QZTT3002-2016無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)(POI)檢測(cè)規(guī)范

1、中國(guó)鐵塔股份有限公司企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/ZTT 30022016代替Q/ZTT 1003.22014 無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI） 檢測(cè)規(guī)范Passive Distribution System Multi-system Point of Interface (POI) Test Specification版本號(hào)：V2.02016 - 02 - 15發(fā)布2016 - 02 - 15實(shí)施中國(guó)鐵塔股份有限公司發(fā)布 Q/ZTT 30022016目次前言III1 范圍12 規(guī)范性引用文件13 術(shù)語(yǔ)和定義24 檢測(cè)項(xiàng)目35 基本測(cè)試環(huán)境35.1 常規(guī)測(cè)試條件35.2 極限測(cè)試條件35.3 不確定度及判定

2、依據(jù)46 電氣指標(biāo)測(cè)試要求46.1 插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)46.2 駐波比56.3 端口（系統(tǒng)）隔離度66.4 單系統(tǒng)互調(diào)66.5 二階互調(diào)和組合互調(diào)86.6 功率容量106.6.1 環(huán)境驗(yàn)證106.6.2 加入待測(cè)POI設(shè)備116.6.3 向待測(cè)件發(fā)送大功率116.6.4 加電加信號(hào)進(jìn)行測(cè)試116.6.5 結(jié)果判定117 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)要求127.1 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目127.2 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件127.2.1 振動(dòng)試驗(yàn)137.2.2 高溫試驗(yàn)137.2.3 低溫試驗(yàn)157.2.4 恒定濕熱試驗(yàn)（選做）167.2.5 鹽霧試驗(yàn)（選做）168 結(jié)構(gòu)和工藝的檢測(cè)要求16附 錄 A （

3、規(guī)范性附錄） 測(cè)量設(shè)備要求18A.1 試驗(yàn)負(fù)載18A.2 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀18A.3 校準(zhǔn)件18A.4 電纜標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試件18A.5 互調(diào)測(cè)試儀18A.6 高低濕溫箱19A.7 調(diào)溫調(diào)濕箱19A.8 振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)19A.9 鹽霧試驗(yàn)箱19 19前言本標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，結(jié)合中國(guó)鐵塔股份有限公司（以下均簡(jiǎn)稱為“中國(guó)鐵塔”）的實(shí)際情況，細(xì)化和明確了無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）的檢測(cè)規(guī)范，滿足多系統(tǒng)共享室內(nèi)分布系統(tǒng)的應(yīng)用需求，并為入網(wǎng)檢測(cè)和無(wú)源分布系統(tǒng)建設(shè)提供技術(shù)依據(jù)。本標(biāo)準(zhǔn)主要包含多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的檢測(cè)項(xiàng)目和檢測(cè)要求，適用于多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)，適用于送檢

4、和抽檢產(chǎn)品的檢測(cè)。本標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)和同期發(fā)布的Q/ZTT 3001-2016無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求配套使用。本標(biāo)準(zhǔn)代替Q/ZTT 1003.2-2014無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求和測(cè)試方法（試行）中測(cè)試方法相關(guān)的內(nèi)容。自本標(biāo)準(zhǔn)發(fā)布之日起，原標(biāo)準(zhǔn)同時(shí)廢止。本標(biāo)準(zhǔn)由中國(guó)鐵塔通信技術(shù)研究院負(fù)責(zé)解釋和監(jiān)督執(zhí)行。本標(biāo)準(zhǔn)主編單位：中國(guó)鐵塔通信技術(shù)研究院。無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）檢測(cè)規(guī)范1 范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的檢測(cè)項(xiàng)目和檢測(cè)要求。本標(biāo)準(zhǔn)適用于中國(guó)鐵塔股份有限公司規(guī)定的多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）產(chǎn)品的質(zhì)量檢測(cè)，適用于送檢和抽檢產(chǎn)品的檢測(cè)。2

5、規(guī)范性引用文件下列國(guó)家及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn)的應(yīng)用必不可少。凡是注日期的，僅注日期的版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。凡是不注日期的，其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。YD/T 883-2009 900/1800MHz TDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)基站子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求及無(wú)線指標(biāo)測(cè)試方法YD/T 1556-2013 800MHz/2GHz cdma2000數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)設(shè)備技術(shù)要求 基站子系統(tǒng)YD/T 2738-2014 2GHz WCDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)無(wú)線接入子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求（第七階段）增強(qiáng)型高速分組接入（HSPA+）YD/T 1782-2011 2GHz TD-SCDMA數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 多媒體廣播系統(tǒng)

