DIN_EN_10228-3-鍛件探傷-中文版解讀

1、DIN EN 10228-3 標(biāo)準(zhǔn)鋼質(zhì)鍛件的 NDT內(nèi)容頁碼前言21范圍32標(biāo)準(zhǔn)33定義34協(xié)定項(xiàng)目45成文程序46人員資質(zhì)57設(shè)備以及附件58日常校合及檢查69制作階段610表面狀況711敏感度712掃描813分類1114記錄級(jí)別以及接受標(biāo)準(zhǔn)1415尺寸1616報(bào)告附錄A 環(huán)向剪波掃描最大測(cè)試深度。B 有關(guān) %DAC 的波幅16前言本歐洲標(biāo)準(zhǔn)由 ECISS/TC28 鋼制鍛件技術(shù)委員會(huì)編制。在歐洲標(biāo)準(zhǔn)中已標(biāo)明了某一國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的狀況，以背書的形式標(biāo)明，如與國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)沖突，將在要么以 1998 年 11月最新版的同樣原文， 1998 年 11月撤消。要么其他部分的歐洲標(biāo)準(zhǔn)為：PART1： 磁粉探傷P

2、ART2: PT （著色探傷）PART4 :奧氏體以及奧氏體-鐵素體不銹鋼鍛件超聲波探傷。根據(jù) CEN/CENELEC 內(nèi)部規(guī)定，下列國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)機(jī)構(gòu)使用在歐洲標(biāo)準(zhǔn):荷蘭.奧地利 比利時(shí) 丹麥 芬蘭 法國(guó) 德國(guó) 希臘 冰島 愛爾蘭 意大利 盧森堡公國(guó) 挪威 葡萄牙 西班牙 瑞典 瑞士 和英國(guó)1范圍EN10228-3 描述了使用的技術(shù)指南，鐵素體以及馬氏體鍛件的超聲波探傷，機(jī)械掃描技術(shù)， 如可能使用油浸測(cè)試，但是需要買賣雙方進(jìn)行協(xié)商。EN10228-3 適用于四類鍛件，按鍛件的形狀以及生產(chǎn)方法進(jìn)行分類，1、2、3 類為基本簡(jiǎn)單形狀的鍛件，4 類覆蓋了復(fù)雜形狀的鍛件。EN10228-3 不適用于：模

3、鍛件渦輪葉片以及發(fā)動(dòng)機(jī)鍛件。奧氏體以及奧氏體 -鐵素體不銹鋼鍛件超聲波探傷適用于本標(biāo)準(zhǔn)的PART42標(biāo)準(zhǔn)EN10228-3 由過期或不過期的標(biāo)準(zhǔn)以及其他出版物的規(guī)定組成， 在正文的相應(yīng)地方引用了下 列的標(biāo)準(zhǔn)以及出版物： 對(duì)于過期的標(biāo)準(zhǔn)， 只有當(dāng)本規(guī)范由修改或更新的標(biāo)準(zhǔn)組成時(shí)， 隨后的 修改或這些修改版本的出版物將適用于本規(guī)范。 對(duì)于未過期的標(biāo)準(zhǔn)， 最新的版本適用于本規(guī) 范。EN473PrEN 12668NDT 人員資質(zhì)NDT-UT 設(shè)備的特性以及核實(shí)PART1 ： 設(shè)備PART2 ： 探頭PART3 :組合設(shè)備PrEN583UT 檢驗(yàn)PART2 :敏感度以及范圍設(shè)置PART5 :特性以及不連續(xù)

4、的尺寸PrEN12223UT 檢驗(yàn) -校合塊PrEN1330NDT- 術(shù)語PART4:使用在 UT中的術(shù)語。3定義 為此目的， prEN1330-4 中所述的定義適用于本規(guī)范。4協(xié)定項(xiàng)目在詢價(jià)或定單的階段，在買賣雙方之間，有關(guān) UT 的下面方面應(yīng)進(jìn)行協(xié)商： 在制作階段，應(yīng)進(jìn)行 UT （見第9 條）;A 測(cè)試量以及是否需 100%的柵格掃描 100% 的掃描。（見第 12 條）；B 使用雙晶探頭對(duì)臨近表面進(jìn)行檢測(cè)（見7.2.6）；C 要求的質(zhì)量級(jí)別，或使用的質(zhì)量級(jí)別以及區(qū)域（見第 14 條）；D 如與表 5，表 6 或表 7 的詳細(xì)要求不同，適用的記錄 /接受標(biāo)準(zhǔn)；E 無論需特殊的掃描，除第 7

