《圖書電子標(biāo)簽技術(shù)規(guī)范》

ICS?01.140.20A14T/SZSXXXX—2020FORMTEXT圖書電子標(biāo)簽技術(shù)規(guī)范FORMTEXTTechnicalspecificationofbook-usedRFtag（征求意見稿）FORMTEXTXXXX-FORMTEXTXX-FORMTEXTXX發(fā)布FORMTEXTXXXX-FORMTEXTXX-FORMTEXTXX實(shí)施FORMTEXT深圳市深圳標(biāo)準(zhǔn)促進(jìn)會(huì)發(fā)布T/SZSXXXX—2020圖書電子標(biāo)簽技術(shù)規(guī)范范圍本標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了圖書電子標(biāo)簽的一般要求、性能要求、環(huán)境適應(yīng)性要求，并給出相應(yīng)的測(cè)試方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于圖書電子標(biāo)簽的設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、測(cè)試、評(píng)價(jià)和使用。規(guī)范性引用文件下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T2423.1電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫GB/T2423.2電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Fc：振動(dòng)（正弦）GB/T17554.3識(shí)別卡測(cè)試方法第3部分：帶觸點(diǎn)的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備GB/T17626.2電磁兼容試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(yàn)WH/T44-2012圖書館射頻識(shí)別數(shù)據(jù)模型第2部分：基于ISO/IEC15962的數(shù)據(jù)元素編碼方案ISO/IEC18000-3信息技術(shù)項(xiàng)目管理的射頻識(shí)別第3部分：13.56MHz空中接口通信參數(shù)（Informationtechnology—Radiofrequencyidentificationforitemmanagement—Part3:Parametersforairinterfacecommunicationsat13.56MHz）ISO/IEC18000-63信息技術(shù)項(xiàng)目管理的射頻識(shí)別第63部分：860MHz至960MHzC型空中接口通信參數(shù)（Informationtechnology—Radiofrequencyidentificationforitemmanagement—Part63:Parametersforairinterfacecommunicationsat860MHzto960MHzTypeC）ISO/IEC18046-1信息技術(shù)射頻識(shí)別設(shè)備性能測(cè)試方法第1部分：系統(tǒng)性能測(cè)試方法（Informationtechnology—Radiofrequencyidentificationdeviceperformancetestmethods—Part1:Testmethodsforsystemperformance）ISO/IEC18046-3信息技術(shù)射頻識(shí)別設(shè)備性能測(cè)試方法第3部分：標(biāo)簽性能測(cè)試方法（Informationtechnology--Radiofrequencyidentificationdeviceperformancetestmethods--Part3:Testmethodsfortagperformance）ISO/IECTR18047-3信息技術(shù)射頻識(shí)別設(shè)備一致性試驗(yàn)方法第3部分：13.56MHz空中接口通信的試驗(yàn)方法（Informationtechnology—Radiofrequencyidentificationdeviceconformancetestmethods—Part3:Testmethodsforairinterfacecommunicationsat13.56MHz）ISO/IEC18047-6信息技術(shù)射頻識(shí)別設(shè)備一致性試驗(yàn)方法第6部分：860MHz至960MHz空中接口通信的試驗(yàn)方法（Informationtechnology—Radiofrequencyidentificationdeviceconformancetestmethods—Part6:Testmethodsforairinterfacecommunicationsat860MHzto960MHz）ISO/TS28560-4信息和文獻(xiàn)圖書館的射頻識(shí)別第4部分：以來自ISO/IEC15962規(guī)則為基礎(chǔ)的分區(qū)存儲(chǔ)射頻識(shí)別標(biāo)簽數(shù)據(jù)元的編碼（Informationanddocumentation—RFIDinlibraries—Part4:EncodingofdataelementsbasedonrulesfromISO/IEC15962inanRFIDtagwithpartitionedmemory）術(shù)語和定義下列術(shù)語和定義適用于本文件。電子標(biāo)簽electroniclabel用于物體或物品標(biāo)識(shí)、具有信息存儲(chǔ)功能、能接收讀寫器的電磁場(chǎng)調(diào)制信號(hào)，并返回響應(yīng)信號(hào)的數(shù)據(jù)載體。HF標(biāo)簽HFtag工作頻率在13.56MHz±7kHz范圍內(nèi)的高頻電子標(biāo)簽。UHF標(biāo)簽UHFtag工作頻率在840MHz~960MHz范圍內(nèi)的超高頻電子標(biāo)簽。標(biāo)簽靈敏度tagsensitivity超高頻電子標(biāo)簽正好啟動(dòng)工作時(shí)接收到的單極子輻射功率。縮略語下列縮略語適用于本文件。HF：高頻（HighFrequency）UHF：超高頻（UltraHighFrequency）AFI：應(yīng)用族標(biāo)識(shí)符（ApplicationFamilyIdentifier）UID：唯一標(biāo)識(shí)符（UniqueIdentifier）EAS：物品電子防盜（ElectronicArticleSurveillance）一般要求尺寸標(biāo)簽尺寸應(yīng)符合圖書館應(yīng)用需求。外觀標(biāo)簽外觀應(yīng)完整、無破損、無折痕、無明顯凸起。標(biāo)簽表面的文字和圖形應(yīng)完整、清晰。工作頻率工作頻率可采用高頻或超高頻，具體根據(jù)圖書館實(shí)際應(yīng)用情況及與統(tǒng)一服務(wù)圖書館的互操作性等要求決定?？罩薪涌贖F標(biāo)簽的空中接口應(yīng)符合ISO/IEC18000-3模式1的規(guī)定；UHF標(biāo)簽的空中接口應(yīng)符合ISO/IEC18000-63的規(guī)定。數(shù)據(jù)模型與編碼HF標(biāo)簽的數(shù)據(jù)模型與編碼應(yīng)符合WH/T44-2012的規(guī)定；UHF標(biāo)簽的數(shù)據(jù)模型與編碼應(yīng)符合ISO/TS28560-4的規(guī)定。安全可通過設(shè)置AFI功能區(qū)，或者設(shè)置UID、EAS標(biāo)志位及其它存儲(chǔ)位進(jìn)行安全防盜，具體根據(jù)圖書館實(shí)際應(yīng)用情況決定。性能要求工作場(chǎng)強(qiáng)HF標(biāo)簽的工作場(chǎng)強(qiáng)范圍為0.15A/m~5A/m。標(biāo)簽靈敏度UHF標(biāo)簽的靈敏度應(yīng)小于-15dBm。擦寫次數(shù)標(biāo)簽可擦寫次數(shù)應(yīng)不少于10萬次。數(shù)據(jù)保持時(shí)間在如7.1所述的氣候環(huán)境下，標(biāo)簽內(nèi)數(shù)據(jù)的保持時(shí)間應(yīng)大于10年。使用壽命標(biāo)簽的使用壽命應(yīng)大于10年?？箾_突性HF標(biāo)簽的抗沖突能力應(yīng)達(dá)到16張標(biāo)簽/秒，UHF標(biāo)簽的抗沖突能力應(yīng)大于50張標(biāo)簽/秒。