培訓中心（機構）核查表

1、培 訓 中 心 （機構）核 查 表核查人 日期 地 點 被查單位代表 被查單位 總的項目: a 全; b 不全; c 缺;組織機構圖（ ）; 人員職責（ ）; 培訓設施和程序（ ）; 文件或檔案控制（ ）; 檢測設備（ ）; 培訓用試件（ ）;試件及記錄（ ）; 自查（ ）; 糾正措施（ ）。第1部分 設施: a; b; （填入括號內）1.1 培訓場地是否光線充足（ ）;1.2 檢測場地是否清潔、安全（ ）;1.3 是否有存儲試件區(qū)域（ ）;1.4 是否有方便的電源（ ）;1.5 是否有方便的洗手、洗工具、洗零件的水源（ ）;1.6 設備是否保持在良好狀態(tài)（ ）;第2部分 輔助器材: a; b

2、; （填入括號內）2.1 光強度計（ ）;2.2 紫外線光強度計（ ）;2.3 黑光燈（ ）;2.4 手電筒（檢查故障用）（ ）;2.5 定時器（ ）;2.6 卷尺（ ）;2.7 直尺（ ）;2.8 5倍以上放大鏡（ ）2.9 手紙、抹布（ ）;2.10 橡皮手套（ ）;2.11 安全眼鏡 / 面罩（ ）;2.12 防水圍裙（ ）;2.13 電源拖線板（ ）;第3部分 mt 設備和材料 項 目通 過不通過型 號 規(guī) 格3.1 靈敏度試片;3.2 磁場強度儀（高斯計）;3.3 手捏橡皮球噴粉器（施加磁粉和吹 除磁粉 ）;3.4 干磁粉（黑和紅）;3.5 可調跨距的交流磁軛;3.6 3000安培移

3、動式磁粉探傷機其電 纜長度應在300毫米直徑的工件 上可繞4圈;3.7 3000安培（接觸）和12500安匝（線 圈）的臺式磁粉探傷機;3.8 直徑約為15、30和50毫米, 長度 至少450毫米的鋁或銅的中心導體;3.9 聯(lián)接電纜與工件或中心導體的夾 具或軋頭;3.10 熒光磁液;3.11 磁粉液;第4部分 mt 工藝控制: a 通過; b 不通過; （填入括號內）4.1 在熒光檢測場所的環(huán)境亮度是否1000mw/cm2（ ）;4.3 著色檢測時被檢表面上的照明強度是否100ftc（ ）;4.4 在實施檢測前, 是否用試片/試樣先驗證（ ）;4.5 磁粉液濃度是否定期檢驗（ ）;4.6 磁粉

4、液污染程度的試驗是否定期進行（ ）;4.7 高斯計是否每6個月校驗一次（ ）;4.8 安培計的精度是否每6個月校驗一次（ ）;4.9 定時器是否每6個月校驗一次（ ）;第5部分 pt 設備和材料 項 目通 過不通過型 號 規(guī) 格5.1 有無合適的預/后清洗裝置;5.2 著色滲透液: 溶劑去除型;5.3 顯象劑: 干粉;5.4 熒光滲透液: 后乳化型;5.5 顯象劑: 濕;5.6 熒光滲透液: 水洗型;5.7 滲透液施加器（刷、噴）;5.8 滲透液槽、浸漬式具有瀝干裝置, 固定或移動式;5.9 后乳化槽, 浸入式具有瀝干裝置,固定或移動式;5.10 顯象槽, 浸入式具有瀝干裝置,固定或移動式;5

5、.11 沖洗臺, 具有人工沖洗裝置和黑光燈;5.12 烘箱, 具有溫度控制(最高70);5.13 具有黑光燈的檢驗臺（暗）;第6部分 pt 工藝控制 a 是; b 不是; （填入括號內）6.1 檢測系統(tǒng)是否校驗（ ）;6.2 滲透液污染試驗是否定期進行（ ）;6.3 顯象劑污染試驗是否定期進行（ ）;6.4 顯象狀況（干燥）是否定期校驗（ ）;6.5 水洗壓力（最大40psi）是否定期驗證（ ）;6.6 水沖洗溫度（1338）是否定期控制（ ）;6.7 照射在工件表面上的黑光強度是否1000mw/cm2（ ）;6.8 黑光燈濾光器是否定期校驗（ ）;6.9 在使用前, 檢驗場地是否清潔（ ）;

6、6.10 乳化劑濃度（親水性）是否定期校驗（ ）;6.11 滲透劑靈敏度是否定期校驗（ ）;6.12 熒光亮度是否定期校驗（ ）;6.13 滲透液的去除性是否定期校驗（ ）;6.14 后乳化劑的去除性是否定期校驗（ ）;6.15 乳化劑含水成分是否定期校驗（ ）;6.16 烘箱溫度誤差是否定期校驗（ ）;6.17 照度計是否定期校準（ ）;6.18 熒光觀察場所的環(huán)境亮度是否100 ftc（ ）;第7部分 rt 設備和材料 項 目通過不通過型 號規(guī) 格7.1 鋁和鎂鑄件的參考射線照相;7.2 鋼鑄件(厚度50-110mm)的參考射線照相;7.3 鋼鑄件(50mm以下)的參考射線照相;7.4 g

7、 - 射線機;7.5 c - 射線機;7.6 鉛標志(號碼、字母、大鉛字“b”) ;7.7 遮蔽散射線的鉛板;7.8 膠片/膠片袋;7.9 象質計;7.10 鐵和非鐵金屬的楔形塊和最大厚度達25 mm的階梯塊;7.11 鉛增感屏;7.12 辨認射線照相、光線暗淡的評片室;7.13 評片燈;7.14 黑度計;第8部分 rt 工藝控制 a 是; b 不是; （填入括號內）8.1 輻射測量表是否定期校準（ ）;8.2 黑度計是否定期校準（ ）;8.3 是否有輻射監(jiān)控方案（ ）;8.4 輻射區(qū)域是否清楚標明（ ）;8.5 聲警和光警的安全裝置是否經常校驗（ ）;第9部分 ut 設備和材料設備和材料 項

8、 目通過不通過型號 規(guī) 格9.1 超聲探傷儀、頻率110mhz;9.2 直探頭平底孔試塊(距離100mm和200mm);9.3 iiw試塊;9.4 f3長橫孔試塊(厚度為20 mm、50mm);9.5 斜探頭: 晶片尺寸f10mm或10symbol 180 f symbol s 1410; 2.25或 5.0mhz、45symbol 176 f symbol s 14、60symbol 176 f symbol s 14和70symbol 176 f symbol s 14; (或k1、k2、 k2.5);9.6 斜探頭: 晶片尺寸symbol 102 f symbol s 14f14mm或14symbol 180 f symbol s 1414; 45symbol 176 f symbol s 14、 60symbol 176 f symbol s 14和70symbol 176 f symbol s 14; (或k1、k2、k2.5);9.7 直探頭:晶片尺寸symbol 102 f symbol s 14f20mm; 2.25mhz ;9.8 直探頭:晶片尺寸symbol 102 f symbol s 14f14mm; 2.25