《柔性顯示器件 折痕測(cè)試方法》

ICS31.120

CCSL53

SOECC

蘇州市光電產(chǎn)業(yè)商會(huì)團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)

T/SOECCXXXX—2023

柔性顯示器件折痕測(cè)試方法

FlexibledisplaydevicesTestmethodofcrease

（征求意見稿）

在提交反饋意見時(shí)，請(qǐng)將您知道的相關(guān)專利連同支持性文件一并附上。

2023-XX-XX發(fā)布2023-XX-XX實(shí)施

??發(fā)布

T/SOECCXXXX—2023

柔性顯示器件折痕測(cè)試方法

1范圍

本文件評(píng)價(jià)了柔性顯示器件或模組在反復(fù)彎折后折疊區(qū)域折痕的測(cè)試方法，折痕的深淺用折痕程度

來(lái)表征，折疊包括內(nèi)折和外折。

本文件適用于柔性顯示器件或模組，包括LCD、電子紙、OLED、Mini-LED、Micro-LED等。

2規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過(guò)文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，

僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本

文件。

GB/T38001.11柔性顯示器件第1-1部分：術(shù)語(yǔ)與文字符號(hào)

GB/T38001.62柔性顯示器件第6-2部分：環(huán)境試驗(yàn)方法

3術(shù)語(yǔ)和定義

GB/T38001.11界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。GB/T38001.11界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定

義適用于本文件。GB/T38001.11界定的以及下列術(shù)語(yǔ)和定義適用于本文件。

3.1折痕crease

由于折疊導(dǎo)致的顯示器件或模組上出現(xiàn)的不可恢復(fù)的扭曲或者形變。

4測(cè)試環(huán)境

采用GB/T38001.62中5.3的規(guī)定的大氣條件，除非供應(yīng)商和客戶之間有特殊協(xié)定，標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件

如下：

——溫度：15℃~35℃；

——相對(duì)濕度：25%RH~85%RH；

——大氣壓力：86kPa.~.106kPa。

5測(cè)試原理

人眼對(duì)折疊區(qū)域的扭曲或者形變感受來(lái)自折痕區(qū)和非折痕區(qū)在光源下反射光的亮度差。通過(guò)測(cè)試折

疊區(qū)和周圍非折疊區(qū)的亮度差來(lái)表征人眼能感知到折疊區(qū)域的折痕程度。

6測(cè)試裝置

測(cè)試裝置由成像式亮度計(jì)和光環(huán)型光源組成，如圖1所示：

1

T/SOECCXXXX—2023

1

2

3

標(biāo)引序號(hào)說(shuō)明：

1—成像式亮度計(jì)2—環(huán)型光源

3—樣品

圖1測(cè)試裝置

測(cè)試設(shè)備：成像式亮度計(jì)也被稱為CCD，該探測(cè)器具有與CIE1931標(biāo)準(zhǔn)觀察者相近的特性，其分辨

率應(yīng)超過(guò)顯示器件或模組的分辨率，其最小亮度大于或等于0.001nit，亮度精度±3%；環(huán)型光源：光源

直徑為26cm，光源的均勻性大于70%，在點(diǎn)亮情況下照度為1000lux；樣品被放置在一個(gè)可移動(dòng)支架上。

環(huán)型光源與成像式亮度計(jì)距離為2000mm，可移動(dòng)支架到環(huán)形光源距離為200mm。

7測(cè)試步驟

1）選取一定數(shù)量的樣品，在試驗(yàn)開始前，先進(jìn)行目視檢查及圖像質(zhì)量檢查；

2）將樣品放置在動(dòng)態(tài)彎折設(shè)備（內(nèi)折或外折設(shè)備）上進(jìn)行一定次數(shù)的彎折；

3）取下樣品，將樣品放置在圖1所示待測(cè)樣品處，調(diào)整測(cè)試裝置，使成像式亮度計(jì)、環(huán)型光源、

折痕區(qū)的中心在同一直線上；

4）環(huán)型光源打開，用成像式亮度計(jì)測(cè)試樣品整面的亮度并保存測(cè)試得到的光學(xué)云圖。

8測(cè)試結(jié)果

對(duì)于得到的光學(xué)云圖，在彎折軸線垂直方向上選取5段掃描線，掃描線的長(zhǎng)度Ls由折疊裝置中

可以自由變形的折疊器件或模組的部分長(zhǎng)度Lf決定，且應(yīng)滿足Ls=Lf-5mm。如圖2所示：

L

s

Lf

圖2光學(xué)云圖選取掃描線

2

T/SOECCXXXX—2023

在每一條掃描線中，通過(guò)測(cè)試軟件得到該條線中的最大值和最小值，折痕程度由公式（1）和

公式（2）計(jì)算得到：

△Ln=……………（1）

?????

Σ?????

△L=……………（2）

△Ln

其中：?

Lmaxn：表示第n條線中亮度最大值（n為選取的掃描線）；

Lminn：表示第n條線中亮度最小值（n為選取的掃描線）；

△Ln:表示第n條線的亮度差；

△L：表示顯示屏或模組的折痕程度。

9測(cè)試報(bào)告

測(cè)試結(jié)果記錄表如表1所示，測(cè)試報(bào)告應(yīng)包含以下內(nèi)容：

1）測(cè)試環(huán)境；

2）測(cè)試人；

3）測(cè)試日期；

4）測(cè)試設(shè)備；

5）測(cè)試樣品質(zhì)量、測(cè)試樣品數(shù)量；

6）測(cè)試結(jié)果。

表1測(cè)試結(jié)果記錄表

測(cè)試環(huán)境測(cè)試人測(cè)試日期

測(cè)試樣品數(shù)測(cè)試樣品質(zhì)量

量

測(cè)試設(shè)備

序號(hào)第1條線第2條線第3條線第4條線第5條線折痕程度

測(cè)試結(jié)果△L1△L2△L3