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文檔簡(jiǎn)介
ICS31.120
CCSL53
SLDA
團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)
T/SLDAXXXX—XXXX
Mini/MicroLED顯示屏Mura缺陷評(píng)價(jià)方法
MeasurementforMuraofMini/MicroLEDdisplays
(征求意見(jiàn)稿)
在提交反饋意見(jiàn)時(shí),請(qǐng)將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。
XXXX-XX-XX發(fā)布XXXX-XX-XX實(shí)施
深圳市照明與顯示工程行業(yè)協(xié)會(huì)發(fā)布
T/SLDAXXXX—XXXX
Mini/MicroLED顯示屏Mura缺陷評(píng)價(jià)方法
1范圍
本文件規(guī)定了Mini/MicroLED顯示屏Mura缺陷測(cè)試的一般要求、亮度Mura缺陷評(píng)價(jià)和色度評(píng)價(jià)Mura
缺陷評(píng)價(jià)。
本文件適用于像素和子像素均呈矩形排列的室內(nèi)外Mini/MicroLED顯示屏。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,
僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本
文件。
GB/T3977—2008顏色的表示方法
SJ/T11141—2017發(fā)光二極管(LED)顯示屏通用規(guī)范
SJ/T11281—2017發(fā)光二極管(LED)顯示屏測(cè)試方法
3術(shù)語(yǔ)和定義
SJ/T11141-2017、GB/T3977-2008界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。
3.1
子像素sub-pixel
物理構(gòu)成像素的,受控的基色單元。
3.2
像素pixel
LED顯示屏的基本成像單元,無(wú)復(fù)用子像素。像素之間呈矩形排列,包含一個(gè)或若干個(gè)子像素及子
像素間不直接發(fā)光的區(qū)域。
LED顯示屏的最小成像單元。
[來(lái)源:SJ/T11141—2017,3.6]
3.3
顯示模塊displaymodule
由像素或像素陣列、驅(qū)動(dòng)電路組成的單元。
3.4
顯示模組displayassembly
由若干個(gè)顯示模塊、控制電路、電源轉(zhuǎn)換器以及相應(yīng)的結(jié)構(gòu)件構(gòu)成的一個(gè)獨(dú)立單元。
3.5
LED屏體LEDpanel
由一個(gè)或若干個(gè)顯示模組拼接而成,不含控制系統(tǒng),但可由顯示控制系統(tǒng)進(jìn)行控制,完成畫面顯示。
[來(lái)源:SJ/T11141—2017,3.2]
3.6
LED顯示屏LEDdisplays
也稱“LED直顯屏”,以LED像素顯示文字、圖像及視頻等信息的裝置。通常包括LED屏體及顯示控
制系統(tǒng)等,也可包括輔助系統(tǒng)等。
[來(lái)源:SJ/T11141—2017,3.1]
3.7
子像素中心間距[翻譯?centertocenterofsub-pixel]
水平和豎直方向上相鄰子像素(不論是否相同基色)中心點(diǎn)之間的距離。
1
T/SLDAXXXX—XXXX
3.8
像素中心間距dotpitch
水平和豎直方向上相鄰像素中心點(diǎn)之間的距離。
LED顯示屏兩個(gè)相鄰像素中心點(diǎn)之間的距離。
[來(lái)源:SJ/T11141—2017,3.7]
3.9
Mini/MicroLED顯示屏Mini/MicroLEDdisplays
子像素由長(zhǎng)寬任意一邊均小于200μm的LED芯片構(gòu)成的LED顯示屏。
3.10
Mura缺陷Muradefect
LED顯示屏顯示白色或單色畫面時(shí)人眼感受到的畫面的亮度或色度不均勻,通常呈點(diǎn)狀、線狀或塊
狀,對(duì)比度低。Mura缺陷不是硬件故障,一般可以通過(guò)軟件調(diào)整得到改善,不包含由于顯示模塊、顯示
模組等拼接的錯(cuò)位或失控像素導(dǎo)致的亮度或色度不均勻。
3.11
成像亮色度計(jì)Imagingluminanceandchromaticitymeter
一種基于成像原理來(lái)進(jìn)行測(cè)光和測(cè)色的計(jì)量?jī)x器,由視覺(jué)匹配的光探測(cè)器、光學(xué)系統(tǒng)以及信號(hào)輸出
處理系統(tǒng)等基本結(jié)構(gòu)所組成,可以測(cè)量亮度/三刺激值。采用陣列式光探測(cè)器作為光接收部件,能夠同
時(shí)將測(cè)量區(qū)域成像在陣列式光探測(cè)器上。擁有X×Y個(gè)像元的陣列式光探測(cè)器可以看作是X×Y個(gè)傳統(tǒng)點(diǎn)式
亮色度計(jì)的組合,對(duì)應(yīng)的成像亮色度計(jì)的測(cè)量分辨率為X×Y。
3.12
像元Minimumphotosensitiveunit
即成像亮色度計(jì)CMOS(CCD)感光芯片像元,指成像亮色度計(jì)CMOS(CCD)的最小感光單元(光探測(cè)
器)。
3.13
最小可覺(jué)察差異justnoticeabledifference,JND
心理物理學(xué)領(lǐng)域用于表示某差異可覺(jué)察和不可覺(jué)察的概率各為50%的一個(gè)統(tǒng)計(jì)值。
4測(cè)試的一般要求
4.1環(huán)境條件
