DB37-T 4599-2023 金屬結(jié)構(gòu)交流電磁場檢測技術(shù)規(guī)程_第1頁
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37Technicalcodeofalternatingcurrentfieldmeasurement(ACFM)techniquefor2023-04-16發(fā)布I 3 3 4 4 4 4 5 5 5 5 6 6 6 6 6 6 8A.1基本要求 8 8 9 9 9 9本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。1金屬結(jié)構(gòu)交流電磁場檢測技術(shù)規(guī)程本文件適用于表面溫度在-40℃~350℃的金屬結(jié)構(gòu)原材料或焊縫表面及近表面缺陷的檢測。本文件不適用于表面非導(dǎo)電涂層大于5mm的234.1基本要求ACFM檢測應(yīng)按照規(guī)定的工藝規(guī)程實施,工藝規(guī)程應(yīng)不少于表1規(guī)定內(nèi)容,并明確相關(guān)因素的具體范4√ √—√—√—√—√ √—√——√4.2規(guī)程的驗證按照工藝規(guī)程規(guī)定要求進行驗證,當(dāng)表1中的相關(guān)因素的變化超出規(guī)定時,應(yīng)對工藝規(guī)程重新修訂后進行驗證。非相關(guān)因素發(fā)生變化時,可以不對工藝規(guī)程5.1.1ACFM系統(tǒng)包括儀器,探頭,裝有檢測軟件的顯示a)儀器應(yīng)滿足實施檢測作業(yè)的要求,具有數(shù)據(jù)自動采集、記錄功能,具有指示和分析功能;b)探頭應(yīng)能產(chǎn)生適用于所檢測構(gòu)件材質(zhì)的一個或多個頻率激發(fā)信號,并能同時c)顯示終端裝有檢測軟件,軟件顯示應(yīng)包括B5.2.1用于制作試塊的材料應(yīng)與被檢材料具有相同或相近規(guī)格、牌號、熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)和電磁性能。試塊的焊縫應(yīng)與被檢焊縫具有相同的焊接工藝,保持試塊與待測結(jié)構(gòu)狀態(tài)相近5.2.2試塊上應(yīng)制作已知深度和長度的切5.2.4試塊的形狀和切槽應(yīng)如圖6所示。試塊56.1.1采用焊、軋、鑄、鍛后的結(jié)構(gòu)自然表面狀態(tài)通??色@得滿意的結(jié)果。如表面質(zhì)量影響檢測結(jié)果6.3.1焊縫位置及其標(biāo)識應(yīng)記錄在焊縫圖或標(biāo)識示6.3.2如在焊縫上作永久性標(biāo)記,可采用低應(yīng)力鋼印或振動工具,相關(guān)規(guī)范要求不應(yīng)打鋼印的除外。66.3.3每條焊縫應(yīng)通過參考系統(tǒng)定位和標(biāo)識。該系統(tǒng)應(yīng)允許標(biāo)識每條焊縫并可沿焊縫長度方向上指定8.1.1儀器探頭掃查速率應(yīng)控制在10mm/s~60mm/s。8.1.3檢測過程中,金屬結(jié)構(gòu)表面溫度宜控制在-40℃~80℃。金屬結(jié)構(gòu)8.2.1檢測本體時,探頭沿著掃查區(qū)域進行掃查,檢測區(qū)域的長度為探頭的移動方向,檢測區(qū)域的寬8.2.2檢測焊縫時,探頭靠近焊縫一側(cè)的邊緣與焊縫趾部平齊,探頭前端垂直于焊縫長度方向。沿焊78.3.2應(yīng)區(qū)分一個特征信號是相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示或偽顯示,非相關(guān)顯示和偽顯示應(yīng)加以證實,解9.1記錄顯示9.2檢測記錄a)工藝規(guī)程編號和版本;h)檢測到的特征信號的示意圖或記錄表;9.3檢測報告a)工藝規(guī)程編號和版本;h)限制接近區(qū)域或不能接近的區(qū)域;8A.1基本要求A.1.2探頭表面應(yīng)使用隔熱材料進行防護,探頭與檢測表面不應(yīng)直接接觸。A.1.3檢測過程中應(yīng)根據(jù)檢測對象和檢測要求,選擇大小、形狀、頻率合適的探頭。A.2檢測A.2.1檢測準備A.2.2校準A.2.3靈敏度調(diào)整按照第7.2.2規(guī)定對系統(tǒng)進行靈敏度調(diào)整。至少每隔30min,檢測結(jié)束后,以及檢測過程中出現(xiàn)明9在基本的交流電磁場檢測系統(tǒng)中,ACFM探頭沿著X方向掃查,探頭內(nèi)的激勵線圈在金屬結(jié)構(gòu)表面產(chǎn)生平行于Y方向的局部均勻感應(yīng)電流。感應(yīng)電流的滲透深度與激勵頻率和材料電磁特性相關(guān)。位于探頭在規(guī)定的發(fā)現(xiàn)概率下,探頭正下方覆蓋Y方向最大掃查寬度由探頭激勵線圈和接收磁場傳感器組件設(shè)計決定,單探頭典型值為左右各5mm。B.1.2.1

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