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數(shù)字電子技術(shù)(山東聯(lián)盟-濰坊學(xué)院)知到智慧樹章節(jié)測試課后答案2024年秋濰坊學(xué)院第一章單元測試
十進制數(shù)25對應(yīng)的八進制數(shù)為(
)。
A:
31B:10011C:
11001D:
19
答案:
31八進制數(shù)34.5對應(yīng)的二進制數(shù)為(
)。
A:
011100.101B:
100010.1C:
0110100.101D:
00110100.0101
答案:
011100.101
與十進制數(shù)53.5等值的8421BCD碼為(
)。
A:
101011.0101B:
110101.1C:
0110101.01D:
01010011.0101
答案:
01010011.0101
與十進制數(shù)(12.5)10等值的二進制數(shù)為(
)。
A:
C.5B:1100.01C:
1100.1D:
10010.0101
答案:
1100.1與八進制數(shù)(47.3)8等值的二進制數(shù)為(
)。
A:
100111.11B:
100111.011C:
01000111.011D:
1000111.011
答案:
100111.011
不同的數(shù)碼只能用來表示數(shù)量的不同大小。
A:錯B:對
答案:錯
帶有符號位的二進制負數(shù)的補碼與原碼相同。
A:錯B:對
答案:錯
格雷碼具有任何相鄰碼只有一位碼元不同的特性。
A:對B:錯
答案:對
正數(shù)的反碼是將符號位保持不變,其它各位都取反。
A:對B:錯
答案:錯
將8421BCD碼加0011得到余3碼,所以余3碼也是一種恒權(quán)碼。
A:對B:錯
答案:錯
第二章單元測試
當(dāng)邏輯函數(shù)有n個變量時,共有(
)個變量取值組合?
A:
B:
nC:
D:
2n
答案:
邏輯函數(shù)F=A+B'+CD'的反函數(shù)F'=(
)。
A:
A'B(C'+D)B:
A'BC'+DC:
AB'(C'+D)D:
AB'(C+D')
答案:
A'B(C'+D)
用卡諾圖化簡下列邏輯函數(shù),最簡表達式為(
)。
A:F(A,B,C,D)=A′B′+AC′+C′D+B′DB:F(A,B,C,D)=A′B′+AC′+C′D+B′D′
C:F(A,B,C,D)=A′B+AC′+C′D+B′D′
答案:F(A,B,C,D)=A′B′+AC′+C′D+B′D′
已知邏輯函數(shù)的真值表表所示,列出該函數(shù)的最小項表達式(
)。
00000010010001111000101111011111
A:
F=A'B'C+AB'C+ABC'+ABC
B:
F=A'B'C'+AB'C+ABC'+ABC
C:
F=A'BC+AB'C+ABC'+ABC
D:
F=A'BC+A'BC'+ABC'+ABC
答案:
F=A'BC+AB'C+ABC'+ABC
求一個邏輯函數(shù)F的對偶式,可將F中的(
)。
A:
原變量換成反變量,反變量換成原變量B:
“·”換成“+”,“+”換成“·”C:
常數(shù)中“0”換成“1”,“1”換成“0”D:
變量不變
答案:
“·”換成“+”,“+”換成“·”;
常數(shù)中“0”換成“1”,“1”換成“0”;
變量不變
邏輯代數(shù)的三個重要規(guī)則是(
)。
A:
摩根定理B:
對偶規(guī)則C:
反演規(guī)則D:
代入規(guī)則
答案:
對偶規(guī)則;
反演規(guī)則;
代入規(guī)則
邏輯代數(shù)最基本的邏輯關(guān)系有(
)三種。
A:
與運算B:
非運算C:
異或運算D:
或運算
答案:
與運算;
非運算;
或運算
邏輯函數(shù)最小項的性質(zhì)有(
)。
A:只有對應(yīng)的變量取值使得最小項的值為0B:所有最小項的和為1C:只有對應(yīng)的變量取值使得最小項的值為1D:任意兩個最小項的積為0
答案:所有最小項的和為1;只有對應(yīng)的變量取值使得最小項的值為1;任意兩個最小項的積為0
若兩個函數(shù)具有相同的真值表,則兩個邏輯函數(shù)必然相等。
A:對B:錯
答案:對
邏輯上相鄰的八個最小項合并,可以消去三個因子。
A:對B:錯
答案:對
