標(biāo)準(zhǔn)解讀

GB/T 44390-2024 是一項(xiàng)關(guān)于打印顯示薄膜均勻性測(cè)試的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了評(píng)估打印顯示薄膜在顏色、亮度、對(duì)比度等方面均勻性的具體測(cè)試方法和要求，旨在確保打印產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和可靠性。以下是標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容的概述：

范圍

本標(biāo)準(zhǔn)適用于使用各種打印技術(shù)（如噴墨、激光、熱轉(zhuǎn)印等）生成的顯示薄膜的均勻性檢測(cè)。這些薄膜常用于電子顯示屏、廣告標(biāo)牌、裝飾貼膜等多種領(lǐng)域。

規(guī)范性引用文件

列出了實(shí)施本標(biāo)準(zhǔn)時(shí)所依據(jù)或參考的其他相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，確保測(cè)試方法的準(zhǔn)確性和通用性。

術(shù)語(yǔ)和定義

清晰界定與薄膜均勻性測(cè)試相關(guān)的專業(yè)術(shù)語(yǔ)，包括但不限于亮度均勻性、色差、對(duì)比度等，以便統(tǒng)一測(cè)試過(guò)程中的概念理解。

測(cè)試設(shè)備與環(huán)境條件

詳細(xì)說(shuō)明了進(jìn)行均勻性測(cè)試所需設(shè)備的類型、精度要求及校準(zhǔn)方法，同時(shí)規(guī)定了測(cè)試環(huán)境的光照條件、溫度、濕度等參數(shù)，以減少外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。

樣品制備

指導(dǎo)如何選取或制備具有代表性的樣品，包括樣品尺寸、數(shù)量以及處理方式，確保測(cè)試結(jié)果能夠有效反映整體薄膜的性能。

測(cè)試方法

  1. 亮度均勻性測(cè)試：通過(guò)測(cè)量薄膜表面不同區(qū)域的亮度值，計(jì)算亮度差異，評(píng)價(jià)其均勻性。
  2. 色彩均勻性測(cè)試：利用色度計(jì)測(cè)量色彩坐標(biāo)，根據(jù)CIE色空間計(jì)算色差ΔE，評(píng)估顏色一致性。
  3. 對(duì)比度測(cè)試：測(cè)量最亮與最暗區(qū)域的亮度比值，反映圖像的清晰度和鮮明度。

數(shù)據(jù)處理與分析

闡述了如何收集和統(tǒng)計(jì)測(cè)試數(shù)據(jù)，包括數(shù)據(jù)的有效性判斷、異常值處理及最終均勻性指標(biāo)的計(jì)算方法。

試驗(yàn)報(bào)告

規(guī)定了試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包含的信息，如樣品信息、測(cè)試條件、測(cè)試結(jié)果、結(jié)論等，確保測(cè)試過(guò)程的透明度和可追溯性。

安全要求

簡(jiǎn)要提及在測(cè)試過(guò)程中需遵守的安全操作規(guī)程，保障操作人員安全及設(shè)備正常運(yùn)行。

該標(biāo)準(zhǔn)為制造商、檢測(cè)機(jī)構(gòu)及科研單位提供了一套統(tǒng)一、科學(xué)的測(cè)試框架，有助于提升打印顯示薄膜產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力，滿足行業(yè)內(nèi)外對(duì)薄膜均勻性日益增長(zhǎng)的要求。


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....

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  • 現(xiàn)行
  • 正在執(zhí)行有效
  • 2024-08-23 頒布
  • 2025-03-01 實(shí)施
?正版授權(quán)
GB/T 44390-2024打印顯示薄膜均勻性測(cè)試方法_第1頁(yè)
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GB/T 44390-2024打印顯示薄膜均勻性測(cè)試方法_第4頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

ICS31030

CCSL.90

中華人民共和國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)

GB/T44390—2024

打印顯示薄膜均勻性測(cè)試方法

Printdisplay—Measuringmethodoffilmuniformity

2024-08-23發(fā)布2025-03-01實(shí)施

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局發(fā)布

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)

GB/T44390—2024

目次

前言

…………………………Ⅲ

范圍

1………………………1

規(guī)范性引用文件

2…………………………1

術(shù)語(yǔ)和定義

3………………1

臺(tái)階儀法仲裁法

4()………………………2

測(cè)試原理

4.1……………2

測(cè)試條件

4.2……………2

測(cè)試步驟

4.3……………4

結(jié)果處理

4.4……………6

白光干涉儀法

5……………7

測(cè)試原理

5.1……………7

測(cè)試條件

5.2……………7

測(cè)試步驟

5.3……………9

結(jié)果處理

5.4……………10

測(cè)試報(bào)告

6…………………11

Ⅰ

GB/T44390—2024

前言

本文件按照標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第部分標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則的規(guī)定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

。

請(qǐng)注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利本文件的發(fā)布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)識(shí)別專利的責(zé)任

。。

本文件由全國(guó)半導(dǎo)體設(shè)備和材料標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)提出并歸口

(SAC/TC203)。

本文件起草單位京東方科技集團(tuán)股份有限公司奧來(lái)德上海光電材料科技有限公司北京鼎材

:、()、

科技有限公司中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院合肥京東方卓印科技有限公司合肥鼎材科技有限公司

、、、、

華星光電技術(shù)有限公司江陰潤(rùn)瑪電子材料股份有限公司廣東東溢新材料科技有限公司廣東聚

TCL、、、

華印刷顯示技術(shù)有限公司深圳御光新材料有限公司衢州英特高分子材料有限公司紹興旭源新材料

、、、

科技有限公司

。

本文件主要起草人張志剛楊京龍李新國(guó)徐曉光馬曉宇代青畢巖孫力施槐庭黃瑜曹可慰

:、、、、、、、、、、、

吳怡然趙俊莎汪康王鐵包金豹喬娟高文正戈燁銘何珂周輝陳建平付東余磊黃衛(wèi)東

、、、、、、、、、、、、、、

朱龍山袁鵬王霞

、、。

Ⅲ

GB/T44390—2024

打印顯示薄膜均勻性測(cè)試方法

1范圍

本文件描述了打印顯示薄膜均勻性的測(cè)試方法主要包括子像素均勻性相鄰子像素均勻性短程

,、、

均勻性測(cè)試方法

。

本文件適用于使用探針式表面輪廓儀以下稱臺(tái)階儀和白光干涉儀對(duì)厚度范圍為5

()5nm~10nm

的打印顯示薄膜均勻性的測(cè)試

。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款其中注日期的引用文

。,

件僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改單適用于

,;,()

本文件

。

有機(jī)發(fā)光二極管顯示器件第部分術(shù)語(yǔ)與文字符號(hào)

GB/T20871.121-2:

3術(shù)語(yǔ)和定義

界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件

GB/T20871.12。

31

.

像素pixel

在矩陣顯示器中能完成必需顯示功能的最小顯示單元

,。

注例如在基于紅綠藍(lán)垂直條的彩色顯示中三個(gè)相鄰點(diǎn)組成一個(gè)像素

:,、、(RGB),RGB。

來(lái)源

[:GB/T20871.12—2024,3.5.45]

32

.

子像素subpixel

組成一個(gè)像素的各個(gè)點(diǎn)

。

注例如在基于垂直條的彩色顯示中每個(gè)點(diǎn)是一個(gè)子像素

:,RGB,RGB。

來(lái)源

[:GB/T20871.12—2024,3.5.58]

33

.

子像素均勻性subpixeluniformity

一個(gè)子像素內(nèi)打印薄膜的厚度均勻程度

溫馨提示

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