6、無(wú)線接入子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求（第一階段）YD/T 1849-2015 2GHz TD-SCDMA 數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 高速上行分組接入（HSUPA）無(wú)線接入子系統(tǒng)設(shè)備技術(shù)要求YD/T 2573-2013 LTE FDD數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 基站設(shè)備技術(shù)要求（第一階段）YD/T 2571-2015 TD-LTE數(shù)字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng) 基站設(shè)備技術(shù)要求（第一階段）YD/T 2164.4-2013 電信基礎(chǔ)設(shè)施共建共享技術(shù)要求 第4部分：室內(nèi)分布系統(tǒng)YD/T 5120-2015 無(wú)線通信室內(nèi)覆蓋系統(tǒng)工程設(shè)計(jì)規(guī)范YD/T 2740.1-2014 無(wú)線通信室內(nèi)信號(hào)分布系統(tǒng) 第1部分：總體技術(shù)要求YD/T 274

7、0.5-2014 無(wú)線通信室內(nèi)信號(hào)分布系統(tǒng) 第5部分：無(wú)源器件技術(shù)要求和測(cè)試方法YD 5191-2009 電信基礎(chǔ)設(shè)施共建共享工程技術(shù)暫行規(guī)定3GPP TS05.05 無(wú)線發(fā)射和接收3GPP TS25.104 FDD基站無(wú)線發(fā)射和接收3GPP TS25.105 TDD基站無(wú)線發(fā)射和接收3GPP2 C.S0010-C cdma2000基站系統(tǒng)的推薦最低性能3GPP TS36.104 E-UTRA基站系統(tǒng)的最低性能3 術(shù)語(yǔ)和定義以下術(shù)語(yǔ)和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。3.1 多系統(tǒng)接入平臺(tái) Point of Interface簡(jiǎn)稱POI，指位于多系統(tǒng)基站信源與室內(nèi)分布系統(tǒng)天饋之間的特定設(shè)備，它相當(dāng)于性能指標(biāo)更

8、高的合路設(shè)備，將多系統(tǒng)基站信源的下行信號(hào)進(jìn)行合路并輸出給室內(nèi)分布系統(tǒng)的天饋設(shè)備，同時(shí)反方向?qū)?lái)自天饋設(shè)備的上行信號(hào)分路輸出給各系統(tǒng)信源。3.2 插入損耗 Insertion Loss發(fā)射機(jī)輸出功率和接收機(jī)輸入功率通過(guò)POI引起的傳輸損耗，包括功率分配損耗、導(dǎo)體損耗、介質(zhì)損耗、反射損耗等。3.3 電壓駐波比 Voltage Standing-wave Ratio (VSWR)POI的輸出端口與標(biāo)稱阻抗負(fù)載相連接，信源輸入端與無(wú)損耗傳輸線相連接并當(dāng)作其負(fù)載時(shí)，該傳輸線中駐波電壓的最大值與最小值之比。3.4 端口（系統(tǒng)）隔離度 IsolationPOI接入的不同系統(tǒng)發(fā)射頻段載波功率與此載波在其它系統(tǒng)

9、端口上可得到的功率之比（-10lgP（反）/P（in）。3.5 無(wú)源互調(diào) Passive Intermodulation無(wú)源互調(diào)是指當(dāng)兩個(gè)或多個(gè)發(fā)射頻率信號(hào)經(jīng)過(guò)POI時(shí)，由于非線性而引起的新的頻率分量。POI應(yīng)具備一定的互調(diào)抑制能力。3.6 功率容量 Power CapacityPOI正常工作時(shí)信源側(cè)端口所允許的最大輸入功率，其衡量標(biāo)準(zhǔn)分為平均功率和峰值功率。3.7 帶內(nèi)波動(dòng) Inband RipplePOI傳輸頻帶內(nèi)信號(hào)的最大衰減與最小衰減的差值。4 檢測(cè)項(xiàng)目表1 POI檢測(cè)項(xiàng)目說(shuō)明序號(hào)分類(lèi)指標(biāo)備注1電氣性能指標(biāo)平均功率容量2插入損耗3駐波比4端口（系統(tǒng)）隔離度5帶內(nèi)波動(dòng)6互調(diào)抑制包含單系統(tǒng)

