DL∕T 1718-2017 火力發(fā)電廠焊接接頭相控陣超聲檢測技術(shù)規(guī)程

國家能源局發(fā)布I Ⅱ 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 4檢測人員 3 36校準(zhǔn) 67相控陣超聲檢測的一般要求 7 9環(huán)境與安全要求 10焊接接頭的分類 11I型焊接接頭相控陣超聲檢測和質(zhì)量分級(jí) 2013報(bào)告和存檔 附錄A(規(guī)范性附錄)相控陣超聲檢測儀器和探頭指標(biāo)要求 24附錄B(規(guī)范性附錄)參考試塊 26附錄C(規(guī)范性附錄)角接接頭相控陣超聲檢測使用原則 29附錄D(規(guī)范性附錄)T型接頭相控陣超聲檢測使用原則 31附錄E(資料性附錄)橫波端點(diǎn)衍射法測量缺陷自身高度 33附錄F(資料性附錄)距離-波幅曲線制作方法 34附錄G(資料性附錄)相控陣超聲檢測報(bào)告格式 36本標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)GB/T1.1—2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)由電力行業(yè)電站金屬材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：中國能源建設(shè)集團(tuán)安徽電力建設(shè)第一工程有限公司、廣東電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院、國電科學(xué)技術(shù)研究院、大唐安徽發(fā)電有限公司、大唐國際潮州發(fā)電有限公司、安徽津本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人：孫磊、田國良、樊傳琦、朱琪、姜學(xué)平、張春雷、羅為民、謝曉勇、董紅本標(biāo)準(zhǔn)在執(zhí)行過程中的意見或建議反饋至中國電力企業(yè)聯(lián)合會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化管理中心(北京市白廣路二GB/T12604.1無損檢測術(shù)語超聲檢測GB/T29302無損檢測儀器相控NB/T47013.4承壓設(shè)備無損檢測第4部分：磁粉檢測NB/T47013.5承壓設(shè)備無損檢測第5部分：滲透檢測2由于工件結(jié)構(gòu)(例如焊縫余高或根部)或者材料冶金結(jié)構(gòu)的偏差(例如鐵素體基材和奧氏體覆蓋3455.4.2.2本標(biāo)準(zhǔn)采用的校準(zhǔn)試塊為CSK-IA、半圓試塊、相控陣A型聲束偏轉(zhuǎn)評(píng)價(jià)試塊和相控陣B型聲束偏轉(zhuǎn)評(píng)價(jià)試塊。半圓試塊見圖4,相控陣A型聲束偏轉(zhuǎn)評(píng)價(jià)試塊和相控陣B型聲束偏轉(zhuǎn)評(píng)價(jià)試塊的具體形狀及尺寸見圖5和圖6。50-75-全部φ2×12-6a)對(duì)于檢測面直徑為32mm～159mm的工件，工件曲率半徑應(yīng)為模擬試塊曲率半徑的0.9倍~相控陣超聲儀器的線性測試方法、聲束偏轉(zhuǎn)極限測試方法及楔塊衰減補(bǔ)償?shù)臏y試方法按GB/T76.3.2校準(zhǔn)方式是將編碼器移動(dòng)至少300mm,要求誤差小于1%或10mm,以較小值為準(zhǔn)。6.3.3掃查步進(jìn)值設(shè)置主要與工件的公稱厚度有關(guān)，按表1的規(guī)定進(jìn)行設(shè)置。表1掃查步進(jìn)值的設(shè)置公稱厚度t7相控陣超聲檢測的一般要求相控陣超聲設(shè)備分聲程顯示成像和幾何結(jié)構(gòu)顯示成像兩種顯示方式，如圖7所示。掃描類型分為電子掃描和扇形掃描。應(yīng)根據(jù)具體檢測情況選擇，宜采用扇形掃描，也可采用電子a)聲程顯示圖7顯示方式集的要求。