NBT 47013.14-2016 承壓設備無損檢測 第14部分：X射線計算機輔助成像檢測

中華人民共和國能源行業(yè)標準承壓設備無損檢測2016-08-16發(fā)布I前言 Ⅱ1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 1 35檢測工藝及其選擇 66檢測結果評定和質量分級 7檢測記錄和報告 附錄A(資料性附錄)最小灰度值測試方法 附錄B(規(guī)范性附錄)空間分辨率的測定 附錄C(規(guī)范性附錄)歸一化信噪比的測定 5 第14部分：X射線計算機輔助成像檢測1.1NB/T47013的本部分規(guī)定了承壓設備金屬材料受壓元件的熔化焊焊接接頭采用450kV以下X射線計算機輔助成像檢測(以下簡稱“CR檢測”)技術和質量分級要求。1.2本部分適用于鋼、銅及銅合金、鋁及鋁合金、鈦及鈦合金、鎳及鎳合金材料熔化焊焊文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。GB/T12604.2無損檢測術語射線照相檢測GB/T23901.5無損檢測射線照相底片像質第5部分：雙線型像質計圖像不清晰度NB/T47013.1承壓設備無損檢測第1部分：通用要求NB/T47013.2—2015承壓設備無損檢測第2部分：射線檢測23.9灰度值GVgreyvalue線性灰度值GVinlinearize3基于CR系統(tǒng)分辨率SR?,經歸一化處理后的信噪比。一次透照長度Lereffectivelengthofas數字圖像處理digitalimageprocessing4一般要求4.1.1從事CR檢測的人員應滿足NB/T47013.1的有關規(guī)定。4.1.2CR檢測人員應在上崗前接受輻射安全知識、專門的CR理論和實際操作培訓，并取得相應4.1.3CR檢測人員未經矯正或經矯正的近(距)視力和遠(距)視力應不低于5.0(小數記錄值為1.0),測試方法應符合GB11533的規(guī)定。從事數字圖像評定的人員應每年接受一次視力檢查。a)圖像幾何畸變應小于±2%;c)圖像同一水平線上，中心區(qū)域與邊緣背景灰度變化應不超過±10%;4.2.2.1成像板(IP)較小的被檢工件應選擇感光速度較慢的IP,對厚度較大的被檢工件可選擇感光速度較快的IP。4c)可顯示的最低光強比1:250;線型像質計材料代號工業(yè)純鋁3#純銅適用材料范圍鋼56最高X射線管電壓宜比圖1所示值低20%。7圖1不同透照厚度允許的最高X射線管電壓表2前金屬屏的材料和厚度——鋼、銅及銅合金、鎳及鎳合金無注：鉛屏可完全或部分由Fe或Cu屏代替，厚度為鉛屏的3倍。表3前金屬屏的材料和厚度——鋁及鋁合金、鈦及鈦合金150kV<管電壓≤450kV注：可在被檢工件與IP暗盒之間使用0.1mm鉛質濾光板，暗盒內使用0.1mm鉛金屬屏，替代0.2mm鉛金屬屏。應根據被檢工件特點和技術條件的要求選擇適宜的透照方式。在可實施的情況下，應優(yōu)先選用單壁透照方式。只當單壁透照不能實施時，才允許采用雙壁透照方式。典型的透照方式參見NB/T透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心，并與工件表面法線重合，需要時也可選用有利于發(fā)現缺陷的方向透照。8表4允許的透照厚度比K檢測技術等級對100mm<D。≤400mm的環(huán)向對接焊接接頭(包括曲率相同的曲面焊接接頭),A級、AB級允許采用a)T(壁厚)≤8mm;隔120°或60°透照3次。9價山三下山山口5.7.1所選用的射線源至被檢工件9876432865430.5AB級的射線源至工件表面距離fimmAB級的射線源至工件表面距離fimm984321865432為1.6mm,按檢測工藝的規(guī)定進行透照和掃描處理。若在數字圖像上(負片)出現灰度低于周圍背5.11.1線型像質計放置原則線型像質計一般應放置在焊接接頭的一端(在被檢區(qū)長度的約1/4位置),金屬線應橫跨焊縫，c)單壁透照中像質計放置在IP側時，應進行對比試驗。對比試驗方法是在射線源側和IP側a)環(huán)形對接焊接接頭采用射線源置于中心周向曝光時，至少在圓周上等間隔地放置3個像質標記(如采用鉛質窄條)進行標識。當原始數字圖像對比靈敏度較低時，允許采用數字圖像處理方法提高數字圖像的對比靈敏度。如果處理后的數字圖像的對比靈敏度能夠滿足標準要求，則該數字圖像被認為是合格的。(線徑/mm)公稱厚度(T)范圍/mm(線徑/mm)透照厚度(W)范圍/mm 應識別線號(線徑/mm)公稱厚度(T)或透照厚度(W)范圍/mm應識別線號(線徑/mm)注：對于雙壁單影透照方式，應取公稱厚度5.16.2.2如果數字圖像分辨率達不到表8或表9的規(guī)定，可通過提高數字圖像對比靈敏度來補償數字圖像分辨率的不足，這種補償只允許1個等級，即當靈敏度提高1個等級時，允許分辨率降低1個等級。數字圖像的歸一化信噪比應滿足表10和表11的要求，歸一化信噪比的測量和計算見附錄C。150kV<管電壓≤250kV150kV<管電壓≤250kV(資料性附錄)最小灰度值測試方法關系適用于特定的設置，包括掃描類型、掃描參數和相同品牌、型號的IP寸、掃描速度、光電倍增管的電壓或增益)的改變，均要求重新測試與要求的SNRn等價的最小灰A.2.1線性灰度是正確測量SNRn和等價灰度的前提，這意味著掃描IP上給定區(qū)域的灰度應直接與曝光量成正比(無偏移),這種線性灰度應由制造商軟件提供支持。A.2.3與表10、表11規(guī)定的最小SNRN等價的最小灰度值測定步驟如下：a)按照圖A.1透照階梯試塊，階梯試塊應完全覆蓋IP;5d)確定表10、表11規(guī)定的最小SNRN對應的等價最小灰度值。將雙線型像質計直接放置在IP上，射線源到IP的距離應為(1000±50)mm。 行像素疊加平均，見圖B.1b)和c),根據式(B圖B.1