第三章單元測試
以下電路中常用于總線應(yīng)用的有(
)。
A:
三態(tài)門B:
CMOS與非門C:
漏極開路門D:
OC門
答案:
三態(tài)門
CMOS門電路輸入端與地之間接10kΩ負載時,輸入端相當(dāng)于(
)。
A:
高電平B:
低電平C:
不確定
答案:
低電平以下電路中可以實現(xiàn)“線與”功能的有(
)。
A:
與非門B:
漏極開路門C:
三態(tài)輸出門D:
集電極開路門
答案:
漏極開路門;
集電極開路門
三態(tài)門輸出高阻狀態(tài)時,以下(
)是正確的說法。
A:
用電壓表測量指針不動B:
相當(dāng)于懸空C:
電壓不高不低D:
測量電阻指針不動
答案:
用電壓表測量指針不動;
相當(dāng)于懸空;
測量電阻指針不動
CMOS與非門電路多余的輸入端可以(
)。
A:
與有用的輸入端并接B:
懸空C:
接低電平D:
接高電平
答案:
與有用的輸入端并接;
接高電平
CMOS反相器的電壓傳輸特性曲線分為(
)三個區(qū)。
A:
截止區(qū)B:
線性區(qū)C:
飽和區(qū)D:
轉(zhuǎn)折區(qū)
答案:
截止區(qū);
飽和區(qū);
轉(zhuǎn)折區(qū)
TTL或非門的多余輸入端可以接低電平。
A:對B:錯
答案:對
普通的TTL與非門的輸出端不可以并聯(lián)在一起,否則可能會損壞器件。
A:錯B:對
答案:對
CMOS非門與TTL非門的轉(zhuǎn)折電壓是相同的。
A:錯B:對
答案:錯對于兩個輸入端的TTL與非門,一個輸入端接0.2V的電壓,用萬用表測得另一個輸入端到地的電壓為(
)。
A:0.7VB:0.2VC:3.4VD:1.4V
答案:0.2V
第四章單元測試
一個八選一的數(shù)據(jù)選擇器,其地址輸入(選擇控制輸入)端有(
)個。
A:
8B:
3C:
2D:
4
答案:
3若在編碼器中有100個編碼對象,則要求輸出二進制代碼位數(shù)為(
)位。
A:6
B:
10C:
7D:
8
答案:
7
用3線——8線譯碼器74LS138擴展成5線——32線的譯碼器,需要(
)片74LS138。
A:
5B:
4C:
3D:
6
答案:
4
寫出如題圖所示電路輸出信號的邏輯表達式,說明其功能(
)。
A:
F=A'B'+AB,實現(xiàn)同或運算B:F=A'B+AB',實現(xiàn)異或運算
答案:
F=A'B'+AB,實現(xiàn)同或運算
函數(shù)F=A'C+AB,當(dāng)變量的取值為(
)時,將出現(xiàn)競爭冒險現(xiàn)象。
A:
A=1,B=1B:
A=1,C=1C:
B=1,C=1D:
A=0,B=0
答案:
B=1,C=1
優(yōu)先編碼器的編碼信號是相互排斥的,允許多個編碼信號同時有效。
A:錯B:對
答案:對
組合邏輯電路中產(chǎn)生競爭冒險的主要原因是輸入端受到尖峰信號的干擾。
A:對B:錯
答案:錯
在組合邏輯電路中,任意時刻的輸出只取決于該時刻的輸入,與電路原來的狀態(tài)無關(guān)。
A:錯B:對
答案:對
全加器與半加器都是實現(xiàn)一位二進制數(shù)的加法運算,所以功能是相同的。
A:對B:錯
答案:錯設(shè)計一個具有三個輸入邏輯變量的邏輯函數(shù),可以選擇(
)數(shù)據(jù)選擇器。
A:四選一B:十六選一C:八選一
答案:四選一;八選一
第五章單元測試
SR鎖存器輸入端處的小圓圈表示(
)。
A:低電平無效B:不允許有輸入低電平C:低電平有效D:不允許有輸入信號
答案:低電平有效JK觸發(fā)器的特性方程為(
)。
A:Q*=JQ'+K'QB:Q*=JQ+K'Q'C:Q*=DD:Q*=S+R'Q
答案:Q*=JQ'+K'Q已知R'、S'是與非門構(gòu)成的SR鎖存器的輸入端,則約束條件為(
)。
A:R+S=1B:R'+S'=0C:R'+S'=1D:RS=1
答案:R'+S'=1對于JK觸發(fā)器,若J=K=1,則可完成(
)觸發(fā)器的邏輯功能。
A:TB:DC:T'D:SR
答案:T'下列屬于脈沖觸發(fā)方式的動作特點的是(
)。
A:在CLK=1的全部時間里輸入信號都將對主觸發(fā)器起控制作用。B:觸發(fā)器的翻轉(zhuǎn)分兩步動作C:從觸發(fā)器的狀態(tài)在一個CLK的變化周期里只能改變一次。D:觸發(fā)器的狀態(tài)僅取決于CLK邊沿時刻輸入的邏輯狀態(tài);