存儲(chǔ)容量標(biāo)簽可用存儲(chǔ)容量應(yīng)不小于512bits。讀寫距離HF標(biāo)簽與圖書館自助借還設(shè)備的讀寫距離宜不小于300mm，UHF標(biāo)簽與圖書館自助借還設(shè)備的讀寫距離宜不大于500mm?？轨o電在經(jīng)過試驗(yàn)電壓為±6kV的空氣放電試驗(yàn)后，受試電子標(biāo)簽應(yīng)能正常工作。環(huán)境適應(yīng)性氣候環(huán)境要求氣候環(huán)境適應(yīng)性要求見表1。氣候環(huán)境適應(yīng)性氣候條件參數(shù)溫度工作-10℃~50℃存儲(chǔ)-20℃~60℃相對(duì)濕度工作20%RH~93%RH存儲(chǔ)20%RH~93%RH氣壓86kPa~106kPa機(jī)械環(huán)境要求抗振動(dòng)應(yīng)能適應(yīng)在使用、搬運(yùn)或運(yùn)輸?shù)冗^程的振動(dòng)環(huán)境。標(biāo)簽的振動(dòng)適應(yīng)性要求見表2。振動(dòng)適應(yīng)性項(xiàng)目分項(xiàng)參數(shù)初始和最后振動(dòng)響應(yīng)檢查頻率范圍5Hz~35Hz掃頻速率≤loct/min驅(qū)動(dòng)振幅0.15mm定頻耐久試驗(yàn)驅(qū)動(dòng)振幅0.15mm持續(xù)時(shí)間10min掃頻耐久試驗(yàn)頻率范圍5Hz~35Hz~5Hz位移幅值0.15mm掃頻速率≤loct/min循環(huán)次數(shù)2表中驅(qū)動(dòng)振幅為峰值?？箯澢鷳?yīng)能承受在使用、搬運(yùn)、裝卸和運(yùn)輸?shù)冗^程中可能遭受的彎曲應(yīng)力。將標(biāo)簽正面向內(nèi)卷曲（直徑25mm）然后還原，再將標(biāo)簽正面向外卷曲（直徑25mm）然后還原，標(biāo)簽不應(yīng)有折痕，封裝不能異常，標(biāo)簽應(yīng)能正常工作?？拐郫B將標(biāo)簽進(jìn)行正、反面對(duì)折后，標(biāo)簽天線與芯片應(yīng)不會(huì)斷裂，并能正常使用?？箟毫υ跇?biāo)簽頂部表面上施加1.0kPa±0.13kPa的均勻壓力后，標(biāo)簽外觀應(yīng)完好，封裝不能異常，并能正常工作。測(cè)試方法測(cè)試環(huán)境本標(biāo)準(zhǔn)中除氣候環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試以外其他測(cè)試應(yīng)在溫度為15~35℃和相對(duì)濕度為25%~75%的標(biāo)準(zhǔn)大氣條件下進(jìn)行。預(yù)處理除非另有規(guī)定，被測(cè)標(biāo)簽應(yīng)在測(cè)試環(huán)境中放置24h后再進(jìn)行測(cè)試。外觀檢查標(biāo)簽的外觀通過目測(cè)和觸摸進(jìn)行檢查?？罩薪涌诜闲詼y(cè)試HF標(biāo)簽空中接口的符合性測(cè)試應(yīng)按ISO/IECTR18047-3規(guī)定進(jìn)行；UHF標(biāo)簽空中接口的符合性測(cè)試應(yīng)按ISO/IEC18047-6規(guī)定進(jìn)行。性能測(cè)試最小工作場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試HF標(biāo)簽最小工作場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試應(yīng)按ISO/IEC18046-3相關(guān)規(guī)定進(jìn)行。標(biāo)簽靈敏度測(cè)試UHF標(biāo)簽靈敏度的測(cè)試采用雙天線法，測(cè)試裝置示意圖如圖1所示。雙天線標(biāo)簽靈敏度測(cè)試示意圖UHF標(biāo)簽接收單極子輻射功率Ptag計(jì)算公式如下：Ptag=EIRP-PL(1)EIRP=P+GTx(2)PL=20·log10f+20·log10R-27.55(3)式中：EIRP為測(cè)試儀發(fā)射等效單極子輻射功率，單位為dBm；PL為測(cè)試儀發(fā)射天線到標(biāo)簽的自由空間傳輸損耗，單位為dB；P為發(fā)射天線輸入功率，單位為dBm；GTx為發(fā)射天線增益，單位為dB；f為工作頻率，單位為MHz；R為天線到標(biāo)簽的距離，單位為m。