5、 及 12 條規(guī)定的要求，需要相應(yīng)的設(shè)備或偶合劑；F 如不是手工掃描（見第 1 條）；G 對(duì)于延伸斷續(xù)波所使用的尺寸（見第 15 條）；H 敏感度設(shè)置方法（見第 11 條）；I 是否在測(cè)試時(shí)需買方或其代表出席到場(chǎng)；J 是否需書面的程序上交給買方認(rèn)可（見第 5 條）。5成文程序5 1 總則按成文的程序進(jìn)行 UT 檢測(cè)，只要在詢價(jià)單或定單中有規(guī)定， 成文的程序要提交買方認(rèn)可 第 5 條）；5 2 形式 本成文程序按以下形式編制：產(chǎn)品說明書；或A 一特定應(yīng)用的成文程序；或B EN10228-3- 如對(duì)于該應(yīng)用伴隨著檢驗(yàn)的詳細(xì)要求。5 3 內(nèi)容 成文程序至少包含以下要求：待檢鍛件的描述A 參考文件B

6、檢驗(yàn)人員資質(zhì)；C 制作階段所需進(jìn)行的檢驗(yàn)；D 規(guī)定的適用質(zhì)量等級(jí)的檢驗(yàn)區(qū)域；E 掃描表面的準(zhǔn)備；F 耦合劑；G 檢驗(yàn)設(shè)備的描述H 校合以及設(shè)置；I 掃描計(jì)劃；J 檢驗(yàn)操作的描述以及次序；K 記錄 / 評(píng)判級(jí)別；L 不連續(xù)特性；M 接受標(biāo)準(zhǔn)；N 檢查報(bào)告；6 人員資質(zhì)人員的資質(zhì)符合 EN473 ；7設(shè)備及輔助設(shè)備7 1 缺陷探測(cè)器 缺陷探測(cè)器應(yīng)具有 A-SCAN 的性能以及滿足 prEN12668-1 。7 2 探頭72 1 一般要求 標(biāo)準(zhǔn)以及剪切波探頭應(yīng)符合 prEN12668-2 。只要有進(jìn)一步的要求， 可能使用輔助的探頭。 輔助的探頭不能用于初始探測(cè)缺陷， 建議輔助 的探頭符合 prEN1

7、2668-2 。722 形狀 /仿形一旦 EN583-2 要求，應(yīng)為仿形的探頭。72 3 標(biāo)準(zhǔn)頻率 探頭應(yīng)具備一標(biāo)準(zhǔn)頻率，范圍為 1MHz6MHz 。72 4 標(biāo)準(zhǔn)探頭 探頭有效晶體直徑的范圍為 10MM40MM 。725 剪切波探頭 剪切波探頭的波束角度范圍為 35 70 探頭有效晶體面積范圍為 20MM2625MM2 72 6 雙晶探頭如需對(duì)臨近表面進(jìn)行檢查（見第 4 條），那么就使用雙晶探頭。7 3 校合塊校合塊應(yīng)滿足 prEN12223 。7 4 參考校合塊當(dāng)敏感度由距離波幅曲線校正 （DAC ）的方法確定時(shí) /或根據(jù) DAC 方法，缺陷按相對(duì)于參考 反射物的波幅確定大小時(shí)， 要具備參

8、考校合塊。 參考校合塊的表面狀況代表了待檢構(gòu)件的表 面狀況。除非有特殊的規(guī)定， 參考校合塊應(yīng)包含至少 3 個(gè)反射體可以覆蓋全部檢查深度范圍。參考校合塊的形狀根據(jù)使用的情況而定，它可能按下面其中一項(xiàng)要求制成： 超出待檢構(gòu)件的長(zhǎng)度；或A 與待檢構(gòu)件同材質(zhì)以及與待檢構(gòu)件同熱處理狀態(tài)； 或B 與待檢構(gòu)件具有相似的聲學(xué)特性。除非要檢查一特殊 DGS （距離增益尺寸）圖表的準(zhǔn)確性，參考校合塊不能用作 DGS 方法。注意：參考校合塊反射物的尺寸由表5、6 中規(guī)定的詳細(xì)尺寸決定。表 5、6 中詳細(xì)規(guī)定的不同反射物的尺寸用作測(cè)試敏感度的正確性。7 5 耦合劑耦合劑與應(yīng)用情況相適應(yīng)， 同樣類型的偶合劑應(yīng)用于校合、

