作井眼校正時(shí)確定儀器偏心率Centered居中AFITSTAIStandoffofAFIT間隙器尺寸<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位1.5in用作井眼校正時(shí)確定儀器偏心率SharedBFTBoreholeFluidType鉆井液類型Water水基泥漿Water井眼介質(zhì)性質(zhì)。用于陣列感應(yīng)儀器井眼校正時(shí)泥漿類型的選擇。Oil油基泥漿Air空氣鉆井SharedMRSOMudResistivitySource泥漿電阻率輸入選擇TTR_MRES用三參數(shù)泥漿電阻率曲線TTR_MRES用于確定泥漿電阻率。當(dāng)MRSO=TTR_MRES時(shí),取TTR讀值MRES；當(dāng)MRSO=RMS時(shí),由RMS,MST和井溫?cái)?shù)據(jù)計(jì)算得到相應(yīng)深度的泥漿電阻率值作為井眼校正時(shí)泥漿電阻率輸入。RMS用泥漿取樣電阻率來(lái)計(jì)算SharedRMSResistivityofMudSample泥漿取樣電阻率<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位1.0ohm.mSharedMSTMudSampleTemperature泥漿取樣溫度<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位25.0degCSharedTESOTemperatureSource井眼中泥漿溫度輸入選擇TTR_MTEP用三參數(shù)井溫曲線TTR_MTEP用于確定井眼中泥漿溫度。當(dāng)TESO=TTR_MTEP時(shí),用TTR儀器測(cè)得的MTE曲線作為泥漿溫度。Linear由井溫梯度計(jì)算用于確定井眼中泥漿溫度。當(dāng)TESO=Linear時(shí),和BHT、TD一起用于計(jì)算井眼某一深度的溫度。SharedSHTSurfaceHoleTemperature井口溫度<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位25.0degC當(dāng)TESO=Linear時(shí),和BHT、TD一起用于計(jì)算井眼某一深度的溫度,然后和RMS,MST一起計(jì)算相應(yīng)深度的泥漿電阻率值。SharedBHTBottomHoleTemperature井底溫度<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位125.0degCSharedTDTotalDepth井深<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)〔注意單位3000.0mAFITMRMMudResistivityMultiplier泥漿修正系數(shù)<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)1.0對(duì)AFIT進(jìn)行井眼校正時(shí),調(diào)整泥漿電阻率的值。SharedSPGASPGainSP增益<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)1.0用于SP的增益控制。SharedSPOFSPOffsetSP偏移<Enteravalue>填入數(shù)據(jù)0.0用于SP的偏移控制。AFITATCSAFITTemperatureCorrectionSourceAFIT溫度補(bǔ)償用溫度輸入選擇UST_DST用輸出UST和DST溫度補(bǔ)償U(kuò)ST_DST用于AFIT儀器的溫度補(bǔ)償計(jì)算時(shí),溫度補(bǔ)償模式及溫度輸入的選擇。UST用輸出UST溫度補(bǔ)償DST用輸出DST溫度補(bǔ)償None不進(jìn)行溫度補(bǔ)償.3.4.5儀器設(shè)置在Acquisition視窗打開(kāi)"AFIT命令"〔見(jiàn)圖3.4.8AFIT命令,單擊"Properties"命令可以打開(kāi)AFIT儀器的屬性管理表〔見(jiàn)圖3.圖3.4.圖3.43.4.6AFIT儀器監(jiān)控量鼠標(biāo)右鍵單擊"WellLoggong"界面監(jiān)控欄彈出"Properties",鼠標(biāo)左鍵單擊"Properties"彈出監(jiān)控設(shè)置表"MonitorSelection"。選擇AFIT儀器的5個(gè)監(jiān)控量。