2024年-dppm統(tǒng)計方式參考幻燈片

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崑山定宏光電有限公司

DPPM製程不良統(tǒng)計方法

PREPAREDBYQADEPARTMENT22主要內(nèi)容DPPM概念介紹計數(shù)值與計量值統(tǒng)計方法定義及區(qū)別CPK與良率及sigma對應(yīng)關(guān)係定宏採用之DPPM製程統(tǒng)計方法定宏製程DPPM統(tǒng)計目標(biāo)定宏採用DPPM統(tǒng)計目的及改進(jìn)措施23

DPPM相關(guān)知識解釋DPPM:DefectPartPerMillion:百萬分之一不良品產(chǎn)品品質(zhì)特性的記錄一般分成計數(shù)值或計量值，計數(shù)值又以計件或計點為記錄，計量值以實際量測之特性值計量值則以製程能力指數(shù)Cp、k（Ca）、Cpk為代表計數(shù)值一般以MIL-STD-105E之AQL來衡量,AQL在10以下時，可表計件的不良率或計點的缺點數(shù)，AQL在10以上時，則表計點的缺點數(shù)或每百件缺點24計量值衡量標(biāo)準(zhǔn):Cpk—製程能力指標(biāo)(1)Ca之計算方式如下(準(zhǔn)確度)

實績平均值-規(guī)格中心值X-u Ca=----------------------------------*100%=--------------*100%

規(guī)格公差/2T/2 T=USL-LSL

=規(guī)格上限--規(guī)格下限規(guī)格公差6個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=T6σCp=(雙邊規(guī)格)(單邊規(guī)格)或規(guī)格上限-實績平均值3個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=USL-X3σCp=實績平均值-規(guī)格下限3個估計實績標(biāo)準(zhǔn)差=X-LSL3σCp=Cpk=(1─│Ca│)*Cp(2)Cp之計算方式:(精確度)(3)製程能力指數(shù)25計量值品質(zhì)統(tǒng)計衡量方式

Cpk&Sigma(中心點不偏移Cp=Cpk)26計量值品質(zhì)統(tǒng)計衡量方式Cpk&Sigma(中心點偏移1.5σ)27計數(shù)值製程良率衡量指標(biāo)製程良率（Yield）：一般以一製程之投入產(chǎn)品件數(shù)與該製程輸出良品的件數(shù)之比率。以上適用於電子零件、半導(dǎo)體等製程，其不良品無法修理而報廢者。裝配廠的製程，其不良品大致上都可以修理，修理好的產(chǎn)品，再回線測試，繼續(xù)裝配，如此要定義其良率應(yīng)以各製程的初檢通過率（FirstTimeYield；FTY）較為合理。初檢通過率（FirstTimeYield；FTY）:一製程投入產(chǎn)品件數(shù)與第一次檢驗就通過之件數(shù)之比率。

全製程之直通率（RolledThroughoutYield）:定義為全製程的投入產(chǎn)品件數(shù)與通過全製程無缺點產(chǎn)品件數(shù)之比率，不過在製程上要準(zhǔn)確計算比較困難，一般以各製程的良率相乘

28檢點數(shù)與良率的關(guān)係

一.檢點數(shù)與良率的關(guān)係(中心不偏移目標(biāo)值)

檢點數(shù)ｎ3σ4σ5σ6σ199.73%99.9937%99.999943%99.9999998%299.6499.9999.999999.99999398.6699.9799.999799.999991097.3399.9499.999499.999995087.3699.6999.99799.9999910076.3199.7399.99499.9999850025.8896.9099.9799.9999010006.7093.8999.9499.999829檢點數(shù)與良率的關(guān)係二.檢點數(shù)與良率的關(guān)係(中心偏移目標(biāo)值1.5σ)檢點數(shù)ｎ3σ4σ5σ6σ193.32%99.797%99.9767%99.99966%287.0998.7699.9599.99932370.7796.9399.8899.99831050.0993.9699.7799.9966503.1573.2498.8499.981000.1053.6497.7099.9665000.004.4489.0299.8310000.000.2079.2499.66210計數(shù)值計點的品質(zhì)

1.一般資訊電子產(chǎn)品只要有一個缺點就應(yīng)視為不良品，但是一個不良品可能有一個以上的缺點，因此以平均每件幾個缺點較能完全表示品質(zhì)，以dpu（DefectsPerUnit）為單位2.一般不同產(chǎn)品的每件檢點數(shù)不同，檢點數(shù)愈多，dpu就可能愈大，以dpu的大小來比較產(chǎn)品品質(zhì)的好壞似乎不太合理，因此用總檢點數(shù)與總?cè)秉c數(shù)之比來比較品質(zhì)會客觀一點；以dppm（DefectPartsPerMillion）為單位.dpu是代表每件產(chǎn)品平均有幾個缺點，而dppm是每檢查一百萬的檢點平均有幾個缺點。211定宏光電將採用統(tǒng)計方法針對每一Process(或站別)列出檢點數(shù)如附表總檢點數(shù)=抽樣件數(shù)*檢點數(shù)/件依每一站別IPQC抽檢不良點數(shù)作為統(tǒng)計Dpu製程DPPM=抽檢出不良總點數(shù)與整個製程總檢點數(shù)比值

各工站(Process)製程良率=產(chǎn)出數(shù)/投入數(shù)

全製程直通率=各工站(Process)製程良率相乘以上可以整體反映產(chǎn)線狀況,但有時有來料不良,這樣對產(chǎn)線製程管控似乎不太公平,故類似上述做法,引出以下概念

I.產(chǎn)線DPPM=(抽檢出不良總點數(shù)-來料不良總點數(shù))/整個製程總檢點數(shù)

II.各工站(Process)產(chǎn)線良率=產(chǎn)出數(shù)/(投入數(shù)-來料不良數(shù))III.整體產(chǎn)線直通率=各工站(Process)產(chǎn)線良率相乘212定宏製程不良DPPM品質(zhì)目標(biāo)

季度Q1Q2Q3Q42005品質(zhì)目標(biāo)DPPM5000300020001000500一.Backlight組裝線製程不良DPPM品質(zhì)目標(biāo)季度Q1Q2Q3Q42005品質(zhì)目標(biāo)DPPM300020001000800400二.Lampassembly&Invertr組裝線製程不良DPPM品質(zhì)目標(biāo)213214215定宏採