數(shù)字邏輯知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋山東科技大學(xué)

數(shù)字邏輯知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋山東科技大學(xué)緒論單元測試

系統(tǒng)一般可分為模擬系統(tǒng)、數(shù)字系統(tǒng)和模擬數(shù)字混合系統(tǒng)。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)

第一章單元測試

假定下列字符碼中有奇偶校驗(yàn)位，但沒有數(shù)據(jù)錯(cuò)誤，采用偶校驗(yàn)的字符碼是：（）

A:11000001

B:11001011

C:11001001

D:11010110

答案:11001001

某數(shù)在計(jì)算機(jī)中用8421BCD碼表示為011110001001，其真值為：（）

A:789H

B:1929

C:789

答案:789

常用的BCD碼有：（）

A:格雷碼

B:8421碼

C:余三碼

D:奇偶校驗(yàn)碼

答案:8421碼

與余3碼（10001000）等值的十進(jìn)制數(shù)是：（）

A:66

B:88

C:55

D:77

答案:55

8421BCD碼是否具有奇偶特性？（）

A:是

B:不是

C:其余都不對(duì)

D:不確定

答案:是

第二章單元測試

試求此函數(shù)的最簡或與式為（）。

A:

B:

C:

D:

答案:

函數(shù)的最簡與或式為（）。

A:

B:

C:

D:

答案:

函數(shù)和相等（）。

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)函數(shù)的反函數(shù)為。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)函數(shù)的對(duì)偶式為。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)

第三章單元測試

二極管具有單向?qū)щ娦?。（?/p>

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)三極管的三個(gè)工作區(qū)域分別是：飽和區(qū)、截止區(qū)、放大區(qū)。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)OC門工作時(shí)要外加上拉電阻才可以正常工作。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)TTL與非門可以實(shí)現(xiàn)“線與”功能。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)TTL與非門的懸空端可看作:（）

A:低電平

B:高電平

C:短路

D:開路

答案:高電平

下列哪種門電路可以將輸出端直接并聯(lián)使用：（）

A:普通CMOS門

B:具有推拉式輸出級(jí)的TTL電路

C:三態(tài)門

D:OC門

答案:OC門

三態(tài)門的三個(gè)狀態(tài)是:（）

A:開路

B:低電平

C:高電平

D:短路

E:高阻態(tài)

答案:低電平

；高電平

；高阻態(tài)

第四章單元測試

根據(jù)如下電路，設(shè)輸入為A，B，C，輸出為F，利用組合邏輯電路的分析方法可知，此電路只有當(dāng)輸入信號(hào)一致時(shí)，輸出F=1,；輸入不一致時(shí)，輸出F=0，該電路為不一致檢測電路。

（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)在輸入不提供反變量的情況下，用與非門實(shí)現(xiàn)函數(shù)，利用組合邏輯電路的設(shè)計(jì)方法，如下電路設(shè)計(jì)可以實(shí)現(xiàn)該邏輯函數(shù)功能。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)利用險(xiǎn)象判斷的方法，如下電路中可能存在險(xiǎn)象。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)邏輯函數(shù)可能存在競爭-冒險(xiǎn)。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)利用譯碼器的使能端，將兩片3-8譯碼器可擴(kuò)展為一片4-16譯碼器，可用于設(shè)計(jì)四位二進(jìn)制的偶校驗(yàn)發(fā)生器，經(jīng)電路分析，如下四位二進(jìn)制的偶校驗(yàn)發(fā)生器電路存在設(shè)計(jì)錯(cuò)誤。

（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)用4路多路選擇器實(shí)現(xiàn)邏輯函數(shù)，經(jīng)電路分析，如下電路設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)該邏輯函數(shù)功能。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)

第五章單元測試

時(shí)序電路的輸出不僅與當(dāng)前的輸入有關(guān)還與上一時(shí)刻的狀態(tài)有關(guān)。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:對(duì)時(shí)序電路分為同步時(shí)序電路和異步時(shí)序電路。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)寄存器只能存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，不能構(gòu)成計(jì)數(shù)器。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:錯(cuò)構(gòu)成模大于16小于256的計(jì)數(shù)器，要用幾片74161芯片？（）

A:4片

B:3片

C:1片

D:2片

答案:2片

構(gòu)成8位可逆移位寄存器要用幾片74LS194芯片？（）

A:2片

B:4片

C:3片

D:1片

答案:2片

鐘控制觸發(fā)器的觸發(fā)方式分為：（）

A:上升沿觸發(fā)

B:高電平觸發(fā)

C:低電平觸發(fā)

D:下降沿觸發(fā)

答案:上升沿觸發(fā)

；高電平觸發(fā)

；低電平觸發(fā)

；下降沿觸發(fā)

J-K觸發(fā)器具有哪些功能：（）

A:置0

B:保持

C:翻轉(zhuǎn)

D:置1

答案:置0

；保持

；翻轉(zhuǎn)

；置1

計(jì)數(shù)器分為：（）

A:減1計(jì)數(shù)器

B:可逆計(jì)數(shù)器

C:其余都不對(duì)

D:加1計(jì)數(shù)器

答案:減1計(jì)數(shù)器

；可逆計(jì)數(shù)器

；加1計(jì)數(shù)器

第六章單元測試

任何一個(gè)組合邏輯電路都可以用一個(gè)PAL來實(shí)現(xiàn)。（）

A:錯(cuò)B:對(duì)

答案:錯(cuò)以下為MAX+PLUSII的原理圖輸入設(shè)計(jì)流程步驟，1.項(xiàng)目建立2.輸入設(shè)計(jì)項(xiàng)目,存盤3.項(xiàng)目編譯，時(shí)序仿真4.管腳鎖定，編程下載。正確順序?yàn)?)。

A:1234

B:1324

C:1243

D:1342

答案:1234

一個(gè)相對(duì)完整的VHDL設(shè)計(jì)由庫、程序包實(shí)體、結(jié)構(gòu)體、配置幾個(gè)部分組成。（）

A:對(duì)B:錯(cuò)

答案:對(duì)VHDL的描述風(fēng)格可歸納為（）。

A:寄存器傳輸式描述

B:行為描述

C:數(shù)據(jù)流描述

D:結(jié)構(gòu)描述

答案:寄存器傳輸式描述

；行為描述

；數(shù)據(jù)流描述

；結(jié)構(gòu)描述

VDHL的程序結(jié)構(gòu)特點(diǎn)具體包括（）？

A:VHDL語句的行為描述能力和程序結(jié)構(gòu)決定了它具有支持大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的分解和對(duì)已有設(shè)計(jì)的再利用功能。

B:VHDL豐富的仿真語言和庫函數(shù)，是的在大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的早期就能查驗(yàn)出設(shè)計(jì)系統(tǒng)的功能可行性，可隨時(shí)對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行功能仿真、時(shí)序仿真。

C:VHDL具有更強(qiáng)的行為描述能力決定了它成為系統(tǒng)設(shè)計(jì)領(lǐng)域最佳的硬件描述語言。

D:對(duì)于VHDL完成的一個(gè)確定的設(shè)計(jì)，可以利用EDA工具進(jìn)行邏輯綜合和優(yōu)化，并自動(dòng)把VHDL描述設(shè)計(jì)轉(zhuǎn)換成門級(jí)網(wǎng)表。

答案:VHDL語句的行為描述能力和程序結(jié)構(gòu)決定了它具有支持大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的分解和對(duì)已有設(shè)計(jì)的再利用功能。

；VHDL豐富的仿真語言和庫函數(shù)，是的在大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的早期就能查驗(yàn)出設(shè)計(jì)系