最大掃查速度按式(2)計(jì)算：PRF<c/2S89d)連續(xù)工作4h以上；表2偏離和糾正靈敏度不需要采取措施，必要時(shí)可由軟件糾正表2(續(xù))靈敏度檢測范圍工件厚度的2%或≤0.5mm(取兩者中較大值)工件厚度的2%或>0.5mm(取兩者中較大值)靈敏度復(fù)核時(shí)，一般選取最佳角度的曲線，不得少于3點(diǎn)誤差大于等于1%或10mm,應(yīng)重新校準(zhǔn)編碼器。工藝規(guī)程的版本號(hào)√√√檢測技術(shù)(縱波檢測、橫波檢測、直接接觸法、水浸法)√相控陣探頭(陣元寬度和長度、間隙、數(shù)量)√聚焦范圍(深度或聲程)√主動(dòng)孔徑尺寸(陣元數(shù)量、寬度和間隙)√√聲波在材料中的聲速及角度√掃查方式(線性掃查或鋸齒形掃查)√電子掃描附加要求E掃描角度√√表3(續(xù))電子掃描附加要求孔徑增量變化(步進(jìn)的陣元數(shù)量)√S掃描角度范圍√S掃描角度增量(角度步進(jìn))√√相控陣設(shè)備類型√√溫度√自動(dòng)報(bào)警和(或)記錄裝置(用到時(shí))√記錄(檢測記錄、設(shè)備校準(zhǔn)數(shù)據(jù)等)√√焊接接頭類型工件厚度t筒體(或封頭)直徑為159～500的縱向?qū)咏宇^且內(nèi)外徑比直徑≥500,環(huán)向?qū)咏宇^直徑為159～500的環(huán)向?qū)咏宇^(或封頭)角接接頭筒體(或封頭)、管公稱直徑≥32管子環(huán)向?qū)咏宇^外徑>159管道環(huán)向?qū)咏宇^外徑>159—管子環(huán)向?qū)咏宇^外徑32～159表5(續(xù))管道環(huán)向?qū)咏宇^外徑32～159公稱厚度公稱厚度注1:在滿足能穿透的情況下，盡可能選擇主動(dòng)孔注2:為了提高圖像質(zhì)量，電子掃描在滿足穿透的情況下，應(yīng)選擇注3:晶片長度W應(yīng)大于或等于6mm。附錄F。11.4.4.3曲面焊接接頭距離-波幅曲線在PRB-C試塊和PRB-L試塊上制作。11.4.5.2若檢測設(shè)置需要，扇形掃描可選擇楔塊衰減補(bǔ)償?shù)恼{(diào)試，楔塊衰減補(bǔ)償?shù)恼{(diào)試采用CSK-IA11.4.5.3電子掃描應(yīng)進(jìn)行單個(gè)晶片或聚焦法則的增益補(bǔ)償調(diào)試，在CSK-IA試塊或參考試塊上調(diào)試。定量線判廢線擬試塊上進(jìn)行耦合監(jiān)控的調(diào)試。將最大波調(diào)整到滿屏高度的80%(誤差為±5%),在此基礎(chǔ)上提高圖11平行線性掃查a)筒體(或封頭)檢測面直徑大于或等于500mm或平板時(shí)，距離-波幅曲線的制作應(yīng)在PRB-11.7.4管徑為159mm～500mm的環(huán)向?qū)咏宇^I=L×(R-H)/R11.8.3凡在定量線(不含定量線)以下的缺陷顯示，評(píng)b)質(zhì)量分級(jí)按表8的規(guī)定進(jìn)行。等級(jí)工件厚度t(所在區(qū)域)多個(gè)缺陷累計(jì)長度L'IⅡ在任意4.5t焊縫長度范圍內(nèi)L'Ⅲ注2:當(dāng)焊縫長度不足9t(I級(jí))或4.5t(Ⅱ級(jí))時(shí)，可按比例折算。當(dāng)折算后的缺陷累計(jì)長度等級(jí)工件厚度t單個(gè)缺陷多個(gè)缺陷表面缺陷埋藏缺陷高度高度I66(1)若多個(gè)缺陷其各自高度h均為h?<h≤h?或h?,則在任意12t范圍內(nèi)累計(jì)長度不得超過3t且最大值為150mm;累計(jì)長度不得大于整條焊縫長度的10%72723224553368Ⅱtt(1)若多個(gè)缺陷其各自高度h均為h<h≤h?或h?,則在任意12t范圍內(nèi)累計(jì)長度不得超過4t且最大值為200mm;累計(jì)長度不得大于整條焊縫長度的10%t2t2t32t455368Ⅲ公稱厚度注1:在滿足能穿透的情況下，盡可能選擇主動(dòng)孔注2:晶片長度W應(yīng)大于或等于6mm。公稱厚度定量線12.7.2.3凡在定量線(不含定量線)以下的缺陷顯示，評(píng)為I級(jí)。表12環(huán)向?qū)咏宇^質(zhì)量分級(jí)IⅡ≤1/3,最小為5≤2t/3,最小為10,最大為16ⅢⅡ注1:缺陷長度按實(shí)測值計(jì)。注2:母材厚度不同時(shí)，取薄側(cè)厚度。