圖3.4各監(jiān)控量監(jiān)控容見(jiàn)下表表3.4監(jiān)控量描述正常圍AFITTxI發(fā)射正電流開(kāi)始發(fā)射380mA—450mA關(guān)閉發(fā)射<30mAAFITDPV信號(hào)處理板接口電源電壓3100mV—3500mVAFITPLV信號(hào)處理板電源電壓4500mV—5200mVAFITPHV發(fā)射正電壓14500mV—15200mVAFITNHV發(fā)射負(fù)電壓-15200mV—-14500mV3.4.7AFIT儀器命令儀器命令包括上測(cè)〔ViewDepthUp和RecordDepthUp下測(cè)〔ViewDepthDown和RecordDepthDown和時(shí)間測(cè)量以及停止測(cè)井<Stop>7個(gè)測(cè)井任務(wù)命令；刻度任務(wù)命令<Calibration>、儀器禁用任務(wù)命令〔AFITDisable和開(kāi)關(guān)發(fā)射電流命令〔TransmitOn,TransmitOff,以及參數(shù)設(shè)置命令〔Parameter和儀器屬性設(shè)置命令〔Properties。發(fā)射使能AFIT儀器如果長(zhǎng)時(shí)間處于金屬套管,信號(hào)將長(zhǎng)期處于飽和狀態(tài)。為保護(hù)儀器,AFIT儀器供電建立通訊后,處于發(fā)射關(guān)閉狀態(tài)。要使儀器開(kāi)始正常工作,需要打開(kāi)儀器發(fā)射開(kāi)關(guān),向井下儀器發(fā)送發(fā)射電流開(kāi)啟命令。開(kāi)啟儀器發(fā)射命令方法為：在Acquisition視窗打開(kāi)"AFIT命令"〔見(jiàn)圖3.4.8AFIT命令,單擊"Transmiton"命令可以開(kāi)啟AFIT發(fā)射。AFIT發(fā)射開(kāi)啟后,AFIT監(jiān)控量"AFITTxI"會(huì)由大約小于30mA的值增大到380mA〔見(jiàn)表3.4反過(guò)來(lái),當(dāng)儀器進(jìn)入套管后,需要關(guān)閉發(fā)射。同時(shí)調(diào)低電壓。圖3.43.5儀器刻度.刻度原理陣列感應(yīng)儀器測(cè)量得到各子陣列的感應(yīng)電壓信號(hào)經(jīng)放大、數(shù)字化等處理后上傳至地面系統(tǒng),地面系統(tǒng)通過(guò)刻度計(jì)算〔如〔公式3.1所示把井下測(cè)量信號(hào)轉(zhuǎn)化為視電導(dǎo)率信號(hào)。<3.1>如果不考慮溫度影響,則刻度計(jì)算簡(jiǎn)化為：<3.1’>公式中,S是上傳測(cè)量信號(hào)；G是刻度增益；是儀器誤差；是與溫度有關(guān)的溫度效應(yīng)。規(guī)定溫度為25oC時(shí),作為參考值,溫度效應(yīng)為0。陣列感應(yīng)儀器采用線性模型來(lái)刻度儀器信號(hào)。就是把刻度前的感應(yīng)信號(hào)和刻度后的視電導(dǎo)率工程值之間的關(guān)系近似為式3.1的簡(jiǎn)單的線性關(guān)系。這樣刻度的目的就是求取一個(gè)乘法系數(shù)〔稱為刻度增益和一個(gè)加法系數(shù)〔稱為刻度偏移。為求得刻度系數(shù),即刻度增益和刻度偏移,刻度過(guò)程需要三個(gè)步驟來(lái)完成：有環(huán)刻,無(wú)環(huán)刻和自由空間刻度。無(wú)環(huán)刻時(shí)把儀器水平放置在無(wú)感架子上,此時(shí)有：<3.2>公式中,是地面和環(huán)境貢獻(xiàn)的視電導(dǎo)率；是儀器離地面的高度。架子高度一般選為5ft。是無(wú)環(huán)刻過(guò)程中儀器的溫度影響。此時(shí)儀器測(cè)到的是"半空間"以及儀器本身對(duì)測(cè)量信號(hào)的貢獻(xiàn)。有環(huán)刻時(shí),儀器仍保持無(wú)環(huán)刻時(shí)的狀態(tài),然后把刻度環(huán)套在儀器上,使刻度環(huán)滑過(guò)整個(gè)探頭部分。此時(shí)有：<3.3>公式中,是刻度環(huán)的等效電導(dǎo)率；是有環(huán)刻過(guò)程中儀器的溫度影響；是架子高度。保持有環(huán)刻和無(wú)環(huán)刻的架子高度不變,即。由<3.2>和<3.3>得到刻度增益；<3.4>溫度影響和可以通過(guò)溫度校正得到,也可以通過(guò)保持有環(huán)刻和無(wú)環(huán)刻時(shí)的環(huán)境溫度基本相同,即和相差較小使得：。這樣可以得到增益：自由空間刻度時(shí),儀器被吊到大約離地面20ft的高度。一般地,在此高度,半空間對(duì)儀器測(cè)量信號(hào)的影響已經(jīng)可以忽略。認(rèn)為測(cè)量信號(hào)貢獻(xiàn)主要來(lái)自于儀器本身,稱之為儀器誤差。此時(shí)有：<3.5>由<3.5>,可得到儀器誤差<3.6>3.5.2刻度前準(zhǔn)備及安全事項(xiàng)儀器上電、通訊建立后,地面軟件會(huì)讀取保存在EEPROM當(dāng)中的"儀器最新刻度"作為默認(rèn)刻度,如果由于EEPROM故障或通訊問(wèn)題等原因?qū)е翬EPROM讀取失敗,或者讀取的EEPROM"儀器最新刻度"和儀器序列號(hào)不一致,都將導(dǎo)致加載默認(rèn)刻度失敗,同時(shí)軟件在"MessageView"給出提示信息"加載默認(rèn)刻度失敗"。