9、 敏感度設(shè)置、 掃描操作以及缺陷 評(píng)判。檢查結(jié)束時(shí)，如留在工件上的偶合劑對(duì)后續(xù)的制作或檢驗(yàn)作業(yè)或工件的完整性有一反面的影 響，應(yīng)清除該殘留的偶合劑。注意：合適的偶合劑應(yīng)為：水（具有或沒有腐蝕抑制劑或軟化劑），油脂，油，甘油以及水纖維漿糊。8日常校合及檢查按prEN12668-3中詳細(xì)規(guī)定的要求對(duì)組合設(shè)備（缺陷探測(cè)器及探頭）進(jìn)行校合。9. 制作階段在最終質(zhì)量熱處理后進(jìn)行UT ;除非在詢價(jià)或下單時(shí)協(xié)定（見第 4條），即對(duì)于鍛件的區(qū)域在最終質(zhì)量熱處理后進(jìn)行檢查是不實(shí)際的。注意：對(duì)于圓柱形及矩形鍛件，需要穿孔，建議在穿孔之前進(jìn)行UT檢查。10. 表面狀況10. 1 一般要求待掃描的表面應(yīng)沒有油漆、附著

10、的鱗片、已干的耦合劑、表面不規(guī)則或其他任何的物質(zhì)，它們可能減少耦合劑的作用、阻礙探頭的移動(dòng)或引起評(píng)判的錯(cuò)誤。10. 2與質(zhì)量有關(guān)的表面粗躁度表面粗躁度應(yīng)與要求的質(zhì)量級(jí)別相一致（見表1）表1 :與質(zhì)量有關(guān)的表面粗躁度與質(zhì)量有關(guān)的表面粗躁度表面光潔度質(zhì)量級(jí)別以及粗躁毒 R1234 25um 12.5umw 12.5umw 6.3um機(jī)械加工XXXX機(jī)械加工及熱處理XXX-注意：X表示對(duì)于載定的表面光潔度能達(dá)到的質(zhì)量級(jí)別10. 3鍛制表面狀況只要鍛件以鍛制表面狀態(tài)供貨時(shí)，只要能達(dá)到載定的質(zhì)量級(jí)別，該鍛件就認(rèn)為是可接受的。注意：很困難對(duì)鍛制表面進(jìn)行一綜合的檢查。建議拋丸、噴砂或表面打磨以確保聲學(xué)偶 合

11、。通常只適用于質(zhì)量級(jí)別1。11. 敏感度11. 1總則足夠的敏感度以確保按顯示記錄能探測(cè)到最小的不連續(xù)性/對(duì)于規(guī)定的某一質(zhì)量級(jí)別的評(píng)估等級(jí)（見表5, 6及7 ）。對(duì)某一探頭（見第 4條）使用11.2及11.3 （DAC或DGS）中祥述的其中一種方法以設(shè)置掃 描敏感度。使用在每一情況下的程序應(yīng)符合prEN583-2 。11 2 標(biāo)準(zhǔn)探頭 在使用平底孔基礎(chǔ)上的距離波幅曲線（ DAC ）方法；A 距離增益尺寸方法。11 3 剪切波探頭 使用側(cè)面鉆孔直徑為 3MM 的 DAC 方法；A DGS 方法。DAC 及 DGS 方法不能與剪切波探頭作比較。11 4 重復(fù)檢驗(yàn) 只要進(jìn)行重復(fù)檢驗(yàn)，用原先使用的同樣

