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GB/T36360—2018半導(dǎo)體光電子器件中功率發(fā)光二極管空白詳細(xì)規(guī)范國家市場監(jiān)督管理總局I1引言GB/T2423.1—2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.4—200812h循環(huán))GB/T2423.5—1995GB/T2423.10—2008速度GB/T2423.22—2012GB/T2423.28—2005GB/T2423.60—2008GB/T2424.19—2005環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Q:密封電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)T:錫焊半導(dǎo)體器件的機(jī)械標(biāo)準(zhǔn)化第2部分:尺寸規(guī)格(Mechanicalstandardizationofsemiconductordevices—Part2:Dimensions)vices—Mechanicalandclimatictestsmethods—Part21:Solderability)[3]總規(guī)范和分規(guī)范的版本號和標(biāo)準(zhǔn)號。2[注:在整個(gè)空白詳細(xì)規(guī)范中,方括號內(nèi)給出的內(nèi)容僅供指導(dǎo)制定詳細(xì)規(guī)范時(shí)用,而不包括在詳細(xì)規(guī)范中。][授權(quán)發(fā)布詳細(xì)規(guī)范的國家標(biāo)準(zhǔn)化[1]機(jī)構(gòu)的名稱][IECQ詳細(xì)規(guī)范號、發(fā)布號和[2](或)發(fā)布日期]GB/T4589.1—2006半導(dǎo)體器件第10部分:分立器件和集成電路總規(guī)范GB/T12565—1990半導(dǎo)體器件光電子器件分規(guī)范[詳細(xì)規(guī)范的國家編號][4][如果國家編號與IECQ編號相同,則本欄可不填[相關(guān)器件的型號]訂貨資料:見本規(guī)范第7章外形標(biāo)準(zhǔn):IEC60191-2-DB-2012[如果可行應(yīng)強(qiáng)制]國家標(biāo)準(zhǔn)[如果沒有IEC外形標(biāo)準(zhǔn)]外形圖:[可以放到第10章并給出更多的詳細(xì)資料]引出端識別:[畫圖說明管腳的功能,包括圖形、符號]標(biāo)志:[文字、符號或圖形][見總規(guī)范的2.5和(或)本規(guī)范第6章]中功率發(fā)光二極管定義:輸入功率不小于70mW(GaAlAs/In-GaAlP)或100mW(GaN),且小于700mW(GaAlAs/InGaAlP)或1000mW(GaN)的LED類型:直插式/表面貼裝式……發(fā)光材料:GaAlAs/InGaAlP/GaN基……封裝材料:樹脂/金屬/玻璃/陶瓷……芯片:單芯片/多芯片產(chǎn)品電氣原理圖:[可以放到第10章][可以增加某些重要的相關(guān)數(shù)據(jù)]電子信息產(chǎn)品制造廠在生產(chǎn)或制造電子信息產(chǎn)[按總規(guī)范的2.6,I類或Ⅱ類或Ⅲ類]按本規(guī)范鑒定合格的器件的有關(guān)制造廠的資料,可在現(xiàn)行合格產(chǎn)品一覽表中查到3章條號極限值符號要求最小最大單位貯存溫度工作溫度工作環(huán)境溫度或管殼溫度結(jié)溫(規(guī)定時(shí))焊接溫度(規(guī)定最長焊接時(shí)間和/或距管殼的最小距離)反向電壓管殼溫度為25℃下的直流正向電流或環(huán)境溫度為25℃下的直流正向電流管殼溫度為25℃下的峰值正向電流,規(guī)定的脈沖條件下(適用時(shí))或環(huán)境溫度為25℃下的峰值正向電流,規(guī)定的脈沖條件下(適用時(shí))靜電敏感電壓(適用時(shí))XXX×XsVA4GB/T36360—2018章條號特性符號條件除另有規(guī)定外Tamh=25℃要求單位試驗(yàn)分組最小最大5.75.85.9正向電壓反向電流平均發(fā)光強(qiáng)度半強(qiáng)度角光通量或輻射功率峰值發(fā)射波長主波長(適用于單色光)光譜輻射帶寬(適用于單色光)顯色指數(shù)(適用于白光)相關(guān)色溫(適用于白光)色品坐標(biāo)色容差(適用于照明用)發(fā)光效能(適用于白光)或輻射效率熱阻(規(guī)定時(shí))VFILEDy或λRCCTx,ySDCM7eIp按規(guī)定Ip按規(guī)定,其他條件按規(guī)定Ip按規(guī)定Is按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定I,按規(guī)定Is按規(guī)定Ip按規(guī