數(shù)電實驗報告-王利斌.docx

數(shù)字電路課程設(shè)計報告學(xué)號：2012019040024姓名：王利斌題目要求：設(shè)計序列信號檢測器，能同時檢測自己名字的首字母（大寫或小寫）和學(xué)號最后一位數(shù)的ASCII編碼，要求完成MOORE型重疊和不可重疊兩種檢測方法。若是組隊完成，則每人都要有自己設(shè)計的電路和仿真結(jié)果。設(shè)計思路：可重復(fù)序列檢測：使用8位移位寄存器74HC164對輸入的二進(jìn)制數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲。然后檢測存儲的二進(jìn)制序列，當(dāng)序列符合檢測要求時，輸出1.不可重復(fù)序列檢測：使用8位移位寄存器74HC164對輸入的二進(jìn)制數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，同時使用74X163進(jìn)行計數(shù)。每當(dāng)74HC164檢測到相應(yīng)序列后，都將74X163進(jìn)行清零。以實現(xiàn)不重復(fù)的序列檢測。分析：74HC164的功能表如下圖： 由74HC164的功能表可知，當(dāng)74HC164 CLR端置1，CLK有效時，若AB同時輸入1則QA中將存入1，若AB同時輸入0則QA中將存入0.同時QAnQGn將移位到QB和QH.所以在可重復(fù)序列檢測中，設(shè)計電路圖如下：QHQA中將按時間先后順序存入8位輸入的二進(jìn)制數(shù)，只要輸入的二進(jìn)制序列符合檢測要求，就輸出1.而在不可重復(fù)序列檢測中，設(shè)計電路圖如下：不可重復(fù)的序列檢測器中，使用了74X163對輸入的二進(jìn)制序列進(jìn)行檢測。當(dāng)輸入不足8位二進(jìn)制數(shù)時，QD為0；當(dāng)輸入有8位或8位以上的二進(jìn)制數(shù)時，QD將保持為1.同時一旦檢測到符合的二進(jìn)制序列，就將74X163計數(shù)器清零，重新開始計數(shù)。只有當(dāng)檢測到符合的二進(jìn)制序列，并且QD為1時，輸出1.這樣當(dāng)出現(xiàn)符合要求的序列，但該序列中的一部分二進(jìn)制數(shù)存在于上一次符合要求的序列中時，會由于74X163沒有計到8位或以上的數(shù)，QD為0，從而使輸出為0.避免了重復(fù)檢測的情況。波形測試：可重復(fù)的序列檢測器中，時鐘信號、輸入和輸出如下圖所示：我的學(xué)號尾號是4，對應(yīng)的ASCII碼為0011 0100.測試中，輸入信號為00110100110100，存在重疊的0011 0100.所以會出現(xiàn)兩次輸出為1的情況.不可重復(fù)的序列檢測器中，時鐘信號、輸入和輸出如下圖所示：輸入同樣為00110100110100，但