10、互調(diào)、二階互調(diào)和組合互調(diào)7環(huán)境與可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目振動(dòng)試驗(yàn)8高溫試驗(yàn)9低溫試驗(yàn)10恒定濕熱試驗(yàn)選做11鹽霧試驗(yàn)選做12結(jié)構(gòu)和工藝檢測(cè)項(xiàng)目產(chǎn)品外觀和內(nèi)部排列結(jié)構(gòu)13三維尺寸和凈重量14電纜走線和射頻連接電纜規(guī)格15器件螺桿與平行平面的距離16壁掛安裝型設(shè)備的孔位間距5 基本測(cè)試環(huán)境5.1 常規(guī)測(cè)試條件除特殊規(guī)定外，所有測(cè)試均應(yīng)在下列條件下進(jìn)行： 溫度：+15+35； 相對(duì)濕度：45%75% ； 大氣壓：70kPa106kPa。5.2 極限測(cè)試條件極限測(cè)試條件參考6.2節(jié)中環(huán)境試驗(yàn)要求。5.3 不確定度及判定依據(jù)Q/ZTT 3001-2016無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求（V2.0）中定

11、義的所有指標(biāo)，均已包含測(cè)試系統(tǒng)不確定度影響，所有指標(biāo)測(cè)試判斷均按照技術(shù)要求中定義的指標(biāo)要求判斷。6 電氣指標(biāo)測(cè)試要求6.1 插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)a) 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點(diǎn)數(shù)最低為801，可以設(shè)置更多的掃描點(diǎn)數(shù)，對(duì)測(cè)試儀表進(jìn)行雙端口校準(zhǔn)；b) 按圖1所示連接測(cè)試系統(tǒng)，網(wǎng)分的PORT1接POI的輸入端口(比如CDMA850)，網(wǎng)分PORT2接合路口(ANT1口)，在其他端口和ANT2上加匹配負(fù)載；圖1 插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)測(cè)試c) 設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的工作頻段為該輸入端口的工作頻段，下行鏈路顯示參數(shù)為S21、上行鏈路顯示參數(shù)為S12；d) 讀取曲線上的最大值

12、和最小值；e) 最小值的絕對(duì)值即為測(cè)試端口通路的插入損耗；f) 用最小值的絕對(duì)值減去最大值的絕對(duì)值即為測(cè)試通路的帶內(nèi)波動(dòng)；g) 更換輸入端口或輸出端口，更改網(wǎng)分的頻段為待測(cè)頻段，用同樣方法測(cè)試所有通路的插損和帶內(nèi)波動(dòng)；h) 比較所測(cè)所有端口測(cè)試值，將最大值（最差值）記錄為設(shè)備的插入損耗和帶內(nèi)波動(dòng)；i) 測(cè)試低頻透?jìng)鞫丝诓迦霌p耗時(shí)，把POI的其他輸入端口接負(fù)載，網(wǎng)絡(luò)分析儀的PORT1和PORT2分別接到ANT1和ANT2端口，讀取透?jìng)飨到y(tǒng)對(duì)應(yīng)頻段的S21和S12的最差值即為透?jìng)鞫丝诓迦霌p耗。6.2 駐波比a) 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點(diǎn)數(shù)最低為801，可以設(shè)

13、置更多的掃描點(diǎn)數(shù)，對(duì)測(cè)試儀表進(jìn)行校準(zhǔn)；b) 按圖2所示連接測(cè)試系統(tǒng)，網(wǎng)分的PORT1接POI的輸入端口(比如CDMA850)，網(wǎng)分PORT2接合路口(ANT1口)，在其他端口和ANT2上加匹配負(fù)載；圖2 駐波比測(cè)試c) 測(cè)試POI設(shè)備電壓駐波比時(shí)，將測(cè)試帶寬分別設(shè)置為每個(gè)通路的工作頻段，顯示參數(shù)為S11； d) 分別讀取每段測(cè)試帶寬曲線上的最大值，再比較每個(gè)頻段內(nèi)的最大值（最差值）即POI設(shè)備駐波比，S11為輸入駐波比；e) 更換其它頻段輸入端口重復(fù)上述操作，測(cè)試其它端口駐波時(shí)，將測(cè)試帶寬設(shè)置為該通路工作頻段即可；f) 比較所測(cè)所有端口測(cè)試值，最大值（最差值）即POI設(shè)備的輸入端口駐波比；g)