此時(shí)可以通過(guò)重新啟動(dòng)儀器讀取EEPROM信息或者在刻度界面Load備份刻度文件來(lái)加載默認(rèn)刻度。備份刻度文件保存在隨機(jī)附送的U盤(pán)里。在WellScope-WellLogging界面下選View->Acquisition〔如圖3.4.2,然后右鍵單擊AFIT,彈出AFIT命令界面〔如圖3.4.5。點(diǎn)"ShopCalibration"彈出刻度界面〔如圖3.53.5.1AFIT刻度界面圖3.5.2AFIT刻度文件管理界面如果EEPROM讀取信息成功,則默認(rèn)刻度會(huì)顯示在刻度文件管理窗口,選定該條記錄,然后點(diǎn)select〔如圖3.5.3,彈出刻度數(shù)據(jù)顯示窗口〔如圖3.圖3.5圖3.5選好默認(rèn)刻度后點(diǎn)Exit返回測(cè)井WellScope-WellLogging界面,檢查AFIT參數(shù)設(shè)置,確認(rèn)溫度校正參數(shù)ATCS為UST_and_DST<如圖3.5圖3.5圖3.5選定刻度和參數(shù)后可以選擇在時(shí)間模式下測(cè)井,觀察儀器在刻度現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境下測(cè)得的原始曲線以檢驗(yàn)?zāi)J(rèn)刻度數(shù)據(jù)、檢查儀器的穩(wěn)定性和刻度現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境,檢查UST、DST、ET等溫度測(cè)量。安全第一,刻度時(shí)由于要使用卷?yè)P(yáng)機(jī)和刻度架等設(shè)施來(lái)起吊儀器,所以必須確保設(shè)備和人生安全?？潭炔僮髑氨仨毥?jīng)過(guò)安全培訓(xùn)和刻度設(shè)備操作培訓(xùn)和考核,并取得相關(guān)刻度操作書(shū)?？潭葧r(shí)至少需要5人,一人負(fù)責(zé)地面軟件操作,一人負(fù)責(zé)卷?yè)P(yáng)機(jī)操作,兩人負(fù)責(zé)刻度架下感應(yīng)儀器的升降作業(yè)和儀器安全,一人負(fù)責(zé)監(jiān)督現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境和操作安全。刻度作業(yè)時(shí)一定要穿長(zhǎng)袖工服,戴防滑手套,安全帽,穿帶有鋼板保護(hù)的安全工鞋?？潭惹耙欢ㄒ屑?xì)檢查刻度架情況,察看玻璃鋼柱子和橫梁是否斷裂、開(kāi)裂、損壞,要注意玻璃鋼表面毛刺,小心被扎傷。檢查起吊鉤子和繩子情況,小心鉤子砸到腳；考慮到玻璃鋼鉤子比較重,起吊儀器掛鉤子時(shí),要順勢(shì)扶好鉤子,不要試圖用力拉起鉤子,以防砸到腳。降下儀器卸下鉤子時(shí),要順勢(shì)把鉤子放在地面上,保持鉤子平穩(wěn)躺在地上,使之勢(shì)能最小。不要讓鉤子依靠在玻璃港柱子上,以鉤子防滑倒后咂傷腳。檢查卷?yè)P(yáng)機(jī)及鋼絲繩安全情況。察看卷?yè)P(yáng)機(jī)基座是否牢固,檢查固定卷?yè)P(yáng)機(jī)的螺絲是否松動(dòng)。檢查卷?yè)P(yáng)機(jī)升降啟?？刂剖欠裾?檢查鋼絲繩是否破損。車間刻度由于陣列感應(yīng)儀器AFIT的靈敏度較高,為保證儀器的測(cè)量精度,AFIT的刻度要求在空曠、周圍無(wú)導(dǎo)電介質(zhì),無(wú)外來(lái)信號(hào)干擾的無(wú)感環(huán)境中進(jìn)行。一般要求刻度現(xiàn)場(chǎng)周圍20m以無(wú)金屬,基于刻度精度以及安全考慮,AFIT的刻度盡量在無(wú)風(fēng),晴朗的天氣進(jìn)行。AFIT的車間刻度包括刻度準(zhǔn)備、刻度數(shù)據(jù)采集、刻度計(jì)算、刻度檢查和保存等步驟。AFIT的車間刻度數(shù)據(jù)采集包括無(wú)環(huán)刻度〔Loopoff、帶環(huán)刻度〔LoopOn、自由空間刻度〔FreeSpace三個(gè)步驟。無(wú)環(huán)刻度〔Loopoff、帶環(huán)刻度〔LoopOn在5ft至8ft高的木架子上進(jìn)行,自由空間刻度〔FreeSpace一般在18ft至20ft高的架子上進(jìn)行,以盡可能的避開(kāi)的影響。AFIT車間刻度前的準(zhǔn)備工作主要有：檢查AFIT儀器和刻度環(huán)、刻度電阻器、以及計(jì)算機(jī)、網(wǎng)絡(luò)通訊設(shè)備、刻度架、卷?yè)P(yáng)機(jī)等,確保人身和設(shè)備安全。清理現(xiàn)場(chǎng),確保環(huán)境符合刻度要求,特別是確?，F(xiàn)場(chǎng)安全；把AFIT儀器水平放置在刻度架下的高木架子上。一般地,用3個(gè)高木架子來(lái)架起AFIT儀器。