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文檔簡介
1、題目:反相器分析與設(shè)計(jì)姓名:白進(jìn)寶學(xué)院:微電子與固體電子學(xué)院學(xué)號(hào):201722030523簽名:教師簽名:摘要 cmos指互補(bǔ)金屬氧化物(pmos管和nmos管)共同構(gòu)成的互補(bǔ)型mos集成電路制造工藝,它的特點(diǎn)是低功耗。由于cmos中一對(duì)mos組成的門電路在瞬間看,要么pmos導(dǎo)通,要么nmos導(dǎo)通,要么都截至,比線性的三極管(bjt)效率要高得多,因此功耗很低。本次設(shè)計(jì)的是反相器,通過電路搭建前仿真,實(shí)現(xiàn)其功能。然后進(jìn)行版圖設(shè)計(jì),提取寄生參數(shù)后進(jìn)項(xiàng)后仿真。關(guān)鍵詞:cmos、反相器、低功耗、集成電路版圖1、技術(shù)指標(biāo)要求面積:100um2速度:大于1ghz功耗:功耗與電源電壓、工作速度、負(fù)載等諸
2、多因素有關(guān)。2、電路搭建工藝庫:smic18mmrf器件參數(shù):設(shè)置nmos與pmos寬長比。電路結(jié)構(gòu):如圖,電路結(jié)構(gòu)。有兩級(jí)反相器組成,第二級(jí)為負(fù)載,因?yàn)樵趯?shí)際電路中電路都是帶載的。 分別作nmos和pmos的直流輸出特性曲線,nmos的閾值電壓大約為0.5v左右,pmos的閾值電壓大約為0.6v左右。3、仿真(1)進(jìn)行直流傳輸特性仿真分析圖一電源電壓為5v,圖二電源電壓為2v。可以看到圖二的特性比圖一好,這是由于降低的電壓,從而使特性變好。繼續(xù)降低電源電壓為1v后,特性更好。但是當(dāng)降到200mv時(shí),特性反而變差。這是由于當(dāng)電壓降到接近于閾值電壓或更低時(shí),管子無法導(dǎo)通,性能變差。 (2)瞬態(tài)特
3、性分析瞬態(tài)特性分析,反相器實(shí)現(xiàn)非門的功能。將時(shí)間軸拉長,可以看到當(dāng)輸出反向時(shí),存在一個(gè)過沖現(xiàn)象,這是由于柵漏電容造成。 (3)工作頻率分析上圖為反相器沒有帶負(fù)載的情況下測(cè)出的下降時(shí)間,下圖為帶一個(gè)反相器測(cè)出的下降時(shí)間。從而我們可以得出電路的扇出越多,性能越差,所以在數(shù)字電路中,我們盡量將扇出控制在4以內(nèi)。更多的扇出將通過組合電路多級(jí)實(shí)現(xiàn)。 由圖可得上升時(shí)間為23.85ps,下降時(shí)間為29.25ps。工作頻率1/(2max(上升時(shí)間,下降時(shí)間)17ghz(4)功耗分析如以上兩幅圖,分別在電源電壓5v和2v的情況下動(dòng)態(tài)電流分析。5v時(shí)電流峰值為1ma左右,2v時(shí)電流峰值為300ua左右。4、版圖版
4、圖設(shè)計(jì)是將模擬優(yōu)化后的電路轉(zhuǎn)化成一系列幾何圖形,這些幾何圖形包含了集成電路尺寸大小、各層拓?fù)涠x等有關(guān)元件的物理信息。如圖為在cadence版圖軟件中繪制的反相器的版圖。面積為20um10um=200um25、后仿真以上兩幅圖為后仿真的交流仿真圖。由圖可得上升時(shí)間為82.33ps,下降時(shí)間為70.69ps。工作頻率1/(2max(上升時(shí)間,下降時(shí)間)6.07ghz。顯然畫出版圖提取寄生參數(shù)后性能變差,工作頻率變小。 左圖為前仿真的直流輸出特性曲線,右圖為后仿真的直流輸出特性曲線,通過對(duì)比可以看出,兩者區(qū)別不大。6、對(duì)比技術(shù)指標(biāo)完成情況(1)工作速度。前仿真的速度為17gnz,后仿真的速度為6g
5、hz,設(shè)計(jì)指標(biāo)為1gnz。(2)面積。版圖的面積為200um2,設(shè)計(jì)指標(biāo)為100um2,與設(shè)計(jì)指標(biāo)有一定差距。(3)功耗。降低電源電壓可以降低功耗,通過以上仿真可以看出電壓由5v變?yōu)?v后動(dòng)態(tài)電流也急劇下降。減小輸入信號(hào)的上升下降時(shí)間也可以降低功耗。7、總結(jié)本次設(shè)計(jì)大反相器部分指標(biāo)達(dá)到了設(shè)計(jì)要求,部分沒有達(dá)到設(shè)計(jì)要求。(1)在直流傳輸特性分析中減小電壓能一定程度上提高性能。但是當(dāng)降到200mv時(shí),特性反而變差。這是由于當(dāng)電壓降到接近于閾值電壓或更低時(shí),管子無法導(dǎo)通,性能變差。(2)在進(jìn)行動(dòng)態(tài)仿真時(shí),當(dāng)輸出反向時(shí),存在一個(gè)過沖現(xiàn)象,這是由于柵漏電容造成,是由于器件本身的寄生參數(shù)造成的。在降低電壓的同時(shí)這個(gè)過沖現(xiàn)象就會(huì)越來越明顯。(3) 進(jìn)行直流傳輸特性仿真分析時(shí),降低電壓從而使特性變好。繼續(xù)降低電源電壓為1v后,特性更好。但是當(dāng)降到200mv時(shí),特性反而變差。從nmos和pmos的直流輸出特性曲線看出nmos的閾值電壓大約為0.5v左右,pmos的閾值電壓大約為0.6v左右。當(dāng)電壓降到接
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