14、 測(cè)試低頻透?jìng)鞫丝隈v波時(shí)，把網(wǎng)絡(luò)分析儀的PORT1和PORT2分別接到ANT1和ANT2端口，讀取透?jìng)飨到y(tǒng)對(duì)應(yīng)頻段的S11和S22的最差值即為透?jìng)鞫丝隈v波比。6.3 端口（系統(tǒng)）隔離度a) 設(shè)置網(wǎng)絡(luò)分析儀的中頻帶寬為1KHz，POWER為0dBm，掃描點(diǎn)數(shù)最低為801，可以設(shè)置更多的掃描點(diǎn)數(shù)，對(duì)測(cè)試儀表進(jìn)行雙端口校準(zhǔn)；b) 按圖3所示連接測(cè)試系統(tǒng)，除待測(cè)端口外，在其他端口加匹配負(fù)載；圖3 端口隔離度測(cè)試c) 設(shè)置矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的工作頻段為PORT1接入端口的工作頻段，顯示參數(shù)為S21；將2個(gè)ANT口全部連接匹配負(fù)載；d) 讀取PORT1接入端口工作頻段的S21曲線上的最大值（最差值），其絕對(duì)值

15、為該P(yáng)ORT1接入端口對(duì)PORT2接入端口的隔離度；e) 更換其它端口重復(fù)上述操作。6.4 單系統(tǒng)互調(diào)a) 根據(jù)端口工作頻率范圍配置合適工作制式的互調(diào)測(cè)試儀分別測(cè)試；b) 按照?qǐng)D4連接測(cè)試系統(tǒng)，POI設(shè)備輸入端口接儀表REV端口(2載波功率輸出端口)，其他輸出端口接低互調(diào)測(cè)試負(fù)載，其余輸入端口可空載，如有條件最好接低互調(diào)負(fù)載，各接口均使用力矩扳手按規(guī)定力矩（N頭：1015N；DIN頭：1520N）擰緊，測(cè)試完畢前不得再次觸碰測(cè)試電纜和被測(cè)設(shè)備；c) 按照表2說(shuō)明設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀載波頻率和無(wú)源互調(diào)階數(shù)；d) 設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；e) 設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀測(cè)試模式，要求為反向(R

16、erverse)模式；f) 設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測(cè)試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 取最大電平值即為該次測(cè)試反射模式的無(wú)源互調(diào)值；j) 更換端口或者互調(diào)儀類(lèi)型，對(duì)所有的端口分別進(jìn)行測(cè)試；k) 所有測(cè)試值中的最大值（最差值）記為該P(yáng)OI設(shè)備的無(wú)源互調(diào)值；l) 第一次測(cè)試中發(fā)現(xiàn)設(shè)備互調(diào)指標(biāo)測(cè)試不合格時(shí)，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進(jìn)行一次測(cè)試。單個(gè)設(shè)備的單個(gè)端口最多允許測(cè)試3 次，在3次測(cè)試結(jié)果中取最優(yōu)值記為該端口的反射互調(diào)結(jié)果。圖4 單系統(tǒng)互調(diào)測(cè)試示意圖表2 單系統(tǒng)互調(diào)測(cè)試說(shuō)明頻段系統(tǒng)下行（MHz）上行（MHz）互調(diào)測(cè)試階數(shù)要求頻段1移動(dòng)/聯(lián)

17、通GSM900934-960889-915寬帶掃頻-三階頻段2移動(dòng)GSM18001805-18301710-1735下行25M-七階頻段3移動(dòng)TD-LTE（F頻段）1885-1915不做測(cè)試(TDD)頻段4移動(dòng)TD-LTE（E頻段）2320-2370不做測(cè)試(TDD)頻段5電信CDMA800865-880820-835不做測(cè)試(不落入上行)頻段6電信LTE FDD1.8G1860-18801765-1785不做測(cè)試(不落入上行)頻段7電信LTE FDD2.1G2110-21301920-1940不做測(cè)試(不落入上行)頻段8聯(lián)通GSM1800/LTE FDD1.8G1830-18601735-1

18、765下行30M-七階頻段9聯(lián)通WCDMA21002130-21701940-1980不做測(cè)試(不落入上行)頻段10移動(dòng)TD-SCDMA（A頻段）2010-2025不做測(cè)試(TDD)頻段11電信TD-LTE2.3G2370-2390不做測(cè)試(TDD)頻段12聯(lián)通TD-LTE2.3G2300-2320不做測(cè)試(TDD)6.5 二階互調(diào)和組合互調(diào)圖5 二階互調(diào)測(cè)試示意圖圖6 組合互調(diào)測(cè)試示意圖a) 根據(jù)測(cè)試目的設(shè)置功放功率，無(wú)要求時(shí)使用默認(rèn)功率為43dBm；b) 分別按照如圖5和圖6的連接方式連接，不接被測(cè)件時(shí)應(yīng)保證系統(tǒng)殘余互調(diào)小于-160dBc；c) 分別按照表3和表4（具體操作時(shí)可選擇全部或者