其中一個(gè)架子要盡可能地放在儀器玻璃鋼部分的最下端,儀器超出架子部分不要超過(guò)10cm；另外兩個(gè)架子要放在儀器的金屬外殼部分下面〔如圖,以保證為刻度環(huán)在儀器探頭部分留出更大的感應(yīng)空間；用網(wǎng)線把儀器連接到計(jì)算機(jī)上；用帶接地的三孔電源通過(guò)穩(wěn)壓器給儀器供電；啟動(dòng)地面軟件,在Comboard模式下建立計(jì)算機(jī)和儀器的通訊；檢查儀器出廠刻度等EEPROM數(shù)據(jù)加載情況,必要時(shí)從移動(dòng)介質(zhì)中讀取AFIT儀器的EEPROM備份信息；時(shí)間模式采集信息,使儀器預(yù)熱至少10分鐘,同時(shí)檢查各輸出量,判斷儀器工作狀態(tài)正常。打開(kāi)地面軟件的刻度界面,加載刻度模版。點(diǎn)擊下圖的"PreHeat"按鈕,啟動(dòng)刻度數(shù)據(jù)采集,查看原始數(shù)據(jù)和曲線,待儀器穩(wěn)定后,即可開(kāi)始刻度數(shù)據(jù)采集過(guò)程。圖刻度架及高木架子擺放圖3.5.在AFIT儀器預(yù)熱完成后可以進(jìn)行車間刻度的數(shù)據(jù)采集任務(wù)。AFIT車間刻度的數(shù)據(jù)采集過(guò)程中,無(wú)環(huán)刻度〔Loopoff、帶環(huán)刻度〔LoopOn、自由空間刻度〔FreeSpace三個(gè)步驟可以任意順序執(zhí)行。此外,任一步驟都可以重復(fù)進(jìn)行,待三個(gè)步驟全部結(jié)束后可以執(zhí)行刻度計(jì)算,然后檢查并保存刻度結(jié)果。下面詳細(xì)介紹AFIT儀器車間刻度數(shù)據(jù)采集的無(wú)環(huán)刻度〔Loopoff、帶環(huán)刻度〔LoopOn、自由空間刻度〔FreeSpace三個(gè)過(guò)程。無(wú)環(huán)刻度〔Loopoff采集的主要步驟：把儀器水平放置在刻度架下的木凳子上<如圖>,檢查儀器周圍環(huán)境,確保10米圍無(wú)金屬等影響儀器測(cè)量信號(hào)的設(shè)備。點(diǎn)擊"Loopoff"按鈕,開(kāi)始無(wú)環(huán)刻度過(guò)程的數(shù)據(jù)采集,大約2分鐘后采集任務(wù)的進(jìn)度條結(jié)束；無(wú)環(huán)刻度"Loopoff"采集任務(wù)完成后,地面軟件會(huì)給出"Loopoff"過(guò)程中各曲線數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)量,包括各刻度項(xiàng)的均值和方差〔如下圖,以便確定數(shù)據(jù)質(zhì)量。一般要求各數(shù)據(jù)項(xiàng)的方差不要超過(guò)2mS/m,如果某項(xiàng)數(shù)據(jù)方差過(guò)大,分析原因。如果是儀器問(wèn)題,維修儀器后再刻度；如果是環(huán)境問(wèn)題,排除或避開(kāi)環(huán)境干擾后重新2、3步驟操作。圖無(wú)環(huán)刻"Loopoff"采集曲線及數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)有環(huán)刻度〔Loopon采集的主要步驟：保持儀器同"Loopoff"階段同樣位置和狀態(tài)；把刻度環(huán)套在儀器上,接上刻度電阻〔如下圖,并把刻度環(huán)沿玻璃鋼外殼盡可能推至儀器的底端；點(diǎn)Loopon按鈕,然后在1分鐘的進(jìn)度條時(shí)間拉動(dòng)刻度環(huán),使刻度環(huán)滑過(guò)整個(gè)Sonde〔玻璃鋼部分；有環(huán)刻度"Loopon"采集任務(wù)完成后,地面軟件會(huì)給出"Loopon"過(guò)程中各曲線數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)量,包括各刻度項(xiàng)的"波峰值"和"波谷值"〔如圖,以便確定數(shù)據(jù)質(zhì)量。檢查曲線和數(shù)據(jù),如果某項(xiàng)數(shù)據(jù)和預(yù)定值偏差過(guò)大,分析原因。如果是儀器問(wèn)題,維修儀器后再刻度；如果是環(huán)境問(wèn)題,排除或避開(kāi)環(huán)境干擾后重新2、3步驟操作。一般地"Loopoff"和"Loopon"應(yīng)盡可能的在比較短時(shí)間完成,以保證儀器溫度以及周圍環(huán)境對(duì)采集信號(hào)的影響相差不大。圖刻度環(huán)與有環(huán)刻"Loopon"圖有環(huán)刻"Loopon"采集曲線及數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)自由空間刻度〔FreeSpace采集的主要步驟：把刻度環(huán)從儀器上取下來(lái)；再次檢查卷?yè)P(yáng)機(jī)和刻度架等起吊設(shè)備,檢查操作人員安全帽佩戴等情況,確保現(xiàn)場(chǎng)安全；用刻度架上的玻璃鋼鉤子把AFIT儀器吊起來(lái),用卷?yè)P(yáng)機(jī)把儀器升高到離地大約20ft等儀器在高空中停止晃動(dòng)后,點(diǎn)"Freespace"按鈕,同無(wú)環(huán)刻度"loopoff"類似大約2分鐘后進(jìn)度條結(jié)束。