擦寫次數(shù)測(cè)試用讀寫設(shè)備對(duì)標(biāo)簽的所有可寫內(nèi)存區(qū)分別進(jìn)行10萬次擦寫操作，試驗(yàn)后，標(biāo)簽功能和性能應(yīng)正常?？箾_突性測(cè)試標(biāo)簽抗沖突性測(cè)試應(yīng)按ISO/IEC18046-1相關(guān)規(guī)定進(jìn)行。存儲(chǔ)容量測(cè)試對(duì)被測(cè)試標(biāo)簽發(fā)送read命令，讀取標(biāo)簽區(qū)用戶區(qū)的存儲(chǔ)內(nèi)容，計(jì)算出相應(yīng)的存儲(chǔ)容量。讀寫距離測(cè)試讀寫距離測(cè)試裝置標(biāo)簽讀寫距離測(cè)試裝置示意圖如圖2所示。讀寫器平放于測(cè)試臺(tái)上，將被測(cè)標(biāo)簽放置在與讀寫器天線中心點(diǎn)平行的位置。讀寫距離測(cè)試示意圖高頻電子標(biāo)簽將HF讀寫器功率設(shè)置為30dBm（即1W）。移動(dòng)HF標(biāo)簽，分別在標(biāo)簽距離天線中心點(diǎn)垂直距離為100mm、200mm、300mm處，測(cè)試讀寫器能否正常讀取標(biāo)簽。超高頻電子標(biāo)簽將UHF讀寫功率設(shè)置在21dBm，每次增加1dBm，直至24dBm為止。移動(dòng)UHF標(biāo)簽，直到讀寫器能正常讀取標(biāo)簽，測(cè)試讀取距離是否小于500mm。靜電放電抗擾度按照GB/T17626.2規(guī)定，在以下條件下進(jìn)行測(cè)試：直接在標(biāo)簽表面采用空氣放電；試驗(yàn)電壓：±6kV；每個(gè)敏感試驗(yàn)點(diǎn)放電次數(shù)：正負(fù)極性各10次，每次放電間隔至少為1s。試驗(yàn)后，標(biāo)簽的功能和性能應(yīng)正常。氣候環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試溫度下限測(cè)試工作溫度下限測(cè)試按GB/T2423.1中試驗(yàn)Ad進(jìn)行測(cè)試，嚴(yán)格程度應(yīng)符合7.1中對(duì)工作溫度下限值的規(guī)定。對(duì)標(biāo)簽連續(xù)運(yùn)行檢查讀寫程序2h，經(jīng)過2h恢復(fù)時(shí)間，標(biāo)簽應(yīng)能正常工作。貯存溫度下限測(cè)試按GB/T2423.1中試驗(yàn)Ab進(jìn)行測(cè)試，嚴(yán)格程度應(yīng)符合7.1中對(duì)貯藏溫度下限值的規(guī)定。受試標(biāo)簽在不工作條件下存放16h，經(jīng)過2h恢復(fù)時(shí)間，標(biāo)簽應(yīng)能正常工作。溫度上限測(cè)試工作溫度上限測(cè)試按GB/T2423.2中試驗(yàn)Bd進(jìn)行測(cè)試，嚴(yán)格程度應(yīng)符合7.1規(guī)定的工作溫度上限值。對(duì)標(biāo)簽連續(xù)運(yùn)行檢查讀寫程序2h，經(jīng)過2h恢復(fù)時(shí)間，標(biāo)簽應(yīng)能正常工作。貯存溫度上限測(cè)試按GB/T2423.2中試驗(yàn)Bb進(jìn)行測(cè)試，嚴(yán)格程度應(yīng)符合7.1規(guī)定貯藏溫度上限值。受試標(biāo)簽在不工作條件下存放16h，經(jīng)過2h恢復(fù)時(shí)間，標(biāo)簽應(yīng)能正常工作。恒定濕熱測(cè)試工作條件下恒定濕熱測(cè)試按GB/T2423.3中試驗(yàn)Cab進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試條件應(yīng)符合7.1規(guī)定的工作溫度和濕度上限值要求。對(duì)標(biāo)簽連續(xù)運(yùn)行檢查讀寫程序2h，經(jīng)過2h恢復(fù)時(shí)間，標(biāo)簽應(yīng)能正常工作。貯存條件下恒定濕熱測(cè)試按GB/T2423.3中試驗(yàn)Cab進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試條件應(yīng)符合7.1規(guī)定的貯存溫度和濕度上限值要求。受試標(biāo)簽在不工