19、其中部分組合）設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀載波頻率，在測(cè)試設(shè)備滿足條件情況下，盡量按照對(duì)應(yīng)系統(tǒng)進(jìn)行掃頻測(cè)試；d) 按照測(cè)試需求將被測(cè)件相應(yīng)端口連接至互調(diào)儀對(duì)應(yīng)端口；e) 設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀輸出功率，兩載波均為43dBm；f) 設(shè)置互調(diào)測(cè)試儀掃描方式，要求為掃頻方式；g) 執(zhí)行測(cè)試；h) 讀取儀表所顯示的電平值；i) 第一次測(cè)試中發(fā)現(xiàn)設(shè)備互調(diào)指標(biāo)測(cè)試不合格時(shí)，重新連接所有接頭（連接要求與步驟b中一致），再進(jìn)行一次測(cè)試。單個(gè)設(shè)備的單個(gè)端口最多允許測(cè)試3 次，在3次測(cè)試結(jié)果中取最優(yōu)值記為該端口的反射或傳輸互調(diào)結(jié)果。表3 二階互調(diào)測(cè)試說(shuō)明干擾系統(tǒng)下行頻段（MHz）二階互調(diào)頻段（MHz）（F1+F2）受干擾系統(tǒng)受干擾頻段

20、（MHz）電信CDMA800865-8801730-1760移動(dòng)GSM1800/聯(lián)通GSM1800/LTE FDD1.8G1730-1735/1735-1760移動(dòng)GSM900934-9541868-1908移動(dòng)TD-LTE(F頻段)1885-1908表4 組合互調(diào)測(cè)試說(shuō)明組合方案掃頻設(shè)置點(diǎn)頻設(shè)置受干擾系統(tǒng)聯(lián)通LTE FDD1.8G+移動(dòng)TD-LTE(F頻段)聯(lián)通LTE FDD1.8G：1830-1860MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1885-1915MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1850MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1900MH聯(lián)通LTE FDD1.8G聯(lián)通WCDMA2100電信

21、LTE FDD2.1G聯(lián)通LTE FDD1.8G+電信LTE FDD1.8G聯(lián)通LTE FDD1.8G：1830-1860MHz電信LTE FDD1.8G：1860-1880MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1850MHz電信LTE FDD1.8G：1870MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)電信LTE FDD1.8G+電信LTE FDD2.1G電信LTE FDD1.8G：1860-1880MHz電信LTE FDD2.1G：2110-2130MHz電信LTE FDD1.8G：1865MHz電信LTE FDD2.1G：2115MHz移動(dòng)TD-LTE(E頻段) 電信TD-LTE2.3G電信CDMA80

22、0+電信CDMA800電信CDMA800：878-880電信CDMA800：865-867MHz電信CDMA800：880MHz電信CDMA800：865MHz移動(dòng)GSM900電信CDMA800+移動(dòng)GSM900電信CDMA800：878-880MHz移動(dòng)GSM900：934-936MHz電信CDMA800：878 MHz移動(dòng)GSM900：936 MHz電信CDMA800聯(lián)通WCDMA2100+電信TD-LTE2.3G聯(lián)通WCDMA2100：2165-2170 MHz電信TD-LTE2.3G：2370-2390 MHz聯(lián)通WCDMA2100：2165MHz電信TD-LTE2.3G：2390 M

23、Hz聯(lián)通WCDMA2100聯(lián)通WCDMA2100+聯(lián)通TD-LTE2.3G聯(lián)通WCDMA2100：2130-2150 MHz聯(lián)通TD-LTE2.3G：2300-2320 MHz聯(lián)通WCDMA2100：2130MHz聯(lián)通TD-LTE2.3G： 2320 MHz聯(lián)通WCDMA2100移動(dòng)GSM1800+移動(dòng)GSM1800移動(dòng)GSM1800：1805-1807 MHz移動(dòng)GSM1800：1825-1830 MHz移動(dòng)GSM1800：1805 MHz移動(dòng)GSM1800：1830 MHz電信LTE FDD1.8G電信LTE FDD1.8G+電信LTE FDD1.8G電信LTE FDD1.8G: 1873

