基于數(shù)字圖像處理的高溫目標(biāo)溫度場測量系統(tǒng)研究的開題報(bào)告

基于數(shù)字圖像處理的高溫目標(biāo)溫度場測量系統(tǒng)研究的開題報(bào)告開題報(bào)告論文題目：基于數(shù)字圖像處理的高溫目標(biāo)溫度場測量系統(tǒng)研究一、研究背景及意義紅外熱像技術(shù)應(yīng)用廣泛，可用于高溫目標(biāo)溫度場的非接觸式測量。但是，傳統(tǒng)紅外熱像儀由于成本較高、測量精度較低等原因，在一些應(yīng)用場景中難以滿足需求。并且，由于部分目標(biāo)表面吸收、反射不均，熱像儀會出現(xiàn)漏測或誤測現(xiàn)象。為了解決這些問題，數(shù)字圖像處理技術(shù)在近年來得到了廣泛應(yīng)用。本研究旨在利用數(shù)字圖像處理技術(shù)構(gòu)建一種高溫目標(biāo)溫度場測量系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)高溫目標(biāo)的精準(zhǔn)測量。二、研究內(nèi)容及方法1、系統(tǒng)構(gòu)成：系統(tǒng)由紅外相機(jī)、激光標(biāo)記器、計(jì)算機(jī)等多部分組成。激光標(biāo)記器通過對目標(biāo)表面進(jìn)行點(diǎn)陣式標(biāo)記，紅外相機(jī)拍攝目標(biāo)表面圖像，并將圖像傳輸至計(jì)算機(jī)進(jìn)行圖像處理和溫度場計(jì)算。2、數(shù)字圖像處理：對紅外相機(jī)拍攝得到的圖像進(jìn)行數(shù)字圖像處理，包括背景校正、圖像增強(qiáng)、目標(biāo)定位、溫度計(jì)算等。3、數(shù)據(jù)處理：對紅外相機(jī)采集到的圖像中的溫度信息進(jìn)行處理，得出高溫目標(biāo)表面的溫度分布圖。4、實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證：對本系統(tǒng)的測量精度及適用性進(jìn)行實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。三、擬解決的問題及創(chuàng)新點(diǎn)1、測量精度提高：相比傳統(tǒng)紅外熱像技術(shù)，本系統(tǒng)通過數(shù)字圖像處理技術(shù)進(jìn)行溫度計(jì)算，能夠使得溫度測量結(jié)果更加準(zhǔn)確和可靠。2、適用性提升：本系統(tǒng)通過激光標(biāo)記器對目標(biāo)表面進(jìn)行點(diǎn)陣式標(biāo)記，在目標(biāo)表面存在反射、吸收差異的情況下，仍然能夠?qū)δ繕?biāo)進(jìn)行有效定位和測量。3、性能與成本優(yōu)化：相比傳統(tǒng)紅外熱像技術(shù)，本系統(tǒng)結(jié)合數(shù)字圖像處理技術(shù)，成本更為低廉，且能夠提供更為豐富的信息。四、論文進(jìn)度安排1、第一年：（1）完成文獻(xiàn)綜述，熟悉數(shù)字圖像處理技術(shù)在高溫目標(biāo)溫度場測量中的應(yīng)用；（2）設(shè)計(jì)系統(tǒng)架構(gòu)，包括硬件設(shè)備和數(shù)字圖像處理流程；（3）對系統(tǒng)的各個(gè)模塊進(jìn)行編程實(shí)現(xiàn)，完成圖像采集、數(shù)字圖像處理、溫度場計(jì)算等功能；（4）進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證，優(yōu)化系統(tǒng)性能。2、第二年：（1）進(jìn)行系統(tǒng)性能測試，收集測試數(shù)據(jù)進(jìn)行分析；（2）針對測試結(jié)果進(jìn)行改進(jìn)優(yōu)化，進(jìn)行新一輪測試；（3）完善系統(tǒng)文檔，整理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)，撰寫論文第一版草稿。3、第三年：（1）繼續(xù)完善系統(tǒng)，提高系統(tǒng)性能，進(jìn)一步探討改進(jìn)方案和技術(shù)細(xì)節(jié)；（2）撰寫并修改論文，進(jìn)行報(bào)告撰寫和展示準(zhǔn)備。以上進(jìn)度安排僅為初步安排，具體完成時(shí)間仍需根據(jù)研究進(jìn)度進(jìn)行調(diào)整。五、參考文獻(xiàn)[1]廖紀(jì)業(yè)，彭舒.基于數(shù)字圖像處理的高溫目標(biāo)溫度場測量研究[D].北京理工大學(xué),2017.[2]AlanPerlman.ThermalImagingTechniquestoDetectHeatLossesfromBuildings[J].Energies,2012,5(11):4291.[3]YANGChunxia.MethodsofTemperatureMeasurementbyInfraredThermography[A].//TheProceedingsof20102__InternationalConferenceonComputerTechnologyandDevelopment[C].Chengdu,China:IEEE,2010:342.[4]LIBing,CHENHongwu,ZHAOWendong,etal.ResearchofInfraredImagingMeasurementTechnologyBas