自由空間刻度"Freespace"采集任務(wù)完成后,地面軟件會(huì)給出"Freespace"過(guò)程中各曲線數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)量,包括各刻度項(xiàng)的均值和方差〔如下圖,以便確定數(shù)據(jù)質(zhì)量。一般要求各數(shù)據(jù)項(xiàng)的方差不要超過(guò)2mS/m,如果某項(xiàng)數(shù)據(jù)方差過(guò)大,分析原因。如果是儀器問(wèn)題,維修儀器后再刻度；如果是環(huán)境問(wèn)題,排除或避開(kāi)環(huán)境干擾后重新3、4步驟操作。圖儀器吊起與自由空間刻度〔FreeSpace圖自由空間刻度"FreeSpace"采集曲線及數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)圖刻度計(jì)算結(jié)果刻度數(shù)據(jù)采集的三個(gè)步驟都完成后,點(diǎn)擊Compute按鈕,計(jì)算刻度系數(shù),并顯示在AFIT刻度數(shù)據(jù)顯示窗口〔如圖3.53.5.4刻度報(bào)告刻度完成后檢查、核對(duì)刻度系數(shù),如果質(zhì)量合格可以點(diǎn)Save按鈕保存至數(shù)據(jù)庫(kù),然后導(dǎo)出并且備份,也可以選擇SavetoEPPROM,保存到AFIT儀器的EPPROM。同時(shí)原EPPROM數(shù)據(jù)被覆蓋。下圖和圖3.5.16是陣列感應(yīng)儀器AFIT-A的刻度報(bào)告。其中藍(lán)色表示刻度值在容限圍,紅色表示偏大而綠色表示偏小。圖中四個(gè)刻度項(xiàng)分別為刻度增益的幅度、刻度增益的相位、儀器誤差的實(shí)部和虛部。其中儀器誤差的單位為mS/m。每項(xiàng)中A0到A6表示從短到長(zhǎng)不同源距的7個(gè)子陣列,F0到F5表示從16kHz到112kHz的6個(gè)測(cè)量頻率。下面附表-表3.5.5為各刻度項(xiàng)的推薦刻度值圍。圖刻度報(bào)告Gain部分圖刻度報(bào)告SondeError部分.表GainR上下界FAF0F1F2F3F4F5UpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundA01.080.751.060.751.050.741.030.741.000.701.000.68A11.080.751.060.751.050.741.030.741.000.701.000.68A21.080.751.060.751.060.741.030.741.000.691.000.68A31.080.751.070.751.060.731.030.731.000.681.000.66A41.090.751.070.751.060.731.030.721.000.670.960.64A51.100.751.080.751.070.731.030.701.000.630.930.58A61.100.751.080.751.070.731.030.680.960.580.860.50表GainX上下界FAF0F1F2F3F4F5UpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundA00.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.3-0.2A10.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.3-0.2A20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.3-0.2A30.2-0.20.2-0.20.2-0.20.2-0.20.3-0.20.3-0.2A40.2-0.20.2-0.20.2-0.20.3-0.20.3-0.20.3-0.2A50.2-0.20.2-0.20.3-0.20.3-0.30.4-0.30.5-0.3A60.2-0.20.2-0.20.3-0.20.4-0.30.5-0.30.6-0.3表SondeER上下界FAF0〔mS/mF1〔mS/mF2〔mS/mF3〔mS/mF4〔mS/mF5〔mS/mUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundA0900.00600.00600.00300.0350.00140.00200.0070.00130.0040.00100.0020.00A1-300.00-500.00-160.00-250.00-60.00-120.00-10.00-75.00-10.00-50.00-10.00-60.00A2-70.00-100.00-40.00-60.00-10.0-40.0000.