24、.5-1875MHz電信LTE FDD1.8G: 1860-1862MHz電信LTE FDD1.8G：1873.5 MHz電信LTE FDD1.8G：1862 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)聯(lián)通LTE FDD1.8G+聯(lián)通LTE FDD1.8G聯(lián)通LTE FDD1.8G：1858.5-1860 MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1830-1832 MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1858.5 MHz聯(lián)通LTE FDD1.8G：1832 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)移動(dòng)TD-LTE(F頻段)+ 移動(dòng)TD-LTE(F頻段)移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1910-1915 MHz移動(dòng)TD-LT

25、E(F頻段)：1885-1900 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1910 MHz移動(dòng)TD-LTE(F頻段)：1900 MHz電信LTE FDD2.1G聯(lián)通WCDMA21006.6 功率容量6.6.1 環(huán)境驗(yàn)證功率容量測(cè)試之前需對(duì)系統(tǒng)有效性進(jìn)行驗(yàn)證，確保系統(tǒng)滿足測(cè)試需要。圖7給出的GSM900測(cè)試環(huán)境可作為參考，其他頻段的測(cè)試環(huán)境只需更換信號(hào)源和功放。測(cè)試頻點(diǎn)選擇與6.6.3節(jié)步驟b中一致。將被測(cè)設(shè)備省略，直通跨過(guò)，信號(hào)源及對(duì)應(yīng)頻率功放按照測(cè)試要求配置載波、發(fā)送功率和頻點(diǎn)設(shè)置。試驗(yàn)5 min，要求功率計(jì)的功率和駐波比讀數(shù)穩(wěn)定無(wú)變化，且頻譜儀所觀察的接收帶內(nèi)帶噪聲電平值-110dBm/100K

26、Hz。圖7 功率容量測(cè)試連接圖6.6.2 加入待測(cè)POI設(shè)備按圖5-7所示連接設(shè)備，功放具有駐波比告警功能（駐波比1.5時(shí)產(chǎn)生告警自動(dòng)關(guān)斷信號(hào)）；如果被測(cè)件為多端口設(shè)備，測(cè)試時(shí)其它ANT端口接大功率匹配負(fù)載。6.6.3 向待測(cè)件發(fā)送大功率a) 設(shè)置信號(hào)發(fā)生器信號(hào)類(lèi)型：信號(hào)源發(fā)送4載波EDGE信號(hào)；b) 設(shè)置信號(hào)發(fā)生器信號(hào)頻率：測(cè)試時(shí)，設(shè)置測(cè)試載波頻點(diǎn)為規(guī)定頻點(diǎn)（規(guī)定頻點(diǎn)在每次測(cè)試前給出，測(cè)試頻點(diǎn)建議設(shè)置為工作頻帶內(nèi)高端頻點(diǎn)，規(guī)則為邊頻回退1MHz，同時(shí)頻點(diǎn)分配應(yīng)避免在接收段產(chǎn)生較大互調(diào)產(chǎn)物）。其他測(cè)試頻段按照相同原則執(zhí)行；c) 調(diào)整信號(hào)功率：根據(jù)功放增益及環(huán)境插損，調(diào)整信號(hào)源輸出功率，使得進(jìn)入

27、待測(cè)設(shè)備入口的有用信號(hào)載波均值功率達(dá)到指標(biāo)要求，同時(shí)此處信號(hào)的互調(diào)及調(diào)制譜性能滿足-65dBc的要求。6.6.4 加電加信號(hào)進(jìn)行測(cè)試當(dāng)采用常溫狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試時(shí)，加電加信號(hào)，連續(xù)試驗(yàn)30分鐘。當(dāng)采用高溫狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試時(shí)，將器件放置+55 高溫箱內(nèi)，加測(cè)試信號(hào)連續(xù)試驗(yàn)10分鐘。6.6.5 結(jié)果判定a) 判定在接收帶內(nèi)是否有飛弧現(xiàn)象在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，當(dāng)頻譜儀顯示雜散和寬帶噪聲電平值-107dBm/100KHz，則為飛弧, 核查整體寬帶噪聲抬升或飛弧的數(shù)量（以200KHz為單位進(jìn)行核查），若大于5個(gè)，則判定存在飛弧打火。b) 判定設(shè)備是否有燒毀現(xiàn)象判斷以下2個(gè)方面，若有一項(xiàng)不滿足，則判定為設(shè)備有燒毀現(xiàn)

