JBT 12466-2015 無損檢測(cè) 超聲探頭通.用規(guī)范

無損檢測(cè)超聲探頭通用規(guī)范2015-10-10發(fā)布2015-10-10發(fā)布 Ⅲ 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語(yǔ)和定義 1 25技術(shù)要求 25.1概述 2 35.3-6dB帶寬 35.4-20dB脈沖寬度 35.5相對(duì)靈敏度 35.6偏向角 3 35.8半擴(kuò)散角 35.9平探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度 3 3 35.12雙晶探頭串?dāng)_ 35.13斜探頭入射點(diǎn) 35.14斜探頭折射角 46檢驗(yàn)方法 46.1檢驗(yàn)溫度 4 46.3-20dB脈沖寬度 46.4相對(duì)靈敏度 46.5偏向角 5 56.7半擴(kuò)散角 66.8平探頭近場(chǎng)長(zhǎng)度 66.9液浸聚焦探頭的焦距、焦區(qū)長(zhǎng)度和焦區(qū)寬度 66.10接觸聚焦直探頭的焦距、焦區(qū)長(zhǎng)度和焦區(qū)寬度 6 76.12雙晶探頭串?dāng)_ 76.13斜探頭入射點(diǎn) 76.14斜探頭折射角 77檢驗(yàn)規(guī)則 7 77.2檢驗(yàn)項(xiàng)目 8 89標(biāo)志和標(biāo)簽 810包裝、運(yùn)輸和貯存 9附錄A(規(guī)范性附錄)聲場(chǎng)特性測(cè)試設(shè)備和布置 A.1測(cè)試設(shè)備 A.2測(cè)試布置 附錄B(規(guī)范性附錄)試塊 B.1DB-R試塊 附錄C(規(guī)范性附錄)探頭參數(shù)表 6 6 圖B.2HS試塊(半圓階梯試塊) 表1超聲探頭的檢驗(yàn)項(xiàng)目 表C.1探頭參數(shù)表的基本內(nèi)容和要求 本標(biāo)準(zhǔn)由全國(guó)無損檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TGB/T12604.1無損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)超聲檢測(cè)GB/T18694—2002無損檢測(cè)超聲檢驗(yàn)探頭及其聲場(chǎng)的表征GB/T19799.1無損檢測(cè)超聲檢測(cè)1號(hào)校準(zhǔn)試塊JB/T8428無損檢測(cè)超聲試塊通用規(guī)范2·爬波探頭。d)按換能器(晶片)數(shù)量，可分為：·多晶探頭(包括相控陣探頭)。345.14斜探頭折射角6檢驗(yàn)方法應(yīng)在標(biāo)稱的工作溫度范圍內(nèi)的最高溫度(允許誤差為±2℃)和最低溫度(允許誤差為±3℃)條件按附錄A和GB/T18694—2002中4.3的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試，繪制出探頭頻譜圖(如GB/T18694—2002公式(1)、公式(2)、公式(3)。f=(f+f)12 (1) (2)△f=f-f (3)按附錄A,使探頭在其近場(chǎng)長(zhǎng)度或焦點(diǎn)處獲得最大回波幅度，超聲儀設(shè)為RF顯示，并將回波幅度調(diào)至約為滿刻度的80%～100%。讀取大于最高回波幅度的10%的第一個(gè)波峰的起點(diǎn)至最后一個(gè)波峰的6.4相對(duì)靈敏度6.4.1出廠檢驗(yàn)按GB/T18694—2002中4.7的規(guī)定或如下方法進(jìn)行測(cè)定和計(jì)算。尖脈沖信號(hào)Vin和回波信號(hào)Vout,按本標(biāo)準(zhǔn)公式(4)計(jì)算出相對(duì)靈敏度：S?=201g(Vout/Vim)dB…………………先將探頭置于低溫環(huán)境下保持0.5h,再迅速轉(zhuǎn)換置于高溫環(huán)境下保持0.5h,-10℃,高溫溫度最低不應(yīng)低于50℃。6.5偏向角6.5.1液浸探頭的偏向角按本標(biāo)準(zhǔn)附錄A和GB/T18694—2002中圖2的要求，選取并固定探頭至靶球的垂直距離Z,然后平移探頭(不可轉(zhuǎn)動(dòng)探頭),記錄下最大回波幅度時(shí)的探頭水平位置Y。再調(diào)整探頭至靶球的垂直距離Z?(與Z?不同),重復(fù)上述步驟，記錄下探頭水平位置Y?。按本標(biāo)準(zhǔn)公式(5)計(jì)算出液浸探頭的偏向6.5.2接觸直探頭的偏向角例見GB/T18852—2002中的圖4)。則聲束軸線與幾何中心線之間的夾角即為接觸直探頭的偏b)將探頭置于附錄B所述的SDH試塊的T面上，對(duì)準(zhǔn)SDH?s6孔，然后沿Y軸方向前后移動(dòng)探頭，同時(shí)轉(zhuǎn)動(dòng)探頭，記錄下最大回波幅度時(shí)的探頭位置Y?。再將探頭平移至SDH?o孔，重復(fù)上述步驟，記錄下探頭位置Y?。按公式(6)計(jì)算出接觸直探頭的偏向角：(示例見GB/T18852—2002中的圖10)。則聲束軸線與幾何中心線之間的夾角即為接觸斜探頭b)將探頭置于附錄B所述的HS試塊的X軸(切槽中心線)原點(diǎn)位置，聲束方向盡量對(duì)準(zhǔn)切槽。探頭側(cè)面與HS試塊X軸的夾角，即為接觸斜探頭的偏向角。6.6阻抗a)按圖1所示布置，將探頭耦合于附錄B所述的DB-R試塊上，并與阻抗分析儀匹配的專用連接線(探筆)連接。