符合以下要求:
環(huán)境溫度:15℃~35℃;
相對(duì)濕度:25%~75%;
大氣壓:86kPa~106kPa;
待測(cè)樣品反射的環(huán)境光亮度應(yīng)小于0.01cd/m2,如果環(huán)境光條件不滿足,應(yīng)在測(cè)試報(bào)告中注明;
無(wú)風(fēng)。
4.2測(cè)試設(shè)備
在一定的測(cè)量距離下成像亮色度計(jì)的測(cè)量區(qū)域(單張成像畫面)應(yīng)不小于待測(cè)樣品的一個(gè)顯示模組,
且待測(cè)樣品的每個(gè)子像素在成像亮色度計(jì)成像畫面中應(yīng)至少對(duì)應(yīng)3×3個(gè)像元。
亮度測(cè)量最大允許誤差:±5%;色坐標(biāo)(x,y)測(cè)量最大允許誤差:±0.005。
4.3電源
測(cè)試時(shí)電源電壓與額定電壓的偏差應(yīng)在±0.5%范圍內(nèi),電源頻率與額定頻率的偏差應(yīng)在±0.2%范圍
內(nèi)。
4.4穩(wěn)定條件
待測(cè)樣品測(cè)試前應(yīng)充分預(yù)熱,樣品點(diǎn)亮后,顯示規(guī)定的畫面,重復(fù)測(cè)試中心點(diǎn)的亮度,當(dāng)亮度值變
化每分鐘不超過(guò)±2%時(shí),認(rèn)為待測(cè)樣品已處于穩(wěn)定狀態(tài)。
2
T/SLDAXXXX—XXXX
4.5被測(cè)區(qū)域
被測(cè)區(qū)域一般為整個(gè)待測(cè)樣品。當(dāng)成像亮色度計(jì)的測(cè)量區(qū)域不能覆蓋整個(gè)待測(cè)樣品并滿足4.2的要
求時(shí),可將待測(cè)樣品分為幾個(gè)相等的區(qū)域分別進(jìn)行測(cè)量,每個(gè)區(qū)域包含數(shù)量相等的顯示模組,并在報(bào)告
中說(shuō)明。
4.6測(cè)量角度
成像亮色度計(jì)沿被測(cè)區(qū)域法線方向進(jìn)行測(cè)量。
4.7測(cè)量距離
成像亮色度計(jì)到被測(cè)區(qū)域中心點(diǎn)的距離應(yīng)滿足:
條件1:(1700~3400)×像素中心間距;
條件2:(3~10)×待測(cè)樣品高度;
當(dāng)條件1和條件2無(wú)法兼顧時(shí),條件1優(yōu)先于條件2。
5亮度Mura缺陷評(píng)價(jià)
5.1使待測(cè)樣品顯示50%最大灰度等級(jí)、白色畫面并達(dá)到穩(wěn)定。
5.2用成像亮色度計(jì)測(cè)量得到被測(cè)區(qū)域內(nèi)每個(gè)像素的亮度。單個(gè)像素的亮度為該像素對(duì)應(yīng)所有像元測(cè)
得亮度的算術(shù)平均值。
5.3按照公式(1)計(jì)算每個(gè)像素的亮度對(duì)比度Cpi:
=×100(%)…………(1)
?????????????????????
式中:????????????????????
Lpi——為該像素的亮度;
Lb——為被測(cè)區(qū)域的背景亮度,即被測(cè)區(qū)域所有像素亮度的算術(shù)平均值。
5.4找出所有Cpi>1的像素,將位置相鄰的像素劃分在一起組成一個(gè)Mura缺陷,對(duì)寬度不大于0.30mm
的,不認(rèn)為是Mura缺陷。
5.5對(duì)于每個(gè)Mura缺陷,按照公式(2)計(jì)算其最小可覺(jué)察差異對(duì)比度Cjndx:
1.97
=0.33+0.72(%)…………(2)
式中:????????????????????????????
2
Si——為該Mura缺陷的面積,單位mm。
5.6按照公式(3)計(jì)算每個(gè)Mura缺陷的Mura指數(shù)MUi:
||
=…………(3)
????????
式中:????????????????????????????????
Ci——為該Mura缺陷的平均亮度對(duì)比度,即該Mura缺陷所包含像素的Cpi之算術(shù)平均值。
5.7按照公式(4)計(jì)算待測(cè)區(qū)域亮度Mura缺陷指數(shù)LMU:
=…………(4)
∑????????????
式中:????????????????
S——為待測(cè)區(qū)域的面積,單位m2。
5.8需要時(shí)可在其它顏色和灰度等級(jí)下進(jìn)行亮度Mura缺陷評(píng)價(jià)。
6色度Mura缺陷評(píng)價(jià)
6.1在待測(cè)樣品顯示50%最大灰度等級(jí)、各單色畫面并達(dá)到穩(wěn)定后按下列步驟對(duì)該單色畫面進(jìn)行色度
Mura缺陷評(píng)價(jià)。
6.2用成像亮色度計(jì)測(cè)量得到被測(cè)區(qū)域內(nèi)每個(gè)像素的主波長(zhǎng)。單個(gè)像素的主波長(zhǎng)為該像素對(duì)應(yīng)所有像
元測(cè)得主波長(zhǎng)的算術(shù)平均值。
3
T/SLDAXXXX—XXXX
6.3對(duì)每個(gè)像素,按照公式(5)計(jì)算主波長(zhǎng)差異:
=…………(5)
?????????????????
式中:????????????????????????????????????????????????
——為該像素的亮度;
——為被測(cè)區(qū)域所有像素主波長(zhǎng)的算術(shù)平均值。
????????????
6.4????取所有中的最大值作為該被測(cè)區(qū)域的主波長(zhǎng)差異。
????????
6.5????需要時(shí)可在其它灰度等級(jí)下進(jìn)行色度Mura缺陷評(píng)價(jià)。
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