28、象：1) 整個(gè)測(cè)試過(guò)程中，功率計(jì)和功放不得出現(xiàn)駐波告警（門(mén)限是1.5）；2) 整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程中，功率計(jì)的功率讀數(shù)下降不得超過(guò)3dB。7 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)要求7.1 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目環(huán)境與可靠性試驗(yàn)應(yīng)按照Q/ZTT 3001-2016無(wú)源分布系統(tǒng)多系統(tǒng)接入平臺(tái)（POI）技術(shù)要求（V2.0）中第8節(jié)中規(guī)定的溫濕度范圍進(jìn)行試驗(yàn)，對(duì)各技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試。其內(nèi)容見(jiàn)表5。表5 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)檢測(cè)項(xiàng)目表名稱POI測(cè)試內(nèi)容高低溫濕熱試驗(yàn)振動(dòng)試驗(yàn)鹽霧試驗(yàn)插入損耗Ö帶內(nèi)波動(dòng)Ö駐波比Ö互調(diào)Ö隔離度Ö外觀檢查ÖÖ內(nèi)部材質(zhì)檢查Ö注

29、： 根據(jù)實(shí)際使用場(chǎng)景選擇測(cè)試內(nèi)容和項(xiàng)目。7.2 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件要求如表6規(guī)定。表6 環(huán)境與可靠性試驗(yàn)條件要求試驗(yàn)名稱試驗(yàn)項(xiàng)目要求方 法低溫試驗(yàn)試驗(yàn)溫度（）穩(wěn)定時(shí)間（h）持續(xù)時(shí)間（h）恢復(fù)時(shí)間 (h)溫度變化速率-40±21211/minGB2423.1 -2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A： 低溫高溫試驗(yàn)試驗(yàn)溫度（）穩(wěn)定時(shí)間（h）持續(xù)時(shí)間（h）恢復(fù)時(shí)間 (h)溫度變化速率+55±21211/min2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分: 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫恒定濕熱試驗(yàn)試驗(yàn)溫度（）相對(duì)濕度（%）持續(xù)時(shí)間（

30、h）恢復(fù)時(shí)間 (h)+40±290%95%241GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)安裝方向經(jīng)受頻率（Hz）W位移單振幅；加速度振動(dòng)周期次數(shù)方向各振動(dòng)時(shí)間（h）9-2001.5mm；10 m/s25次循環(huán)XYZ3個(gè)軸向0.5/方向GB 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第二部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)fc和導(dǎo)則: 振動(dòng)(正弦)鹽霧試驗(yàn)配制濃度調(diào)整pH值化學(xué)類(lèi)別溫度鹽酸沉降率為用氯化鈉和蒸餾水配制、濃度為5+0.1%（重量）pH值為6.57.2，稀鹽酸或氫氧化鈉水溶液35+2°C、1.02.0mL/(h80c

31、m2)。GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka：鹽霧試驗(yàn)方法17.2.1 振動(dòng)試驗(yàn)試驗(yàn)溫度：室溫；試驗(yàn)儀表：電動(dòng)振動(dòng)系統(tǒng)、互調(diào)分析儀；振動(dòng)頻率：9-200Hz；掃頻速率：系統(tǒng)默認(rèn)；加速度：10m/s2；振幅峰峰值：1.5mm；振動(dòng)方向：XYZ軸；振動(dòng)時(shí)間：XYZ軸每個(gè)方向0.5小時(shí)。注： 試驗(yàn)過(guò)程中，完全按照振動(dòng)臺(tái)的規(guī)定進(jìn)行，整個(gè)振動(dòng)測(cè)試過(guò)程要有人值守，以免出現(xiàn)振幅不穩(wěn)或者振幅失控等現(xiàn)象。振動(dòng)試驗(yàn)完成后，進(jìn)行Error! Reference source not found.中要求的電性能指標(biāo)測(cè)試和外觀檢查。7.2.2 高溫試驗(yàn)試驗(yàn)條件：+55試驗(yàn)設(shè)備：高低

32、溫箱、網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試條件要求：a) 測(cè)試電纜、測(cè)試負(fù)載、測(cè)試轉(zhuǎn)接頭等需滿足不低于+70的溫度狀態(tài)下，其指標(biāo)性能應(yīng)滿足附錄A中規(guī)定的測(cè)量設(shè)備要求；b) 測(cè)試線纜與被測(cè)POI連接不允許采用快插的方式，必須使用擰緊方式；POI未連接的端口需蓋上防塵帽，防止接頭或端口進(jìn)水等問(wèn)題。測(cè)試步驟：a) 將待測(cè)器件放入到高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)托盤(pán)上，并通過(guò)試驗(yàn)箱測(cè)試引線孔與試驗(yàn)箱外的網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行正確連接；b) 設(shè)置高低溫試驗(yàn)箱以1/min速度升溫，直至+55。溫度穩(wěn)定后恒溫保持2小時(shí)，保持器件在高溫環(huán)境中，進(jìn)行Error! Reference source not found.中要求的電性能指標(biāo)測(cè)試（已測(cè)試完成的端口