)定I,按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定散熱條件按規(guī)定XXXXXXW/srmWKK/WA2b、C2aA2b、C2aA3A3、C2aA3A3A3A4C2aA4A4A4A4A2bA2bC2a5溫度循環(huán)老煉Tax、Tagmn,5個(gè)循環(huán)IFmuxt≥24h表4A組(逐批)檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)條件除另有規(guī)定外,Tamh=25℃(見GB/T4589.1—2006檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大外部目檢GB/T4589.1—2006的4.3.1.1A2a分組不能工作器件:極性平均發(fā)光強(qiáng)度或光通量或輻射功率正向電壓反向電流相關(guān)色溫(適用于白光)ILEpy或Vp方法2001方法2003方法2004方法1001方法1003方法4004Ip按規(guī)定,其他條件按規(guī)定Ip按規(guī)定Ij按規(guī)定I下按規(guī)定極性顛倒短路:Vp≤0.1USL開路:Vp≥5USLCCT≥1.5USL或≤0.5LSLA2b分組電特性正向電壓反向電流發(fā)光效能(適用于白光)或輻射效率Vp7方法1001方法1003方法2003方法2004Ir按規(guī)定I,按規(guī)定Ir按規(guī)定USLUSL6GB/T36360—2018表4(續(xù))檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)SJ/T11394—2009條件除另有規(guī)定外,Tamh=25℃(見GB/T4589.1—2006檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大光特性平均發(fā)光強(qiáng)度半強(qiáng)度角光通量或輻射功率峰值發(fā)射波長ILEDv或0?/2方法2001方法2002方法2003方法2004方法2005Ip按規(guī)定,其他條件按規(guī)定Ip按規(guī)定Ir按規(guī)定Ip按規(guī)定LSLLSLLSLLSLLSLUSLUSL色度特性主波長(適用于單色光)相關(guān)色溫(適用于白光)色品坐標(biāo)顯色指數(shù)(適用于白光)色容差(適用于照明用)CCTr,ySDCM方法4003方法4004方法4001或4002方法4006方法4005Iy按規(guī)定I,按規(guī)定I,按規(guī)定Ip按規(guī)定I,按規(guī)定LSLLSLLSLLSLUSLUSLUSLUSL電特性反向電流方法1003最高工作溫度,Vk按規(guī)定注1:所有試驗(yàn)是非破壞性的,見GB/T4589.1—2006的3.6.6。注2:LSL為規(guī)范下限值,USL為規(guī)范上限值。檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)條件除另有規(guī)定外,(見GB/T4589.1—2006第4章)檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大尺寸GB/T4589.1—2006的4.3.2、附錄B(見本規(guī)范第1章)引線彎曲(適用時(shí))試驗(yàn)Ub按規(guī)定無損傷7表5(續(xù))檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)條件除另有規(guī)定外,Tamh=25℃(見GB/T4589.1—2006第4章)檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大可焊性GB/T2423.28—2005,Ta表貼器件按IEC60749-21:2011按規(guī)定潤濕良好溫度快速變化繼之以:循環(huán)濕熱(D)(僅對非空腔器件)或密封(僅對空腔器件)終點(diǎn)測試平均發(fā)光強(qiáng)度或光通量或輻射功率正向電壓反向電流相關(guān)色溫(適用于白光)或主波長(適用于單色光)ILEDv或VpIkGB/T2423.22—2012GB/T2423.4—2008GB/T2423.23—2013方法2001方法2003方法2004方法1001方法1003方法4004方法4003按規(guī)定按規(guī)定按規(guī)定Ip按規(guī)定,其他條件按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定USLUSLUSLUSLB6分組恒定加速度(僅對空腔器件)終點(diǎn)測試GB/T2423.15—2008按規(guī)定穩(wěn)態(tài)濕熱(僅對非空腔器件)終點(diǎn)測試GB/T2423.3—2016168h(0失效)或500h(1失效)