12、方法設(shè)置敏感度（ DAC 或 DGS）。12掃描12 1 總則 使用手工接觸脈沖回波方法進(jìn)行掃描。最小掃描覆蓋寬度要求由鍛造的類型確定且是采用柵格式掃描還是 100% 全部掃描已經(jīng)在詢 價(jià)和定單中指定（參見第 4 條）。表 2 描述了根據(jù)制造形狀及方法確定的鍛造類型。表 3 指定了用于鍛造類型 1、 2 及 3 的標(biāo)準(zhǔn)掃描要求。表4指定了外徑內(nèi)徑比小于1.6: 1的鍛造類型3a及3b的剪波掃描要求。剪波在圓周方向的掃描深度受探頭角度及鍛造直徑的影響（見附錄 A ）。12.2 復(fù)合鍛造就符合鍛件或復(fù)合鍛件的部件（類型4）及小直徑的鍛件，掃描方式要在買賣雙方的詢價(jià)及定單中達(dá)成一致。包括：探頭角度要

13、求，掃描方向，掃描程度（柵格掃描還是100%全部掃描）。12.3 柵格掃描柵格掃描要讓探頭沿著表 3 及表 4 中定義的柵格線來回移動(dòng)掃描。在柵格掃描時(shí)如果有不合格地地方，在該位置附近要進(jìn)行額外的掃描以確定其缺陷程度。12.4100%全部掃描需要對(duì)表 3 及表 4 中指定位置進(jìn)行 100%全部掃描，探頭連續(xù)重疊的掃描的寬度至少為探頭 掃描深度的 10%。12.5 掃描速度 手工掃描速度不超過 1 50mm/s 。P10,EN10228-3: 1998表3:標(biāo)準(zhǔn)探頭的掃描范圍類型柵格掃描1)100%全部掃描1) 2)11a直徑D ( mm)掃描數(shù)量至少要對(duì)圓柱的 180 范 圍面積進(jìn)行 100%

14、全部掃 描。D 200200 v D 500500 v D w 10001000 v D90位置260位置345位置430位置61b按方格線的方式進(jìn)行柵格掃描 要對(duì)兩個(gè)垂直的面進(jìn)行柵格掃描在兩個(gè)垂直的面上進(jìn)行100%全部掃描。21圓柱的一個(gè)面的 360 范圍以及一 個(gè)側(cè)面上進(jìn)行方格線掃描。3)4)對(duì)圓柱體的一個(gè)面進(jìn)行至 少180 的范圍內(nèi)進(jìn)行 100%全部掃描，并且對(duì)一 個(gè)側(cè)面進(jìn)行100%掃描。33a在圓柱體外側(cè)表面360 范圍內(nèi)進(jìn)行方格線柵格式掃描4)在圓柱體外側(cè)表面 360 范圍內(nèi)進(jìn)行100%全部掃描3b、3c對(duì)圓柱體一個(gè)表面及一個(gè)側(cè)面進(jìn)行360。的柵格線掃描，4)對(duì)圓柱體的一個(gè)表面及一

15、個(gè)側(cè)面進(jìn)行100%全部掃描4掃描覆蓋范圍必須在詢價(jià)及定單中指定。1) 如果在詢價(jià)及定單中有指定的話要進(jìn)行附加掃描檢查(如3a沿兩個(gè)軸線方向)2) 100%掃描檢查意味著在兩個(gè)連續(xù)的掃描件至少有探頭深度100%的交迭。3) 就1a及1b,如果發(fā)現(xiàn)有氣孔，那么對(duì)應(yīng)面的掃描線量要均衡加倍。4) 單獨(dú)的柵格掃描線要等于部件的厚度，最大為 200mm。表4：剪波探頭掃描覆蓋寬度類型柵格掃描1)100%全部掃描1) 2)33a沿著柵格線的兩個(gè)方向進(jìn) 行掃描，掃描線量等于半徑 大小，最大不超過 200mm。在圓周的兩個(gè)方向進(jìn)行100%全部掃描。3b4掃描覆蓋范圍必須在詢價(jià)及定單中指定。注意：1）如在詢價(jià)或定

16、單中有指定則要進(jìn)行額外的掃描。2） 100%掃描檢查意味著在兩個(gè)連續(xù)的掃描件至少有探頭深度100%的交迭。13分級(jí)13.1表示分級(jí)根據(jù)回波圖進(jìn)行分級(jí) 圖1隨著探頭的移動(dòng)，A圖形顯示的單個(gè)明顯的波峰，均勻的上升到最高點(diǎn)后又均勻的回落到0點(diǎn)。（參見表1）O這樣的圖形對(duì)應(yīng)的是小于等于波形-6db的不連續(xù)性缺陷，例如回波圖保持的是從氣孔的一側(cè)到另一側(cè)的波形。A掃描波形圖（探頭在典型位置）圖2隨著探頭的移動(dòng)，A圖形顯示的單個(gè)明顯的波峰，均勻的上升到最高點(diǎn)，然后保持不變或者 沒有幅度變化，再均勻的回落到0點(diǎn)。（參見表2）o13.2不連續(xù)性分類對(duì)缺陷的分類要根據(jù)其回波圖形進(jìn)行:點(diǎn)狀不連續(xù)回波圖1和/或尺寸小