00-30.000.00-25.005.00-20.00A3-15.0-35.000-7.00-25.005.0-20.005.00-20.0010.00-20.0010.00-20.00A40.00-25.005.00-40.0010.0-20.005.00-20.0010.00-20.0010.00-20.00A515.00-35.0010.00-35.0010.00-30.0010.00-40.0010.00-40.005.00-50.00A6300.00-500.001.00-25.0010.00-30.0010.00-30.0010.00-40.0010.00-50.00表SondeEX上下界FAF0〔mS/mF1〔mS/mF2〔mS/mF3〔mS/mF4〔mS/mF5〔mS/mUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundA0900.00-300.00350.00-300.0070.00-350.00-80.00-400.00-150.00-600.00-200.00-800.00A1350.00-300.00300.00200.00150.00-150.0080.00-120.0030.00-150.000.00-200.00A260.00-50.0030.00-15.0015.00-20.000.00-40.000.00-50.000.00-80.00A360.00-20.0030.00-15.0010.00-20.000.00-40.000.00-50.000.00-80.00A4150.000.0090.00-10.0030.00-25.000.00-60.000.00-80.000.00-100.00A5250.0080.00150.0040.0030.00-35.0020.00-120.00-40.00-200.00-60.00-300.00A6150.0060.0070.0020.0030.00-35.0020.00-80.0015.00-170.0025.00-250.00表GainPhase上下界FAF0〔DegCF1〔DegCF2〔DegCF3〔DegCF4〔DegCF5〔DegCUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundUpperboundLowerboundA05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0A15.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0A25.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0A35.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0A45.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0A55.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0A65.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.05.0-5.0.3.6維護(hù)與檢測(cè)本部分包括一系列的工具和備件,用來(lái)進(jìn)行儀器的保養(yǎng)和維護(hù)。需要在每次測(cè)井后進(jìn)行儀器保養(yǎng),同時(shí)在一段周期后進(jìn)行相應(yīng)的維護(hù)工作。3.6.1工具勾頭扳手,螺絲刀,棉布,絲扣油,密封硅脂,O圈。3.6.2日常維護(hù)1、徹底清洗儀器,確保儀器外部沒(méi)有油脂和泥漿,特別要沖洗玻璃鋼外殼兩端金屬件上的螺釘六角螺釘?shù)陌疾邸?、檢查密封圈,如果有磨損,應(yīng)更換,并涂上密封硅脂。3、卸下全部螺紋環(huán),擦拭螺紋環(huán)螺紋及旋轉(zhuǎn)面,重新涂刷絲扣油。4、擦拭儀器外殼螺紋處及旋轉(zhuǎn)面處,并重新涂刷絲扣油。5、檢查和清洗電子線路兩端的插頭、插座及線圈頂部插座。6、擦拭自然電位電極表面。3.6.3二級(jí)保養(yǎng)每三口井進(jìn)行一次。由儀修人員完成,由儀修檢定員檢定。1、檢查儀器各連接插頭插座與電子線路連接是否可靠。2、緊固電子線路框架、電路板及電路元件。3、檢查電路布線是否有變化,是否合理。4、線圈系要及時(shí)充滿硅油,擰緊油孔螺釘。循環(huán)油設(shè)備操作規(guī)3.61、設(shè)備組成循環(huán)油設(shè)備包括儲(chǔ)油桶、真空泵、循環(huán)油泵、過(guò)濾器、抽油閥、回油閥、真空閥、大氣閥、壓力表、油管、快速接頭、電控箱和小車等部件。2、設(shè)備使用參數(shù)交流電源：380V,50Hz,三角形連接 工作介質(zhì)：硅油油桶容量：50L額定儲(chǔ)油量：40L額定真空度：-80kPa油管規(guī)格：Φ10×1 循環(huán)油泵流量：1L/Min3、設(shè)備工作原理工作時(shí),循環(huán)油設(shè)備的抽油口和回油口通過(guò)快速接頭和轉(zhuǎn)接頭〔非標(biāo)分別與測(cè)井儀器注油段的入口和出口相連,使油桶、油管和測(cè)井儀器注油段形成一個(gè)連通且密閉的空間。