1)初始化選擇要測(cè)量的參數(shù)，測(cè)試探頭等效阻抗時(shí)選擇阻抗-相角值(Z-0);62)設(shè)置掃描參數(shù)的頻率，可將掃描頻率范圍設(shè)置為探頭標(biāo)稱頻率f的20%～200%;3)設(shè)置掃描方式為線型(LIN)或?qū)?shù)(LOG);5)探筆補(bǔ)償：將探筆的兩極開路，完成開路補(bǔ)償，再將探筆的兩極短路，完成短路補(bǔ)償。c)測(cè)試探頭的等效阻抗，測(cè)試結(jié)果圖示例如圖2所示。注1:測(cè)試結(jié)果至少記錄探頭諧振點(diǎn)與反諧振點(diǎn)的阻抗與相角值。注2:測(cè)試探頭等效阻抗最好選用DB-R試塊，并將探頭放置于試塊R10圓弧附近使回波最弱，則此時(shí)的測(cè)試結(jié)果主要表現(xiàn)為探頭的電阻抗。a)反諧振頻率點(diǎn)的阻抗-相角值Mu4b)諧振頻率點(diǎn)的阻抗-相角值按本標(biāo)準(zhǔn)附錄A和GB/T18694—2002中4.4或4.5的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試和計(jì)算。按本標(biāo)準(zhǔn)附錄A和GB/T18694—2002中4.4的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試和計(jì)算。按本標(biāo)準(zhǔn)附錄A和GB/T18694—2002中4.5的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試，繪制出液浸聚焦探頭的聲束輪廓和聲壓分布圖(示例見GB/T18694—2002中的圖10和圖11),計(jì)算出液浸聚焦探頭的焦距F、焦區(qū)長(zhǎng)度Fp和焦區(qū)寬度dFL。寬度dFL”使用的是“焦點(diǎn)(柱)直徑d和聲束直徑”。例見GB/T18852—2002中的圖5),計(jì)算出接觸聚焦直探頭的焦距F、焦區(qū)長(zhǎng)度Fo和焦區(qū)寬度dpL。度分布圖(示例見GB/T18852—2002中的圖11),計(jì)算出接觸聚焦斜探頭沿聲束縱軸線的焦距F、焦區(qū)長(zhǎng)度Fo和焦區(qū)寬度dL。度分布圖(示例見GB/T18852—2002中的圖12),計(jì)算出接觸聚焦斜探頭沿聲束橫截面中軸線的焦距F、焦區(qū)長(zhǎng)度Fp和焦區(qū)寬度dpL。按附錄A,使雙晶直探頭或雙晶斜探頭在其近場(chǎng)長(zhǎng)度或焦點(diǎn)處獲得最大回波幅度，將回波幅度調(diào)至約為滿刻度的80%,記錄此時(shí)的增益值為G?;然后提高增益，使探頭界面波幅度也達(dá)到80%,記錄此按JB/T9214—2010中第11章的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試和計(jì)算。超聲探頭的型式檢驗(yàn)宜由取得GB/T27025(ISO/IEC17025)認(rèn)可的具有超聲探頭型式檢驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目(見7.2)的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行1。型式檢驗(yàn)實(shí)驗(yàn)室應(yīng)出具一份執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn)的檢驗(yàn)報(bào)告。型式檢驗(yàn)報(bào)告應(yīng)記錄本標(biāo)準(zhǔn)表C.1中自定義參數(shù)項(xiàng)目的參數(shù)。8檢驗(yàn)項(xiàng)目中心頻率型式和出廠型式和出廠型式和出廠型式和出廠偏向角型式和出廠阻抗半擴(kuò)散角型式和出廠型式和出廠型式和出廠型式和出廠斜探頭入射點(diǎn)型式和出廠斜探頭折射角型式和出廠超聲探頭產(chǎn)品應(yīng)按表1進(jìn)行型式檢驗(yàn)和(或)出廠檢驗(yàn)。f)焦距(聚焦探頭適用);f)探頭參數(shù)表(合同約定時(shí)),見附錄C。3)記錄長(zhǎng)度：1M點(diǎn)；4)模擬通道：1或2通道。1)水槽容積：不小于(500×300×300)mm;(規(guī)范性附錄)DB-R試塊的形狀和尺寸如本標(biāo)準(zhǔn)圖B.1所示，制作要求應(yīng)按JBB—BwB.2HS試塊HS試塊的形狀和尺寸如本標(biāo)準(zhǔn)圖B.2所示，制作要求應(yīng)按GB/T18852—2002中4.1和JB/T8428SDH試塊的形狀和尺寸如GB/T18852—2002中的圖2所示，制作要求應(yīng)按GB/T18852—2002中4.2和JB/T8428的規(guī)定。圖B.2HS試塊(半圓階梯試塊)數(shù)據(jù)類型探頭產(chǎn)品編號(hào)(或序列號(hào))自定義參數(shù)自定義參數(shù)自定義參數(shù)自定義參數(shù)自定義參數(shù)耐磨片材料或尺寸自定義參數(shù)自定義參數(shù)標(biāo)稱換能器尺寸(直徑或邊長(zhǎng))自定義參數(shù)工作溫度范圍探頭標(biāo)稱角(斜探頭適用)中心頻率出廠檢驗(yàn)的測(cè)量值出廠檢驗(yàn)的測(cè)量值出廠檢驗(yàn)的測(cè)量值出廠檢驗(yàn)的測(cè)量值偏向角出廠檢驗(yàn)的測(cè)量值焦距(聚焦探頭適用)出廠檢驗(yàn)的測(cè)量值焦區(qū)長(zhǎng)度(聚焦