12.7.3.4凡在定量線(不含定量線)以下的缺陷顯示，表13環(huán)向?qū)咏宇^質(zhì)量分級(jí)等級(jí)(所在區(qū)域)單個(gè)缺陷指示長度埋藏缺陷表面缺陷IⅡ≤t/3,最小為8≤t/3,最小為5表13(續(xù))等級(jí)(所在區(qū)域)單個(gè)缺陷指示長度埋藏缺陷表面缺陷Ⅱ≤2t/3,最小為12≤2t/3,最小為10,最大為18ⅢⅡ注2:在10mm焊縫長度范圍內(nèi)，同時(shí)存在條狀缺陷和根部未焊透時(shí)(規(guī)范性附錄)A.1相控陣超聲檢測儀性能指標(biāo)要求(見表A.1)表A.1相控陣超聲檢測儀性能指標(biāo)要求(1)按—3dB測量，工作頻率范圍為1MHz～20MHz(2)應(yīng)能提供足夠的檢測通道，以保證掃查時(shí)對(duì)整個(gè)焊接接頭體積進(jìn)行全面檢測(3)每個(gè)通道的垂直線性偏差不超過3%,水平線性偏差不超過1%(4)激活電脈沖應(yīng)具有足夠高的脈沖電壓，且脈沖電壓根據(jù)被檢工件的厚度可調(diào)(5)任意連續(xù)20dB,衰減器累計(jì)誤差不大于1dB;任意連續(xù)60dB,衰減器累計(jì)誤差不大于2dB(6)脈沖重復(fù)頻率應(yīng)可調(diào)，最大值應(yīng)能達(dá)到500Hz及以上(7)數(shù)字采樣頻率至少10倍于可能使用的最高探頭標(biāo)稱頻率(8)至少應(yīng)具有超聲波發(fā)射、接收、放大、數(shù)據(jù)自動(dòng)采集、記錄、顯示和分析功能2(1)儀器的數(shù)據(jù)采集應(yīng)和掃查裝置的移動(dòng)同步，掃查步進(jìn)值應(yīng)可調(diào)(2)具有角度增益補(bǔ)償功能(3)儀器應(yīng)能存儲(chǔ)和分辨各A掃描信號(hào)之間相對(duì)位置的信息，如編碼位置(4)相控陣超聲檢測顯示應(yīng)至少包括A掃描信號(hào)、E掃描、S掃描及P掃描的圖像(5)儀器所顯示和記錄的A掃描信號(hào)不應(yīng)有明顯畸變或變形(6)儀器軟件至少應(yīng)具有同步顯示相控陣超聲圖像和對(duì)應(yīng)的A掃描信號(hào)等必要的分析功能(7)儀器應(yīng)能夠以不可更改的方式將所有的A掃描信號(hào)和相控陣超聲圖像存儲(chǔ)于磁、光等永久介質(zhì)，并能輸出其硬拷貝(8)儀器至少能以256級(jí)灰度或色度顯示相控陣超聲圖像或TOFD圖像(9)儀器應(yīng)能夠選擇合適的A掃描時(shí)間窗口，以檢測到需要的信號(hào)；閘門位置和門高任意可調(diào)A.2相控陣超聲探頭性能指標(biāo)要求(見表A.2)1.中心頻率中心頻率偏差的最大允許值為標(biāo)稱頻率的±10%2.帶寬表A.2(續(xù))同一探頭晶片間靈敏度偏差不大于2dB注1:相控陣探頭的晶片與楔塊可以是可拆卸的，也可以是一體的。注2:相控陣探頭的晶片數(shù)量、晶片尺寸及間距，應(yīng)根據(jù)檢測要求和制造注3:相控陣探頭應(yīng)標(biāo)出廠家的名稱、探頭類型、頻率和晶片參數(shù)、楔塊尺寸、楔塊聲速圖B.1PRB-I試塊50~100一L?表B.1PRB系列試塊及其適用范圍單位為mm對(duì)應(yīng)焊接接頭的公稱厚度范圍對(duì)應(yīng)焊接接頭的公稱厚度范圍適用管外徑范圍注：管壁厚度大于15mm~30mm的焊接接頭C.1安放式接管與筒體(或封頭)角位置4C.1.1位置1采用扇形掃描檢測，掃查方式為線性掃查；位置2和位置4采用手動(dòng)扇形掃描檢測，掃扇形掃描插管插管插管簡體(封頭)插管圖C.2插入式接管與筒體(或封頭)角接接頭相控陣超聲檢測圖(二)D.1.1位置1和位置2采用扇形掃描檢測，掃查方式為線性掃查；位置3采用電子掃描(縱波)檢測，掃查方式為鋸齒性掃查；位置4采用扇形掃描或固定角度掃查檢測，掃查方式即可采用線性掃D.1.2位置1、位置2和位置3均可檢測橫向缺陷，位置1和位置2采用斜平行線性掃查，位置3采腹板腹板扇形掃描D.2.1位置1和位置2采用扇形掃描檢測，掃查方式為線性掃查；位置3采用扇形掃描或固定角度掃度的80%(±5%),該波高為基準(zhǔn)波高，將該反射體的波高記錄；然后保持靈敏度不變，依次探測其委托單位：