17、于等于波寬-6db （見表3）A延時(shí)缺陷回波圖2和/或尺寸大于波寬-6db （見表4）B獨(dú)立缺陷兩點(diǎn)間距離d對(duì)應(yīng)的是相鄰不連續(xù)波峰間的最大距離，大于40mm （見圖5）C群組缺陷兩點(diǎn)間距離d對(duì)應(yīng)的是相鄰不連續(xù)波峰間的最大距離，小于等于40mm （見圖6）3: Mi dtowanMUy*Onra）使用符號(hào)：l:-6db缺陷的常規(guī)輪廓Dp :不連續(xù)性深度的波寬D:兩個(gè)缺陷間的距離L : -6db缺陷的常規(guī)長(zhǎng)度 14記錄水平及接受標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)必須要被買方及賣方認(rèn)同接受（見第4條）。表5、6及7的具體記錄水平及接受標(biāo)準(zhǔn)必須要應(yīng)用于4級(jí)質(zhì)量條款。注意：可能會(huì)有很多質(zhì)量級(jí)別要應(yīng)用于鍛件或鍛件的某個(gè)部件。4

18、級(jí)質(zhì)量是最低要求，描述了最低的記錄水平及接受標(biāo)準(zhǔn)。如有協(xié)議，可以使用與表5、6、7相異的記錄/評(píng)估水平及接受標(biāo)準(zhǔn)。表5:標(biāo)準(zhǔn)探頭的適用質(zhì)量級(jí)別，記錄水平及接受標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)質(zhì)量級(jí)別1234記錄水平等同平底孔(EFBH)mm 1) 底板回波衰減比率 r2) 3) 8 5 3 2 0.6接受標(biāo)準(zhǔn)1)EFBH (獨(dú)立缺陷)(mm)1)EFBH (延時(shí)或群組缺陷)(mm) 12 8 8 5 5 3 3 60mm), n=2 (t v 60mmFn =底板回波衰減振幅F on =3) 如果底板回波衰減超過記錄水平，那么就需要進(jìn)一步研究這個(gè)問題。 衰減比率R僅適用于底板回波快速衰減表6:平底孔DGS技術(shù)剪波探頭

19、質(zhì)量級(jí)別，記錄水平及接受標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量級(jí)別1 1)234記錄水平depmm2- 5 3 2獨(dú)立缺陷的接受標(biāo)準(zhǔn) depmm2- 8 5 3延遲或群組缺陷的接受標(biāo)準(zhǔn)depmm1- 5 3 2注意：1) 質(zhì)量級(jí)別1不適用剪波2) deq =等同平底孔直徑表7： DAC技術(shù)剪波探頭質(zhì)量級(jí)別，記錄水平及接受標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量級(jí)別標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)頻率2)MHZ記錄水平%(DAC )接受標(biāo)準(zhǔn)獨(dú)立缺陷1)4)%(DAC )延遲或群組缺陷1)4)%(DAC )12)2150100502100200100325010050410020010042306030450100501) 基于3個(gè)最小直徑的側(cè)面鉆孔2) 剪波掃描不適用于質(zhì)量級(jí)別13) 基于3個(gè)最小直徑的側(cè)面鉆孔的 A DAC必須符合每個(gè)頻率及回波探頭的要求。4) 以db為單位的有關(guān)DAC的振幅顯示已經(jīng)在附錄 B中給定。15尺寸這些技術(shù)的應(yīng)用必須延時(shí)缺陷要求按照買賣雙方的協(xié)議應(yīng)用以下一項(xiàng)或幾項(xiàng)技術(shù)進(jìn)行評(píng)估,根據(jù)prEN583-5中的要求進(jìn)行：.0 6db-衰減方法 .1 20db-衰減方法.2最大振幅