標(biāo)準(zhǔn)解讀

《GB/T 43915-2024 納米幾何量標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法》是一項(xiàng)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)，旨在為納米級(jí)幾何特征的測(cè)量提供一套標(biāo)準(zhǔn)化的方法。該標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)規(guī)定了用于校準(zhǔn)或驗(yàn)證測(cè)量設(shè)備性能的標(biāo)準(zhǔn)樣板的選擇、使用及評(píng)估過(guò)程中的技術(shù)要求與程序。通過(guò)這一標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用，可以提高納米尺度下幾何參數(shù)測(cè)量結(jié)果的一致性和準(zhǔn)確性。

標(biāo)準(zhǔn)首先界定了適用范圍，明確了其適用于各類(lèi)采用光學(xué)、電子束或其他原理進(jìn)行表面形貌分析儀器的校正和性能驗(yàn)證。接著，對(duì)于所使用的納米幾何量標(biāo)準(zhǔn)樣板提出了具體的技術(shù)指標(biāo)，包括但不限于尺寸精度、形狀誤差以及表面質(zhì)量等方面的要求。此外，還對(duì)如何正確選擇合適的標(biāo)準(zhǔn)樣板以匹配特定類(lèi)型的測(cè)量系統(tǒng)給出了指導(dǎo)性意見(jiàn)。

在測(cè)試方法部分，《GB/T 43915-2024》詳述了從樣品準(zhǔn)備到數(shù)據(jù)采集直至最終分析報(bào)告生成的整個(gè)流程。其中包括了環(huán)境條件控制（如溫度、濕度）、樣品定位方式、掃描速度設(shè)定等關(guān)鍵因素對(duì)測(cè)量結(jié)果可能產(chǎn)生的影響，并提供了相應(yīng)的推薦值。同時(shí)，也強(qiáng)調(diào)了操作人員需具備的專(zhuān)業(yè)知識(shí)和技術(shù)能力，以確保測(cè)試過(guò)程符合規(guī)范要求。


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....

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  • 2024-04-25 頒布
  • 2024-11-01 實(shí)施
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文檔簡(jiǎn)介

ICS1704030

CCSJ4.2.

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T43915—2024

納米幾何量標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法

Testingmethodfornanogeometricstandardsamples

2024-04-25發(fā)布2024-11-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T43915—2024

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

測(cè)試方法分類(lèi)及原理

4……………………1

納米線(xiàn)間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法分類(lèi)及原理

4.1………1

納米線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法分類(lèi)及原理

4.2…………2

納米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法分類(lèi)及原理

4.3……………………2

納米膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法分類(lèi)及原理

4.4…………3

測(cè)試設(shè)備

5…………………5

設(shè)備選擇

5.1……………5

設(shè)備要求

5.2……………5

測(cè)試環(huán)境

6…………………6

測(cè)試程序

7…………………6

外觀

7.1…………………6

納米線(xiàn)間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試

7.2…………6

納米線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試

7.3……………6

納米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試

7.4………………………6

納米膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試

7.5……………7

測(cè)試數(shù)據(jù)處理

8……………7

納米線(xiàn)間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試數(shù)據(jù)處理

8.1………………7

納米線(xiàn)寬標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試數(shù)據(jù)處理

8.2…………………7

納米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試數(shù)據(jù)處理

8.3……………7

納米膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試數(shù)據(jù)處理

8.4…………………7

附錄資料性標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試記錄

A()……………………9

參考文獻(xiàn)

……………………10

Ⅰ

GB/T43915—2024

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專(zhuān)利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專(zhuān)利的責(zé)任

,。

本文件由全國(guó)量具量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)歸口

(SAC/TC132)。

本文件起草單位中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所成都工具研究所有限公司中國(guó)航空工業(yè)

:、、

集團(tuán)公司北京長(zhǎng)城計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究所上海計(jì)量測(cè)試技術(shù)研究院同濟(jì)大學(xué)天津大學(xué)中國(guó)計(jì)量科學(xué)

、、、、

研究院廣西壯族自治區(qū)計(jì)量檢測(cè)研究院中國(guó)測(cè)試技術(shù)研究院蘇州天準(zhǔn)科技股份有限公司

、、、。

本文件主要起草人吳愛(ài)華付興昌李鎖印許曉青鄒學(xué)鋒韓志國(guó)趙琳張曉東馮亞南

:、、、、、、、、、

梁法國(guó)許剛何宜鮮朱振宇李強(qiáng)萬(wàn)宇雷李華傅云霞曾艷華管鈺晴鄧曉劉慶綱張恒施玉書(shū)

、、、、、、、、、、、、、、

蘇翼雄冉慶曹葵康

、、。

Ⅲ

GB/T43915—2024

納米幾何量標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法

1范圍

本文件規(guī)定了納米幾何量標(biāo)準(zhǔn)樣板測(cè)試方法的分類(lèi)及原理測(cè)試設(shè)備測(cè)試環(huán)境測(cè)試程序及測(cè)試

、、、

數(shù)據(jù)處理

。

本文件適用于線(xiàn)間隔為的納米線(xiàn)間隔標(biāo)準(zhǔn)樣板線(xiàn)寬為的納米線(xiàn)

50nm~100nm、20nm~100nm

寬標(biāo)準(zhǔn)樣板臺(tái)階高度為的納米臺(tái)階高度標(biāo)準(zhǔn)樣板和薄膜厚度為的納

、10nm~100nm2nm~100nm

米膜厚標(biāo)準(zhǔn)樣板的測(cè)試

。

注其他尺寸范圍的幾何量樣板參照本文件執(zhí)行

:。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

幾何量測(cè)量器具術(shù)語(yǔ)基本術(shù)語(yǔ)

GB/T17163

微納米標(biāo)準(zhǔn)樣板幾何量

GB/T39516—2020()

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T17163、GB/T39516—2020。

31

.

納米幾何量標(biāo)準(zhǔn)樣板nanogeometricstandards

具有納米尺度的線(xiàn)間隔線(xiàn)寬臺(tái)階高度及薄膜厚度等幾何特征結(jié)構(gòu)用于納米尺寸測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)

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