GB∕T 44223-2024 納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求

納米技術(shù)動(dòng)態(tài)光散射法2024-07-24發(fā)布2025-02-01實(shí)施I 1 13術(shù)語(yǔ)和定義 14工作原理和結(jié)構(gòu) 2 36正常工作條件 57檢驗(yàn)項(xiàng)目和試驗(yàn)方法 5附錄A(資料性)粒度標(biāo)準(zhǔn)樣品 7附錄B(資料性)樣品制備方法 8 9Ⅲ本文件由全國(guó)納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)1粒度分析儀技術(shù)要求下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文XDLS注1:平均粒徑直接測(cè)定，既可以不計(jì)算粒徑分布，也可以從光強(qiáng)加權(quán)分布、體積加權(quán)分布或數(shù)量加權(quán)注4:由密度函數(shù)(線(xiàn)性坐標(biāo))和變換的密度函數(shù)(對(duì)數(shù)坐標(biāo))計(jì)算得到的平均值可能會(huì)有顯著差異(見(jiàn)ISO9276-1)注5:XpLs與顆粒形狀和散射矢量(進(jìn)而與探測(cè)角度、激光波長(zhǎng)和懸浮液介質(zhì)的折射率)相關(guān)。注6:又稱(chēng)平均粒徑。3.2[來(lái)源：GB/T29022—2021,3.3]2動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀(以下簡(jiǎn)稱(chēng)“粒度儀”)是一種用于測(cè)量分散于液體中的納米/亞微一般采用激光單色光源確保散射光的相干性，例如氣體激光器(He-Ne激光器、Ar激光器)、固3光子計(jì)數(shù)器相關(guān)器計(jì)算機(jī)6754激光器123標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明：1——透鏡A;2——測(cè)量池；圖1粒度儀結(jié)構(gòu)示意圖5技術(shù)要求5.1功能要求5.1.1平均流體動(dòng)力學(xué)粒徑軟件操作界面應(yīng)能顯示測(cè)量數(shù)據(jù)，應(yīng)能測(cè)量在其說(shuō)明書(shū)標(biāo)稱(chēng)的粒度檢測(cè)范圍內(nèi)的樣品的平均流體動(dòng)力學(xué)粒徑數(shù)據(jù)。5.1.2粒徑分布參數(shù)粒度儀應(yīng)能給出描述粒度分布寬度的參數(shù)，例如多分散指數(shù)。5.1.3粒徑光強(qiáng)分布軟件界面應(yīng)能給出粒徑的光強(qiáng)加權(quán)分布數(shù)據(jù)。5.1.4操作界面操作界面至少包括但不限于：樣品和分散介質(zhì)的參數(shù)設(shè)置、散射光的自相關(guān)函數(shù)、散射光強(qiáng)、檢測(cè)角度、溫度、狀態(tài)監(jiān)控、測(cè)試過(guò)程、測(cè)試結(jié)果顯示。粒度儀應(yīng)給出測(cè)量時(shí)的散射角度。5.1.6數(shù)據(jù)分析粒度儀應(yīng)給出平均流體動(dòng)力學(xué)粒徑、多分散指數(shù)、散射光強(qiáng)度加權(quán)分布、溫度示值誤差。4使用粒度儀測(cè)量單分散標(biāo)準(zhǔn)樣品時(shí)，重復(fù)性應(yīng)符合表1的要求，若樣品本身為寬分布體系，則計(jì)算粒度儀測(cè)量范圍重復(fù)性20nm≤XDLs≤50nm50nm<XpLs≤300nm對(duì)于單分散標(biāo)準(zhǔn)樣品，粒度儀測(cè)量的流體動(dòng)力學(xué)粒徑平均值與樣品的標(biāo)稱(chēng)值間的相對(duì)誤差應(yīng)符合表2中的技術(shù)指標(biāo)。粒度儀測(cè)量范圍示值誤差20nm≤XDLs≤50nm不超過(guò)±10%50nm<XDLS≤300nm不超過(guò)士6%XDLs>300nm不超過(guò)±10%5粒度儀在環(huán)境溫度10℃~35℃、相對(duì)濕度20%～80%時(shí)，設(shè)備應(yīng)無(wú)任何電氣故障、結(jié)構(gòu)變形或接測(cè)量范圍：0℃~90℃,示值誤差不超過(guò)0.1℃。全性和機(jī)械結(jié)構(gòu)，應(yīng)符合第5章中技術(shù)要求的規(guī)定。其中粒度儀準(zhǔn)確性、粒度儀重復(fù)性需要進(jìn)行試驗(yàn)的相對(duì)誤差δ。若選擇多個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行測(cè)試，則取絕對(duì)值最大的δ為粒徑測(cè)量相對(duì)誤差的檢驗(yàn)6GB/T44223—2024記錄平均粒徑的測(cè)量值x;并分別取其平均值x,按公式(2)計(jì)算粒度儀粒徑測(cè)量重復(fù)性RSD。重復(fù)測(cè)量不低于10次。x;——標(biāo)準(zhǔn)樣品粒徑的第i次測(cè)量值，單位為納米(nm);7 (資料性)編號(hào)標(biāo)稱(chēng)粒徑粒徑分布不確定度1優(yōu)于2.5%,k=22100～3003300～50048 (資料性)9[3]ISO9276-1Representationofresultsofparticlesi[4]ISO9276-2Representationofresultsofparticlesizeanalysis—Par