其他按規(guī)定B8分組電耐久性終點(diǎn)測試平均發(fā)光強(qiáng)度或光通量或輻射功率正向電壓反向電流相關(guān)色溫(適用于白光)或主波長(適用于單色光)ILEDy或VpIk本規(guī)范附錄A方法2001方法2003方法2004方法1001方法1003方法4004方法4003I,按本規(guī)范4.6規(guī)定,168hIj按規(guī)定I,按規(guī)定Is按規(guī)定Ir按規(guī)定Ir按規(guī)定Ir按規(guī)定0.9IVD0.9IVL0.9LSLUSL8GB/T36360—2018表5(續(xù))檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)條件除另有規(guī)定外,(見GB/T4589.1—2006第4章)檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大B9分組高溫貯存終點(diǎn)測試按B5分組168h(0失效)或500h(1失效)其他按規(guī)定CRRL分組提供B3、B4和B5分組的屬性資料。提供B8分組前后的測試數(shù)據(jù)注1:只有標(biāo)明(D)的試驗(yàn)是破壞性試驗(yàn),見GB/T4589.1—2006的3.6.6。注2:對于等級要求為I類的器件(見GB/T4589.1—2006的2.6)。注3:LSL為規(guī)范下限值,USL為規(guī)范上限值,IVL為初始值。表6C組(周期)檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)條件除另有規(guī)定外,Tamh=25℃(見GB/T4589.1—2006第4章)檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大尺寸GB/T4589.1—2006的4.3.2、附錄B(見本規(guī)范第1章)C2a分組正向電壓Vp方法1001USL反向電流方法1003USL光譜輻射帶寬(適用于單色光)方法2005USL半強(qiáng)度角方法2002Ip按規(guī)定—USL熱阻(規(guī)定時(shí))R方法5003I,按規(guī)定,散熱條件按規(guī)定—USL引出端強(qiáng)度(D)拉力(適用時(shí))GB/T2423.60—2008,按規(guī)定無損傷耐焊接熱(D)終點(diǎn)測試GB/T2423.28—2005,試驗(yàn)Tb按規(guī)定按規(guī)定9表6(續(xù))檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)條件除另有規(guī)定外,(見GB/T4589.1—2006第4章)檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大振動(dòng)或沖擊繼之以:恒定加速度(僅對空腔器件)終點(diǎn)測試或GB/T2423.5—按規(guī)定按規(guī)定按規(guī)定(僅對非空腔器件)終點(diǎn)測試1000h(I類器件不要求)其他按規(guī)定按規(guī)定電耐久性終點(diǎn)測試平均發(fā)光強(qiáng)度或光通量或輻射功率正向電壓反向電流相關(guān)色溫(適用于白光)或主波長(適用于單色光)ILEDy或VFIk本規(guī)范附錄A方法2001方法2003方法2004方法1001方法1003方法4004方法4003I,按本規(guī)范4.6的規(guī)定,至少1000hIp按規(guī)定,其他條件按規(guī)定Ip按規(guī)定Ip按規(guī)定I,按規(guī)定Is按規(guī)定Ir按規(guī)定(I類、類)(Ⅲ類)高溫貯存終點(diǎn)測試至少1000h,T=TAg.maxC10分組低溫貯存(要求時(shí))終點(diǎn)測試試驗(yàn)方法Ab至少168h,T=Ts.nin表6(續(xù))檢驗(yàn)或試驗(yàn)符號引用標(biāo)準(zhǔn)SJ/T11394—2009條件除另有規(guī)定外,Ta=25℃(見GB/T4589.1—2006第4章)檢驗(yàn)或試驗(yàn)要求/極限值最小最大C11分組靜電放電敏感度(ESDS)(要求時(shí))人體模式(HBM)和/或機(jī)器模式(MM)方法6001及本規(guī)范附錄B方法6002及本規(guī)范附錄B按規(guī)定按規(guī)定C12分組光輻射安全等級(要求時(shí))按規(guī)定提供C3、C4和C8分組的屬性資料。提供C7、C8和C9分組前后的測試數(shù)據(jù)注1:只有標(biāo)明(D)的試驗(yàn)是破壞性試驗(yàn),見GB/T4589.1—2006的3.6.6。注2:LSL為規(guī)范下限值,USL為規(guī)范上限值,IVL為

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