答案:在CLK=1的全部時間里輸入信號都將對主觸發(fā)器起控制作用。;觸發(fā)器的翻轉(zhuǎn)分兩步動作;從觸發(fā)器的狀態(tài)在一個CLK的變化周期里只能改變一次。觸發(fā)器是具有記憶功能的邏輯單元。
A:對B:錯
答案:對觸發(fā)器的觸發(fā)方式和邏輯功能之間并無固定的對應(yīng)關(guān)系。
A:錯B:對
答案:對邊沿D觸發(fā)器優(yōu)點是既不會空翻,也沒有一次變化的問題。
A:錯B:對
答案:對在一個CLK的周期里,主從SR觸發(fā)器和主從JK觸發(fā)器的輸出狀態(tài)只可能改變一次。
A:對B:錯
答案:對凡是電平觸發(fā)的SR觸發(fā)器,只有在CLK為高電平時,S和R信號才起作用。
A:錯B:對
答案:錯
第六章單元測試
8位移位寄存器,串行輸入時經(jīng)(
)個脈沖后,8位數(shù)碼全部移入寄存器中
A:1B:4C:2D:8
答案:8同步計數(shù)器和異步計數(shù)器比較,同步計數(shù)器的顯著優(yōu)點是(
)。
A:工作速度高
B:觸發(fā)器利用率高C:不受時鐘CP控制D:電路簡單
答案:工作速度高
下列關(guān)于同步二進制計數(shù)器74LS161和同步十進制計數(shù)器74LS160的關(guān)系敘述正確的是(
)。
A:74LS160與74LS161的功能表不同,且計數(shù)長度不同B:74LS160與74LS161的功能表相同,但計數(shù)長度不同。C:74LS160與74LS161的功能表相同,且計數(shù)長度相同D:74LS160與74LS161的功能表相同,但計數(shù)長度不同
答案:74LS160與74LS161的功能表相同,但計數(shù)長度不同下列方程組屬于描述時序電路所用的方程組的是(
)。
A:狀態(tài)方程組B:輸入方程組C:驅(qū)動方程組D:輸出方程組
答案:狀態(tài)方程組;驅(qū)動方程組;輸出方程組穆爾型時序邏輯電路,其輸出信號僅僅取決于存儲電路的狀態(tài)。
A:錯B:對
答案:對移位寄存器的數(shù)據(jù)輸入方式只能采用串行輸入方式(
)。
A:對B:錯
答案:錯同步置零法設(shè)計計數(shù)器,產(chǎn)生置零信號的狀態(tài)不在穩(wěn)定的狀態(tài)循環(huán)中。
A:錯B:對
答案:錯計數(shù)器的模是指構(gòu)成計數(shù)器的觸發(fā)器的個數(shù)。
A:錯B:對
答案:錯當(dāng)計數(shù)范圍超出現(xiàn)有計數(shù)器的計數(shù)長度N,且不能分解成兩個小于N的因數(shù)相乘時,不能采用整體置零或整體置數(shù)方式
A:錯B:對
答案:錯
移位寄存器74HC194A在正常工作狀態(tài)下,可以實現(xiàn)(
)功能。
A:
左移B:
并行輸入C:
保持D:
右移
答案:
左移;
并行輸入;
保持;
右移
第七章單元測試
如圖所示用555定時器接成施密特觸發(fā)器為(
)。
A:
同相施密特觸發(fā)器B:
反相施密特觸發(fā)器C:不確定
答案:
反相施密特觸發(fā)器
如圖所示,555定時器接成單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器,所加的觸發(fā)脈沖為(
)。
A:
正脈沖B:
負脈沖C:
正、負脈沖
答案:
負脈沖
施密特觸發(fā)器可用于(
)。
A:脈沖整形B:
脈沖鑒幅C:波形變換
答案:脈沖整形;
脈沖鑒幅;波形變換
555定時器是一種多用途的數(shù)字-模擬混合集成電路,利用它可以構(gòu)成(
)。
A:
施密特觸發(fā)器B:
多諧振蕩器C:
反相器D:
單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
答案:
施密特觸發(fā)器;
多諧振蕩器;
單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器
反相輸出的施密特觸發(fā)器的電壓傳輸特性與普通反相器的電壓傳輸特性是相同的。
A:對B:錯
答案:錯
施密特觸發(fā)器的正向轉(zhuǎn)折電壓與負向轉(zhuǎn)折電壓相同。
A:對B:錯