33、，快速蓋上防塵帽）；c) 在線測(cè)試完電性能指標(biāo)后，取出器件，恢復(fù)常溫后，觀察外觀變化；d) 第一次測(cè)試不合格應(yīng)重新連接后再次測(cè)試；若重新連接兩次波形圖均無(wú)明顯變化，則判斷該項(xiàng)存在問(wèn)題?？蓞⒖既缦路绞捷o助判斷問(wèn)題原因：1) 如測(cè)試波形由于左右偏移（金屬在不同的問(wèn)題范圍內(nèi)會(huì)出現(xiàn)熱脹冷縮，會(huì)導(dǎo)致濾波器波形左右漂移）導(dǎo)致指標(biāo)惡化/不合格，屬產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題； 圖8 高低溫測(cè)試波形圖左右偏移變化示意2) 如波形圖嚴(yán)重塌陷、衰落/惡化（水汽等接觸不良原因），屬測(cè)試操作問(wèn)題，應(yīng)重新測(cè)試。圖9 高低溫測(cè)試波形圖塌陷變化示意7.2.3 低溫試驗(yàn)試驗(yàn)條件：-40試驗(yàn)儀表：高低溫箱、網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試條件要求：a) 測(cè)試電

34、纜、測(cè)試負(fù)載、測(cè)試轉(zhuǎn)接頭等需滿足在不高于-50的溫度狀態(tài)下，其指標(biāo)性能應(yīng)滿足附錄A中規(guī)定的測(cè)量設(shè)備要求；b) 測(cè)試線纜與被測(cè)POI連接不允許采用快插的方式，必須使用擰緊方式；POI未連接的端口需蓋上防塵帽，防止接頭或端口進(jìn)水等問(wèn)題。測(cè)試步驟：a) 將待測(cè)器件放入到高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)托盤(pán)上，并通過(guò)試驗(yàn)箱測(cè)試引線孔與試驗(yàn)箱外的網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行正確連接；b) 設(shè)置高低溫試驗(yàn)箱以1/min速度降溫，直至-40。溫度穩(wěn)定后恒溫保持2小時(shí)，保持器件在低溫環(huán)境中，進(jìn)行Error! Reference source not found.中要求的電性能指標(biāo)測(cè)試（已測(cè)試完成的端口，快速蓋上防塵帽）；c) 在線測(cè)試完電性

35、能指標(biāo)后，取出器件，恢復(fù)常溫后，觀察外觀變化；d) 第一次測(cè)試不合格應(yīng)重新連接后再次測(cè)試；若重新連接兩次波形圖均無(wú)明顯變化，則判斷該項(xiàng)存在問(wèn)題。可參考如下方式輔助判斷問(wèn)題原因：1) 如測(cè)試波形由于左右偏移（金屬在不同的問(wèn)題范圍內(nèi)會(huì)出現(xiàn)熱脹冷縮，會(huì)導(dǎo)致濾波器波形左右漂移）導(dǎo)致指標(biāo)惡化/不合格，屬產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題；2) 如波形圖嚴(yán)重塌陷、衰落/惡化（水汽等接觸不良原因），屬測(cè)試操作問(wèn)題，應(yīng)重新測(cè)試。7.2.4 恒定濕熱試驗(yàn)（選做）a) 將器件放入溫度箱中，把溫度調(diào)整在溫度為+40±2 進(jìn)行預(yù)熱；b) 等樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定后調(diào)整溫度箱的相對(duì)濕度為9095%的恒定濕熱條件；c) 經(jīng)受 48h 的試驗(yàn)后進(jìn)行在線或迅速取出器件的電性能指標(biāo)測(cè)試；d) 恢復(fù)常溫后，檢查器件外觀即外表面是否有符合要求。7.2.5 鹽霧試驗(yàn)（選做）a) 將器件放置鹽霧試驗(yàn)箱內(nèi)；b) 按GB/T 2423.17中鹽霧試驗(yàn)規(guī)定測(cè)試條件配制鹽溶液體；c) 試驗(yàn)時(shí)應(yīng)確保樣品不與箱體相接觸，樣品之間也不互相接觸。鹽霧不直接噴射到樣品上，試驗(yàn)箱頂、壁上凝集的水珠不得滴落在樣品上；d) 試驗(yàn)時(shí)間持續(xù)為 2小時(shí)連續(xù)霧