利用真空泵將該空間的空氣抽出后,通過(guò)自吸入方式或循環(huán)方式使硅油注入儀器。原理圖如下：3.61、使用前的檢查〔1轉(zhuǎn)接頭、油管、閥門(mén)等部位是否可靠密封〔2交流電源是否正確接入〔3儲(chǔ)油桶的油量和清潔度〔4循環(huán)油泵的潤(rùn)滑油量2、設(shè)備的連接〔1轉(zhuǎn)接頭與儀器〔2關(guān)閉循環(huán)油裝置上所有閥門(mén)〔3循環(huán)油抽油口與回油口通過(guò)快速接頭分別與儀器的入口和出口相連注意,為使儀器的空氣能最大限度排出,儀器的放置應(yīng)使出口端應(yīng)高于入口端,以豎直放置為最佳。3、抽真空〔1打開(kāi)循環(huán)油桶上的真空口和回油口閥門(mén),儲(chǔ)油桶與儀器形成的密閉空間與真空泵連通〔2電控箱上電〔3開(kāi)啟真空泵,觀察壓力表變化,抽至所需真空度,最大-80kPa〔4真空度達(dá)到目標(biāo)值后,同時(shí)關(guān)閉真空泵和真空口閥門(mén)〔5保壓一段時(shí)間后觀察壓力表讀數(shù),壓力如有升高,檢查管路和各接口位置的密封和連接4、儀器注油a> 吸入式抽真空完畢后,將大氣口閥門(mén)打開(kāi),使儲(chǔ)油桶與大氣連通。再打開(kāi)循環(huán)油桶上的抽油口閥門(mén),利用儀器的負(fù)壓將油桶的油吸入。待外壓力平衡后,關(guān)閉抽油口閥門(mén),重復(fù)步驟3和吸油過(guò)程,直至達(dá)到滿意的注油效果。該方式適用于儀器部結(jié)構(gòu)較復(fù)雜,油路不暢的情況。b> 循環(huán)式抽真空完畢后,打開(kāi)儲(chǔ)油桶上的抽油口閥門(mén),保持回油口閥門(mén)的打開(kāi)狀態(tài),其它閥門(mén)關(guān)閉。打開(kāi)循環(huán)油泵,利用硅油在儀器的長(zhǎng)時(shí)間循環(huán)將空氣全部排出。該方式適用于儀器部油路順暢的情況,可實(shí)現(xiàn)較高的效率。以上兩種方式可根據(jù)實(shí)際情況混合應(yīng)用。3.6循環(huán)油設(shè)備的維護(hù)1、真空泵潤(rùn)滑油低于泵身所指示位置時(shí)需及時(shí)添加；2、保持儲(chǔ)油桶及所有接口處的清潔；3、定期檢查過(guò)濾器,更換濾芯。3.7測(cè)井質(zhì)量控制3.7.1測(cè)速標(biāo)準(zhǔn)測(cè)速為540m/hr,或1800ft/hr。最大測(cè)速為1080m/hr,或3600ft/hr。測(cè)速太高會(huì)降低曲線的分辨率。3.7.2環(huán)境陣列感應(yīng)井眼影響校正需要井徑和井眼泥漿電阻率作為輸入,井徑和泥漿電阻率的準(zhǔn)確性直接影響井眼校正的正確性。井眼影響校正不夠或過(guò)量時(shí),淺探測(cè)〔受井眼影響較大的曲線會(huì)偏離深探測(cè)〔受井眼影響較小的曲線,造成假性〔不是侵入產(chǎn)生的曲線差異。井眼校正不能消除所有的環(huán)境因素影響,不規(guī)則井眼、橢圓井眼、螺旋井眼、特層/泥漿電阻率對(duì)比度〔Rt/Rmud>100的井眼、特大井徑〔>12in井眼都會(huì)造成曲線問(wèn)題。咸水泥漿〔Rmud<0.1歐姆米井中,淺探測(cè)的子陣列〔子陣列0、子陣列1讀數(shù)的大部分來(lái)自井眼,在大井眼并告地層電阻率的情況下,井眼信號(hào)可能占60%以上,總讀數(shù)的測(cè)量誤差有可能比地層信號(hào)還大,這時(shí)特容易出現(xiàn)過(guò)校正或欠校正。過(guò)校正時(shí),可能出現(xiàn)不可理解的增阻侵入表象,甚至淺曲線"飛"向飽和高電阻。欠校正時(shí),致密非滲透段可能出現(xiàn)減阻侵入表象。層與圍巖電阻率對(duì)比度〔Rt/Rs>100也會(huì)造成曲線畸變,這種現(xiàn)象經(jīng)常發(fā)生在泥巖與碳酸巖相鄰的層段。應(yīng)用扶正器、間隙器和底部裝燈籠體儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置的穩(wěn)定十分重要。陣列感應(yīng)儀器在居中情況下測(cè)量效果要好些,不裝任何扶正和裝間隙器時(shí)測(cè)量結(jié)果差。在井眼條件允許的情況下,陣列感應(yīng)儀器應(yīng)裝間隙器〔Standoff,儀器底部裝燈籠體。如果儀器在井眼中逛蕩〔sidetoside嚴(yán)重,則短源距的子陣列會(huì)產(chǎn)生曲線畸變,且無(wú)法在后處理中校正掉。在直井中〔傾斜角小于5度,應(yīng)用扶正器,處理參數(shù)選居中〔Centered。注意,即使用了扶正器,也應(yīng)該裝間隙器〔Standoff和或底部裝燈籠體,因?yàn)榉稣饕矔?huì)有支撐不住的時(shí)候。