答案:錯集成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器74121可以用上升沿觸發(fā),也可以用下降沿觸發(fā)。
A:對B:錯
答案:對
多諧振蕩器不需要外加觸發(fā)信號,便能自激產(chǎn)生矩形脈沖。
A:對B:錯
答案:對
用555定時器接成多諧振蕩器,由于沒有輸入信號,所以無法產(chǎn)生方波脈沖。
A:對B:錯
答案:錯
單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器在暫穩(wěn)態(tài)維持時間的長短取決于外加觸發(fā)脈沖的寬度。
A:錯B:對
答案:錯
第八章單元測試
半導(dǎo)體存儲器在電路結(jié)構(gòu)上可以像寄存器那樣把每個存儲單元的輸入和輸出直接引出。
A:對B:錯
答案:錯PROM的內(nèi)容一經(jīng)寫入,就不能修改,所以它只能寫入一次。
A:錯B:對
答案:對半導(dǎo)體存儲器的容量用存儲單元的數(shù)量來表示,通常表示為“字數(shù)*位數(shù)”的形式。
A:對B:錯
答案:對用只讀存儲器ROM可以實現(xiàn)一個八段字符顯示的譯碼器。
A:錯B:對
答案:對對RAM存儲器進行讀操作時,應(yīng)向存儲器芯片送出(
)控制信號。
A:CS'=1和R/W'=1B:CS'=0和R/W'=1C:CS'=0和R/W'=0D:CS'=1和R/W'=0
答案:CS'=0和R/W'=1已知某存儲器芯片有地址線12條,數(shù)據(jù)線8條,則該存儲器的存儲容量是()。
A:4096*4位B:1024*8位C:2048*8位D:4096*8位
答案:4096*8位欲將容量為128*8位的RAM擴展為1024*8位的RAM,則需要(
)片128*8位的RAM。
A:10B:3
C:8D:4
答案:81024*8位的ROM對應(yīng)的地址碼是(
)
位。
A:
8B:
10C:
1024D:
16
答案:
10只讀存儲器的類型有(
)。
A:DRAMB:EPROMC:掩膜ROMD:PROM
答案:EPROM;掩膜ROM;PROMRAM的電路結(jié)構(gòu)包含(
)三個組成部分。
A:地址譯碼器B:存儲矩陣C:輸出緩沖器D:讀寫控制電路
答案:地址譯碼器;存儲矩陣;讀寫控制電路
第九章單元測試
PLD是可編程邏輯器件的簡稱。
A:錯B:對
答案:對PAL器件中的或邏輯陣列是可以編程的。
A:錯B:對
答案:錯經(jīng)過一定的編程,PAL專用輸出結(jié)構(gòu)可用作輸入。
A:錯B:對
答案:錯由于采用了CMOS工藝,EPLD具有很高的噪聲容限。
A:對B:錯
答案:對FPGA中,CLB是輸出邏輯模塊的簡稱。
A:錯B:對
答案:錯關(guān)于FPGA的說法錯誤的是(
)。
A:FPGA的編程數(shù)據(jù)都是存放在EPROM中。B:FPGA中的IOB、CLB和互聯(lián)資源都是可編程的。C:相比其它PLD產(chǎn)品,F(xiàn)PGA的集成度最低。D:斷電后,F(xiàn)PGA的數(shù)據(jù)易丟失。
答案:相比其它PLD產(chǎn)品,F(xiàn)PGA的集成度最低。下列不屬于PLD產(chǎn)品的是(
)。
A:FPGAB:PLCC:EPLDD:PAL
答案:PLCPAL器件是由以下(
)三部分組成的。
A:固定的與邏輯陣列
B:輸出電路C:固定的或邏輯陣列D:可編程的與邏輯陣列
答案:輸出電路;固定的或邏輯陣列;可編程的與邏輯陣列關(guān)于可編程邏輯器件的說法正確的是(
)。
A:PLD開發(fā)系統(tǒng)中的硬件部分由計算機和編程器構(gòu)成。B:PAL的電路基本結(jié)構(gòu)是與-或邏輯陣列型。C:每次開始工作時,F(xiàn)PGA都要重新裝載編程數(shù)據(jù)。D:在將FPGA的邏輯單元組成復(fù)雜系統(tǒng)時,不同的信號傳輸途徑傳輸延遲時間是確定的。
答案:PLD開發(fā)系統(tǒng)中的硬件部分由計算機和編程器構(gòu)成。;PAL的電路基本結(jié)構(gòu)是與-或邏輯陣列型。;每次開始工作時,F(xiàn)PGA都要重新裝載編程數(shù)據(jù)。GAL是通用陣列邏輯器件,是最早推出的
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