(高清版)GBT 39673.51-2020 住宅和樓宇電子系統(tǒng)（HBES）及樓宇自動化和控制系統(tǒng)（BACS） 第51部分：EMC要求、條件和測試布置

和控制系統(tǒng)(BACS)第51部分：EMCrequirements,conditionsandtestset-up,MO國家市場監(jiān)督管理總局國家標準化管理委員會 I 12規(guī)范性引用文件 1 2 3 4 4附錄A(資料性附錄)產(chǎn)品標準的例子 7附錄B(資料性附錄)試驗設置 8附錄C(資料性附錄)關于快速瞬態(tài)(突發(fā))測試設置的附加信息 圖1EUT接口 3 9 7 7本部分為GB/T39673的第51部分。●用等同采用國際標準的GB/T9254代替CISPR22;●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用等同采用國際標準的GB/T●用修改采用國際標準的GB/T●用修改采用國際標準的GB/TⅡⅢGB/T39673.51、GB/T39673.52和GB/T39673.53確保HBES/BACS設備的電磁兼容性要求達1和控制系統(tǒng)(BACS)第51部分：EGB17625.1電磁兼容限值諧波電流發(fā)射限值(設備每相輸入電流≤16A)(GB17625.1—2012,IEC61000-3-2:2009+Cor.1,IDT)GB/T17625.2電磁兼容限值對每相額定電流≤16A且無條件接入的設備在公用低壓供電GB/T17626.2電磁兼容試驗和測量技術靜電放電抗擾度試驗(GB/T17626.2—2018,IEC61000-4-2:2008,IDT)GB/T17626.3電磁兼容試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗(GB/T17626.3-GB/T17626.4電磁兼容試驗和測量技術電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(GB/T17626.4-2GB/T39673.51—2020GB/T17626.5電磁兼容試驗和測量技術浪涌(沖擊)抗擾度試驗(GB/T17626.5—2019,IEC61000-4-5:2014,IDT)GB/T17626.6電磁兼容試驗和測量技術射頻場感應的傳導騷擾抗擾度(GB/T17626.6—2017,IEC61000-4-6:20GB/T17626.8電磁兼容試驗和測量技術工頻磁場抗擾度試驗(GB/T17626.8—2006,IEC61000-4-8:2001,IDT)GB/T17626.11電磁兼容試驗和測量技術電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(GB/T17626.11—2008,IECGB/T39673.1住宅和樓宇電子系統(tǒng)(HBES)以及樓宇自動化和控制系統(tǒng)(BACS)第1部分：通GB/T39673.3住宅和樓宇電子系統(tǒng)(HBES)以及樓宇自動化和控制系統(tǒng)(BACS)第3部分：電CISPR32多媒體設備的電磁兼容性發(fā)射要求(Electromagneticcompatibilityofmultimediaequipment-Emissionrequirements)GB/T39673.1和GB/T39673.3 IECElectropedia:http://www.electrope用于傳送輔助信號(不包括3.1.4規(guī)定一種導體或電纜連接到設備上的端口，該導體或電纜承載著設備或相用于在HBES/BACS網(wǎng)絡的不同設備之間傳送通信信號的導體或電纜連接到該設備的端口。39GB/T×××××適用電源3.2縮略語下列縮略語適用于本文件：AE:輔助設備(AuxiliaryEquipment)BACS:樓宇自動化和控制系統(tǒng)(BuildingAutomationandControlSystems)CDN:耦合解耦網(wǎng)絡(CouplingDe-couplingNetwork)EMC:電磁兼容性(ElectromagneticCompatibility)ESD:靜電放電(ElectrostaticDischarge)EUT:被測設備(EquipmentUnderTest)HBES:住宅和樓宇電子系統(tǒng)(HomeandBuildingElectronicSystems)HCP:水平耦合平面(HorizontalCouplingPlane)RF:射頻(Radio-frequency)4一般要求本部分適用于以下方式：-—如果沒有適用的EMC產(chǎn)品標準，則采用GB/T39673系列的測試設置、測試級別和性能標準；——如果適用的EMC產(chǎn)品標準沒有規(guī)定HBES應用的要求，則適用GB/T39673系列的測試設置、測試級別和一般性能標準。產(chǎn)品標準的具體性能標準適用；45——如果沒有相關的我國產(chǎn)品標準存在，則EUT在測試調(diào)節(jié)期間的操作條件至少應包括與系統(tǒng)——所有I/O信號和HBES/BACS網(wǎng)絡端口都應進行測試，并連接電纜。如果EUT有五個以上相同的端口，則至少有10%的端口(至少五個)應通過附帶電纜進行測試?！衫祀娎|(如手機電纜)在測試期間不得故意拉伸。對于這樣的電纜，參本試驗應按照GB/T17626.2中定義的試驗設置和試驗-—接觸放電到導電表面和耦合平面；-—絕緣表面的空氣放電(如適用)。靜電放電應僅適用于在正常使用中可接近的EUT的點和表面。電纜應在現(xiàn)場均勻區(qū)域垂直或水平運行至少1m。與室外AE的連接應67GB/T39673.51—2020表A.1帶有EMC部件的產(chǎn)品標準例子ETSIEN301489(所有部分)EN50065(所有部分)表A.2給出了獨立EMC產(chǎn)品標準的例子。表A.2獨立EMC產(chǎn)品標準的例子電源單元8GB/T39673.51—2020試驗設置本附錄給出了EMC測試的測試設置示例。宜相應地創(chuàng)建真實的測試設置，并在測試報告中進行EUT與系統(tǒng)其余部分之間的距離(根據(jù)6.1的最小測試配置)通常以最小電纜長度為3m獲得。97I?O圖B.2中的試驗裝置適用于根據(jù)GB/T17626.3進行的輻射抗擾度測試。GB/T39673.51—2020II轉(zhuǎn)盤(GB/T16915.2—2012,IEC[5]GB/T21419變壓器、電抗器、電