金屬扶正器需裝在儀器電子線路的外殼上。在井斜大于5度的井中,重力將把儀器推至井壁,此時(shí)處理參數(shù)選偏心〔Eccentered,儀器必須裝間隙器〔Standoff和或底部裝燈籠體。只要間隙器〔Standoff和或底部裝燈籠體不影響測(cè)井作業(yè)安全,就必須裝間隙器〔Standoff和或底部裝燈籠體。井眼校正超過(guò)半數(shù)的陣列感應(yīng)測(cè)井曲線問(wèn)題與井眼環(huán)境影響有關(guān),陣列感應(yīng)測(cè)井的配置參數(shù)幾乎都圍繞井眼環(huán)境影響校正,學(xué)習(xí)和理解陣列感應(yīng)井眼影響及其校正方法是測(cè)好陣列感應(yīng)儀器的重要關(guān)鍵之一。陣列感應(yīng)井眼影響與四個(gè)參數(shù)有關(guān),它們是：井徑〔Caliper、泥漿電阻率〔Rmud、儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置〔用Ecc表示和地層電阻率〔Rf。理想的井眼校正是事先這四個(gè)參數(shù)的值都知道,但事實(shí)上大多情況下我們會(huì)有不知道的。地層電阻率〔Rf可以從測(cè)量曲線求得,其它三個(gè)參數(shù)的已知/未知組合構(gòu)成了陣列感應(yīng)井眼校正方法選擇〔options,包括：No_Borehole_Correction不作井眼校正。本選擇更多是為了分析問(wèn)題時(shí)用,油基泥漿且地層電阻率不高時(shí)也可使用。Conventional_Correction傳統(tǒng)井眼校正。用于已知井徑〔Caliper、泥漿電阻率〔Rmud、儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置〔用Ecc表示的情況。Borehole_Size_Inverted井徑未知需反演。用于泥漿電阻率〔Rmud、儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置〔用Ecc表示已知,井徑未知的情況。Mud_Resistivity_Inverted泥漿電阻率未知需反演。用于井徑〔Caliper、儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置〔用Ecc表示已知,泥漿電阻率未知的情況。Eccentricity_Inverted儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置未知需反演。用于井徑〔Caliper、泥漿電阻率〔Rmud已知,儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置未知的情況。如果使用扶正器或知道井斜度大于5度,儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置是可定的,這時(shí)可選Conventional_Correction,但選擇Eccentricity_Inverted可能得到更好的曲線。用反演來(lái)求得未知井眼參數(shù)時(shí),只是以最佳井眼校正效果為目標(biāo),一般來(lái)講所求得的參數(shù)與真實(shí)測(cè)量的值有差異,不建議用反演來(lái)的井眼參數(shù)去作與本感應(yīng)處理無(wú)關(guān)的用途,如這里反演來(lái)的井徑不可用來(lái)計(jì)算水泥體積。不管用哪種選擇,井徑〔Caliper、泥漿電阻率〔Rmud、儀器在井眼中相對(duì)井壁的位置〔用Ecc表示都必須給值,未知井眼參數(shù)的值在程序里用作初始值。間隙器〔Standoff尺寸原則上,鉆頭尺寸越大所用間隙器〔Standoff尺寸越大。下表給出了不同井徑時(shí)應(yīng)選用的間隙器〔Standoff尺寸。表間隙器〔Standoff尺寸選擇表井徑〔in.間隙器尺寸<in.><6.50.51.01.52.0>11.52.53.7.3測(cè)量誤差控制表重復(fù)曲線精度VRM曲線標(biāo)準(zhǔn)方差120英寸1.00mS/m+2.0%90英寸1.00mS/m+2.0%60英寸1.00mS/m+2.0%30英寸1.25mS/m+2.0%20英寸1.50mS/m+2.5%10英寸2.00mS/m+3.0%表原始曲線精度頻率子陣列112kHz88kHz64kHz40kHz24kHz16kHz子陣列0<最淺>3.0mS/m+4%3.0mS/m+4%3.0mS/m+4%3.0mS/m+4%3.0mS/m+4%4.0mS/m+5%子陣列12.0mS/m+3%2.0mS/m+3%2.0mS/m+3%2.0mS/m+3%2.0mS/m+3%3.0mS/m+3%子陣列21.5mS/m+2%1.5mS/m+2%1.5mS/m+2%1.5mS/m+2%1.5mS/m+2%2.0mS/m+3%子陣列31.0mS/m+2%1.0mS/m+2%1.0mS/m+2%1.0mS/m+2%1.0mS/m+2%1.5mS/m+